JP3230857B2 - 印刷配線回路の検査方法 - Google Patents
印刷配線回路の検査方法Info
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- JP3230857B2 JP3230857B2 JP31143892A JP31143892A JP3230857B2 JP 3230857 B2 JP3230857 B2 JP 3230857B2 JP 31143892 A JP31143892 A JP 31143892A JP 31143892 A JP31143892 A JP 31143892A JP 3230857 B2 JP3230857 B2 JP 3230857B2
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- conductive line
- conductive
- printed circuit
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、導電インクを用いて形
成した印刷配線回路の検査方法に関するものである。
成した印刷配線回路の検査方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に印刷配線回路１は、図３に示すよ
うに、電気絶縁性樹脂よりなる基板２上に複数の導電ラ
イン３を印刷して形成したものである。この印刷配線回
路１を製造する際は、生産効率をあげるため基板２の一
面にこれを複数個形成して印刷回路原板４とし、ついで
これをカットして個々の印刷配線回路１を得る。
うに、電気絶縁性樹脂よりなる基板２上に複数の導電ラ
イン３を印刷して形成したものである。この印刷配線回
路１を製造する際は、生産効率をあげるため基板２の一
面にこれを複数個形成して印刷回路原板４とし、ついで
これをカットして個々の印刷配線回路１を得る。
【０００３】近時導電ラインは微細化して断線し易くな
っている。この不良を検出するには印刷配線回路１個の
もつ導電ラインの本数に相当する数の検査用触針を配置
したプローブカードを個々の印刷配線回路に位置合わせ
し、検査用触針を導電ラインの両端に接触させて検査し
たり（第１の検査方法）、導電ラインが平行線パターン
である時には、特開昭63-85468に開示されるように、ピ
ン、プローブ、ピン受け等から構成される検査装置を走
査し、２本の検査用触針を導電ラインの両端に接触させ
検査（第２の検査方法）していた。
っている。この不良を検出するには印刷配線回路１個の
もつ導電ラインの本数に相当する数の検査用触針を配置
したプローブカードを個々の印刷配線回路に位置合わせ
し、検査用触針を導電ラインの両端に接触させて検査し
たり（第１の検査方法）、導電ラインが平行線パターン
である時には、特開昭63-85468に開示されるように、ピ
ン、プローブ、ピン受け等から構成される検査装置を走
査し、２本の検査用触針を導電ラインの両端に接触させ
検査（第２の検査方法）していた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら第１の検
査方法では、検査の対象となる印刷配線回路の種類（パ
ターン）毎にプローブカードを用意する必要があって費
用がかさむほか、精密なピッチで検査用触針を配置して
いるために、保管、精度管理に細心の注意を払う必要が
あり、さらに使用にあたっては、プローブカードを精密
に位置合わせして、導電ラインに検査用触針を正確に接
触させなければならないため、かなり高い精度を有する
検査装置を用いなければならない。
査方法では、検査の対象となる印刷配線回路の種類（パ
ターン）毎にプローブカードを用意する必要があって費
用がかさむほか、精密なピッチで検査用触針を配置して
いるために、保管、精度管理に細心の注意を払う必要が
あり、さらに使用にあたっては、プローブカードを精密
に位置合わせして、導電ラインに検査用触針を正確に接
触させなければならないため、かなり高い精度を有する
検査装置を用いなければならない。
【０００５】一方第２の検査方法は、印刷配線回路の種
類（パターン）毎にプローブカードを用意する必要はな
く、導電ラインが平行等間隔のパターンである場合に広
く用いられている。このプローブによる検査の手順は、
図３に示すように、印刷回路原板４をテーブル５上に載
置固定し、ホルダー６に保持したプローブ７の先端に取
りつけた検査用触針８が印刷回路原板４上の印刷配線回
路１を構成する導電ライン３に接触するよう、ホルダー
６を導電ライン３に平行方向、直角方向に移動調整し
て、導電ライン３上を走査することにより、１本の導電
ラインの両端に接触させた検査用触針８に生ずるパルス
の有無を検出器（図示しない）で検出するものである。
類（パターン）毎にプローブカードを用意する必要はな
く、導電ラインが平行等間隔のパターンである場合に広
く用いられている。このプローブによる検査の手順は、
図３に示すように、印刷回路原板４をテーブル５上に載
置固定し、ホルダー６に保持したプローブ７の先端に取
りつけた検査用触針８が印刷回路原板４上の印刷配線回
路１を構成する導電ライン３に接触するよう、ホルダー
６を導電ライン３に平行方向、直角方向に移動調整し
て、導電ライン３上を走査することにより、１本の導電
ラインの両端に接触させた検査用触針８に生ずるパルス
の有無を検出器（図示しない）で検出するものである。
【０００６】ところが印刷配線回路を使用する電子機器
の高度化、小型化とともに導電ラインの微細化が極端に
進み、前記した第１の検査方法ではもちろん、第２の検
査方法においても、印刷回路原板上の導電ラインと２本
の検査用触針をたがいに精密に直角を保ちながら走査し
なければ、正確に導電ライン両端に検査用触針を接触さ
せ続けることができないため、両方法ともに高精度の検
査装置を必要とする不利があった。さらに第２の検査方
法では、導電ラインの形状が平行等間隔のものに限定さ
れるため、自由形状を容易に形成可能であるという印刷
配線回路の特徴を生かしたものを除外せざるを得ず、従
ってその適用範囲が限定される。
の高度化、小型化とともに導電ラインの微細化が極端に
進み、前記した第１の検査方法ではもちろん、第２の検
査方法においても、印刷回路原板上の導電ラインと２本
の検査用触針をたがいに精密に直角を保ちながら走査し
なければ、正確に導電ライン両端に検査用触針を接触さ
せ続けることができないため、両方法ともに高精度の検
査装置を必要とする不利があった。さらに第２の検査方
法では、導電ラインの形状が平行等間隔のものに限定さ
れるため、自由形状を容易に形成可能であるという印刷
配線回路の特徴を生かしたものを除外せざるを得ず、従
ってその適用範囲が限定される。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記した従来
の問題点を解決するもので、電気絶縁性樹脂よりなる基
板上に形成した印刷配線回路を構成する導電ラインの電
気特性の検査方法において、可撓性導電片により導電ラ
インの一端を一括して短絡し、タングステンまたは金め
っき等による防蝕処理を施したニッケル、銅、鋼から選
ばれた金属線製の検査用触針を、与圧０．５〜５ｇ、検
査用触針を含む印刷回路原板面に垂直な面内で測った印
刷回路原板面に対する検査用指針の取付角度３０°〜４
５°で、他端に順次接触させることにより導電ラインの
断線を検査することを特徴とする。
の問題点を解決するもので、電気絶縁性樹脂よりなる基
板上に形成した印刷配線回路を構成する導電ラインの電
気特性の検査方法において、可撓性導電片により導電ラ
インの一端を一括して短絡し、タングステンまたは金め
っき等による防蝕処理を施したニッケル、銅、鋼から選
ばれた金属線製の検査用触針を、与圧０．５〜５ｇ、検
査用触針を含む印刷回路原板面に垂直な面内で測った印
刷回路原板面に対する検査用指針の取付角度３０°〜４
５°で、他端に順次接触させることにより導電ラインの
断線を検査することを特徴とする。
【０００８】
【発明の実施の形態】検査用触針は、導電ライン上を走
査した時に同時に２本以上の導電ラインと接触してはな
らないから、太さ、および取付角度が限定されるが、近
時の印刷配線回路が０．２ｍｍピッチ程度まで小さくな
っていることから、直径１ｍｍ以下、好ましくは０．５
ｍｍ以下とし、先端を円錐形状とするのがよく、検査用
触針の直径が０．２ｍｍ未満となった場合には、検査用
触針の加工性および強度の点から好ましいものとは言え
ない。
査した時に同時に２本以上の導電ラインと接触してはな
らないから、太さ、および取付角度が限定されるが、近
時の印刷配線回路が０．２ｍｍピッチ程度まで小さくな
っていることから、直径１ｍｍ以下、好ましくは０．５
ｍｍ以下とし、先端を円錐形状とするのがよく、検査用
触針の直径が０．２ｍｍ未満となった場合には、検査用
触針の加工性および強度の点から好ましいものとは言え
ない。
【０００９】検査用触針の印刷回路原板に対する取付角
度は、検査用触針を含む印刷回路原板面に垂直な面内で
測って印刷回路原板面に対して９０°とすると、電気的
接触を十分安定なものとするための検査用触針に与える
圧力によって導電ラインが損傷するおそれがあり、また
極端に低角度になると、取付方法に支障をきたすので、
３０°〜４５°とするのがよい。
度は、検査用触針を含む印刷回路原板面に垂直な面内で
測って印刷回路原板面に対して９０°とすると、電気的
接触を十分安定なものとするための検査用触針に与える
圧力によって導電ラインが損傷するおそれがあり、また
極端に低角度になると、取付方法に支障をきたすので、
３０°〜４５°とするのがよい。
【００１０】検査用触針の材質は、導電性が高く、また
耐摩耗性に優れていることが要求されるので、ニッケ
ル、銅、タングステン、鋼等から選ばれるが、ニッケ
ル、銅、鋼等は酸化して接触抵抗が上昇するおそれがあ
り、金めっき等による防蝕処理を要する。しかしなが
ら、金めっき等防蝕処理したものでは耐摩耗性に優れた
ものはないので、最も好ましくはタングステンとするの
がよい。
耐摩耗性に優れていることが要求されるので、ニッケ
ル、銅、タングステン、鋼等から選ばれるが、ニッケ
ル、銅、鋼等は酸化して接触抵抗が上昇するおそれがあ
り、金めっき等による防蝕処理を要する。しかしなが
ら、金めっき等防蝕処理したものでは耐摩耗性に優れた
ものはないので、最も好ましくはタングステンとするの
がよい。
【００１１】検査用触針を保持固定するプローブは、上
述したように、従来は検査用触針と導電ラインを精密に
位置合わせする必要があったため、検査用触針を導電ラ
インに対して直角方向および平行方向に微動させる機構
を要し、複雑かつ高価なものとなっていたが、本発明に
おいては、その必要がなく、構造は単純で、安価なもの
とすることができる。
述したように、従来は検査用触針と導電ラインを精密に
位置合わせする必要があったため、検査用触針を導電ラ
インに対して直角方向および平行方向に微動させる機構
を要し、複雑かつ高価なものとなっていたが、本発明に
おいては、その必要がなく、構造は単純で、安価なもの
とすることができる。
【００１２】またこのプローブには、検査用触針を導電
ラインに確実に接触させる必要があることから、板ばね
等によって与圧を加えるのが好ましい。この与圧は、小
さすぎると導電ラインとの接触が不確実になるし、大き
すぎた場合には導電ラインを損傷するおそれがあるの
で、 0.5〜５g 好ましくは１〜２g の範囲とするのがよ
い。
ラインに確実に接触させる必要があることから、板ばね
等によって与圧を加えるのが好ましい。この与圧は、小
さすぎると導電ラインとの接触が不確実になるし、大き
すぎた場合には導電ラインを損傷するおそれがあるの
で、 0.5〜５g 好ましくは１〜２g の範囲とするのがよ
い。
【００１３】検査を要する導電ラインの他端に接触させ
る可撓性導電片は、ポリイミド、ポリエステル等可撓性
基材に銅箔、アルミ箔等を積層接着した従来公知のもの
でよく、また、上記のような可撓性基材に検査対象のご
とく印刷によって配線を施したものであってよい。
る可撓性導電片は、ポリイミド、ポリエステル等可撓性
基材に銅箔、アルミ箔等を積層接着した従来公知のもの
でよく、また、上記のような可撓性基材に検査対象のご
とく印刷によって配線を施したものであってよい。
【００１４】導電ラインの他端に接触させる可撓性導電
片は検査対象となる印刷配線回路の凹凸に追従可能とす
るため可撓性であることが必要とされ、上述したポリイ
ミド、ポリエステル等のフィルムを用いる場合、10〜50
μｍ、好ましくは20〜40μｍの厚みとするのがよい。可
撓性導電片には上記したフィルムの少なくとも片面に導
電性を付与し、検査器とリード線により結線すればよい
ので、特別パターンを形成する必要がない。ポリイミ
ド、ポリエステル等フィルムと同等の可撓性が得られれ
ば、銅箔、アルミ箔等その他金属箔そのものでもよい。
片は検査対象となる印刷配線回路の凹凸に追従可能とす
るため可撓性であることが必要とされ、上述したポリイ
ミド、ポリエステル等のフィルムを用いる場合、10〜50
μｍ、好ましくは20〜40μｍの厚みとするのがよい。可
撓性導電片には上記したフィルムの少なくとも片面に導
電性を付与し、検査器とリード線により結線すればよい
ので、特別パターンを形成する必要がない。ポリイミ
ド、ポリエステル等フィルムと同等の可撓性が得られれ
ば、銅箔、アルミ箔等その他金属箔そのものでもよい。
【００１５】以下、図によって本発明になる印刷配線回
路の検査の態様を説明すると、図１に示すように、テー
ブル５上に載置した印刷回路原板４に複数個形成・面付
けされた印刷配線回路基板において、ホルダー６に保持
された四組の検査用触針８をかまぼこ形状の配線パター
ンの印刷配線回路１の導電ライン３の一端に接触させ、
他端を、一組内の他の導電ラインも一緒に覆う大きさの
四組の可撓性導電片９でおおまかに位置合わせして接触
させ、第一列目の四組の印刷配線回路の導電ラインの断
線を検査する。この時、導電ラインに断線がなければ検
査用触針と可撓性導電片の間に閉回路が形成されるの
で、生ずるパルス数により導電ラインの良否が判定され
る。他の導電ラインも検査用触針だけを移動させて次々
に判定することができる。なお、検査される配線パター
ンはかまぼこ形状のものに限られることはなく、また、
同時に検査されるのは、四組であることに限られること
はないことはいうまでもない。
路の検査の態様を説明すると、図１に示すように、テー
ブル５上に載置した印刷回路原板４に複数個形成・面付
けされた印刷配線回路基板において、ホルダー６に保持
された四組の検査用触針８をかまぼこ形状の配線パター
ンの印刷配線回路１の導電ライン３の一端に接触させ、
他端を、一組内の他の導電ラインも一緒に覆う大きさの
四組の可撓性導電片９でおおまかに位置合わせして接触
させ、第一列目の四組の印刷配線回路の導電ラインの断
線を検査する。この時、導電ラインに断線がなければ検
査用触針と可撓性導電片の間に閉回路が形成されるの
で、生ずるパルス数により導電ラインの良否が判定され
る。他の導電ラインも検査用触針だけを移動させて次々
に判定することができる。なお、検査される配線パター
ンはかまぼこ形状のものに限られることはなく、また、
同時に検査されるのは、四組であることに限られること
はないことはいうまでもない。
【００１６】この可撓性導電片を導電ラインに接触させ
て電気的に接続するには、図２（ａ）に示すように、圧
縮空気圧または電磁石を動力源としたシリンダー等従来
公知の押圧器１０を用いてよい。１１は可撓性導電片に
接続したリード線である。この場合圧力を均一に分布さ
せるため、および、印刷回路原板の凹凸に追従して接触
を十分に保つためスポンジ１２を介して押圧するのがよ
い。検査の対象となる印刷配線回路がフィルム状である
場合や、常磁性のものである場合には、図２（ｂ）に示
すように、可撓性導電片９を検査する印刷配線回路１の
導電ライン３の他端に接触させた状態で永久磁石１３で
挟むよう固定してもよい。永久磁石としては可撓性であ
るマグネットテープＭＧＯ−1016（住友スリーエム社製
品名）等が好適である。
て電気的に接続するには、図２（ａ）に示すように、圧
縮空気圧または電磁石を動力源としたシリンダー等従来
公知の押圧器１０を用いてよい。１１は可撓性導電片に
接続したリード線である。この場合圧力を均一に分布さ
せるため、および、印刷回路原板の凹凸に追従して接触
を十分に保つためスポンジ１２を介して押圧するのがよ
い。検査の対象となる印刷配線回路がフィルム状である
場合や、常磁性のものである場合には、図２（ｂ）に示
すように、可撓性導電片９を検査する印刷配線回路１の
導電ライン３の他端に接触させた状態で永久磁石１３で
挟むよう固定してもよい。永久磁石としては可撓性であ
るマグネットテープＭＧＯ−1016（住友スリーエム社製
品名）等が好適である。
【００１７】
【発明の効果】以上これまで述べてきたように、本発明
の検査方法によれば、導電ラインの一端に検査用触針
を、他端に可撓性導電片を接触するので、プローブの位
置合わせを精密に行う必要がなく、検査装置の単純化、
段取り時間の低減を図ることが可能となった。さらに検
査対象の導電ラインの形状は平行等間隔のものに限定さ
れず、汎用的に検査が可能である。
の検査方法によれば、導電ラインの一端に検査用触針
を、他端に可撓性導電片を接触するので、プローブの位
置合わせを精密に行う必要がなく、検査装置の単純化、
段取り時間の低減を図ることが可能となった。さらに検
査対象の導電ラインの形状は平行等間隔のものに限定さ
れず、汎用的に検査が可能である。
【図１】印刷配線回路を検査する本発明の方法の説明
図。
図。
【図２】（ａ）は空圧または電磁石を動力源とする押圧
器により可撓性導電片を導電ラインに押圧する場合の説
明図、（ｂ）は永久磁石により可撓性導電片を導電ライ
ンに押圧する場合の説明図。
器により可撓性導電片を導電ラインに押圧する場合の説
明図、（ｂ）は永久磁石により可撓性導電片を導電ライ
ンに押圧する場合の説明図。
【図３】平行等間隔の導電ラインをもつ印刷配線回路の
従来の検査方法の説明図。
従来の検査方法の説明図。
１…印刷配線回路 ２…基板 ３…導電ライン ４…印刷回路原板 ５…テーブル ６…ホルダー ７…プローブ ８…検査用触針 ９…可撓性導電片 １０…押圧器 １１…リード線 １２…スポンジ １３…永久磁石
Claims (1)
- 【請求項１】 電気絶縁性樹脂よりなる基板上に形成し
た印刷配線回路を構成する導電ラインの電気特性の検査
方法において、可撓性導電片により導電ラインの一端を
一括して短絡し、タングステンまたは金めっき等による
防蝕処理を施したニッケル、銅、鋼から選ばれた金属線
製の検査用触針を、与圧０．５〜５ｇ、検査用触針を含
む印刷回路原板面に垂直な面内で測った印刷回路原板面
に対する検査用指針の取付角度３０°〜４５°で、他端
に順次接触させることにより導電ラインの断線を検査す
ることを特徴とする印刷配線回路の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31143892A JP3230857B2 (ja) | 1992-10-27 | 1992-10-27 | 印刷配線回路の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31143892A JP3230857B2 (ja) | 1992-10-27 | 1992-10-27 | 印刷配線回路の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06194399A JPH06194399A (ja) | 1994-07-15 |
| JP3230857B2 true JP3230857B2 (ja) | 2001-11-19 |
Family
ID=18017220
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31143892A Expired - Lifetime JP3230857B2 (ja) | 1992-10-27 | 1992-10-27 | 印刷配線回路の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3230857B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100382344B1 (ko) * | 2001-03-14 | 2003-05-09 | 엘지전자 주식회사 | 플렉시블 인쇄 회로 기판의 검사장치 및 그 검사방법 |
| KR20020091691A (ko) * | 2001-05-31 | 2002-12-06 | 주식회사 현대 디스플레이 테크놀로지 | 액정표시장치 테스트 프레임 |
-
1992
- 1992-10-27 JP JP31143892A patent/JP3230857B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06194399A (ja) | 1994-07-15 |
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