KR20020091691A - 액정표시장치 테스트 프레임 - Google Patents

액정표시장치 테스트 프레임 Download PDF

Info

Publication number
KR20020091691A
KR20020091691A KR1020010030560A KR20010030560A KR20020091691A KR 20020091691 A KR20020091691 A KR 20020091691A KR 1020010030560 A KR1020010030560 A KR 1020010030560A KR 20010030560 A KR20010030560 A KR 20010030560A KR 20020091691 A KR20020091691 A KR 20020091691A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
pin block
probe
probe pin
liquid crystal
crystal display
Prior art date
Application number
KR1020010030560A
Other languages
English (en)
Inventor
권기영
김상현
Original Assignee
주식회사 현대 디스플레이 테크놀로지
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 현대 디스플레이 테크놀로지 filed Critical 주식회사 현대 디스플레이 테크놀로지
Priority to KR1020010030560A priority Critical patent/KR20020091691A/ko
Publication of KR20020091691A publication Critical patent/KR20020091691A/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2887Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks involving moving the probe head or the IC under test; docking stations
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1313Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells specially adapted for a particular application
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • G02F1/13458Terminal pads

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

본 발명은 다양한 어레이 기판에서도 사용할 수 있는 액정표시장치 테스트 프레임을 개시한다. 개시된 본 발명은 먹스 보드와 신호 입력부를 포함하는 프루브 프레임 베이스부; 게이트 패드용 프루브 핀 블럭과 데이타 패드용 핀 블럭을 고정 할 수 있는 프루브 핀 블럭 고정바들; 상기 프루브 핀 블럭 고정바가 상기 프루브 프레임 베이스부에서 이동할 수 있도록 일정 간격 이격 배치된 레일을 포함하고, 상기 프루브 핀 블럭 고정바 양쪽 가장자리에는 상기 프루브 프레임 베이스부의 레일을 따라 이동할 수 있도록 홈이 형성되어 있고, 상기 게이트 패드용 프루브 핀 블럭과 데이터 패드용 프루브 핀 블럭은 양쪽 가장자리가 확장 형성되고, 홈이 형성되어 상기 프루브 핀 블럭 고정바 상에서 좌우로 이동할 수 있는 것이다.

Description

액정표시장치 테스트 프레임{LIQUID CRYSTAL DISPLAY TEST FRAME}
본 발명은 액정표시장치 테스트 프레임에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 다양한 액정표시장치에 따라 테스트 프레임을 변경하지 않고도 유동적으로 테스트를 실시할 수 있는 액정표시장치 테스트 프레임에 관한 것이다.
일반적으로 액정표시장치는 완제품이 될때까지 여러번의 테스트 과정을 거치게 되는데, 보통 어레이 기판 제조 공정 단계에서는 어레이 테스트 과정을 거치고, 액정 주입하에 어레이 기판과 상부 기판을 합착하는 셀 완성 단계에서 셀 테스트를 거친다. 마지막으로 완전한 패널이 완성된 상태에서 모듈 테스트를 거친다.
상기에 설명한 어레이 테스트 방식에는 두가지가 일반적으로 사용된다. 첫째 방식은 각각의 게이트 패드와 데이터 패드들에 핀(Pin)을 콘택(contact)하여 테스트(test)하는 핀 콘택 방식과 두번째 방식은 각각의 패드를 아드(odd)/이븐(even) 패드및 Vcom패드로 나누어 테스트하는 넌(non) 콘택 방식이 있다.
상기 넌(non) 콘택(contact) 방식에 의한 어레이 기판 테스트 방식은 프루브 프레임을 이용하여 테스트를 실시한다.
이러한 관점에서, 종래기술에 따른 액정표시장치의 테스트 프레임을 도 1 내지 도 2를 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 1a 및 1b 각각는 종래 기술에 따른 액정표시장치의 테스트 프레임을 도시한 평면도 및 배면도이다.
종래기술에 따른 액정표시장치의 테스트 프레임은, 도 1a에 도시된 바와 같이, 프루브 프레임 베이스부(10)에 프루브 핀 블럭을 고정시킬 수 있는 프루브 핀블럭 고정바(14)가 두개 배치되어 있다. 14.1인치 테스트 프레임인 경우에는 두개가 설치되고, 도면에는 도시하지 않았지만, 15인치 테스트 프레임은 하나가 배치된다.
또한, 도 1b에 도시된 바와같이, 프루브 프레임 베이스부(10)의 상부에는 먹스 보드부(11)와 테스트 신호를 입력하는 신호 입력부(13)가 배치되어 있고, 상기 프루브 프레임 베이스부(10)와 프루브 핀 블럭 고정바(14)에 각각 게이트 패드용 프루브 핀 블럭(16)과 데이터 패드용 프루브 핀 블럭(15)이 하나로해서 6개가 배치되어 있다.
그리고, 도 2a는 상기 도 1a에서 A 부분을 확대한 도면으로서, 도 2a에 도시된 바와 같이, 프루브 프레임 베이스부(10)와 프루브 핀 블럭 고정바(14)는 나사에의하여 움직이지 않도록 고정 배치되어 있고, 먹스 보드(도시하지 않음)와 연결되어 있는 테스트를 위한 케이블(17)이 프루브 프레임 베이스부(10)를 따라 프루브 핀 블럭 고정바(14)의 프루브 핀 블럭들에 연결되어 있다.
또한, 도 2b는 상기 도 1b에서 B부분을 확대한 도면으로서, 도 2b에 도시된 바와 같이, 프루브 핀 블럭 고정바(14) 상에는 게이트 패드용 프루브 핀 블럭(16)과 데이터 패드용 프루브 핀 블럭(15)이 각각 나사에의하여 고정 배치되어 있다.
상기와 같은 구조를 갖는 액정표시장치 테스트 프레임은 다음과 같은 방법으로 어레이 기판의 불량 여부를 테스트한다.
먼저, 신호 입력부에서 테스트 신호를 인가하고, 먹스 보드와 연결되어 있는 케이블에 의하여 각각의 어레이 기판을 테스트한다. 14.1인치인 경우에는 6개의 어레이 기판을 테스트 할 수 있고, 15 인치인 경우에는 4개의 어레이 기판을 테스트 할 수 있다.
그러나, 상기와 같은 구조를 갖는 종래의 액정표시장치 테스트 프레임은 테스트할 기판의 크기에 맞도록 프루브 핀 블럭 고정바가 고정되어 있고, 게이트 패드용 프루브 핀 블럭과 데이터 패드용 프루브 핀 블럭이 각각 나사에 의하여 고정 배치되어 있으므로 액정표시장치의 크기가 변화하는 경우에는 또다른 테스트 프레임을 제작하여 사용해야하는 문제점을 가지고 있다.
게다가, 프루브 핀 블럭이 고정 배치되어 있으므로, 어레이 기판 상에 배치된 게이트 패드부와 데이타 패드부를 변화시켜 제작할 수 없는 단점이 있다.
또한, 테스트 프레임의 설처와 제거를 반복하므로, 프루브 핀 블럭 고정바가 휘어져 테스트 콘택 불량이 발생하기 쉬워진다.
따라서, 본 발명은 상기한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 다양한 크기의 어레이 기판에서도 테스트 프레임을 바꾸지 않고도 테스트를 할 수 있는 액정표시장치 테스트 프레임을 제공함에 그 목적이 있다.
도 1a는 종래 기술에 따른 액정표시장치의 테스트 프레임을 도시한 평면도.
도 1b는 종래 기술에 따른 액정표시장치의 테스트 프레임을 도시한 배면도.
도 2a는 상기 도 1a에서 "A" 부분을 확대한 도면.
도 2b는 상기 도 1b에서 "B" 부분을 확대한 도면.
도 3a는 본 발명에 따른 액정표시장치의 테스트 프레임을 도시한 평면도.
도 3b는 본 발명에 따른 액정표시장치의 테스트 프레임을 도시한 배면도.
도 4a는 상기 도 3a에서 "C" 부분을 확대한 도면.
도 4b는 상기 도 3b에서 "D" 부분의 게이트 패드용 프루브 핀 블럭을 확대한 도면.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명*
11: 먹스 보드(MUX Board)부 13: 신호 입력부
20: 프루브 프레임 베이스부 21: 레일
24: 프루브 핀 블럭 고정바 25: 데이터 패드용 프루브 핀 블럭
26: 게이트 패드용 프루브 핀 블럭
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 먹스 보드와 신호 입력부를 포함하는 프루브 프레임 베이스부; 게이트 패드용 프루브 핀 블럭과 데이타 패드용 핀 블럭을 고정 할 수 있는 프루브 핀 블럭 고정바들; 상기 프루브 핀 블럭 고정바가 상기 프루브 프레임 베이스부에서 이동할 수 있도록 일정 간격 이격 배치된 레일을포함하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 프루브 핀 블럭 고정바 양쪽 가장자리에는 상기 프루브 프레임 베이스부의 레일을 따라 이동할 수 있도록 홈이 형성되어 있고, 상기 게이트 패드용 프루브 핀 블럭과 데이터 패드용 프루브 핀 블럭은 양쪽 가장자리가 확장 형성되고, 홈이 형성되어 상기 프루브 핀 블럭 고정바 상에서 좌우로 이동할 수 있는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 의하면, 액정표시장치 테스트 프레임의 베이스부에 레일을 설치하고, 프루브 핀 블럭 고정바는 상기 베이스부의 레일에 의하여 움직일수 있도록 하였고, 상기 프루브 핀 블럭 고정바 상에 배치된 게이트 패드용 프루브 핀 블럭과 데이타 패드용 프루브 핀 블럭 좌우로 움직일 수 있도록 홈을 형성하여 다양한 크기의 어레이 기판에서도 테스트 프레임을 사용할 수 있는 잇점이 있다.
(실시예)
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 자세히 설명하도록 한다.
도 3a 및 도 3b는 각각 본 발명에 따른 액정표시장치의 테스트 프레임을 도시한 평면도 및 배면도이다.
본 발명에 따른 액정표시장치의 테스트 프레임은, 도 3a에 도시된 바와 같이, 프루부 프레임 베이스부(20)에 프루브 핀 블럭 고정바(24)가 유동될 수 있도록 레일(21)이 배치되어 있다. 여기서, 상기 레일(21)은 일정 부분은 이격되어 있도록 분리 되어 상기 프루브 프레임 베이스부(20) 양쪽에 배치한다.
또한, 도 3b에 도시된 바와같이, 프루브 프레임 베이스부(20) 상부에는 먹스 보드(MUX Board)부와 테스트 신호를 인가하는 신호 입력부(13)가 배치되어 있고, 프루브 핀 블럭 고정바(24) 상에는 게이트 패드용 프루브 핀 블럭(26)과 데이터 패드용 프루브 핀 블럭(25)이 각각 하나로 6개가 배치되어 있다.
그리고, 도 4a는 상기 도 3a에서 C 부분을 확대한 도면으로서, 도 4a에 도시된 바와 같이, 프루브 핀 블럭 고정바(24)는 프루브 프레임 베이스부(20)에 배치된 레일(21)을 따라 움직여서, 다양한 크기의 어레이 기판에도 유동적으로 테스트할 수 있도록 한다.
또한, 도 4b는 상기 도 3b에서 D 부분의 게이트 패드용 프루브 핀 블럭을 확대한 도면으로서, 도 4b에 도시된 바와 같이, 게이트용 프루브 핀 블럭(26)의 고정 부분이 확장되도록 형성되어 있고, 어레이 기판의 게이트 패드의 위치에 따라 유동할 수 있도록 홈을 형성한다.
상기와 같은 구조를 갖는 액정표시장치 테스트 프레임은 다음과 같이 동작한다. 종래의 테스트 프레임은 액정표시장치의 크기에 따라 별도의 테스트 프레임을 사용하여야 했고, 프루브 핀 블럭 고정바 상에 게이트 패드용 프루브 핀 블럭과 데이터 패드용 프루브 핀 블럭이 고정되어 있으므로, 어레이 기판 상에 게이트 패드와 데이터 패드의 위치를 변화시킬 수 없었다.
그러나, 본 발명에서는 먼저, 프루브 핀 블럭 고정바가 프루브 플레임 베이스부에 배치된 레일을 따라 이동할 수 있게 하므로써 다양한 크기의 어레이 기판을 테스트할 수 있고, 상기 프루브 핀 블럭 고정바 상에 배치된 게이트 패드용 혹은데이터 패드용 프루브 핀 블럭도 움직일 수 있도록 형성 배치하여 어레이 기판 상에 게이트 패드와 데이터 패드의 위치를 변경하여 설계할 수 있는 잇점이 있다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명은 어레이 기판의 크기와 모델이 변화하여도 액정표시장치 테스트 프레임을 바꿀 필요 없기 때문에 새로운 테스트 장비의 구입에 따른 경비를 절감 할 수있는 효과가 있다.
또한, 프루브 핀 블럭 고정바의 위치를 이동할 수 있게 되므로 고정바의 휨을 발생을 방지할 수 있어 테스트의 정확도가 높아지는 효과가 있다.
아울러, 어레이 기판의 모듈 간섭이 최소화되는 잇점이 있다.
본 발명은 상기한 실시 예에 한정되지 않고, 이하 청구 범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진자라면 누구든지 다양한 변경 실시가 가능할 것이다.

Claims (3)

  1. 먹스 보드와 신호 입력부를 포함하는 프루브 프레임 베이스부;
    게이트 패드용 프루브 핀 블럭과 데이타 패드용 핀 블럭을 고정할 수 있는 프루브 핀 블럭 고정바들;
    상기 프루브 핀 블럭 고정바가 상기 프루브 프레임 베이스부에서 이동할 수 있도록 일정 간격만큼 이격 배치된 레일을 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치 테스트 프레임.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 프루브 핀 블럭 고정바 양쪽 가장자리에는 상기 프루브 프레임 베이스부의 레일을 따라 이동할 수 있도록 홈이 형성된 것을 특징으로 하는 액정표시장치 테스트 프레임.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 게이트 패드용 프루브 핀 블럭과 데이터 패드용 프루브 핀 블럭은 양쪽 가장자리가 확장 형성되고, 홈이 형성되어 상기 프루브 핀 블럭 고정바 상에서 좌우로 이동할 수 있는 것을 특징으로 하는 액정표시장치 테스트 프레임.
KR1020010030560A 2001-05-31 2001-05-31 액정표시장치 테스트 프레임 KR20020091691A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020010030560A KR20020091691A (ko) 2001-05-31 2001-05-31 액정표시장치 테스트 프레임

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020010030560A KR20020091691A (ko) 2001-05-31 2001-05-31 액정표시장치 테스트 프레임

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20020091691A true KR20020091691A (ko) 2002-12-06

Family

ID=27707386

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020010030560A KR20020091691A (ko) 2001-05-31 2001-05-31 액정표시장치 테스트 프레임

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20020091691A (ko)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03252571A (ja) * 1990-03-01 1991-11-11 Tokyo Electron Ltd 基板の検査装置
JPH04269670A (ja) * 1990-12-10 1992-09-25 Aerospat Soc Natl Ind 配線の一部である複数本の導体の導通試験と絶縁試験を行う試験装置
JPH06194399A (ja) * 1992-10-27 1994-07-15 Shin Etsu Polymer Co Ltd 印刷配線回路の検査方法
JPH11174108A (ja) * 1997-12-12 1999-07-02 Dainippon Printing Co Ltd 電極配線の検査装置
JP2001074599A (ja) * 1999-08-31 2001-03-23 Soushiyou Tec:Kk フラットパネルディスプレイ又はプローブブロックの支持枠体

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03252571A (ja) * 1990-03-01 1991-11-11 Tokyo Electron Ltd 基板の検査装置
JPH04269670A (ja) * 1990-12-10 1992-09-25 Aerospat Soc Natl Ind 配線の一部である複数本の導体の導通試験と絶縁試験を行う試験装置
JPH06194399A (ja) * 1992-10-27 1994-07-15 Shin Etsu Polymer Co Ltd 印刷配線回路の検査方法
JPH11174108A (ja) * 1997-12-12 1999-07-02 Dainippon Printing Co Ltd 電極配線の検査装置
JP2001074599A (ja) * 1999-08-31 2001-03-23 Soushiyou Tec:Kk フラットパネルディスプレイ又はプローブブロックの支持枠体

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101021628B (zh) 液晶显示面板的测试系统及方法及阵列基板
US20050280427A1 (en) Apparatus for probing multiple integrated circuit devices
CN111650793B (zh) 显示面板及其阵列基板
US20020085169A1 (en) Liquid crystal display for testing defects of wiring in panel
TW200831918A (en) Testing system and method of liquid crystal display panel and array substrate
JPH09229965A (ja) プローブユニット及びその調節方法
US7170311B2 (en) Testing method for LCD panels
KR100390747B1 (ko) 반도체칩, 반도체장치용 패키지, 프로브 카드 및 패키지 테스트 방법
EP2950139B1 (en) Liquid crystal display panel and liquid crystal display device
CN107481653A (zh) 一种测试设备及测试方法
CN110189671B (zh) 成盒测试电路、阵列基板和液晶显示装置
JP2002222839A (ja) プローブカード
JP2008039725A (ja) プリント配線板の電気検査方法およびプリント配線板の電気検査装置
KR20160021060A (ko) 표시장치
KR20060128446A (ko) 표시 패널의 검사 장치
KR20020091691A (ko) 액정표시장치 테스트 프레임
JP3346936B2 (ja) 表示パネル検査用ソケット
KR20050082431A (ko) 평판표시소자 검사용 프로브 조립체
KR100670557B1 (ko) 프로브 어셈블리
KR20020078494A (ko) 어레이 기판 테스트 방법
KR20040061424A (ko) 로그라인 단선시험이 가능한 tft 어레이 패널구조
JP3499951B2 (ja) 液晶パネル用検査ユニット
CN101071157A (zh) 检查显示器基板的方法和设备
KR100341128B1 (ko) 액정 표시 소자의 화면표시 품위 검사방법
KR100580389B1 (ko) 액정표시장치 패널 제조 방법

Legal Events

Date Code Title Description
N231 Notification of change of applicant
N231 Notification of change of applicant
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application