JPS6217728Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は例えばトランジスタ、抵抗、コンデン
サなどの電気部品が実装されたプリント基板の所
要箇所の電気的特性を検査する検査装置に係り、
具体的にはプリント基板の裏面側から所要の信号
を検出するために実装プリント基板の被検査端子
に接触される検出装置の接触ピンの改良された構
造を提供せんとするものである。

従来のこの種の検出装置は第１図に示すよう
に、プリント基板の被検査端子部に押しあてて接
触させるのが一般的であつた。すなわち同図にお
いて、１はソケツトで、検査治具台２に固定され
ている。ホルダー３は接触ピン４を出入自在にバ
ネ５等の弾性部材によつて保持している。そし
て、ホルダー３はソケツト１に圧入されている。
接触ピン４はバネ５によつて矢印Ａ方向に移動付
勢されている。上記のソケツト１、ホルダー３、
接触ピン４、バネ５等は、いずれも導電性部材で
構成されている。従つて接触ピン４はバネ５等の
弾性部材あるいはホルダー３を経て電気的に接続
されている。

一方、６はプリント基板であり、７はそのプリ
ント基板６に形成された配線導体箔である。８は
被検査電気部品であり、９はそのリード端子であ
る。そのリード端子９をプリント基板６の所定個
所にセツトして、リード端子９を半田ろうで電気
的に接続し、被検査端子部１０を形成している。

以上の構成において、被検査端子部１０に接触
ピン４を接触させ、端子部１０から検出信号を取
り出し、その信号を検査回路１７に供給して電気
的特性を検査するわけであるが、信号検出用の被
検査端子部の形状は種々の表面形状となる事、
又、絶縁物、フラツクス、汚れ等により、接触ピ
ンでの１点接触では接触不良が多発するという欠
点があつた。

本考案は、上記の如き欠点を除去したもので、
以下、実施例として示した第２図に基いて詳述す
る。なお、第２図において、第１図で説明したも
のと同様のものには、同一の符号を付している。
１′は導電性のソケツトで、治具台２′に固定され
ている。筒状の導電性材料よりなる第１ホルダー
１１は、その内部に導電性の第１接触ピン１２を
摺動自在にコイル状のバネ１３等の弾性部材を介
し保持している。又、筒状の導電性材料よりなる
第２接触ピン１４は、その内部に上記第１ホルダ
ー１１を摺動自在に保持している。筒状の導電性
材料よりなる第２ホルダー１５は、その内部に上
記第２接触ピン１４を同じく摺動自在にコイル状
のバネ１６等の弾性部材を介して保持し、該第２
ホルダー１５はソケツト１′内に圧入されてい
る。これにより、上記第１接触ピン１２および第
２接触ピン１４はソケツト１′内に、それぞれ別
個に移動可能なように同心円的または、ほぼ同心
円的に配された２重構造となつている。

なお、上記第１接触ピン１２、第２接触ピン１
４は各々バネ１３，１６で矢印Ａ方向へ移動付勢
されている。又、それらの第１接触ピン１２と第
２接触ピン１４は前記各ホルダー１１，１５ある
いは導電性のバネ１３，１６を介してソケツト
１′に同電位で電気的に接続され、さらに第１図
に示したと同様の検査回路に接続されている。

以上のような接触ピン構造にすると、第２図に
示すごとく被検査端子１０に押し当てた場合に
は、２重に接触ピン１２，１４が当接し、かつ被
接触部の形状に合う形状での多点接触形態である
為、接触が安定・確実となり、信頼性が高い検査
装置を提供しうるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来例を示す断面図、第２図は本考案
の一実施例の断面図である。 １′……ソケツト、２′……治具台、６……プリ
ント基板、７……銅箔、８……電気部品、９……
リード端子、１０……被検査端子部、１１……第
１ホルダー、１２……第１接触ピン、１３……バ
ネ、１４……第２接触ピン、１５……第２ホルダ
ー、１６……バネ、１７……検査回路。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. それぞれ先端部を実装プリント基板の被検査端
   子に接触可能にした導電性の第１および第２の接
   触ピンをソケツト内にそれぞれ同方向に、かつ別
   個に移動可能なるごとく同心円的もしくは、ほぼ
   同心円的に配設し、前記第１および第２の接触ピ
   ンを、それぞれ被検査端子が接触する側へ弾性部
   材によつて移動付勢するとともに、前記第１およ
   び第２の接触ピンを電気的に接続するように構成
   したことを特徴とする実装プリント基板の検査装
   置。