JPH04269670A - 配線の一部である複数本の導体の導通試験と絶縁試験を行う試験装置 - Google Patents
配線の一部である複数本の導体の導通試験と絶縁試験を行う試験装置Info
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- JPH04269670A JPH04269670A JP3325974A JP32597491A JPH04269670A JP H04269670 A JPH04269670 A JP H04269670A JP 3325974 A JP3325974 A JP 3325974A JP 32597491 A JP32597491 A JP 32597491A JP H04269670 A JPH04269670 A JP H04269670A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、配線の一部である複
数本の導体の導通試験と絶縁試験を行う試験装置に関す
るものである。ここで「配線の一部」という言葉は、導
体の束、即ち、ワイヤあるいはケーブル、例えば複雑な
機械、中でも飛行機の操縦のために必要なデータや指令
を伝達するためのものとして知られている。
数本の導体の導通試験と絶縁試験を行う試験装置に関す
るものである。ここで「配線の一部」という言葉は、導
体の束、即ち、ワイヤあるいはケーブル、例えば複雑な
機械、中でも飛行機の操縦のために必要なデータや指令
を伝達するためのものとして知られている。
【０００２】
【従来の技術】例えばヘリコプタのような飛行機におい
ては、配線が工場で施された後、そしてそれが配設され
る前において、その配線の一部の導体の導通と絶縁をチ
ェックするために、配線の全ての導体が接続されている
特定のテストベンチを使用することが知られている。配
線の一部である複数本の導体の各々が第１、第２の接続
部材を有するものの導通と絶縁を試験するような試験装
置としては、多くの接続部材を有し、その入力端子に各
導体の第１及び第２の接続部材を接続でき、各導体の第
１及び第２の接続部材に結合されるリンク手段と、この
リンク手段の接続部材の所定の出力端子へ選択手段によ
り接続されて電気パラメータを測定する測定手段であっ
て、そのような導体の導通試験のために試験下にある導
体の第１及び第２の接続部材を前記測定手段に接続し、
且つそのような導体の他の導体との比較における絶縁試
験のために試験下にある導体を前記配線の少なくとも他
のいくつかの導体に接続するように前記選択手段が前記
出力端子を選択する前記測定手段と、この測定手段によ
り測定された電気パラメータと同一又は異なる電気パラ
メータを発生する電気パラメータ発生手段と、前記試験
装置を制御してその試験結果を分析する制御・分析手段
と、を備えたものが知られている。
ては、配線が工場で施された後、そしてそれが配設され
る前において、その配線の一部の導体の導通と絶縁をチ
ェックするために、配線の全ての導体が接続されている
特定のテストベンチを使用することが知られている。配
線の一部である複数本の導体の各々が第１、第２の接続
部材を有するものの導通と絶縁を試験するような試験装
置としては、多くの接続部材を有し、その入力端子に各
導体の第１及び第２の接続部材を接続でき、各導体の第
１及び第２の接続部材に結合されるリンク手段と、この
リンク手段の接続部材の所定の出力端子へ選択手段によ
り接続されて電気パラメータを測定する測定手段であっ
て、そのような導体の導通試験のために試験下にある導
体の第１及び第２の接続部材を前記測定手段に接続し、
且つそのような導体の他の導体との比較における絶縁試
験のために試験下にある導体を前記配線の少なくとも他
のいくつかの導体に接続するように前記選択手段が前記
出力端子を選択する前記測定手段と、この測定手段によ
り測定された電気パラメータと同一又は異なる電気パラ
メータを発生する電気パラメータ発生手段と、前記試験
装置を制御してその試験結果を分析する制御・分析手段
と、を備えたものが知られている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】このため、従来のテス
トベンチにおいては、リンク手段接続部材の出力端子を
選択する選択手段は、セレクタやスイッチ及びそのコン
トローラの組を形成している。結果として、数千の試験
ポイントを有し得るテストベンチでは、試験ポイントと
同数のスイッチが必要となり、スイッチを再編するため
の方法や手段が使用されてもスイッチのためのコントロ
ーラの数はなお極めて多い。又、電圧に耐え得るための
必要性や、維持の必要性は、リードスイッチとして知ら
れている特別のスイッチの使用をよぎなくしている幾つ
かの要因のうちの２つを占めている。これと同じものが
、エアギャップによって分離され、かつ中を真空、又は
不活性雰囲気としたガラス容器に囲まれた２つの磁気ス
トライプによって具体化されている。電圧に耐えるため
磁性体とリード間のギャップは比較的大きくならざるを
えず、このためこの種のスイッチはかなりのスペースを
必要とする。それ故、従来のテストベンチの大きさと重
さは相当のものとなっている。例えば、現在使用されて
いる８４００ポイントの大きさのテストベンチでは、大
きさはおよそ４ｍ３となり、その重さは６００Ｋｇから
７００Ｋｇにも及び、これらは明らかにその使用の易動
性及び融通性をひどく害している。又、大変多くのコン
トローラの使用は（８４００ポイントのテストベンチに
おいては１７４個のコントローラ）制御・分析手段を非
常に複雑化し、ブレークダウンの危険性、信頼性の低下
を招くことを意味する。
トベンチにおいては、リンク手段接続部材の出力端子を
選択する選択手段は、セレクタやスイッチ及びそのコン
トローラの組を形成している。結果として、数千の試験
ポイントを有し得るテストベンチでは、試験ポイントと
同数のスイッチが必要となり、スイッチを再編するため
の方法や手段が使用されてもスイッチのためのコントロ
ーラの数はなお極めて多い。又、電圧に耐え得るための
必要性や、維持の必要性は、リードスイッチとして知ら
れている特別のスイッチの使用をよぎなくしている幾つ
かの要因のうちの２つを占めている。これと同じものが
、エアギャップによって分離され、かつ中を真空、又は
不活性雰囲気としたガラス容器に囲まれた２つの磁気ス
トライプによって具体化されている。電圧に耐えるため
磁性体とリード間のギャップは比較的大きくならざるを
えず、このためこの種のスイッチはかなりのスペースを
必要とする。それ故、従来のテストベンチの大きさと重
さは相当のものとなっている。例えば、現在使用されて
いる８４００ポイントの大きさのテストベンチでは、大
きさはおよそ４ｍ３となり、その重さは６００Ｋｇから
７００Ｋｇにも及び、これらは明らかにその使用の易動
性及び融通性をひどく害している。又、大変多くのコン
トローラの使用は（８４００ポイントのテストベンチに
おいては１７４個のコントローラ）制御・分析手段を非
常に複雑化し、ブレークダウンの危険性、信頼性の低下
を招くことを意味する。
【０００４】この発明は、配線の一部である複数本の導
体の導通試験と絶縁試験を行う試験装置において、その
大きさ、重さ、電力消費量を従来の装置に比較して非常
に小さくし、又信頼性の向上を図ることができる試験装
置を得ることを目的とする。
体の導通試験と絶縁試験を行う試験装置において、その
大きさ、重さ、電力消費量を従来の装置に比較して非常
に小さくし、又信頼性の向上を図ることができる試験装
置を得ることを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段及び作用】この発明に係る
配線の一部の導体の導通性と絶縁性の試験装置は、リン
ク手段の接続部材１１の出力端子１１ｂ・１，１１ｂ・
２，１１ｂ・３を支持部１２・１，１２・２，１２・３
上にｎ行ｐ列のマトリクスの形に配列し、選択手段は、
導通試験のため、試験下にある導体の第１及び第２の接
続部材に対応する、リンク手段接続部材の２つの出力端
子を測定手段５に接続するために前記マトリクスの横列
と縦列に沿って可動な第１のセット１３・１及び第２の
セット１３・２と、絶縁試験のため、試験下にある導体
の接続部材に対応するような前記リンク手段接続部材の
出力端子を前記測定手段に接続するために前記マトリク
スの横列と縦列に沿って可動な第３のセット１３・２、
及び前記測定手段に前記リンク手段接続部材の少なくと
も他のいくつかの出力端子を接続するための第４のセッ
ト１３・３と、を有するものである。
配線の一部の導体の導通性と絶縁性の試験装置は、リン
ク手段の接続部材１１の出力端子１１ｂ・１，１１ｂ・
２，１１ｂ・３を支持部１２・１，１２・２，１２・３
上にｎ行ｐ列のマトリクスの形に配列し、選択手段は、
導通試験のため、試験下にある導体の第１及び第２の接
続部材に対応する、リンク手段接続部材の２つの出力端
子を測定手段５に接続するために前記マトリクスの横列
と縦列に沿って可動な第１のセット１３・１及び第２の
セット１３・２と、絶縁試験のため、試験下にある導体
の接続部材に対応するような前記リンク手段接続部材の
出力端子を前記測定手段に接続するために前記マトリク
スの横列と縦列に沿って可動な第３のセット１３・２、
及び前記測定手段に前記リンク手段接続部材の少なくと
も他のいくつかの出力端子を接続するための第４のセッ
ト１３・３と、を有するものである。
【０００６】又、この発明に係る試験装置において、第
１のセットないし前記第４のセットはそれぞれリンク手
段接続部材の出力端子のｎ行ｐ列のマトリクスに関連付
けられ、対応するマトリクスの出力端子は並列に接続さ
れ、前記第１のセットないし前記第３のセットはそれぞ
れ前記マトリクスの横列と縦列に平行な第１の軸と第２
の軸に沿って交差状に移動する可動部を有する機構１４
を備え、この機構１４は、前記第１の軸及び第２の軸に
よって決定される平面に垂直な第３の軸に平行に移動す
るようになっている接触部材１９に結合されるようにし
たものである。
１のセットないし前記第４のセットはそれぞれリンク手
段接続部材の出力端子のｎ行ｐ列のマトリクスに関連付
けられ、対応するマトリクスの出力端子は並列に接続さ
れ、前記第１のセットないし前記第３のセットはそれぞ
れ前記マトリクスの横列と縦列に平行な第１の軸と第２
の軸に沿って交差状に移動する可動部を有する機構１４
を備え、この機構１４は、前記第１の軸及び第２の軸に
よって決定される平面に垂直な第３の軸に平行に移動す
るようになっている接触部材１９に結合されるようにし
たものである。
【０００７】更にこの発明に係る試験装置において、機
構１４は、横棒１７がスライド可能に取り付けられた２
つの平行な直立棒を有し、接触部材１９の支持部材１８
は前記横棒にそって可動であるようにしたものである。
構１４は、横棒１７がスライド可能に取り付けられた２
つの平行な直立棒を有し、接触部材１９の支持部材１８
は前記横棒にそって可動であるようにしたものである。
【０００８】又、この発明に係る試験装置において、第
４のセット１３・３は、リンク手段接続部材の夫々出力
端子に接触しかつマトリクスの縦列と平行に可動な支持
板２３上に配置された導体板２２を備えるとともに、前
記支持板の上端２７には、この支持板の平面と垂直に可
動でありかつ、前記出力端子に接触する一列の接触部材
２８を設けるようにしたものである。
４のセット１３・３は、リンク手段接続部材の夫々出力
端子に接触しかつマトリクスの縦列と平行に可動な支持
板２３上に配置された導体板２２を備えるとともに、前
記支持板の上端２７には、この支持板の平面と垂直に可
動でありかつ、前記出力端子に接触する一列の接触部材
２８を設けるようにしたものである。
【０００９】更にこの発明に係る試験装置において、各
接触部材は、加圧された隔室と加圧されていない隔室と
を分離するピストンが、マトリクスの横列に平行に可動
なシリンダと連結されている突出子２８としたものであ
る。
接触部材は、加圧された隔室と加圧されていない隔室と
を分離するピストンが、マトリクスの横列に平行に可動
なシリンダと連結されている突出子２８としたものであ
る。
【００１０】又、この発明に係る試験装置において、第
２のセット及び第３のセットは、導通試験又は絶縁試験
に使用され得る１つのマトリクスと関連付けられた唯一
のセット１３・２を形成するようにしたものである。
２のセット及び第３のセットは、導通試験又は絶縁試験
に使用され得る１つのマトリクスと関連付けられた唯一
のセット１３・２を形成するようにしたものである。
【００１１】更に、この発明に係る試験装置において、
全ての支持部１２・１，１２・２，１２・３とセット１
３・１，１３・２，１３・３が真空中又は不活性雰囲気
中に維持されているようにしたものである。
全ての支持部１２・１，１２・２，１２・３とセット１
３・１，１３・２，１３・３が真空中又は不活性雰囲気
中に維持されているようにしたものである。
【００１２】更に又、この発明に係る試験装置において
、測定手段５は、安定化された高電圧発生器と結合され
たオーム測定ブリッジを備えるようにしたものである。
、測定手段５は、安定化された高電圧発生器と結合され
たオーム測定ブリッジを備えるようにしたものである。
【００１３】
【実施例】以下、添付図面に従って、この発明がいかに
効果を奏するのかを明白にする。尚、同一の符号は図面
全体において同一のものを示す。図１において、配線２
の一部である複数本の導体の導通試験と絶縁試験を行う
の試験装置１は、通常、配線２の各導体に連結するリン
ク手段３、このリンク手段３の所定の出力端子を選択す
る選択手段４、リンク手段３の所定の出力端子に印加さ
れるようになっている電気パラメータを測定する測定手
段５、この測定手段５に接続され、測定されたパラメー
タと同一又は異なる電気パラメータを発生する電気パラ
メータ発生手段６、試験装置１を制御し、その試験結果
を分析するための制御・分析手段７、そして主電源８を
備えている。
効果を奏するのかを明白にする。尚、同一の符号は図面
全体において同一のものを示す。図１において、配線２
の一部である複数本の導体の導通試験と絶縁試験を行う
の試験装置１は、通常、配線２の各導体に連結するリン
ク手段３、このリンク手段３の所定の出力端子を選択す
る選択手段４、リンク手段３の所定の出力端子に印加さ
れるようになっている電気パラメータを測定する測定手
段５、この測定手段５に接続され、測定されたパラメー
タと同一又は異なる電気パラメータを発生する電気パラ
メータ発生手段６、試験装置１を制御し、その試験結果
を分析するための制御・分析手段７、そして主電源８を
備えている。
【００１４】図２はこの発明に係る試験装置１のリンク
手段３と選択手段４の構成の一例を示す平面図であり、
配線２として２本の導体９，１０を示している。もちろ
ん、実際には、この配線２は数多くの導体を含んでいる
。そして夫々の導体９，１０は第１の接続部材９ａ，１
０ａと、第２の接続部材９ｂ，１０ｂとを有している。
手段３と選択手段４の構成の一例を示す平面図であり、
配線２として２本の導体９，１０を示している。もちろ
ん、実際には、この配線２は数多くの導体を含んでいる
。そして夫々の導体９，１０は第１の接続部材９ａ，１
０ａと、第２の接続部材９ｂ，１０ｂとを有している。
【００１５】リンク手段３は、多くの接続部材１１を有
しているが、ここでも、示されている接続部材の数は例
示にすぎない。そして接続部材１１の入力端子１１ａに
は各導体９，１０の第１の接続部材９ａ，１０ａと第２
の接続部材９ｂ，１０ｂを接続することができる。そし
て並列に接続された接続部材の出力端子１１ｂ・１，１
１ｂ・２，１１ｂ・３は、夫々の支持部１２・１，１２
・２，１２・３上に配列され、後に詳述する選択手段４
に接続されている。
しているが、ここでも、示されている接続部材の数は例
示にすぎない。そして接続部材１１の入力端子１１ａに
は各導体９，１０の第１の接続部材９ａ，１０ａと第２
の接続部材９ｂ，１０ｂを接続することができる。そし
て並列に接続された接続部材の出力端子１１ｂ・１，１
１ｂ・２，１１ｂ・３は、夫々の支持部１２・１，１２
・２，１２・３上に配列され、後に詳述する選択手段４
に接続されている。
【００１６】図３はリンク手段３と選択手段４の内部に
おける実際の配置をもっと明確に示している。この発明
の実施例において、接続部材１１の出力端子１１ｂ・１
，１１ｂ・２，１１ｂ・３は、夫々の支持部１２・１，
１２・２，１２・３上に、３個のｎ行ｐ列マトリクスの
形で固定されている。そして選択手段４は３つのセット
１３・１，１３・２，１３・３を備え、その各々が出力
端子１１ｂ・１，１１ｂ・２，１１ｂ・３のマトリクス
に夫々関連付けられている。全ての支持部とセットは、
測定値の信頼性を確かなものとするために真空内又は不
活性雰囲気内に維持されるのが良い。
おける実際の配置をもっと明確に示している。この発明
の実施例において、接続部材１１の出力端子１１ｂ・１
，１１ｂ・２，１１ｂ・３は、夫々の支持部１２・１，
１２・２，１２・３上に、３個のｎ行ｐ列マトリクスの
形で固定されている。そして選択手段４は３つのセット
１３・１，１３・２，１３・３を備え、その各々が出力
端子１１ｂ・１，１１ｂ・２，１１ｂ・３のマトリクス
に夫々関連付けられている。全ての支持部とセットは、
測定値の信頼性を確かなものとするために真空内又は不
活性雰囲気内に維持されるのが良い。
【００１７】更に詳述すると、導通試験に使用されかつ
構造が同じセット１３・１，１３・２は、出力端子１１
ｂ・１，１１ｂ・２の対応するマトリクスの行（横列）
と列（縦列）方向に沿って移動可能となっている。
構造が同じセット１３・１，１３・２は、出力端子１１
ｂ・１，１１ｂ・２の対応するマトリクスの行（横列）
と列（縦列）方向に沿って移動可能となっている。
【００１８】以上のことは、図４においてもっと明確に
なる。図４ではセット１３・１が拡大して示されている
。尚、セット１３・２はセット１３・１と同一構造をな
す。セット１３・１は機構１４を備え、この機構１４は
互いに直交して動くことができる可動部材を有し、かつ
出力端子１１ｂ・１の対応するマトリクスの横列と縦列
に夫々平行なＸ軸とＹ軸に沿って可動となっている。 機構１４は図示されていないモータによって駆動され、
Ｙ軸に平行な２つの直立棒１５，１６を備える。これら
直立棒は支持部１２・１の両端部に１つずつ配置されて
いる。そして直立棒上で横棒１７がＹ軸と平行に摺動で
きる。出力端子１１ｂ・１の１つに接触する接触部材１
９を支持する支持部材１８は横棒１７に沿って摺動可能
である。接触部材１９は空気的、電気的、あるいは電気
機械的作用によって突出する突出子として具体化され、
Ｘ軸、Ｙ軸によって決定される平面に垂直なＺ軸に平行
に動くことができる。
なる。図４ではセット１３・１が拡大して示されている
。尚、セット１３・２はセット１３・１と同一構造をな
す。セット１３・１は機構１４を備え、この機構１４は
互いに直交して動くことができる可動部材を有し、かつ
出力端子１１ｂ・１の対応するマトリクスの横列と縦列
に夫々平行なＸ軸とＹ軸に沿って可動となっている。 機構１４は図示されていないモータによって駆動され、
Ｙ軸に平行な２つの直立棒１５，１６を備える。これら
直立棒は支持部１２・１の両端部に１つずつ配置されて
いる。そして直立棒上で横棒１７がＹ軸と平行に摺動で
きる。出力端子１１ｂ・１の１つに接触する接触部材１
９を支持する支持部材１８は横棒１７に沿って摺動可能
である。接触部材１９は空気的、電気的、あるいは電気
機械的作用によって突出する突出子として具体化され、
Ｘ軸、Ｙ軸によって決定される平面に垂直なＺ軸に平行
に動くことができる。
【００１９】そしてまた、図３に示されたように、セッ
ト１３・１，１３・２は夫々リンク２０，２１によって
測定手段５に接続されている。セット１３・２はまたセ
ット１３・３と共同して絶縁試験にも使用される。この
セット１３・３はセット１３・２とは異なる構造を有し
、以下に図５乃至図７について説明する。
ト１３・１，１３・２は夫々リンク２０，２１によって
測定手段５に接続されている。セット１３・２はまたセ
ット１３・３と共同して絶縁試験にも使用される。この
セット１３・３はセット１３・２とは異なる構造を有し
、以下に図５乃至図７について説明する。
【００２０】図５によれば、セット１３・３は接続部材
の出力端子１１ｂ・３に接触する導体板２２を備える。 この導体板２２は支持板２３上に配置され、Ｙ軸すなわ
ち、対応するマトリクスの縦列に平行に移動可能とされ
ている。このため、支持板２３と導体板２２は横棒２４
にしっかりと保持されている。この横棒２４はＸ軸と平
行でありかつ、Ｙ軸に平行な直立棒２５，２６にガイド
される。そして全体は、図示されないモータ、又は駆動
手段によって移動される。
の出力端子１１ｂ・３に接触する導体板２２を備える。 この導体板２２は支持板２３上に配置され、Ｙ軸すなわ
ち、対応するマトリクスの縦列に平行に移動可能とされ
ている。このため、支持板２３と導体板２２は横棒２４
にしっかりと保持されている。この横棒２４はＸ軸と平
行でありかつ、Ｙ軸に平行な直立棒２５，２６にガイド
される。そして全体は、図示されないモータ、又は駆動
手段によって移動される。
【００２１】又、図６、図７から一層明らかになるよう
に、支持板２３の上端２７には、出力端子１１ｂ・３に
接触しかつＸ軸、即ちマトリクスの横列と平行に散開す
る一列の接触部材２８がある。各接触部材２８は、ダク
ト２９を介してシリンダ３０と共同して、前に定義した
ようなＺ軸に平行に動くようになっている空気式突出棒
であることが望ましく、シリンダ３０の中ではピストン
３１がピストンロッド３３を介して連結されたモータ手
段３２によってＸ軸に平行に可動とされている。シリン
ダ３０は、また図示しない流体供給源に接続された圧力
ダクト３４及び大気への解放ダクト３５に接続されてい
る。更に又、図３に示すように、セット１３・２，１３
・３は夫々リンク３６，３７によって測定手段５に接続
されている。それ故、この発明の試験装置１は、実際３
つの選択あるいはスイッチングモジュール、即ち、導通
試験のための２つのモジュール（セット）１３・１，１
３・２（夫々出発点と到達点として）、そして絶縁試験
のための２つのモジュール（セット）１３・２，１３・
３（試験ポイントとこれより下のアドレスの短絡として
）を使用している。前述したように、モジュール（セッ
ト）１３・２は両方の種類の試験に共通するものである
。測定手段５としては、数ミリオームから５００メガオ
ームの測定範囲を有するオームの測定ブリッジが使用さ
れ得、更にこの測定ブリッジはレンジの段階的な調整器
を有する安定化された高電圧発生器と結合されている。
に、支持板２３の上端２７には、出力端子１１ｂ・３に
接触しかつＸ軸、即ちマトリクスの横列と平行に散開す
る一列の接触部材２８がある。各接触部材２８は、ダク
ト２９を介してシリンダ３０と共同して、前に定義した
ようなＺ軸に平行に動くようになっている空気式突出棒
であることが望ましく、シリンダ３０の中ではピストン
３１がピストンロッド３３を介して連結されたモータ手
段３２によってＸ軸に平行に可動とされている。シリン
ダ３０は、また図示しない流体供給源に接続された圧力
ダクト３４及び大気への解放ダクト３５に接続されてい
る。更に又、図３に示すように、セット１３・２，１３
・３は夫々リンク３６，３７によって測定手段５に接続
されている。それ故、この発明の試験装置１は、実際３
つの選択あるいはスイッチングモジュール、即ち、導通
試験のための２つのモジュール（セット）１３・１，１
３・２（夫々出発点と到達点として）、そして絶縁試験
のための２つのモジュール（セット）１３・２，１３・
３（試験ポイントとこれより下のアドレスの短絡として
）を使用している。前述したように、モジュール（セッ
ト）１３・２は両方の種類の試験に共通するものである
。測定手段５としては、数ミリオームから５００メガオ
ームの測定範囲を有するオームの測定ブリッジが使用さ
れ得、更にこの測定ブリッジはレンジの段階的な調整器
を有する安定化された高電圧発生器と結合されている。
【００２２】図８は図３とともに配線の導体の導通試験
の原理を示す。例えば導体９の導通試験において、導体
９の第１、第２の接続部材９ａ，９ｂは、夫々接続部材
１１を介して測定手段５、ひいては電流や電圧のような
電気パラメータを発生する電気パラメータ発生手段６に
接続されなければならない。このため、制御・分析手段
７はセット１３・１の接触部材１９をＸ軸とＹ軸に沿っ
て可動し得る機構１４とＺ軸に沿って可動する接触部材
１９とを動かせることによって、支持部１２・１上の出
力端子１１ｂ・１に接触させる。この出力端子１１ｂ・
１は導体９の第１の接続部材９ａに接続された接続部材
１１の入力端子１１ａに対応している。同様にセット１
３・２の接触部材１９が同様にして支持部１２・２上の
出力端子１１ｂ・２に接触される。この出力端子１１ｂ
・２は導体９の第２の接続部材９ｂに接続された接続部
材１１の入力端子１１ａに対応している。
の原理を示す。例えば導体９の導通試験において、導体
９の第１、第２の接続部材９ａ，９ｂは、夫々接続部材
１１を介して測定手段５、ひいては電流や電圧のような
電気パラメータを発生する電気パラメータ発生手段６に
接続されなければならない。このため、制御・分析手段
７はセット１３・１の接触部材１９をＸ軸とＹ軸に沿っ
て可動し得る機構１４とＺ軸に沿って可動する接触部材
１９とを動かせることによって、支持部１２・１上の出
力端子１１ｂ・１に接触させる。この出力端子１１ｂ・
１は導体９の第１の接続部材９ａに接続された接続部材
１１の入力端子１１ａに対応している。同様にセット１
３・２の接触部材１９が同様にして支持部１２・２上の
出力端子１１ｂ・２に接触される。この出力端子１１ｂ
・２は導体９の第２の接続部材９ｂに接続された接続部
材１１の入力端子１１ａに対応している。
【００２３】導体の導通試験が測定手段５の作用によっ
て行われ得るよう、コントロール手段４０によって閉じ
られるスイッチ３８を介して回路が閉じられる。この場
合モジュール（セット）１３・３は動作しない。
て行われ得るよう、コントロール手段４０によって閉じ
られるスイッチ３８を介して回路が閉じられる。この場
合モジュール（セット）１３・３は動作しない。
【００２４】導体は配線の他の導体についても絶縁試験
がなされる。しかしながら、操作の経済性と迅速性のた
め、最もありふれているテストベンチと同様に次の方法
がとられている。１組、例えば１０本の独立した導体に
対し、絶縁試験は最初の導体について他の９本の導体を
測定手段５に接続することによって行われる。もし、試
験結果が肯定的なら、即ち、最初の導体の絶縁性が合格
なら、２番目の導体が最初の導体から絶縁されているか
どうかをチェックする必要はないと思われる。それ故、
２番目の導体の絶縁性が残りの８本の導体と相対的に試
験され、又３番目の導体の絶縁性が残り７本の導体と相
対的に試験され、以下同様にして配線の全ての導体が試
験される。
がなされる。しかしながら、操作の経済性と迅速性のた
め、最もありふれているテストベンチと同様に次の方法
がとられている。１組、例えば１０本の独立した導体に
対し、絶縁試験は最初の導体について他の９本の導体を
測定手段５に接続することによって行われる。もし、試
験結果が肯定的なら、即ち、最初の導体の絶縁性が合格
なら、２番目の導体が最初の導体から絶縁されているか
どうかをチェックする必要はないと思われる。それ故、
２番目の導体の絶縁性が残りの８本の導体と相対的に試
験され、又３番目の導体の絶縁性が残り７本の導体と相
対的に試験され、以下同様にして配線の全ての導体が試
験される。
【００２５】図９は図３とともに、配線の導体の絶縁試
験の原理を例示したものである。絶縁試験、例えば前述
した方法によって導体９の絶縁試験を行うために、導体
９の第２の接続部材９ｂが測定手段５に接続されなけれ
ばならない。このため、制御・分析手段７はセット１３
・２の接触部材１９を動かせて支持部１２・２の出力端
子１１ｂ・２に接触させる。この出力端子１１ｂ・２は
、導体９の第２の接続部材９ｂに接続されるような接続
部材１１の入力端子１１ａに対応するものである。 又、試験ポイントよりも下のアドレスの全ての出力端子
１１ｂ・３は短絡されなければならない。これは図９に
示されており、更に実際的には図３に示されている。こ
の図３に示されるように、セット１３・３の導体板２２
は、試験ポイントを含む横列より下に位置する全てのマ
トリクスの出力端子を短絡する。又、試験ポイントの右
側にある横列上の全ての出力端子は、該当する接触部材
２８に接触している。以上の動作は、モータ３２によっ
て調整されるピストン３１と、ダクト３４を介して供給
される流体により加圧される接触部材２８の位置によっ
て行われる。回路はコントロール手段４０によって操作
されるスイッチ３９，４１によって閉じられ、このため
測定手段５は導体の絶縁試験を行うことがてきる。尚、
この場合、モジュール（セット）１３・１は作動しない
。
験の原理を例示したものである。絶縁試験、例えば前述
した方法によって導体９の絶縁試験を行うために、導体
９の第２の接続部材９ｂが測定手段５に接続されなけれ
ばならない。このため、制御・分析手段７はセット１３
・２の接触部材１９を動かせて支持部１２・２の出力端
子１１ｂ・２に接触させる。この出力端子１１ｂ・２は
、導体９の第２の接続部材９ｂに接続されるような接続
部材１１の入力端子１１ａに対応するものである。 又、試験ポイントよりも下のアドレスの全ての出力端子
１１ｂ・３は短絡されなければならない。これは図９に
示されており、更に実際的には図３に示されている。こ
の図３に示されるように、セット１３・３の導体板２２
は、試験ポイントを含む横列より下に位置する全てのマ
トリクスの出力端子を短絡する。又、試験ポイントの右
側にある横列上の全ての出力端子は、該当する接触部材
２８に接触している。以上の動作は、モータ３２によっ
て調整されるピストン３１と、ダクト３４を介して供給
される流体により加圧される接触部材２８の位置によっ
て行われる。回路はコントロール手段４０によって操作
されるスイッチ３９，４１によって閉じられ、このため
測定手段５は導体の絶縁試験を行うことがてきる。尚、
この場合、モジュール（セット）１３・１は作動しない
。
【００２６】又、オペレータを助けかつ動的試験の補足
機能の全ての可能性は、従来の装置と同様に、この発明
の試験装置に組み込まれ得る。即ち、自己テストの完全
化、編集（満足であると思われた配線一部についての学
習）欠陥に対応する簡単な出力、プログラムによる導通
試験と絶縁試験の範囲、導通欠陥に対応する逆の調査、
絶縁欠陥に対応して全てのポイントの調査と表作り、抵
抗、静電容量、そして直流又は交流の電圧と電流の測定
、ダイオードの測定、動的試験を許容するプログラムの
導入がこの発明の試験装置に組み込まれ得る。
機能の全ての可能性は、従来の装置と同様に、この発明
の試験装置に組み込まれ得る。即ち、自己テストの完全
化、編集（満足であると思われた配線一部についての学
習）欠陥に対応する簡単な出力、プログラムによる導通
試験と絶縁試験の範囲、導通欠陥に対応する逆の調査、
絶縁欠陥に対応して全てのポイントの調査と表作り、抵
抗、静電容量、そして直流又は交流の電圧と電流の測定
、ダイオードの測定、動的試験を許容するプログラムの
導入がこの発明の試験装置に組み込まれ得る。
【００２７】次の比較表は、８４００個の試験ポイント
を有するテストベンチについて、この発明の試験装置の
大きさと、コントローラの数に関する優れた点を、従来
の装置と比較して示したものである。尚、この発明に係
る試験装置のコントローラは、セットに使用する簡単な
ステップモータと、接触部材を接触させるため（Ｚ軸方
向へ）の３つの駆動部と、電流（又は電圧）を切り替え
るための（３状態を有する）リレーとを備えている。
を有するテストベンチについて、この発明の試験装置の
大きさと、コントローラの数に関する優れた点を、従来
の装置と比較して示したものである。尚、この発明に係
る試験装置のコントローラは、セットに使用する簡単な
ステップモータと、接触部材を接触させるため（Ｚ軸方
向へ）の３つの駆動部と、電流（又は電圧）を切り替え
るための（３状態を有する）リレーとを備えている。
【００２８】
従来の装置 この発明の試験装置
コントローラの数 １７４
１１ 大きさ（ｍ３）
４
０．５ 重さ（Ｋｇ）
６００〜７００
１００以下
従来の装置 この発明の試験装置
コントローラの数 １７４
１１ 大きさ（ｍ３）
４
０．５ 重さ（Ｋｇ）
６００〜７００
１００以下
【００２９】
【発明の効果】この発明に係る試験装置は、従来装置に
比べてはるかに使用の易動性と融通性に優れ、駆動部を
簡略化することができ、装置のメンテナンスも容易で信
頼性にも優れる。又操作のために必要な電力も、従来の
装置が数多くのスイッチを操作するために必要な電力に
比べて、小さい。又、この発明に係る試験装置は、従来
装置で使用されている電気的機構を簡単化するために、
現在得られる機械的部材（この場合はセット）を正確に
動かせることができるという利点、及びマイクロエンジ
ニアの進歩を利用している。もっと詳しくいうと、この
発明に係る試験装置は、多数のスイッチとコントローラ
を必要とする従来装置の負担を少なくするように構成さ
れたので、従来装置の大きさと重さをかなり削減し、又
、その電力消費量を少なくしてその信頼性を向上させる
という効果を奏する。
比べてはるかに使用の易動性と融通性に優れ、駆動部を
簡略化することができ、装置のメンテナンスも容易で信
頼性にも優れる。又操作のために必要な電力も、従来の
装置が数多くのスイッチを操作するために必要な電力に
比べて、小さい。又、この発明に係る試験装置は、従来
装置で使用されている電気的機構を簡単化するために、
現在得られる機械的部材（この場合はセット）を正確に
動かせることができるという利点、及びマイクロエンジ
ニアの進歩を利用している。もっと詳しくいうと、この
発明に係る試験装置は、多数のスイッチとコントローラ
を必要とする従来装置の負担を少なくするように構成さ
れたので、従来装置の大きさと重さをかなり削減し、又
、その電力消費量を少なくしてその信頼性を向上させる
という効果を奏する。
【図１】この発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】この発明のリンク手段と選択手段の実施例を示
す部分構成図である。
す部分構成図である。
【図３】この発明の選択手段として役立つセットを詳細
に示す斜視図である。
に示す斜視図である。
【図４】図３における１つ目の種類のセットを拡大して
示す斜視図である。
示す斜視図である。
【図５】図３における２つ目の種類のセットを拡大して
示す斜視図である。
示す斜視図である。
【図６】図５に示されたセットの平面図である。
【図７】図５に示されたセットの一部側面図である。
【図８】配線の一部の導体の導通試験の原理を示す図で
ある。
ある。
【図９】配線の一部の導体の絶縁試験の原理を示す図で
ある。
ある。
２ 配線
３ リンク手段
４ 選択手段
５ 測定手段
９，１０ 導体
１１ｂ・１，１１ｂ・２，１１ｂ・３ 出力端子
１２・１，１２・２，１２・３ 支持部１３・１
，１３・２，１３・３ セット１４ 機構 １５，１６ 直立棒 １７ 横棒 １８ 支持部材 １９ 接触部材 ２２ 導体板 ２３ 支持板 ２８ 接触部材（突出子） ３０ シリンダ ３１ ピストン
１２・１，１２・２，１２・３ 支持部１３・１
，１３・２，１３・３ セット１４ 機構 １５，１６ 直立棒 １７ 横棒 １８ 支持部材 １９ 接触部材 ２２ 導体板 ２３ 支持板 ２８ 接触部材（突出子） ３０ シリンダ ３１ ピストン
Claims (8)
- 【請求項１】 配線の一部である複数本の導体の各々
が第１及び第２の前記導体の接続部材を有する導体の導
通試験と絶縁試験を行う試験装置であって、多くの接続
部材を有し、その入力端子に各導体の第１及び第２の接
続部材を接続でき、各導体の第１及び第２の接続部材に
結合されるリンク手段と、このリンク手段の接続部材の
所定の出力端子へ選択手段により接続されて電気パラメ
ータを測定する測定手段であって、そのような導体の導
通試験のために試験下にある導体の第１及び第２の接続
部材を前記測定手段に接続し、且つそのような導体の他
の導体との比較における絶縁試験のために試験下にある
導体を前記配線の少なくとも他のいくつかの導体に接続
するように前記選択手段が前記出力端子を選択する前記
測定手段と、この測定手段により測定された電気パラメ
ータと同一又は異なる電気パラメータを発生する電気パ
ラメータ発生手段と、前記試験装置を制御してその試験
結果を分析する制御・分析手段と、を備えた前記試験装
置において、前記リンク手段の接続部材１１の出力端子
１１ｂ・１，１１ｂ・２，１１ｂ・３は支持部１２・１
，１２・２，１２・３上にｎ行ｐ列のマトリクスの形に
配列され、前記選択手段は、導通試験のため、試験下に
ある導体の第１及び第２の接続部材に対応する、前記リ
ンク手段接続部材の２つの出力端子を前記測定手段に接
続するために前記マトリクスの横列と縦列に沿って可動
な第１のセット１３・１及び第２のセット１３・２と、
絶縁試験のため、試験下にある導体の接続部材に対応す
るような前記リンク手段接続部材の出力端子を前記測定
手段に接続するために前記マトリクスの横列と縦列に沿
って可動な第３のセット１３・２、及び前記測定手段に
前記リンク手段接続部材の少なくとも他のいくつかの出
力端子を接続するための第４のセット１３・３と、を有
することを特徴とする配線の一部である複数本の導体の
導通試験と絶縁試験を行う試験装置。 - 【請求項２】 前記第１のセットないし前記第４のセ
ットはそれぞれリンク手段接続部材の出力端子のｎ行ｐ
列のマトリクスに関連付けられ、対応するマトリクスの
出力端子は並列に接続され、前記第１のセットないし前
記第３のセットはそれぞれ前記マトリクスの横列と縦列
に平行な第１の軸と第２の軸に沿って交差状に移動する
可動部を有する機構１４を備え、この機構１４は、前記
第１の軸及び第２の軸によって決定される平面に垂直な
第３の軸に平行に移動するようになっている接触部材１
９に結合されている、ことを特徴とする請求項１記載の
配線の一部である複数本の導体の導通試験と絶縁試験を
行う試験装置。 - 【請求項３】 前記機構１４は、横棒１７がスライド
可能に取り付けられた２つの平行な直立棒を有し、接触
部材１９の支持部材１８は前記横棒にそって可動である
ことを特徴とする請求項２記載の配線の一部である複数
本の導体の導通試験と絶縁試験を行う試験装置。 - 【請求項４】 前記第４のセット１３・３は、リンク
手段接続部材の夫々出力端子に接触しかつマトリクスの
縦列と平行に可動な支持板２３上に配置された導体板２
２を備えるとともに、前記支持板の上端２７には、この
支持板の平面と垂直に可動でありかつ、前記出力端子に
接触する一列の接触部材２８が設けられていることを特
徴とする請求項２記載の配線の一部である複数本の導体
の導通試験と絶縁試験を行う試験装置。 - 【請求項５】 前記各接触部材は、加圧された隔室と
加圧されていない隔室とを分離するピストンが、マトリ
クスの横列に平行に可動なシリンダと連結されている突
出子２８であることを特徴とする請求項４記載の配線の
一部である複数本の導体の導通試験と絶縁試験を行う試
験装置。 - 【請求項６】 前記第２のセット及び第３のセットは
、導通試験又は絶縁試験に使用され得る１つのマトリク
スと関連付けられた唯一のセット１３・２を形成するこ
とを特徴とする請求項１記載の配線の一部である複数本
の導体の導通試験と絶縁試験を行う試験装置。 - 【請求項７】 前記全ての支持部１２・１，１２・２
，１２・３とセット１３・１，１３・２，１３・３は真
空中又は不活性雰囲気中に維持されていることを特徴と
する請求項１記載の配線の一部である複数本の導体の導
通試験と絶縁試験を行う試験装置。 - 【請求項８】 前記測定手段５は、安定化された高電
圧発生器と結合されたオーム測定ブリッジを備えている
ことを特徴とする請求項１記載の配線の一部である複数
本の導体の導通試験と絶縁試験を行う試験装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR9015431A FR2670298B1 (fr) | 1990-12-10 | 1990-12-10 | Systeme pour tester la continuite electrique et l'isolement des conducteurs electriques d'une piece de cablage. |
| FR9015431 | 1990-12-10 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04269670A true JPH04269670A (ja) | 1992-09-25 |
| JP3126051B2 JP3126051B2 (ja) | 2001-01-22 |
Family
ID=9403063
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP03325974A Expired - Fee Related JP3126051B2 (ja) | 1990-12-10 | 1991-12-10 | 配線の一部である複数本の導体の導通試験と絶縁試験を行う試験装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5220285A (ja) |
| EP (1) | EP0490728B1 (ja) |
| JP (1) | JP3126051B2 (ja) |
| CA (1) | CA2057169A1 (ja) |
| DE (1) | DE69116118T2 (ja) |
| FR (1) | FR2670298B1 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20020091691A (ko) * | 2001-05-31 | 2002-12-06 | 주식회사 현대 디스플레이 테크놀로지 | 액정표시장치 테스트 프레임 |
| KR101019912B1 (ko) * | 2008-07-04 | 2011-03-08 | 대호전자(주) | 고휘도 칩 ｌｅｄ 검사장치 |
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|---|---|---|---|---|
| FR2702568B1 (fr) * | 1993-03-12 | 1995-04-21 | Thomson Csf | Procédé de test électrique de lignes équipotentielles. |
| US5596282A (en) * | 1993-12-10 | 1997-01-21 | Texas Instruments Incorporated | Tester for integrated circuits |
| JPH07280876A (ja) * | 1994-04-05 | 1995-10-27 | Mitsubishi Cable Ind Ltd | 多心ケーブル試験方法及び試験装置 |
| US5764725A (en) * | 1996-03-26 | 1998-06-09 | Hitech Corporation | Apparatus for testing the line continuity of telephone switch equipment |
| US6907363B1 (en) | 2001-10-15 | 2005-06-14 | Sandia Corporation | Automatic insulation resistance testing apparatus |
| US7319335B2 (en) * | 2004-02-12 | 2008-01-15 | Applied Materials, Inc. | Configurable prober for TFT LCD array testing |
| US7355418B2 (en) * | 2004-02-12 | 2008-04-08 | Applied Materials, Inc. | Configurable prober for TFT LCD array test |
| KR20100069552A (ko) * | 2008-12-16 | 2010-06-24 | 유제우 | 임펠라 수직축 발전기 |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR1593025A (ja) * | 1968-09-20 | 1970-05-25 | ||
| US4227149A (en) * | 1978-05-30 | 1980-10-07 | International Business Machines Corporation | Sensing probe for determining location of conductive features |
| FR2483159A1 (fr) * | 1980-05-20 | 1981-11-27 | Labinal | Banc d'essais de cablages ou d'equipements electriques |
| US4362991A (en) * | 1980-12-12 | 1982-12-07 | Burroughs Corporation | Integrated circuit test probe assembly |
| US4471298A (en) * | 1981-12-11 | 1984-09-11 | Cirdyne, Inc. | Apparatus for automatically electrically testing printed circuit boards |
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| FR2562260A1 (fr) * | 1984-03-30 | 1985-10-04 | Labinal | Perfectionnement aux bancs de controle automatique d'ensembles de conducteurs |
| US4626780A (en) * | 1985-02-01 | 1986-12-02 | Virginia Panel Corporation | Tri-axis automated test system for printed circuit boards |
| CA1262373A (en) * | 1985-10-30 | 1989-10-17 | Paul Valois | Testing of telecommunication cables |
| FR2643152B1 (fr) * | 1989-02-13 | 1991-06-07 | Aerospatiale Ste Nat Indle | Systeme pour tester des pieces de cablage |
-
1990
- 1990-12-10 FR FR9015431A patent/FR2670298B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-11-29 DE DE69116118T patent/DE69116118T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1991-11-29 EP EP91403246A patent/EP0490728B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1991-12-06 CA CA002057169A patent/CA2057169A1/fr not_active Abandoned
- 1991-12-09 US US07/806,104 patent/US5220285A/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-12-10 JP JP03325974A patent/JP3126051B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20020091691A (ko) * | 2001-05-31 | 2002-12-06 | 주식회사 현대 디스플레이 테크놀로지 | 액정표시장치 테스트 프레임 |
| KR101019912B1 (ko) * | 2008-07-04 | 2011-03-08 | 대호전자(주) | 고휘도 칩 ｌｅｄ 검사장치 |
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| CA2057169A1 (fr) | 1992-06-11 |
| EP0490728A1 (fr) | 1992-06-17 |
| DE69116118D1 (de) | 1996-02-15 |
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| FR2670298A1 (fr) | 1992-06-12 |
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