KR100526744B1 - 인쇄회로판의 전기적 검사장치 - Google Patents

Abstract

하나의 검출 바늘과 다른 검출 바늘 사이의 전기적 파라미터를 분석하는 수단에 접속되는 다수의 전도성 검출 바늘(10)을 구비한 검출 판(1)을 포함하는 형식의 인쇄 회로의 전기적 검사 장치로서, 동일 평면에서 서로 근접하여 있는 적어도 2개의 검출 판(1SS, 1SD; 1IS, 1ID)이 사용되고, 그 검출 판들 각각이 개별적으로 이동 가능하게 되어 있으며, 또한, 검사될 인쇄 회로판(2)이 상기 검출 판들에 대하여 이동 가능하거나 또는 상기 검출 판들이 상기 인쇄 회로판에 대하여 이동 가능하게 된 것을 특징으로 한다.

Description

인쇄 회로판의 전기적 검사 장치{Machine for the electric test of printed circuits}

본 발명은 위치 조정 가능한 탐침(探針)들을 가지는, 인쇄 회로의 전기적 검사 장치에 관한 것이다.

인쇄 회로를 검사하는 장치들이 종래 기술에 공지되어 있다. 이들 장치는 일반적으로 다수의 전기 전도성 검출 바늘을 지탱하고 있는 검출 판 또는 베드(bed)를 포함하고, 이 검출 판 또는 베드 위에 인쇄 회로판을 배치하고, 상이한 검출 바늘들 사이의 전기 전도를 적절히 활성화시키고 각각에서 측정을 행함으로써, 인쇄 회로에 어떤 결함이 있는지 여부를 검사할 수 있도록 되어 있다.

그러한 검사를 위해서는, 검출 바늘이 적당한 위치에서 인쇄 회로와 접촉하는 것이 필요하다는 것은 명백하다. 인쇄 회로는 매우 다양하기 때문에, 동일한 검출 바늘을 포함하지만 검사될 인쇄 회로에 따라 상이한 방식으로 변위되는 적응 판(adaptation board)을 검출 판 위에 배치하는 것이 필요하다.

이 해결책의 단점은, 장치에 따라 한계가 있고, 어댑터 또는 적응 판에 일치하는 인쇄 회로만을 검사할 수 있다는데 있다. 검사될 상이한 인쇄 회로들을 가진 회로들만큼 많은 수의 적응 판이 필요하다.

또한, 회로들의 표면이 항상 동일 평면상에 있는 것이 아니라는 것이 알려져 있기 때문에, 효과적인 접촉에 적절한 전기 전도가 항상 보장되지 않게 된다.

다른 해결책은 각각의 검출 바늘이 개별적으로 조정 가능하게 이동할 수 있도록 하는 것이지만, 이것은 매우 복잡하고 비용이 많이 든다.

후자의 해결책은 많은 수의 이동 가능한 검출 바늘이 이용될 수 없어 실제적으로는 각 회로마다 검사를 해야 하기 때문에 긴 검사 시간을 필요로 한다.

유사한 특징을, 1995. 7. 25.자 특허된 미국 특허 제5,436,567호(Werxler 등)에서도 볼 수 있고, 이 특허는,

검사 중의 장치(DUT)의 제1 측면과의 전기적 접속을 위한 상측의 스프링 부하 전기 프로브(probe);

상기 제1 측면의 반대측인 상기 DUT의 제2 측면에서 다수의 검사 포인트(point)에 전기적으로 접촉하기 위한 하측의 검사 프로브;

상기 상측의 스프링 부하 전기 프로브에 기계적으로 연결되고, 상기 DUT를 클램핑하기 위해 상기 하측의 검사 프로브에 고정되는 압축 수단;

상기 스프링 부하 전기 프로브들을 포함하는 평면에 수직인 제1 방향의 푸시로드(pushrod) 힘을 받고, 상기 제1 방향과 반대의 제2 방향으로 상기 DUT의 상기 제1 측면상의 다수의 검사 포인트들과 수직방향으로 전기 접촉하도록, 상기 압축 수단에 독립하여 연결되는 상기 스프링 부하 전기 프로브들을 구동시키기 위해 상기 푸시로드 힘을 전달하는 수단을 가지고, 상기 압축 수단에 기계적으로 연결되며, 상기 스프링 부하 전기 프로브에 기계적으로 연결되는 레버; 및

검사 중에 상기 DUT를 고정시키고, 상기 DUT의 상기 제2 측면 상의 상기 다수의 검사 포인트들과 전기적 접촉하도록 상기 하측의 검사 프로브를 구동시키는 상기 푸시로드 힘을 발생시키기 위해 상기 하측의 검사 프로브에 연결되고, 상기 압축 수단 내에 포함되는 진공 작동 수단을 포함하고;

검사될 각각의 인쇄 회로판이 상부 판과 하부 판으로 이루어진 2개의 판에 대하여 이동 가능하게 되어 있고, 상기 2개의 판도 상기 인쇄 회로판에 대하여 이동 가능하게 되어 있는 양면 검사 프로브 기구를 개시하고 있다.

도 1은 검출 판(베드(bed))의 개략 사시도이다.

도 2는 축방향으로 이동 가능한 검출 바늘의 개략 단면도이다.

도 3은 한쪽 검출 판과 다른쪽 검출 판이 개별적으로 이동 가능하게 된 2쌍의 대향된 검출 판을 구비하고, 그 검출 판들 사이에 검사될 인쇄 회로판이 배치되는 바람직한 실시예를 나타내는 도면이다.

본 발명의 목적은 상기한 단점들을 제거하는데 있고, 특히 어떠한 유형의 회로에도 적응될 수 있는 전도성 검출 바늘 시스템에 의해 상이한 인쇄 회로를 검사할 수 있는 장치를 제공하는데 있다.

상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명에 따르면, 2개의 검출 바늘이 접촉하는, 검사될 인쇄 회로판상의 2개 지점들 사이의 전기 파라미터를 분석하는 전기 파라미터 분석 시스템에 도선을 통해 접속되는 다수의 전도성 검출 바늘을 각각 구비한 다수의 검출 판들을 포함하는, 인쇄 회로판의 전기적 검사 장치로서, 적어도 한 쌍의 서로 인접하여 있는 검출 판이 사용되고, 그 검출 판들이 서로에 대하여 이동 가능하며, 검사될 인쇄 회로판상의 2개 지점들에 접촉하는 상기 2개의 검출 바늘들 중 하나는 2개의 상기 검출 판들 중 하나의 검출 판에 위치되고, 상기 2개의 검출 바늘 중 다른 하나는 2개의 상기 검출 판들 중 다른 하나의 검출 판에 위치되며, 검사될 인쇄 회로판이 상기 검출 판들에 대하여 수평 이동 가능하거나 또는 그 반대로 상기 검출 판들이 상기 인쇄 회로판에 대하여 수평 이동 가능하게 된 인쇄 회로판의 전기적 검사 장치에 있어서, 상기 한 쌍의 서로 인접하여 있는 검출 판들이 동일 평면에 있고, 상기 검출 판들 중 하나가 다른 하나와는 별개로 수평 이동 가능하며, 상기 전도성 검출 바늘들이 개별적으로 축방향 이동 가능하게 된 것을 특징으로 하는 인쇄 회로판의 전기적 검사 장치가 제공된다.

이렇게 하여, 어댑터를 필요로 함이 없이 다양한 인쇄 회로에 대한 검사 장치의 적용을 만능으로 함으로써 전체 시스템을 간소화하는 직접적인 이점이 있다.

실제로는, 이것에 의해, 회로의 선단부의 어떠한 위치에서도 하나의 검출 판의 검출 바늘을 활성화시키고, 반대측 판의 검출 바늘을 활성화시키는 것이 가능하며, 상기 반대측 검출 판도 이동할 수 있기 때문에, 위치, 장소 및 형상에 상관없이 검사될 어떤 정해진 회로의 단부 포인트에 검출 바늘이 도달할 수 있다.

그리하여, 어떠한 인쇄 회로판에 대해서도 검사 시스템의 만능화가 보장된다.

실제로는, 검사될 인쇄 회로의 양측 포인트들 중 하나가 제1 검출 판 아래에 놓이고 다른 하나가 제2 검출 판 아래에 놓이며, 그 포인트들이 탐침들과 일치하지 않을 때, 검사될 양측 포인트들과 정확히 일치하게 탐침들을 위치시키도록 제1 검출 판과 제2 검출 판 모두(또는 인쇄 회로판)를 이동시키는 것으로 충분하다.

또한, 검사될 인쇄 회로의 2개의 양측 포인트가 하나의 검출 판만으로 커버되도록 근접하여 있을 때, 상기 회로를 가진 검사될 인쇄 회로판을 상기 2개 검출 판 사이에서의 정확한 중간 위치로 이동시켜(또는 반대로 상기 양쪽 검출 판을 이동시켜), 회로의 한 포인트가 제1 검출 판 아래에 놓이고 다른 포인트가 제2 검출 판 아래 놓이도록 하는 것으로 충분하고, 그 검출 판들 모두를 이동시킴으로써, 상기 2개의 검출 판 각각의 하나의 검출 바늘과 상기 2개 포인트를 정확하게 일치시키는 것이 가능하다.

검출 판들이 검사될 인쇄 회로판 위와 아래에 설치되어 그 인쇄 회로판이 그 검출 판들 사이에 배치되도록 하는 것이 유리하다. 그리하여, 이용에 있어서 보다 광범위한 만능화가 가능하게 된다.

이 장치는 검출 바늘이 축방향으로 이동 가능하다는 특징도 가지는 것이 유리하다. 그리하여, 검출 판 내의 다수의 검출 바늘들 중 일부만을 상호 동작시켜 인쇄 회로의 바라는 위치를 매우 용이하게 중심에 맞추는 것이 가능하게 된다.

또한, 검출 바늘이 축방향으로 이동 가능하기 때문에, 인쇄 회로판 또는 회로 표면이 모든 지점에서 완전히 동일한 평면에 있지 않더라도 검출 바늘을 회로의 개개의 바라는 지점들에 양호하게 접촉시키는 것이 가능하게 된다는 이점도 있다.

검출 바늘은 전자석 수단에 의해 축방향으로 이동 가능하게 되는 것이 유리하다. 그리하여, 원하는 검출 바늘이 안전하고 간단한 방법으로 작동된다.

이하, 첨부 도면을 참조하여 본 발명을 더 상세히 설명한다.

검출 판이 부호 1로 나타내어져 있고, 검출 바늘이 부호 10으로 나타내어져 있다. 특히 도 3에서는, 상측의 좌우 검출 판이 각각 부호 1SS 및 1SD로 나타내어져 있고, 하측의 좌우 검출 판이 각각 부호 1IS 및 1ID로 나타내어져 있다.

각각의 검출 판은 전자석(11)에 의해 축방향으로 이동 가능하게 된 다수의 검출 바늘(10)을 가지고 있다. 각각의 검출 바늘(10)은 도선(12)을 통해 공지의 전기 파라미터 분석 시스템에 전기적으로 접속되어 있다.

모든 검출 판은 작동 위치 결정을 위해 한쪽 검출 판이 다른쪽 검출 판에 대하여 이동 가능하게 되어 있다. 이들 검출 판 사이에 배치된 인쇄 회로판이 부호 2로 나타내어져 있고, 이 인쇄 회로판도 평면에서 이동 가능하다.

상기 전기 파라미터 분석 시스템은 단일 포인트(point)의 상대적 위치로 네트 리스트(net-list) "망 리스트"에 의한 검사를 행한다.

접속 검사는 어떤 포인트로부터 어떤 포인트까지에 대하여 행해지므로, n개 포인트로 된 하나의 네트의 접속을 검사하기 위해서는, 모든 접속을 커버하기 위해, 선택된 쌍들의 포인트들 사이에 n-1회의 검사가 필요하게 된다.

상이한 네트들 사이에서의 단락(短絡) 회로 검사는 각 쌍의 네트 이외의 하나의 포인트를 선택함으로써 행해진다.

이 방법에서는, n개의 네트를 검사(시험)하는 최대 수가 아래의 식으로 계산될 수 있다.

n*(n - 1)/2

이 수는 폐쇄한 네트, 즉, 미리 정해진 범위 내에서 다른 네트에 대하여 한 네트를 폐쇄한 네트만을 선택함으로써 감소될 수 있다.

검사될 위치는 이동 가능한 검출 판(베드)의 검출 바늘의 수에 대응하는 영역으로 분할되므로, 검사될 포인트는 그 위치에서 그리고 검출 바늘들 중 하나에 의해 도달 가능하게 된다. 검사될 포인트가 적어도 2개의 검출 판에 도달된 후, 접속 또는 절연을 검사할 필요가 있다.

각 동작에 걸리는 시간을 줄이기 위해, 개개의 검사의 횟수를 수정함으로써 각 축(軸)의 경로를 최대한으로 이용하는 것이 가능하게 된다.

이 장치는, 2쌍의 대향된 검출 판이 고정되고 하나의 검출 판을 2개의 직교하는 축에서 개별적으로 이동시킬 수 있는 프레임을 포함한다. 그 검출 판들에는, 축방향 움직임이 전자석에 의해 직접 행해지는 검사용 탐침(검출 바늘)이 설치되어 있다.

처음에, 인쇄 회로판이 지지 프레임 상에 배치되고, 이 지지 프레임이 2개의 검출 판 사이에서 그 인쇄 회로판을 이송한다.

이 위치에서는, 인쇄 회로판이 고정된 채 유지되거나 또는 추가로 이동될 수도 있다.

검출 판들이 인쇄 회로판에 근접하여 놓이고, 검사가 시작된다.

각각의 검출 판은 개별적으로 검사되고 작동되므로, 필요로 하는 최대 행정(行程)은 탐침들 사이의 거리에 의해 결정된다. 정확한 위치에서는, 접촉될 표면에서 전자석이 탐침을 작동시키고, 그리하여, 동시에 작동되는 한 쌍의 탐침에 의해, 2개의 원하는 포인트 사이에서의 인쇄 회로의 기능성과, 각각의 연속성 및 결과적으로 생기는 단락 회로를 검사하는 것이 가능하게 된다. 이 과정은 원하는 대로 포인트들에 대하여 반복적으로 진행한다.

상기한 바와 같이, 각 쌍의 검출 판들 중 한 검출 판이 다른 검출 판에 대하여 이동 가능한 것 이외에, 지지된 인쇄 회로판도 하나의 검출 판 또는 다른 쌍의 검출 판에 대하여 이동할 수 있도록 하는 것이 바람직하다.

그리하여, 이용에 있어서 보다 광범위한 만능화가 가능하다.

Claims (5)

1. 2개의 검출 바늘이 접촉하는, 검사될 인쇄 회로판(2)상의 2개 지점들 사이의 전기 파라미터를 분석하는 전기 파라미터 분석 시스템에 도선(12)을 통해 접속되는 다수의 전도성 검출 바늘(10)을 각각 구비한 다수의 검출 판(1SS, 1SD, 11S, 11D)들을 포함하는, 인쇄 회로판의 전기적 검사 장치로서, 적어도 한 쌍의 서로 인접하여 있는 검출 판(1SS, 1SD; 11S, 11D)이 사용되고, 그 검출 판들이 서로에 대하여 이동 가능하며, 검사될 인쇄 회로판(2)상의 2개 지점들에 접촉하는 상기 2개의 검출 바늘들 중 하나는 2개의 상기 검출 판들 중 하나의 검출 판에 위치되고, 상기 2개의 검출 바늘 중 다른 하나는 2개의 상기 검출 판들 중 다른 하나의 검출 판에 위치되며, 검사될 인쇄 회로판(2)이 상기 검출 판들에 대하여 수평 이동 가능하거나 또는 그 반대로 상기 검출 판들이 상기 인쇄 회로판에 대하여 수평 이동 가능하게 된 인쇄 회로판의 전기적 검사 장치에 있어서,

   상기 한 쌍의 서로 인접하여 있는 검출 판(1SS, 1SD; 11S, 11D)들이 동일 평면에 있고, 상기 검출 판들 중 하나가 다른 하나와는 별개로 수평 이동 가능하며, 상기 전도성 검출 바늘(10)들이 개별적으로 축방향으로 이동 가능하게 된 것을 특징으로 하는 인쇄 회로판의 전기적 검사 장치.
2. 제 1 항에 있어서, 동일 평면에서 서로 인접하여 있는 상기 검출 판들이 2개인 것을 특징으로 하는 인쇄 회로판의 전기적 검사 장치.
3. 제 1 항에 있어서, 한 쌍의 동일 평면에 있는 검출 판은 인쇄 회로판(2)의 상면으로 향하고, 다른 한 쌍의 동일 평면에 있는 검출 판은 인쇄 회로판(2)의 하면으로 향하도록 서로 마주하여 배치된 2쌍의 동일 평면에 있는 검출 판(1SS, 1SD; 11S, 11D)이 사용되는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로판의 전기적 검사 장치.
4. 제 1 항에 있어서, 상기 검출 바늘의 축방향 이동이 전자석 수단(11)에 의해 달성되는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로판의 전기적 검사 장치.
5. 제 1 항 내지 제 3 항, 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 검출 판들 중 어느 한 검출 판을 다른 검출 판에 대하여 이동시키거나 또는 검사될 상기 인쇄 회로판에 대하여 상기 검출 판들 모두를 이동시키거나 또는 상기 검출 판들 모두에 대하여 상기 인쇄 회로판을 이동시킨 후에, 상기 검출 판들 중 어느 한 검출 판의 하나의 검출 바늘과 상기 다른 검출 판의 하나의 검출 바늘에 의해 상기 인쇄 회로판의 인쇄 회로의 2개 지점의 검사를 행하도록 된 것을 특징으로 하는 인쇄 회로판의 전기적 검사 장치.