JPS62188976A - 回路基板検査機用コンタクトプロ−ブ - Google Patents
回路基板検査機用コンタクトプロ−ブInfo
- Publication number
- JPS62188976A JPS62188976A JP61031357A JP3135786A JPS62188976A JP S62188976 A JPS62188976 A JP S62188976A JP 61031357 A JP61031357 A JP 61031357A JP 3135786 A JP3135786 A JP 3135786A JP S62188976 A JPS62188976 A JP S62188976A
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- Japan
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- contact
- tip
- conductor
- circuit board
- contact probe
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
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Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［技術分野］
本発明は、プリント配線板の導体回路部分を電気的に検
査する布線検査機のような回路基板検査機のコンタクト
プローブに関し、詳しくは検査機を大型化しなくとも電
気的に確実な接触を得ることがでトるようにしようとす
る技術に関する。
査する布線検査機のような回路基板検査機のコンタクト
プローブに関し、詳しくは検査機を大型化しなくとも電
気的に確実な接触を得ることがでトるようにしようとす
る技術に関する。
［背景技術１
従来、プリント配線板の導水回路部分の良否の検査を行
うのに、導体回路に略等しいパターンにフンタクトプロ
ーブを配設し、これらコンタクトプローブを導体回路部
分に電気的に接触させてその導通を検査するのであるが
、このように導通回路部分に接触させるコンタクトプロ
ーブは、接触を確実なものにするのに、フンタクトの先
端部にコイルスプリングにより突出付勢して装着された
プランジャーの先端は針状に尖ったものが多用されてい
る。しかし確実な接触圧を得るのに、単位コンタクトプ
ローブ当たり約１５０ｇ程度の押圧力をかけるのに、被
検査体側を損傷したり、破損したりすることがあり、そ
こで、先端面が尖鋭でな（略平面状の接触面を有するコ
ンタクトプローブもあるが、このように略平面状の接触
面を有するものにおいては、導体回路側の銅の形状や小
さいほこり等によって、その接触面と導体回路部分との
安定的な接触が得られない場合が生じ、このため検査機
の押圧力を高めなければならず、検査機が大型化すると
いう問題がある。
うのに、導体回路に略等しいパターンにフンタクトプロ
ーブを配設し、これらコンタクトプローブを導体回路部
分に電気的に接触させてその導通を検査するのであるが
、このように導通回路部分に接触させるコンタクトプロ
ーブは、接触を確実なものにするのに、フンタクトの先
端部にコイルスプリングにより突出付勢して装着された
プランジャーの先端は針状に尖ったものが多用されてい
る。しかし確実な接触圧を得るのに、単位コンタクトプ
ローブ当たり約１５０ｇ程度の押圧力をかけるのに、被
検査体側を損傷したり、破損したりすることがあり、そ
こで、先端面が尖鋭でな（略平面状の接触面を有するコ
ンタクトプローブもあるが、このように略平面状の接触
面を有するものにおいては、導体回路側の銅の形状や小
さいほこり等によって、その接触面と導体回路部分との
安定的な接触が得られない場合が生じ、このため検査機
の押圧力を高めなければならず、検査機が大型化すると
いう問題がある。
［発明の目的Ｊ
本発明はこのような問題に鑑みてなされたものであり、
その目的とするところは、検査機の抑圧力を高めないで
小さいほこり等に遮られることなく導体回路部分と安定
的に接触することがで軽る回路基板検査機用コンタクト
プローブを提供することにある。
その目的とするところは、検査機の抑圧力を高めないで
小さいほこり等に遮られることなく導体回路部分と安定
的に接触することがで軽る回路基板検査機用コンタクト
プローブを提供することにある。
［発明の開示］
本発明の回路基板検査機用コンタクドブロープは、フン
タクト１の先端部にｖｃ着されているプランジャー２の
先端に導電性ゴムのような弾性導電体３を取着して成る
ことを特徴とするものであり、このように構成すること
によって、上記目的を達成したものである。つまり、プ
ランジャー２の先端に導電性ゴムのような弾性導電体３
を取着することによって、導体回路部分との間に小さい
ほこりがあってもこれを吸収して電気的に安定な接触を
得ることがでト、小さいほこり等に遮られることなく、
それでいて押圧力を高めることなく、検査代を大型化し
なくてもよく、良好な検査を行うことができるようにし
たものである。
タクト１の先端部にｖｃ着されているプランジャー２の
先端に導電性ゴムのような弾性導電体３を取着して成る
ことを特徴とするものであり、このように構成すること
によって、上記目的を達成したものである。つまり、プ
ランジャー２の先端に導電性ゴムのような弾性導電体３
を取着することによって、導体回路部分との間に小さい
ほこりがあってもこれを吸収して電気的に安定な接触を
得ることがでト、小さいほこり等に遮られることなく、
それでいて押圧力を高めることなく、検査代を大型化し
なくてもよく、良好な検査を行うことができるようにし
たものである。
以下本発明の実施例を図面に基づいて詳述する。
回路基板検査機は、布線検査機のようなものであり、回
路基板（図示せず）に形成された導体回路パターンと同
一パターンにコンタクトプローブＡの極めて多数個を配
設し、プレス装置（図示せず）によりコンタクトプロー
ブＡ群を導体回路パターンに圧接し、その導通結果を予
め導体回路パターンに基づいて記憶させである基準パタ
ーンとを比較して、導通回路部分の良否を判定すること
ができるようにしである。
路基板（図示せず）に形成された導体回路パターンと同
一パターンにコンタクトプローブＡの極めて多数個を配
設し、プレス装置（図示せず）によりコンタクトプロー
ブＡ群を導体回路パターンに圧接し、その導通結果を予
め導体回路パターンに基づいて記憶させである基準パタ
ーンとを比較して、導通回路部分の良否を判定すること
ができるようにしである。
コンタクトプローブＡはソケット固定用絶縁板４に保持
されたソケット５にコンタクト１を差し込みｍａｉｌで
構成されるものであり、そしてフンタクト１は第１図に
示すように、保持筒６内にプランジャー２を抜き出し不
能に挿入し、コイルスプリング７にて鋼球８を介して突
出（＝Ｆ Ｗしたものであり、このプランジャー２の先
端に導電性ゴムのような弾性導電体３を取着したもので
ある。このように、プランジャー２の先端に導電性ゴム
のような弾性導電体３を取着することによって、導体回
路部分との間に小さいほこりがあってもこれを吸収して
電気的に安定な接触を得て、小さいほこり等に遺られる
ことなく、それでいて押圧力を高めることなく、検査機
を大型化しなくてもよいものである。
されたソケット５にコンタクト１を差し込みｍａｉｌで
構成されるものであり、そしてフンタクト１は第１図に
示すように、保持筒６内にプランジャー２を抜き出し不
能に挿入し、コイルスプリング７にて鋼球８を介して突
出（＝Ｆ Ｗしたものであり、このプランジャー２の先
端に導電性ゴムのような弾性導電体３を取着したもので
ある。このように、プランジャー２の先端に導電性ゴム
のような弾性導電体３を取着することによって、導体回
路部分との間に小さいほこりがあってもこれを吸収して
電気的に安定な接触を得て、小さいほこり等に遺られる
ことなく、それでいて押圧力を高めることなく、検査機
を大型化しなくてもよいものである。
尚、プランジャー２の形状としては、その先端面が略平
面状に形成されていて、この先端面に弾性導電体３をｉ
！＆着剤等により取着されていればよく、プランツヤ−
２の形状は第５図（、）乃至（ｄ）のように種々設計変
更可能である。
面状に形成されていて、この先端面に弾性導電体３をｉ
！＆着剤等により取着されていればよく、プランツヤ−
２の形状は第５図（、）乃至（ｄ）のように種々設計変
更可能である。
【発明の効果］
以上要するに本発明は、プランツヤ−の先端に導電性ゴ
ムのような弾性導電体を取着しであるから、導体回路部
分との間に小さいほこりがあってもこれを吸収して電気
的に安定な接触を得ることができ、小さいほこり等に遮
られることなく、それでいて押圧力を病めることなく、
検査機を大型化しなくてもよく、良好な検査を行うこと
ができるという利点がある。
ムのような弾性導電体を取着しであるから、導体回路部
分との間に小さいほこりがあってもこれを吸収して電気
的に安定な接触を得ることができ、小さいほこり等に遮
られることなく、それでいて押圧力を病めることなく、
検査機を大型化しなくてもよく、良好な検査を行うこと
ができるという利点がある。
ｆＰ５１図は本発明の−・実施例のコンタクトの断面図
、第２図は同上の側面図、第３図は同上のソケットの側
面図、ｔｊＳ４図は同上のコンタクトをソケットに装着
した側面図、第５図（ａ）（ｂ）（ｃ）及び（ｄ）は同
上の他の実施例のプランジャーの一部切欠！側面図であ
り、１はコンタクト、２はプランジャー、３は弾性導電
体である。 代理人 弁理士 石 １）氏 七 第 １図 第２図 第３図 第５ン （０）（ｂ） （０）（ｄ）
、第２図は同上の側面図、第３図は同上のソケットの側
面図、ｔｊＳ４図は同上のコンタクトをソケットに装着
した側面図、第５図（ａ）（ｂ）（ｃ）及び（ｄ）は同
上の他の実施例のプランジャーの一部切欠！側面図であ
り、１はコンタクト、２はプランジャー、３は弾性導電
体である。 代理人 弁理士 石 １）氏 七 第 １図 第２図 第３図 第５ン （０）（ｂ） （０）（ｄ）
Claims (1)
- （１）コンタクトの先端部に装着されているプランジャ
ーの先端に導電性ゴムのような弾性導電体を取着して成
ることを特徴とする回路基板検査機用コンタクトプロー
ブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61031357A JPS62188976A (ja) | 1986-02-14 | 1986-02-14 | 回路基板検査機用コンタクトプロ−ブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61031357A JPS62188976A (ja) | 1986-02-14 | 1986-02-14 | 回路基板検査機用コンタクトプロ−ブ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62188976A true JPS62188976A (ja) | 1987-08-18 |
Family
ID=12328982
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61031357A Pending JPS62188976A (ja) | 1986-02-14 | 1986-02-14 | 回路基板検査機用コンタクトプロ−ブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62188976A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63107867U (ja) * | 1986-12-27 | 1988-07-12 | ||
| KR100843203B1 (ko) | 2006-09-08 | 2008-07-02 | 삼성전자주식회사 | 포고 핀 및 그 포고 핀을 포함한 반도체 소자 테스트용콘택터 |
| KR100977491B1 (ko) | 2008-03-17 | 2010-08-23 | 리노공업주식회사 | 반도체 칩 검사용 탐침 장치 |
| JP2017003317A (ja) * | 2015-06-05 | 2017-01-05 | 矢崎総業株式会社 | 導通検査治具、導通検査装置、電線の導通検査方法及びワイヤハーネスの導通検査方法 |
-
1986
- 1986-02-14 JP JP61031357A patent/JPS62188976A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63107867U (ja) * | 1986-12-27 | 1988-07-12 | ||
| KR100843203B1 (ko) | 2006-09-08 | 2008-07-02 | 삼성전자주식회사 | 포고 핀 및 그 포고 핀을 포함한 반도체 소자 테스트용콘택터 |
| KR100977491B1 (ko) | 2008-03-17 | 2010-08-23 | 리노공업주식회사 | 반도체 칩 검사용 탐침 장치 |
| JP2017003317A (ja) * | 2015-06-05 | 2017-01-05 | 矢崎総業株式会社 | 導通検査治具、導通検査装置、電線の導通検査方法及びワイヤハーネスの導通検査方法 |
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