JP2007232558A - 電子部品検査プローブ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】検査プローブは、多数の検査ポイント12を備えた電子部品11と、多数の入力リード線26を備えた検査機器との間に、各々が絶縁された若干のバネ性を有する多数の金属芯線18を介在させ、該電子部品11を押し付けることで金属芯線18のバネ性によって各検査ポイント12と各入力端子との間に各金属芯線18の両端が接触して電気的に導通させる検査プローブであって、検査ポイント12の配列間隔Xpは該金属芯線18の配列間隔Ppよりも小さく、隣り合う該各検査ポイント12が該各金属芯線18へ接触し得る最大幅Xoutは、各金属芯線18の間隙距離Pinよりも大きい。
【選択図】 図2
Description
Claims (5)
- 多数の検査ポイントを備えた電子部品と、多数の入力リード線を備えた検査機器との間に、各々が絶縁された若干のバネ性を有する多数の金属芯線を介在させ、該電子部品を押し付けることで金属芯線のバネ性によって各検査ポイントと各入力端子との間に各金属芯線の両端が接触して電気的に導通させる検査プローブであって、検査ポイントの配列間隔が該金属芯線の配列間隔よりも小さく、隣り合う検査ポイントの導通部の最遠距離が隣り合う金属芯線の最近距離よりも大きいことを特徴とする検査プローブ。
- 前記各金属芯線が絶縁されて一対ごとに束ねられていることを特徴とする請求項1に記載の検査プローブ。
- 前記により束ねられている一対の金属芯線の検査ポイントに向かう側の端面が、外傾斜面にカットされていることを特徴とする請求項2に記載の検査プローブ。
- 前記により束ねられている一対の金属芯線の検査機器に向かう側の端面が、内傾斜面にカットされていることを特徴とする請求項2に記載の検査プローブ。
- 該各入力端子の配列間隔が、そこに接触する該各金属芯線の配列間隔よりも大きいことを特徴とする請求項1に記載の検査プローブ。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006054321A JP2007232558A (ja) | 2006-03-01 | 2006-03-01 | 電子部品検査プローブ |
TW096101931A TW200734648A (en) | 2006-03-01 | 2007-01-18 | Electronic component inspection probe |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006054321A JP2007232558A (ja) | 2006-03-01 | 2006-03-01 | 電子部品検査プローブ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007232558A true JP2007232558A (ja) | 2007-09-13 |
Family
ID=38553277
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006054321A Pending JP2007232558A (ja) | 2006-03-01 | 2006-03-01 | 電子部品検査プローブ |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2007232558A (ja) |
TW (1) | TW200734648A (ja) |
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- 2006-03-01 JP JP2006054321A patent/JP2007232558A/ja active Pending
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- 2007-01-18 TW TW096101931A patent/TW200734648A/zh unknown
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TW200734648A (en) | 2007-09-16 |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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