JPS58116677U - 実装プリント基板の検査装置 - Google Patents

実装プリント基板の検査装置

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JPS58116677U
JPS58116677U JP1395482U JP1395482U JPS58116677U JP S58116677 U JPS58116677 U JP S58116677U JP 1395482 U JP1395482 U JP 1395482U JP 1395482 U JP1395482 U JP 1395482U JP S58116677 U JPS58116677 U JP S58116677U
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JP
Japan
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printed circuit
mounted printed
contact pins
circuit boards
inspection equipment
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JP1395482U
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JPS6217728Y2 (ja
Inventor
茂雄 宮崎
Original Assignee
松下電器産業株式会社
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は従来例を示す断面図、第２図は本考案の一実施
例の断面図である。 １′・・・ソケット、２′・・・治具台、６・・・プリ
ント基板、７・・・銅箔、８・・・電気部品、９・・・
リード端子、１０・・・被検査端子部、１１・・・第１
ホルダー、１２・・・第１′接触ピン、１３・・・バネ
、１４・・・第２接触ピ、ン、１５・・・第２ホルダー
、１６・・・バネ、１７・・・検査回路。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. それぞれ先端部を実装プリント基板の被検査端′　　子
    に接触可能にした導電性の第１および第２の接触ピンを
    ラケット内にそれぞれ同方向に、かつ別個に移動可能な
    るごとく同心円的もしくは、はぼ同心円的に配設し、前
    記第１および第２の接触ピンを、それぞれ被検査端子が
    接触する側へ弾性部材によってｉ動付勢するとともに、
    前記第１および第２の接触ピンを電気的に接続μるよう
    に構成したことを特徴とする実装プリント基板の検査装
    置。
JP1395482U 1982-02-02 1982-02-02 実装プリント基板の検査装置 Granted JPS58116677U (ja)

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JP1395482U JPS58116677U (ja) 1982-02-02 1982-02-02 実装プリント基板の検査装置

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JPS58116677U true JPS58116677U (ja) 1983-08-09
JPS6217728Y2 JPS6217728Y2 (ja) 1987-05-07

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JP (1) JPS58116677U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008107229A (ja) * 2006-10-26 2008-05-08 Nidec-Read Corp 検査用接触子及び基板検査用治具

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008107229A (ja) * 2006-10-26 2008-05-08 Nidec-Read Corp 検査用接触子及び基板検査用治具

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JPS6217728Y2 (ja) 1987-05-07

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