JPH0524061Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案は例えば回路基板に実装された電子部
品の特性や装着ミス等を検査する回路基板検査装
置に係り、特に、実装された電解コンデンサの金
属ケースに接触してその極性判別用信号を取り出
すプローブを備えた回路基板検査装置に関するも
のである。

〔従来の技術〕

回路基板に実装された電子部品の特性等を従来
の回路基板検査装置により測定する場合の一例が
第１０図に示されている。すなわち、被測定部品
１は例えばそのリード線２，３を介して回路基板
４の回路パターン５，６にはんだ付けされてい
る。回路基板検査装置７の信号源８からは、例え
ば上記回路パターン５，６に接触するプローブ
９，１０を介して被測定部品１に測定用信号を加
え、その応答信号をプローブ１１，１２で受けて
測定部１３により測定し、上記被測定部品１の特
性や装着ミスの有無等を調べるようになつてい
る。

この従来装置は被測定部品が抵抗器のような場
合には好適であるが、例えば装着部品が電解コン
デンサであつてその極性判別を行うような場合に
は測定が必ずしも簡単ではない。特に、複数個の
電解コンデンサが回路パターンに並列的に接続さ
れている場合には、それらの極性を個々に判別す
ることが困難である。

そこで本出願人は、特願昭61−264664号明細書
において電解コンデンサの極性判別も簡単にでき
る回路基板検査装置の発明を提案した。

その大要を第１１図により手短かに説明する
と、同図Ａにおいて、電解コンデンサＣは例えば
そのリード線１５，１６を介して回路基板１７の
回路パターン１８，１９にそれぞれはんだけ付け
されている。回路基板検査装置２０の信号源２１
から送出される測定用の直流信号は例えば切換器
Ｓによりその極性が交互に反転され、プローブ２
２，２３を介して上記電解コンデンサＣに加えら
れる。この加えられた測定用直流信号に対する応
答信号は、例えばプロープ２４を介して電解コン
デンサＣのケース側から取り出され、測定部２５
にて測定されるようになつている。

第１１図Ｂの例は、測定用直流信号の例えば
極側をスイツチＳにより電解コンデンサＣのリー
ド線１５，１６に交互に加えた場合であつて、そ
の応答信号は上記第１１図Ａの場合と同様にプロ
ーブ２４を介して電解コンデンサＣのケース側か
ら取り出され、測定部２５において測定されるよ
うになつている。

この先願発明の回路基板検査装置によれば、電
解コンデンサのリード線側に加えられた測定用直
流信号に対する応答信号がそのケース側から取り
出されて測定されるので、例えば回路パターンに
複数の電解コンデンサが並列的に接続されている
ような場合でも、個々にその極性判別ができる。

〔考案が解決しようとする問題点〕

上記先願例において、電解コンデンサＣのリー
ド線側、すなわち回路パターン側に測定用信号を
加えるプローブ２２，２３と、その応答信号をケ
ース側から取り出すプロープ２４とは通常同じ形
式のものが使われている。これらのプローブは一
般に知られているように相手側に接触する中心ピ
ンと、中心ピンを先端方向へ押圧するばねと、こ
の中心ピンをその軸に沿い先端と反対方向へスラ
イド可能に保持するホルダとからなつており、中
心ピンが相手側に当接してホルダ内をスライドし
ても上記ばねの伸縮により所定の接触圧力が保た
れるようになつている。このような構成の上記プ
ローブ２４が電解コンデンサＣのケースに当接し
た場合、中心ピンの先端形状によつてはケースを
損傷するおそれがある。ばねの押圧力を弱くすれ
ば損傷はある程度軽減できるが、接触抵抗との関
連から必ずしも好ましいことではない。

この考案は上記の点に鑑みなされたもので、そ
の目的は、特にばねの押圧力を弱めなくてもケー
スに損傷を与えないでその応答信号が取り出せる
プローブを備えた回路基板検査装置を提供するこ
とにある。

〔問題を解決するための手段〕

この考案に係る回路基板検査装置の要部の一実
施例を示す第１図によると、例えば図示しない装
置本体のフレームにピンボード３０が取り付けら
れ、回路基板３１がこのピンボード３０に移動可
能に載置されている。この回路基板３１には例え
ば図示しない他の電子部品とともに電解コンデン
サ３２，３３が実装されている。上記図示しない
装置本体のフレームに取り付けられている加圧機
３４が作動して絶縁基板３５を圧し下げると、棒
状部材３６により上記回路基板３１が押し下げら
れ、例えばその回路パターン３７ないし４１がそ
れぞれピンボード３０側の対向するプローブ４２
と接触する。これにより、例えば図示しない信号
源から上記各プローブ４２を介して電解コンデン
サ３２，３３へ測定用信号が加えられる。

この場合、絶縁基板３５側の２つのプローブ４
３はそれぞれ上記電解コンデンサ３２，３３の金
属ケース４４，４５と接触するようになつてお
り、上記加えられた測定用信号に対する応答信号
は例えば金属ケース４４，４５からプローブ４
３，４３を介して取り出され、図示しない測定部
に送られて測定される。

この実施例において、上記金属ケースに接触す
るプローブ４３の先端部は第２図Ａ及び第２図Ｂ
に示されているが、その中心ピン４６の端面には
例えば半円形に曲げられた可とう性の帯状金属部
材でなる接触子４７がかしめ付け等で取り付けら
れている。

〔作用〕

プローブ４３の中心ピン４６に可とう性の帯状
金属部材でなる接触子４７が取り付けられている
ので、接触する相手側に損傷を与えるようなこと
が防止される。

〔実施例〕

第３図Ａ及びＢには、例えば中心ピン４６の端
面に可とう性の金属細線でなるブラツシ状の接触
子４８を取り付けたプローブ４９の例が示されて
いる。

第４図Ａ及びＢに示されているプローブ５０
は、その中心ピン４６の端面に例えば金属線で形
成された鎖状の接触子５１が取り付けられてお
り、第５図Ａ及びＢに示されるプローブ５２は、
その中心ピン４６の端面に例えば金属線のコイル
ばねでなる接触子５３が取り付けられている。

第６図Ａ及びＢに示されているプローブ５４
は、その中心ピン４６の端面に例えばばね性を有
する金属帯線でなる接触子５５が取り付けられて
いる。第７図Ａ及びＢに示されているプローブ５
６は、例えば複数のコイルばねでなる接触子５７
を有し、これらのコイルばねは、中心ピン５８の
底部に金属もしくはプラスチツク等の絶縁体で形
成されたホルダ５９を介して保持されている。

第８図と第９図には、例えば絶縁チユーブ３２
ａを有する電解コンデンサ３２を検査する場合の
例が示されているが、電解コンデンサとプローブ
間に若干の位置ずれがあつた場合、上記プローブ
４９又は５４，５６等を使用すれば装置に回路基
板をセツテイングしなおさなくても検査が可能で
ある。また、例えば電解コンデンサのケースに多
少の酸化皮膜があつたような場合、プローブ４
９，５４，５６など適宜選択して使用すれば接触
不良を避けることができる。

また、第７図Ａに示すプローブ５６のホルダ５
９はスカート状に形成されているため、各接触子
５７は束ねられた状態に保持され、これにより確
実な接触が得られる。これら第２図ないし第７図
に示されているプローブ４３，４９，５０，５
２，５４，５６はいずれも互換可能である。ま
た、各接触子が金属部材でなつている関係上、例
えば特に電流成分を応答信号とする回路に好適で
ある。更に、第１図において、電解コンデンサ３
３のリード線にプローブを接触させたいような場
合には、上記対向するプローブ４３を例えば第３
図又は第５図ないし第７図に示されるプローブに
置き換えればよい。

なお、上記第１図においてピンボード３０側の
各プローブ４２は、必要により上記プローブ４
３、又は４９，５２，５４を利用することもでき
る。

〔効果〕

以上詳細に説明したように、この考案による回
路基板検査装置は、例えば回路基板に実装された
電解コンデンサ等の金属ケースに接触してその応
答信号を取り出すプローブに可とう性の金属部材
でなる接触子を備えている。

したがつてこの装置によれば接触する相手側の
部品に対して損傷を与えるようなことが無くな
り、極めて安全性の高い基板検査を行うことがで
きる。

また、リード線引き出し方向反対形の電解コン
デンサに対してもその金属ケースに直接的にもし
くは同金属ケースに取り付けられているリード線
を介して間接的にプローブを簡単かつ安全に接触
させることが可能となり、電解コンデンサの極性
判別に大きく寄与することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図ないし第９図はこの考案による回路基板
検査装置の実施例に係り、第１図はその要部構成
図、第２図Ａは接触子を含むプローブ先端部の正
面図、第２図はＢはその底面図、第３図ないし第
７図はそれぞれプローブの変形実施例を示し、第
３図Ａないし第７図Ａはプローブ先端部の正面
図、第３図Ｂないし第７図Ｂはその底面図、第８
図及び第９図は電解コンデンサの検査説明図、第
１０図及び第１１図Ａ、第１１図Ｂは従来装置に
よる測定例を示すブロツク線図である。 図中、３１は回路基板、３２，３３は電解コン
デンサ、３７ないし４０は回路パターン、４２，
４３，４９，５０，５２，５４，５６はプロー
ブ、４４，４５は金属ケース、４６，５８中心ピ
ン、４７，４８，５１，５３，５５，５７は接触
子である。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 金属ケースを有する電解コンデンサが装着さ
   れた回路基板の回路パターン側に接触する第１
   のプローブと、上記電解コンデンサの金属ケー
   スに接触する第２のプローブとを備え、上記第
   １および第２のプローブを含む測定回路を介し
   て上記電解コンデンサの極性を判別する回路基
   板検査装着において、 上記第２のプローブには、上記金属ケースに
   対し変形を伴つて接触する金属部材からなる接
   触子が備えられていることを特徴とする回路基
   板検査装着。 (2) 実用新案登録請求の範囲第１項において、上
   記金属ケースと接触する接触子の端面には、ほ
   ぼ半円形の帯状接触面が形成されていることを
   特徴とする回路基板検査装置。 (3) 実用新案登録請求の範囲第１項において、上
   記金属ケースと接触する接触子の端面には、細
   線束によるブラツシ状の接触面が形成されてい
   ることを特徴とする回路基板検査装置。 (4) 実用新案登録請求の範囲第１項において、上
   記金属ケースと接触する接触子の端面には、鎖
   による接触面が形成されていることを特徴とす
   る回路基板検査装置。 (5) 実用新案登録請求の範囲第１項において、上
   記金属ケースと接触する接触子の端面には、コ
   イルバネによる接触面が形成されていることを
   特徴とする回路基板検査装置。