JP2531261Y2 - チップネットワーク電子部品検測装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はチップネットワーク電子
部品検測装置に関し、特に４端子測定法に基づく極小電
極間隔を有するチップネットワーク電子部品検測装置に
関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、例えば極小電極間隔を有するチッ
プネットワーク抵抗器の抵抗値測定方法としては、以下
の様な方法が用いられていた。即ち、図４に示すよう
に、チップネットワーク抵抗器５０の電極間隔に合わせ
て該チップネットワーク抵抗器の電極５１ａ，５１ｂの
電極間隔に取り付けられた小型のコンタクトプローブ５
２ａ，５２ｂの検測端子をチップネットワーク抵抗器５
０の両電極５１ａ，５１ｂに圧接させ、検測端子に接続
された抵抗値測定部６０でチップネットワーク抵抗器の
抵抗値を測定していた。

【０００３】また、図５に示すように、ピンセット等を
改造し、導電体であるピンセット先端部５５ａ，５５ｂ
でチップネットワーク抵抗器５０の両電極５１ａ，５１
ｂを挟み、この先端部５５ａ，５５ｂに接続された抵抗
値測定部６０でチップネットワーク抵抗器の抵抗値を測
定していた。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た如く、従来の極小電極間隔を有するチップネットワー
ク抵抗器の抵抗値測定方法では、以下の問題点があつ
た。即ち、図４の方法で使用する市販の小型コンタクト
プローブには、完成寸法にバラツキがあつたり、小径の
ために使用スプリングが小さくてそのバネ圧も低く、十
分な圧接力が得られず、低抵抗値の測定に限界があつ
た。

【０００５】また、図５の方法では、ピンセットを改造
しなければならず、しかも作業者による手検測が避けら
れず、状況によつて測定結果にバラツキが生じていた。
さらに、４連や８連等のチップネットワーク電子部品を
１個づついちいちピンセットで挟むため手間がかかる。
更に隣同士の導通検査を行えない。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明は、上述の課題を
解決することを目的としてなされたもので、極小電極間
隔を有する測定対象のチップネットワーク電子部品等を
４端子で検測できるチップネットワーク電子部品検測装
置を提供することを目的とする。そして、かかる目的を
達成し、上述の課題を解決する一手段として以下の構成
を備える。即ち、上部の検測対象チップネットワーク電
子部品の電極への接触部位が少なくとも該電極の幅以下
の幅に成るように２つの導電性材料の間に絶縁材料を挟
んで構成されてなる検測端子を、前記接触部位が前記検
測対象チップネットワーク電子部品の両電極の裏面にそ
れぞれ接触するように装置の検測端子係止部に係止さ
せ、４端子検測を可能にしたチップネットワーク電子部
品検測装置であつて、前記検測端子は、下部に前記検測
端子係止部に係止するときの位置決め凸部を有するとと
もに前記検測対象チップネットワーク電子部品の電極に
前記電極接触部位を接触させた時に、所定弾性力で電極
接触部位が前記電極方向に押圧されるように形成された
バネ機構を備え、両電極毎の１対の測定端子を前記検測
対象チップネットワーク電子部品の両電極の裏面に接触
（当接又は圧接）させて該電極間の特性を検測すること
を特徴とする。

【０００７】そして、例えば、検測端子のバネ機構は、
電極接触部位より延出した立設部端部より横方向に形成
され、下部の端部に前記検測端子係止部に係止するとき
の位置決め凸部を有する和鋏型形状部とすることを特徴
とする。あるいは、検測端子係止部は、検測端子対を少
なくともチップネットワーク電子部品の各対の電極間隔
位置となるように配設された検測端子係止溝を備え、前
記検測端子を前記検測端子係止溝に前記位置決め凸部で
位置決めして少なくとも検測対象チップネットワーク電
子部品の連数分嵌入させることを特徴とする。

【０００８】

【作用】以上の構成において、測定対象チップネットワ
ーク電子部品の各対の隣接する略電極間隔に合わせて、
少なくとも測定対象チップネットワーク電子部品の連数
分の検測端子を、支持部材等を用いて支持し、極小電極
間隔を有する測定対象チップネットワーク電子部品であ
つても４端子で検測できるとともに、検測端子をバネ機
構で測定対象チップネットワーク電子部品の電極に接触
（当接又は圧接）することにより、正確な検測が可能と
なるとともに、複数の連数分の検測端子を用いて各対の
電極間の電子素子体、例えば抵抗素子体の抵抗値検査の
みならず、隣接する各対の電極同士の導通検査を行うこ
とも可能とすることができる。

【０００９】

【実施例】以下、図面を参照して本発明に係る一実施例
を詳細に説明する。

【００１０】

【第１実施例】図１及び図２は、本発明に係る一実施例
の検測端子を測定対象チップネットワーク抵抗器の連数
分備えた極小電極間隔を有するチップネットワーク抵抗
器の抵抗値測定装置の検測端子及び端子ブロックの構成
を示す図である。図１の（Ａ）が検測端子位置で後述す
る端子ブロックを切り欠いた平面図、図１の（Ｂ）が図
１（Ａ）の側面図、図２が図１（Ａ）のＡ−Ａ′線縦断
面図兼底面図である。

【００１１】以下、図１及び図２を参照して本発明に係
る一実施例を詳細に説明する。図１及び図２において、
１および２は絶縁性材料で形成された端子ブロックであ
り、それぞれ少なくとも測定対象チップネットワーク抵
抗器の連数分の検測端子を固定支持する測定対象チップ
ネットワーク抵抗器の各対の電極間隔に略合わせた検測
端子係止溝を備えている。端子ブロック１，２は、不図
示の係止手段により互いに平行関係を保ちながらその間
隔を任意に調整可能に構成されており、チップネットワ
ーク抵抗器の電極間隔に応じて調整することができ、チ
ップネットワーク抵抗器の電極間隔がどの様な間隔であ
つても、容易に対処できる。

【００１２】１０は検測端子であり、２枚の導電性材料
で構成された導電部材１１，１２が略同形の絶縁シート
１３の両側面に固着されている。検測端子２０も検測端
子１０と同様に、導電部材２１，２２が絶縁シート２３
の両側面に固着された構成である。なお、検測端子１
０，２０の厚さは、少なくとも測定対象チップネットワ
ーク抵抗器の各電極の幅以下となつている。

【００１３】そして、検測端子１０，２０は、図１の
（Ａ）に示す様に、表面を平滑化した電極接触部位１
４，２４、及び、該電極接触部位１４，２４より延出す
る所定長さの立設部１５，２５とを備え、更に、該立設
部１５，２５端部より横方向に形成された上部アーム１
６，２６、該上部アーム１６，２６よりやや肉薄の折り
曲げ部１７，２７、及び端子ブロック１，２の検測端子
係止溝に嵌入される下部アーム１８，２８、端子ブロッ
ク１，２の検測端子係止溝に嵌入するときの位置決め凸
部１９，２９とにより構成された略和鋏型のバネ機構を
備えており、端子ブロック１，２又は測定対象チップネ
ットワーク抵抗器５０のいずれかを移動させて互いに押
しつけた時に、電極接触部位１４，２４が測定対象チッ
プネットワーク抵抗器の電極５１ａ，５１ｂにバネ機構
の弾性力で当接又は圧接され、良好な接触状態となるよ
うに構成されている。

【００１４】係る検測端子を、例えばチップネットワー
ク抵抗器の連数分、検測するチップネットワーク抵抗器
のピッチに合わせて配設されている端子ブロック１，２
の検測端子係止溝内に嵌入する。そして、測定対象チッ
プネットワーク抵抗器の電極間の特性、例えば各電極間
の抵抗値を測定する四端子抵抗値測定部の検測端子１０
及び２０の各導電部材１１，１２，２１及び２２を接続
することにより、検測端子１０および２０間に位置した
チップネットワーク抵抗器の抵抗値を四端子で測定する
ことが可能となつている。

【００１５】そしてこのチップネットワーク抵抗器の抵
抗値を測定する時には、不図示のチップネットワーク抵
抗器保持機構で抵抗値を測定すべきチップネットワーク
抵抗器５０を保持して、例えば検測端子１０の導電部材
１１，１２及び検測端子２０の導電部材２１，２２の電
極接触部位１４，２４と測定チップネットワーク抵抗器
５０の両電極５１ａ，５１ｂを所定圧力で圧接させれば
よい。これにより、電極接触部位１４，２４はバネ機構
１６〜１８又は２６〜２８の弾性力で所定の圧力で互い
に密着した状態となり、良好な電気的接触状態が得られ
る。この時、検測端子は、導電部材１１，１２又は２
１，２２が絶縁シート１３又は２３の両側面に固着され
ている構成であるため、図１の（Ｂ）に示す様に、チッ
プネットワーク抵抗器５０の電極５１への接触状態は、
所定間隔を保つて例えば２枚の導電部材１１，１２が接
触する状態である。以上の状態となるため、この導電部
材１１，１２を四端子抵抗値測定部に接続すれば、容易
に４端子での抵抗値測定が可能となる。

【００１６】以上の構成を備える本実施例装置の極小電
極間隔を有するチップネットワーク抵抗器の抵抗値検測
工程を図３の工程図を参照して以下に説明する。本実施
例におけるチップネットワーク抵抗器の抵抗値を検測し
ようとするときには、まず、工程１で検測端子を測定す
べきチップネットワーク抵抗器の連数分端子ブロック
１，２の検測端子係止溝内に嵌入する。そして工程２
で、端子ブロック１，２の間隔（ワークピッチ）が、略
測定すべきチップネットワーク抵抗器の電極間隔となる
ように調整する。これで、測定すべきチップネットワー
ク抵抗器の大きさ、連数等に伴う抵抗値測定機構の調整
を終了する。なお、かかる抵抗値測定機構の調整が不要
の場合、例えば、チップネットワーク抵抗器の各電極対
間の間隔に変更がない場合には以上の工程１、工程２は
不要となる。

【００１７】これで測定準備が完了したため、続いてチ
ップネットワーク抵抗器抵抗値の測定工程に移行する。
まず、工程３で不図示の抵抗係止機構が検測すべき所定
連数のチップネットワーク抵抗器を例えば挟持し、各チ
ップネットワーク抵抗器の電極が丁度検測端子の電極接
触部位の当接位置となるように位置決めし、該チップネ
ットワーク抵抗器の当該電極と検測端子とを所定圧力で
圧接する。この時のチップネットワーク抵抗器５０と検
測端子との接触状態を示したのが図１である。

【００１８】そして続く工程４で四端子抵抗値測定部に
よるチップネットワーク抵抗器の抵抗値測定処理を行
う。この場合において、測定すべき不図示の抵抗素子体
が複数連数の場合には、四端子抵抗値測定部の測定機構
を順次切り替えてそれぞれの測定すべきチップネットワ
ーク抵抗器の電極に接触検測端子間の抵抗値測定を行
う。なお、四端子抵抗値測定部を測定すべきチップネッ
トワーク抵抗器の連数分の抵抗値を一度に測定可能に構
成した場合には、検測端子の切替え等行わずに、一度に
多数のチップネットワーク抵抗器の検測が可能となる。

【００１９】次の工程５で全てのチップネットワーク抵
抗器の検測が終了したか否かを調べ、続いて次のチップ
ネットワーク抵抗器の測定を続ける場合には工程４に戻
り、次のチップネットワーク抵抗器の抵抗値測定処理を
行う。この様にして全ての検測を必要とするチップネッ
トワーク抵抗器の抵抗値の検測が終了すると処理が終了
する。なお、係る本実施例により抵抗値の測定された各
チップネットワーク抵抗器は、測定抵抗値に従い、チッ
プネットワーク抵抗器の良／不良が判断されることとな
る。

【００２０】以上説明したように本実施例によれば、簡
単な調整のみであらゆるチップネットワーク抵抗器仕様
に柔軟に適用可能な、自動的にチップネットワーク抵抗
器の各抵抗素子体の抵抗値測定ができる抵抗値測定装置
が提供できる。更に、本実施例によれば、四端子による
抵抗値の測定が可能であるため、従来の接触抵抗等のバ
ラツキによる測定抵抗値の信頼性の低下等の問題がなく
なり、高精度での抵抗値測定が可能となる。

【００２１】

【他の実施例】なお、以上の説明は、１つのチップネッ
トワーク抵抗器の電極間の抵抗値測定のみ説明したが、
上述の実施例の構成とすることにより、複数の不図示の
抵抗素子体の電極を一度に接触状態とすることができ、
相隣接する不図示の抵抗素子体の互いの電極間の抵抗値
も合わせて測定可能である。

【００２２】この様に相隣接する不図示の抵抗素子体の
互いの電極間の抵抗値も合わせて測定することにより、
隣接する２つの電極間又は抵抗間の導通試験を行うこと
ができる。これにより、更にチップネットワーク抵抗器
の良否判定を確実なものとできる。即ち、上述した実施
例における図３の工程４における１つのチップネットワ
ーク抵抗器の電極間の抵抗値の測定に加え、チップネッ
トワーク抵抗器における隣接する電極間の抵抗値も合わ
せて測定するように構成すればよい。

【００２３】これにより隣接チップネットワーク抵抗器
間の導通試験も合わせて行うことができ、後処理におけ
るチップネットワーク抵抗器の分離工程等での不良発生
を未然に防止できる。以上説明した様に本実施例によれ
ば、極小の電極間隔を有する測定対象チップネットワー
ク抵抗器を４端子で検測できるとともに、任意の形状の
チップネットワーク抵抗器の検測が簡単な調整のみで極
小の電極間隔を有するチップネットワーク抵抗器の抵抗
値測定が可能となる。

【００２４】尚、以上の説明はチップネットワーク抵抗
器の抵抗値の測定を例に説明したが、本実施例はチップ
ネットワーク抵抗器にのみ適用可能なばかりでなく、任
意のチップネットワーク電子部品の電極間の特性測定装
置に適用出来る。例えば、コンデンサチップネットワー
クのコンデンサ容量の検測、リアクタンス素子チップネ
ットワークのリアクタンス量の検測、複合インピーダン
スやそのチップネットワークの検測等、任意のチップネ
ットワーク電子部品の電極間特性を検測するチップネッ
トワーク電子部品にそのまま適用可能なことは勿論であ
る。

【００２５】更に、極小電極間隔を有するチップネット
ワーク電子部品の検測にも限定されず、任意の形状のチ
ップネットワーク電子部品の特性の測定に適用できるこ
とは勿論である。

【００２６】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、極
小電極間隔を有する測定対象のチップネットワーク電子
部品等を４端子で検測できる。また、検測素子に位置決
め凸部を備えていることにより、装置への取り付けも容
易なものとできる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る第１実施例の検測端子を示す図で
あり、（Ａ）は平面図、（Ｂ）は側面図である。

【図２】図１の（Ａ）に示すＡ−Ａ′線断面図兼底面図
である。

【図３】本実施例の検測端子を用いた抵抗値測定工程を
示す流れ図である。

【図４】、

【図５】従来の極小電極間隔を有するチップネットワー
ク抵抗器の抵抗値測定方法を説明する縦断面図及び斜視
図である。

【符号の説明】

１，２ 端子ブロック １１，１２，２１，２２ 導電部材 １３，２３ 絶縁シート １０，２０ 検測素子 ５１ａ，５１ｂ チップネットワー
ク抵抗器の電極 ５２ａ，５２ｂ コンタクトプロー
ブ ５５ａ，５５ｂ 改造ピンセット ６０ 抵抗値測定部

Claims (3)

(57)【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 上部の検測対象チップネットワーク電子
   部品の電極への接触部位が少なくとも該電極の幅以下の
   幅に成るように２つの導電性材料の間に絶縁材料を挟ん
   で構成されてなる検測端子を、前記接触部位が前記検測
   対象チップネットワーク電子部品の両電極の裏面にそれ
   ぞれ接触するように装置の検測端子係止部に係止させ、
   ４端子検測を可能にしたチップネットワーク電子部品検
   測装置であつて、前記検測端子は、下部に前記検測端子
   係止部に係止するときの位置決め凸部を有するとともに
   前記検測対象チップネットワーク電子部品の電極に前記
   電極接触部位を接触させた時に、所定弾性力で電極接触
   部位が前記電極方向に押圧されるように形成されたバネ
   機構を備え、両電極毎の１対の測定端子を前記検測対象
   チップネットワーク電子部品の両電極の裏面に接触させ
   て該電極間の特性を検測することを特徴とするチップネ
   ットワーク電子部品検測装置。
2. 【請求項２】 前記検測端子のバネ機構は、前記電極接
   触部位より延出した立設部端部より横方向に形成され、
   下部の端部に前記検測端子係止部に係止するときの位置
   決め凸部を有する和鋏型形状部とすることを特徴とする
   請求項１記載のチップネットワーク電子部品検測装置。
3. 【請求項３】 検測端子係止部は、検測端子対を少なく
   ともチップネットワーク電子部品の各対の電極間隔位置
   となるように配設された検測端子係止溝を備え、前記検
   測端子を前記検測端子係止溝に前記位置決め凸部で位置
   決めして少なくとも検測対象チップネットワーク電子部
   品の連数分嵌入させることを特徴とする請求項１記載の
   チップネットワーク電子部品検測装置。