JP3005496U - 電気特性検査用プローブ - Google Patents

電気特性検査用プローブ

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JP3005496U
JP3005496U JP1994007328U JP732894U JP3005496U JP 3005496 U JP3005496 U JP 3005496U JP 1994007328 U JP1994007328 U JP 1994007328U JP 732894 U JP732894 U JP 732894U JP 3005496 U JP3005496 U JP 3005496U
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義幸 国分
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Shin Etsu Polymer Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 印刷配線回路基板上の微細化した導電ライン
の短絡を容易かつ正確に検査できるプローブを提供す
る。 【構成】 印刷配線回路基板上の導電ライン2に接触さ
せて電気特性を検査する触針8を先端にもつプローブ1
0であって、触針8を基板面に平行でかつ導電ライン2
に対し直角方向に移動させる位置調節軸22と、基板面
に垂直方向に移動させる間隔調節軸27とを有する。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、基板の一面に印刷された配線回路を構成する導電ライン間の短絡を 検査する電気特性検査用プローブ(以下プローブという)に関する。
【0002】
【従来の技術】
印刷配線回路基板(以下印刷基板という)を製造するには、大量生産上、図2 に示すように、まず電気絶縁性樹脂等よりなるシート1の一面に、導電ライン2 で構成された配線回路3を導電性インクにより複数枚印刷した原板をつくり、 ついでこれをカット分離して印刷基板とする。
【0003】 近時電気、電子機器が高度化、小型化するにつれ、導電ラインは微細化し導電 ライン間の短絡を生じ易くなった。この短絡不良を検出するには、原板上の検査 する配線回路の導電ラインの数だけプローブを配置したプローブカードを、個々 の配線回路に位置合わせして、各プローブの先端に固定した触針を各導電ライン に接触させるか、導電ラインが平行線パターンであるときは、特開昭63−85 468号公報に開示されているように、ピン、プローブ、ピン受け等から構成さ れる検査装置を使い、二つの触針間にパルス電圧を加えてパルス電流が流れるか どうかにより、隣り合う導電ライン間の短絡を検査する方法がとられている。
【0004】
【考案が解決しようとする課題】
しかしながら前者では、検査対象の配線回路の種類(パターン)ごとにプロー ブカードを用意するため費用がかさむほか、精密なピッチで触針を配置している ので、プローブカードの保管、精度管理に細心の注意をはらう必要があり、さら に使用にあたっては導電ラインと各触針を精密に位置合わせしなければならない ため、特に装置が高精度を要し高価なものとなるという不利があった。 一方後者は、配線回路のパターンごとにプローブカードを用意する必要はなく 、先端に触針をもつプローブを一個の配線回路あたり最低2本用意し、これの位 置合わせをすればよいという利点があるので、導電ラインが平行間隔のパターン である場合広く用いられている。 このプローブによる検査手順を図3により説明すると、水平に置いたテーブル 5上に原板を載置し、ホルダー6に保持したプローブ7の先端に固定された触 針8を、導電ライン2の所定位置に正確に接触するよう位置決めし、原板の面 に平行でかつ導電ライン2の方向に直角に移動させ、各配線回路3ごとに1対の プローブ7の触針8を隣接する各導電ライン2にそれぞれ接触させ、導電ライン 間の短絡を検出器(図示しない)で検出する。ところがこの方法では、印刷基板 を使用する電気、電子機器の高度化とともに導電ラインの微細化が極端に進み、 印刷基板の外形寸法もきわめて小さくなった結果、導電ラインの長さが特に短く なって、短絡検査に必要な2本のプローブを横に並べる余裕がない場合が生じて いる。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本考案は上記した従来の問題を解決するため、先に提案した特開平6−102 303をさらに改良し、印刷基板の外形寸法がきわめて小さく、導電ラインの長 さが極端に短くても、配線回路の導電ラインの短絡検査に必要な2本のプローブ を横に並べ、迅速かつ正確に短絡した導電ラインを検査できるプローブを提供す るもので、これは印刷基板上の導電ラインに接触させて電気特性を検査する触針 を先端にもつプローブであって、触針を基板面に平行でかつ導電ラインに対し直 角方向に移動させる位置調節軸と、基板面に垂直方向に移動させる間隔調節軸と を有することを特徴とするプローブを要旨とする。 このプローブを2本後端部で結合し、さらに触針を隣接するプローブの方向へ 1〜15°偏向させる。
【0006】
【作用】
これによって配線回路の外形寸法が小さい場合でも、検査に必要な2本のプロ ーブを横に並べることが可能であり、平行部の少ない導電ラインの短絡検査が可 能となる。
【0007】
【実施例】
つぎに図1(a),(b),(c)により本考案の一実施態様を説明する。 まず検査する原板を水平に置いたテーブル5上に載置固定する。は2つの プローブ10、11を基体18の上片25の後端部12で結合した本考案のプロ ーブで、原板に平行でかつ触針8が導電ライン2にほぼ直角方向となるよう配 置して、2本の隣接した導電ライン2の短絡の有無を検査する。このように結合 したプローブを使用することにより装置の占有幅を小さくすることができる。
【0008】 プローブ10と11は同形であるから、10によって詳しく構造を説明すると 、触針8は触針固定ねじ13により触針取付ブロック14に前下がりに傾斜して 固定され、触針取付ブロック14は2枚の板ばね15によって板ばね取付ブロッ ク16に取り付けられている。しかして板ばね取付ブロック16は平行移動プレ ート17にねじ止めされ、平行移動プレート17は平行移動プレート固定ねじ2 0の鍔で基体18の下片19を挟み、平行移動プレート固定ねじ20は平行移動 プレート17に螺合している。平行移動プレート17の立ち上がり片21を位置 調節軸22がE型止め輪23にて挟み、位置調節軸22の先端は下片19の立ち 上がり片24に螺合している。 フォーク状の基体18の上片25の先端26を間隔調節軸27がE型止め輪2 8にて挟み、間隔調節軸27の先端は下片19に螺合している。 プローブ10の触針取付ブロック14は隣のプローブ11の方へ1〜15°偏 向しているので、触針8も同じ角度だけ偏向して固定されている。
【0009】 基体18はホルダー取付用ねじ穴部30で、図示しないホルダーに取り付けら れている。間隔調節軸27を調節すると、下片19、これに接触している平行移 動プレート17、板ばね取付ブロック16、板ばね15、触針取付ブロック14 を介して触針8の先端を上下動させ、触針8をシート1に接触させ所望の針圧を 得る。つぎに平行移動プレート固定ねじ20を緩め、位置調節軸22を調節する と、平行移動プレート固定ねじ20は上片25、下片19の長方形孔29を貫通 して平行移動プレート17に螺合しているので、平行移動プレート17は原板 に平行で導電ライン2に対し直角方向に移動できるから、触針8の位置を導電ラ イン2上に微調整して位置を決めることができる。
【0010】 こうして触針8を適当な圧力で導電ラインに押圧し触針8の位置が確定したな らば、平行移動プレート固定ねじ20を締めて触針8の位置を固定する。 しかして触針は、隣接プローブの方向に水平に1〜15°だけ偏向させた触針 取り付けブロックを介し板ばねに固定されているので、図1(c)に示すように 、検査する導電ラインの平行部の長さAが短くても十分検査可能である。従来A は6mm以上の長さを要したが、上記の偏向角を設ければ3mm以上の長さがあ れば検査可能である。
【0011】
【考案の効果】
本考案のプローブによれば、原板に小さな配線回路が多数印刷されていても、 プローブを正確な位置に配置することができ、検査回数を低減して検査時間の短 縮が可能となり、しかも検査装置は簡単で取扱易いという優位性が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案のプローブの一実施態様の、(a)は側
面図、(b)は平面図、(c)は触針と導電ラインの位
置関係の説明図である。
【図2】平行な導電ラインをもつ配線回路を印刷した原
板の平面図である。
【図3】従来の導電ラインの短絡検査装置の説明図であ
る。
【符号の説明】
1…シート 21…立ち上がり片 2…導電ライン 22…位置調節軸 3…配線回路 23…E型止め輪 …原板 24…立ち上がり片 5…テーブル 25…上片 6…ホルダー 26…先端 7…プローブ 27…間隔調節軸 8…触針 28…E型止め輪 、10、11…プローブ 29…長方形孔 12…後端部 30…ホルダー取付用ね
じ穴部 13…触針固定ねじ 14…触針取付ブロック 15…板ばね 16…板ばね取付ブロック 17…平行移動プレート18 …基体 19…下片 20…平行移動プレート固定ねじ

Claims (3)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 印刷配線回路基板上の導電ラインに接触
    させて電気特性を検査する触針を先端にもつプローブで
    あって、触針を基板面に平行でかつ導電ラインに対し直
    角方向に移動させる位置調節軸と、基板面に垂直方向に
    移動させる間隔調節軸とを有することを特徴とする電気
    特性検査用プローブ。
  2. 【請求項2】 2個の電気特性検査用プローブが後端部
    において結合されている請求項1に記載のプローブ。
  3. 【請求項3】 触針は隣接する電気特性検査用プローブ
    の方向に1〜15°偏向されている請求項2に記載のプ
    ローブ。
JP1994007328U 1994-06-22 1994-06-22 電気特性検査用プローブ Expired - Lifetime JP3005496U (ja)

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JP1994007328U JP3005496U (ja) 1994-06-22 1994-06-22 電気特性検査用プローブ

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