JPH0416367U - - Google Patents

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JPH0416367U
JPH0416367U JP5650390U JP5650390U JPH0416367U JP H0416367 U JPH0416367 U JP H0416367U JP 5650390 U JP5650390 U JP 5650390U JP 5650390 U JP5650390 U JP 5650390U JP H0416367 U JPH0416367 U JP H0416367U
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【図面の簡単な説明】
第１図は本考案のＣＣＤ計測装置の接触装置の
側面図、第２図は同じく斜視図、第３図は従来例
のＣＣＤ計測装置の接触装置の側面図、第４図は
同じく斜視図である。 図において、１……接触装置、２……移動台、
３……第一のプローブピン、４……第二のプロー
ブピン、５……補助基板、６……アーム、７……
計測装置、８……プリント基板、９……レセプタ
クル、１０……ＣＣＤ、１１……支持台、１２…
…接触用基板、１３……接触端子、１４……コネ
クタピン、である。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 計測用回路を組み込んだ基板上に、両側に複数
    の端子を有する電子部品を下方から支持する支持
    台と、該支持台側面に前記計測回路と接続された
    接触端子を設け、 前記支持台の両側に、上段に前記電子部品の端
    子に接触する第一の探針列と、下段に前記接触端
    子に接触する第二の探針列を設けた移動台をスラ
    イド自在に設け、 前記第一の探針列と第二の探針列間の上下同一
    線上にある探針同士を導電材料で接続したことを
    特徴とする電子部品計測装置の接触装置。
JP1990056503U 1990-05-31 1990-05-31 電子部品計測装置の接触装置 Expired - Fee Related JP2508732Y2 (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011052969A (ja) * 2009-08-31 2011-03-17 Hioki Ee Corp 基板検査装置におけるｚ軸ユニットの配線引き回し構造
JP2013124996A (ja) * 2011-12-16 2013-06-24 Fuji Electric Co Ltd 半導体試験装置
JP2014153293A (ja) * 2013-02-13 2014-08-25 Mitsubishi Electric Corp 測定装置
JP2015043277A (ja) * 2013-08-26 2015-03-05 株式会社エンプラス 電気部品用ソケット及び電気部品の検査システム
WO2019171797A1 (ja) * 2018-03-07 2019-09-12 オムロン株式会社 検査ユニットおよび検査装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59192979A (ja) * 1983-04-15 1984-11-01 Mitsutoyo Mfg Co Ltd 電子部品の検査方法

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