JPH04110667A - コンタクトプローブ - Google Patents

コンタクトプローブ

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JPH04110667A
JPH04110667A JP22810990A JP22810990A JPH04110667A JP H04110667 A JPH04110667 A JP H04110667A JP 22810990 A JP22810990 A JP 22810990A JP 22810990 A JP22810990 A JP 22810990A JP H04110667 A JPH04110667 A JP H04110667A
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JP
Japan
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contact
sleeve
plunger
probe
sliding part
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JP22810990A
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English (en)
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JPH0810233B2 (ja
Inventor
Shigeo Kiyota
茂男 清田
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Kiyota Manufacturing Co
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Kiyota Manufacturing Co
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は、プリント配線基板(ベアボード、インサー
キット等)の電気回路の断線、シ璽−ト等を点検するプ
リント基板検査用のコンタクトプローブに関するもので
ある。
「従来技術及びその問題点」 プリント基板の回路導通などのテストに使用されるコン
タクトプローブは、第3図に示すようにプリント基板検
査機の取付板に固定的に装着されるソケットに嵌合され
る胴部1と、この胴部1にバネ2等を介して装着される
プランジャーコンタクト3とからなり、該プランジャー
コンタクト3の先端部4がプリント基板7の被測定面5
に押し当てられた時に、プランジャーコンタクト3が胴
部1に対し相対移動可能に構成されている。
しかして、前記先端部礁が被測定面5に垂直に当接し、
バネ2が垂直に押圧される場合はあまり問題はないが、
プランジャーコンタクトの摺動部6と胴′!161との
間には若干の隙間はあるので、先端部が被測定面に傾斜
して当接した場合または何等かの理由によって、バネに
不均一な力がかかる状態になると、胴部1とプランジャ
ーコンタクト3の摺動部6とが瞬間的に離れ、その結果
瞬間的に電流が流れなくなり、このことが導通試験の障
害となっている。プリント基板の回路導通試験等を行な
う場合、プローブコンタクト自体には常に正常に電流が
流れなければならないからである。
特に、最近はより精密な試験の必要性が高くなってきて
いるので、このような欠点のないプローブコンタクトが
強く求められつつある。
このような欠点を解消するため、本出願人は、プランジ
ャーコンタクトの後端にバネ性を付与する切欠部を形成
し、このバネ性によりプランジャーコンタクトと胴部と
が弾性当接しながら摺動する発明を開発し、先に特許出
願した(特開昭62−58170号)。
一方、最近になって、非常に密に配設されたプリント基
板が開発されるようになり、その結果、これを検査する
プランジャーコンタクトにも極細のものが求められつつ
ある。しかして、上記切欠部を形成するプランジャーコ
ンタクトは、前記欠点は解消されるが、これを細くする
には限界があり2極細タイプのプランジャーコンタクト
にはし得ない問題があった。
この発明は、このような従来の問題点を一挙に解消しよ
うとするものであり、プランジャーコンタクトと胴部と
の接触性を高め、しかも極細タイプとすることもできる
コンタクトプローブを提供することを目的とする。
「問題点を解決するための手段」 上記目的を達成するため、本発明にあっては、胴部スリ
ーブにバネを介して、摺動自在に装着されるコンタクト
プローブと、前記スリーブ先端内周面に形成した突出部
と、前記スリーブ先端から下方に向けて形成されたスリ
ットと、前記スリーブ先端外周面に固定された収縮自在
のコイルバネ性リングとを具備してなることを特徴とす
る。
「実施例」 以下に、本発明の望ましい実施例を図面を参照しながら
説明する。
第1図に示すように、プランジャーコンタクト13は、
胴部スリーブll内に、バネ12を介して摺動自在に装
着されている。胴部スリーブ11上端部には、内方に向
けた突出部17が形成され、同突出部17に対向する外
周凹部には、バネ性リング18が嵌着されている。第2
図に示すように、胴部スリーブ11上端には、上端から
下方に向けたスリット18が対向して2本若しくは4本
形成されている。従つて、プランジャーコンタクトの摺
動部16と胴部スリーブ11とは、突出部17によって
弾性当接しており、突出部17は自在に伸縮するように
なっているので、プランジャーコンタクト13と胴部ス
リーブの突出部17とは常に密接することになる。
上記実施例に於いては、突出部17は連続した凸条とな
っており、その内径は、プランジャー外径寸法となって
いるが、これは必ずしもこのようでなくともよい、また
、突出部に対応する外周凹部は、バネ性リング18が移
動しない程度の凹部であればよい。
スリット19の巾は、0.05〜0.2mm程度とする
のが好ましく、長さは、スリーブ外形の3〜8倍程度と
するのが好ましい。
このように、プランジャーコンタクト14を装着した胴
部11は5 ソケット22内に嵌め込まれる。ソケット
22は、プリント基板検査機のテストヘッドと指称され
る取付板を貫通して溶着または接着されている。
「作用」 次に、上記のように構成された本発明の詳細な説明する
まず、プランジャーコンタクトの先端部2oを、プリン
ト基板21のハンダ面15に当接させる。この際、摺動
部16に横方向の強い力が加わっても、摺動部16と胴
部11とはバネ性リング18の弾性力により、摺動自在
に弾性出接しているので、摺動部16と胴部11とが離
れる恐れは全くない、従って、プローブコンタクトには
常に安定して電流が流れることになる。
「発明の効果」 以上述べた如く本発明によるときは、胴部スリーブ内周
面に形成した突出部とコンタクトプローブ摺動部とをバ
ネ性リングの力により密接させるものであるので、摺動
部と胴部スリーブとは弾性当接し、そのため通常離れる
ことはないから5プローブコンタクトには常に安定して
電流が流れると共に、この種従来のコンタクトプローブ
では不可能であった極細タイプのコンタクトプローブと
することができる。具体的には、従来のコンタクドブロ
ーブでは、外径1゜3腸1以下とすることは不可能であ
ったが、本発明によれば、極細の0.3ms程度のコン
タクトプローブとすることもでき、また信頼性も向上す
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の実施例を示す断面図、第2図は、本
発明の胴部スリーブを示す斜視図従来のコンタクトプロ
ーブを示す新 築3図は、 面図である。 図中、 11・・・胴部スリーブ、 グ、19・・・スリット。 17・・・突出部、 18・・・バネ性リン

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 胴部スリーブにバネを介して、摺動自在に装着されるコ
    ンタクトプローブと、前記スリーブ先端内周面に形成し
    た突出部と、前記スリーブ先端から下方に向けて形成さ
    れたスリットと、前記スリーブ先端外周面に固定された
    収縮自在のバネ性リングとを具備してなることを特徴と
    するコンタクトプローブ。
JP22810990A 1990-08-31 1990-08-31 コンタクトプローブ Expired - Lifetime JPH0810233B2 (ja)

Priority Applications (1)

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JP22810990A JPH0810233B2 (ja) 1990-08-31 1990-08-31 コンタクトプローブ

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JP22810990A JPH0810233B2 (ja) 1990-08-31 1990-08-31 コンタクトプローブ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04110667A true JPH04110667A (ja) 1992-04-13
JPH0810233B2 JPH0810233B2 (ja) 1996-01-31

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ID=16871349

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JP (1) JPH0810233B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5685725A (en) * 1992-12-25 1997-11-11 Yamaichi Electronics Co., Ltd. IC socket
WO2008024124A1 (en) * 2006-08-25 2008-02-28 Interconnect Devices, Inc. Probe with contact ring
JP2012163527A (ja) * 2011-02-09 2012-08-30 Kiyota Seisakusho:Kk パワーデバイス用コンタクトプローブ

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2008024124A1 (en) * 2006-08-25 2008-02-28 Interconnect Devices, Inc. Probe with contact ring
JP2012163527A (ja) * 2011-02-09 2012-08-30 Kiyota Seisakusho:Kk パワーデバイス用コンタクトプローブ

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Publication number Publication date
JPH0810233B2 (ja) 1996-01-31

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