KR19990076663A - 탐침의 위치 조정에 의한 인쇄 회로의 전기분석 장치 - Google Patents
탐침의 위치 조정에 의한 인쇄 회로의 전기분석 장치 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은 1개 니들과 다른 니들 사이의 전기적 파라미터 분석 수단에 자체 배면을 연결할 수 있도록 되어 있는 다수의 전도성 니들(10)을 구비한 기판을 포함하는 형태의, 카드내 인쇄 회로를 전기 테스트하는 장치로서,
-동평면상에 있는 2개 이상의 니들 기판이 서로 인접하게 되고,
-한 기판이 다른 기판에 대하여 독립적으로 이동될 수 있으며,
-검사할 각각의 카드가 상기 2 개 이상의 기판(1)에 대해 독립적으로 이동될 수 있거나 또는 상기 2개 이상의 기판(1)이 상기 각각의 카드에 대해 독립적으로 이동될 수 있는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로의 전기 분석 장치에 관한 것이다.
Description
종래 기술에 인쇄 회로를 검사하는 장치는 공지되었다. 일반적으로 이들 장치는 다수의 전기 전도성 니들을 보유하는 기판(board) 또는 판(bed)이 제공되고, 그 위에 인쇄 회로 카드가 위치되어 상이한 니들들 사이에 전기 전도성을 적절하게 활성화시키고 각각의 전기 전도성을 측정함으로써 인쇄 회로가 결점이 있는지 없는지 여부를 검사할 수 있도록 되어 있다.
상기 검사를 위해서 분명한 것은, 상기 니들이 인쇄 회로의 적당한 위치에 접촉되어야 한다는 점이다. 인쇄 회로는 매우 다양하기 때문에, 기본 니들 기판 위에 동일한 니들이 검사될 인쇄 회로에 따라 다양한 방법으로 배치되는 적용 기판상에 적용하는 것이 요구된다.
상기 방법의 단점은 장치의 한계성과 대응되는 어댑터 또는 적용 기판에 대한 인쇄 회로만을 검사할 가능성이 있다는데 있다. 검사될 상이한 인쇄 회로들을 갖춘 카드들은 상기 회로들만큼의 많은 수의 적용 기판을 필요로 한다.
게다가 회로들의 표면이 항상 동평면이 아니어서, 효과적인 접촉을 위한 적절한 전기 전도성이 항상 확보될 수는 없다는 점이 공지되어 있다.
또다른 방법은 각각의 니들을 독립적으로 구별하여 조절 가능하게 이동할 수 있도록 만드는 것으로, 상기 방법은 매우 복잡하고 비용이 비싸다.
후자의 방법은 또한 다수의 이동할 수 있는 니들이 실제적으로 각 회로를 검사해야 하기 때문에 유효하지 않아 검사 시간이 오랜 시간이 오래 소모된다.
본 발명은 탐침(sound needle)의 위치를 조절하여 인쇄 회로를 전기적으로 분석하는 장치에 관한 것이다.
도 1은 검출 기판의 개략적 사시도이다.
도 2는 축방향으로 이동 가능한 검출 니들의 개략적 단면도이다.
도 3은 1개의 검출 기판을 기준으로 이동 가능한 다른 검출 기판을 포함하는 2개의 대향되는 검출 기판과, 그들 사이에 위치하여 검사되는 카드의 바람직한 실시예를 나타내는 도면이다.
본 발명의 목적은 상기 언급된 문제점을 제거하고, 특히 어떤 유형의 회로에도 적용시킬 수 있는 전도성 검출용 니들 시스템에 의해, 상이한 인쇄 회로를 검사하는 것이 가능한 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 상기 목적은, 1개 니들과 다른 니들 사이의 전기적 파라미터 분석 수단에 자체 배면을 연결할 수 있도록 되어 있는 다수의 전도성 니들(10)을 구비한 기판을 포함하는 형태의, 카드내 인쇄 회로를 전기 테스트하는 장치로,
-동평면상에 있는 2개 이상의 니들 기판이 서로 인접하게 되고,
-한 기판이 다른 기판에 대하여 독립적으로 이동될 수 있으며,
-검사할 각각의 카드가 상기 2 개 이상의 기판(1)에 대해 독립적으로 이동될 수 있거나 또는 상기 2개 이상의 기판(1)이 상기 각각의 카드에 대해 독립적으로 이동될 수 있는 것을 특징으로 한다.
상기와 같은 본 발명에 따라 어댑터 없이도 다양한 인쇄 회로를 만듦으로써 전체 시스템을 단순화시킬 수 있는 직접적인 장점을 취할 수 있다.
사실상, 본 발명에 따라 회로의 앞쪽 단부의 위치에 있는 기판 바늘을 활성화시키고 맞은편 기판의 대향 니들을 활성화시킬 수 있으며, 이동성 때문에, 위치, 장소 및 형상에 상관없이 테스트될 회로의 정확한 단부 포인트에 도달할 수 있게 된다.
이와 같은 본 발명에 장치에 따라 어떠한 형태의 카드에 대해서도 테스팅 시스템의 범용화가 달성된다.
사실 :
- 검사될 인쇄 회로 대립 포인트가 하나는 제 1 기판 아래 그리고 제 2 기판 아래 다른 하나가 놓이고, 탐침이 일치하지 않는 경우, 제 1 및 제 2 기판 모두 검사될 대립 포인트와 정확하게 일치하여 그들의 위치로 이동하기에(또는 카드로 이동하기에) 충분하고,
- 2 개의 인쇄 회로 대립 포인트가 한 기판만으로 덮이게 되도록 너무 가까운 경우, 상기 2개 기판 사이에서 정확한 삽입 위치로 상기 회로와 검사될 카드를 이동하기에 (또는 상기 양쪽 기판을 반대로 이동 이기) 충분해서, 제 1 플레이트 아래 회로의 한 포인트가 놓이고 제 2 기판 아래 또다른 포인트가 놓이게 되고, 그것 모두를 이동함으로써 상기 2 기판의 각각으로부터 한 개 각각 니들로 상기 2개 포인트를 정확하게 일치하도록 만드는 것이 가능하다.
니들 기판은 니들들 사이에 나중에 위치되도록 검사될 카드 위와 아래 모두에 설치되는 것이 장점이다. 이 방법으로 사용의 일반화가 달성된다. 장치는 또한 검출용 니들이 축방향으로 이동 가능하다는 특징이 있는 장점을 갖는다.
이 방법으로, 기판에서 다수의 니들을 벗어나, 일부만이 인쇄 회로의 소망 위치에 쉽게 집중되도록 상호 작용시킬 수 있다.
또한, 니들의 축방향 이동이 가능하기 때문에, 카드 또는 모든 회로 표면이 모든 지점에서 동평면에 있지 않더라도 회로의 각각의 모든 지점들에 대한 접촉이 보다 양호해 질 수 있다는 것이 장점이다. 니들은 전자석 수단에 의해 축방향으로 이동 가능하게 만들어진다는 것이 장점이다. 상기 방법에서 바람직한 니들은 안전하고 간단한 방법으로 작동한다.
이하에서는 본 발명의 상기 장점들을 본 명세서에 첨부된 도면을 참조로 더욱 상세하게 설명할 것이고, 이는 조금이라도 본 발명을 제한하는 것이 아니라 단지 발명의 구체적 설명을 위한 예이다.
탐지 기판은 (1)로 나타냈고 니들은 (10)으로 나타냈다. 특히 도면에서 테스팅 탐지 기판의 각각 오른쪽과 왼쪽 2개의 상부를 1SS 및 1SD로 그리고 오른쪽과 왼쪽 2개의 저부를 1IS 및 1ID로 나타냈다.
각 기판은 전자석(11)에 의해 축방향으로 이동 가능한 다수의 니들을 구비한다. 각 니들은 전기 변수 검사(12)를 위한 종래 시스템에 전기적으로 연결된다. 모든 기판은 동작 위치 결정을 위해 서로 구별되어 독립적으로 이동할 수 있다.
이들 사이에 위치된 카드는 2로 표시하고 이는 또한 평면상에서 이동 가능하다. 시스템은 단일 포인트의 상대 위치를 사용하여 네트 리스트 "네트-리스트(net-list)"에 의한 검사를 제공한다.
접속 테스트는 포인트에서 포인트로 실시되어, n개 포인트로 구성된 네트의 접속을 테스팅하기 위해서는, 모든 접속을 망라할 수 있게 선택된 포인트의 쌍 사이에 n-1개의 테스트가 요구된다.
다른 네트 사이에서의 단락 회로 테스트는, 각 네트 쌍을 나타내는 것중 하나를 선택함으로써 실시된다.
상기 방식으로 n개의 네트를 테스팅(탐지)을 위한 최대 네트 수는 이하 식으로 계산될 수 있다 :
n * ( n - 1 ) / 2
상기 숫자는 단지 예정된 거리 이내에 서로 인접한 네트들을 선택함으로써 감소시킬 수 있다. 데스트 될 위치는 이동 가능한 기판(판)에 니들의 수에 해당하는 섹터에서 이하 분할되어, 테스트될 포인트가 상기 위치 및 테스팅 니들 중 하나에 도달할 수 있다. 테스트될 포인트가 도달한 후, 접속 또는 절연 상태를 검사할 필요가 있다. 상기 이동에 걸리는 시간을 줄이기 위해, 단일 테스트 빈도를 변화시키는 축의 경로를 최소화할 수 있다.
본 장치에는 2개의 대향 기판이 2개의 직교축을 기준으로 이동 가능하게 고정된 프레임이 포함된다. 기판상에서 축방향 운동시에 전자석에 의해 직접 작동되는 테스팅 탐침(니들)이 고정되어 있다. 처음에, 인쇄 회로는 두 개 기판 사이로 수송되는 베어링 프레임상에 위치된다.
상기 위치에서 카드는 고정되거나 차례가 되어 보다 더 이동할 수 있다. 기판은 카드에 인접하게 놓이고 테스트가 시작된다. 각 기판은 개별적으로 검사되고 작동되어, 최대 스트로크 필요량은 탐침들 사이의 거리에 의해 결정된다. 정확한 위치에서, 전자석은 접촉되는 표면상의 탐침을 작동시키고, 따라서 동시에 동작되는 탐침 쌍에 의해 회로상에 원하는 2개 포인트간의 회로의 기능을 체크하고, 각각의 연속성 및 단발적 단락 회로를 체크하는 것이 가능하다. 공정은 희망하는 대로 반복 방식으로 포인트에 의해 처리된다.
말했듯이, 각각의 결합 외에 한 기판의 이동도 뿐만 아니라, 또한 카드 베어링은 하나 또는 기판 쌍의 서로에 대해 이동 가능한 것이 바람직하다.
상기 방법으로 사용의 일반화가 달성된다.
Claims (6)
1개 니들과 다른 니들 사이의 전기적 파라미터 분석 수단에 자체 배면을 연결할 수 있도록 되어 있는 다수의 전도성 니들(10)을 구비한 기판을 포함하는 형태의, 카드내 인쇄 회로를 전기 테스트하는 장치로서,
-동평면상에 있는 2개 이상의 니들 기판이 서로 인접하게(1SS-1SD/1IS-1ID) 되고,
-한 기판(1SS/1SD)이 다른 기판(1SD/1ID)에 대하여 독립적으로 이동될 수 있으며,
-검사할 각각의 카드가 상기 2 개 이상의 기판(1)에 대해 독립적으로 이동될 수 있거나 또는 상기 2개 이상의 기판(1)이 상기 각각의 카드에 대해 독립적으로 이동될 수 있는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로의 전기 분석 장치.
제 1 항에 있어서, 동평면에서 인접하고 1개를 다른 하나에 대해 이동 시킬 수 있는 2개의 테스트 기판(1)을 사용하는 것을 특징으로 하는 장치.
제 1 항에 있어서, 2 쌍의 대향 테스트 기판(1SS-1SD/1IS-1ID)을 사용하는 것을 특징으로 하는 장치.
제 1 항에 있어서, 상기 니들(10)이 축방향으로 이동 가능하게 만들어지는 것을 특징으로 하는 장치.
제 1 항 내지 제 4 항중 어느 한 항에 있어서, 상기 니들이 전자석 수단(11)에 의해서 이동될 수 있도록 되어 있는 것을 특징으로 하는 장치.
제 1 항 내지 제 항중 어느 한 항에 있어서, 회로의 2개 포인트의 테스팅시에 1개 기판을 다른쪽 기판을 각각 중심 이동시키고/또는 기판 모두를 검사될 카드로 이동시키고 또는 그 반대로 행한 후, 한 측면 상에 기판의 바늘로 다른쪽 같은 측면 또는 대향 측면의 다른 기판의 바늘로 작용하도록 작동되게 구성되는 것을 특징으로 하는 장치.
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