JP2008197009A - 電子部品検査プローブ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】検査プローブ1は、多数の検査ポイント12を備えた電子部品11と、多数の入力リード線26を備えた検査機器との間に、各々が絶縁された若干のバネ性を有する多数の金属芯線18を介在させ、該電子部品11を押し付けることで該金属芯線18のバネ性によって各検査ポイント12と各入力リード線の入力端子との間に各金属芯線の両端が接触して電気的に導通させる検査プローブであって、各金属芯線が、検査ポイントに向いた側の一端で、互いの間に間隙を持ちつつその金属芯線の径よりも拡大した検査ポイント接触ヘッド13を有しており、該間隙の最短距離Hinが、隣り合う該検査ポイント12の導通部の最遠距離Xoutより短い。
【選択図】図2
Description
Claims (5)
- 多数の検査ポイントを備えた電子部品と、多数の入力リード線を備えた検査機器との間に、各々が絶縁された若干のバネ性を有する多数の金属芯線を介在させ、該電子部品を押し付けることで該金属芯線のバネ性によって各検査ポイントと各入力リード線の入力端子との間に各金属芯線の両端が接触して電気的に導通させる検査プローブであって、各金属芯線が、検査ポイントに向いた側の一端で、互いの間に間隙を持ちつつその金属芯線の径よりも拡大した検査ポイント接触ヘッドを有しており、該間隙の最短距離が、隣り合う該検査ポイントの導通部の最遠距離より短いことを特徴とする検査プローブ。
- 前記ヘッドが、円柱状又は球状であることを特徴とする請求項1に記載の検査プローブ。
- 前記ヘッドの側壁部分が、絶縁コーティングされていることを特徴とする請求項1に記載の検査プローブ。
- 前記各金属芯線が絶縁されて一対ごとに束ねられていることを特徴とする請求項1に記載の検査プローブ。
- 前記バネ性が、前記押し付けに対する金属芯線自身の復元力、又は前記金属芯線に巻き付けられて前記押し付けを復元するスプリングによることを特徴とする請求項1に記載の検査プローブ。
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JP2007033744A JP2008197009A (ja) | 2007-02-14 | 2007-02-14 | 電子部品検査プローブ |
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2007
- 2007-02-14 JP JP2007033744A patent/JP2008197009A/ja active Pending
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