JPS61180153A - プリント配線基板の試験装置およびその方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明はプリント配線基板の試験装置及びその方法に関
する。

〔発明の技術的背景〕

一般に電子機器ではプリント基板が多用されている。と
ころでこのようなプリント基板に部品を実装した状態に
おける不良の原因は、ハンダ付は時に、ハンダが隣接す
る配線ノやターン間にまたがって付着するいわゆる、ハ
ンダブリッジによるものが極めて多い。

ところで、従来のプリント配線基板の自動検査装置でこ
のような不良原因を発見するためには、特定の２ピン間
の抵抗値を測定してその値が数Ω乃至数十〇であれば合
格と判定していた。

〔背景技術の問題点〕

しかしながら、このようなものでは、予めハンダプリツ
ノを生じる可能性のある場所を判断して指定しておく必
要がある。したがって予想しない場所で生じたハンダプ
リツノについては、発見できない。またこのようなこと
が生じないように、漏れなく検査を行なうためには全て
のピン間について試験を行なう必要がらり、試験時間が
長大になり、しかも試験装置の規模も膨大なものとなる
。

〔発明の目的〕

本発明は上記の点に鑑みてなされたもので、試験時間の
短縮が可能で、しかも試験漏れを生じることもないプリ
ント配線基板の試験装置及びその方法を提供することを
目的とするものである。

〔発明の概要〕

本発明は対象とするピンだけを残して残余のピンを全て
短絡し、該対象とするピンと残余のピンとの間の抵抗値
を測定して所定の絶縁抵抗値を有することを試験し、こ
の操作をすべてのピンを対称とするピンとして行ない、
所定の絶縁抵抗値に達しない、対称とするピンについて
のみ全てのピンとの間で絶縁抵抗を測定する試験装置及
び方法を特徴とするものである。

〔発明の実施例〕

以下本発明の一実施例を図面を参照して詳細に説明する
。第１図は本発明の方法を実施する装置の一例を示すブ
ロック図である。図中１は、試験対象である、部品を実
装したプリント基板である。そして２は上記プリント基
板１の／４’ターンから相互に電気的な分離がなされて
いる部位を外部に導出する接続部である。該、接続部２
は、上記プリント基板１のパターンに対応して、相互に
絶縁され、かつ弾性的に突出する複数のピン３を植設し
ている。したがってこの接続部２に、上記プリント基板
１を載置すると該プリント基板ノの・ぐターンとピン３
との間の電気的な導通を図ることができる。

そして接続部２から各ピン３を導出して測定部４に接続
する。測定部４は上記各ピン間の抵抗値を、後述する手
順で順次に測定する。

そして測定部４の測定結果は、表示部５に表示する。

次に、各ピン３間の絶縁抵抗値の測定手順について第２
図に示すフローチャートを参照して説明する。なお、こ
こで、ピンの数は全部でＭ本とする。

先ず、ＳＴ　１で「スタート」すると、次のＳＴ２で「
対象とするピンＱをＱ＝１とする」を行なう。そしてＳ
Ｔ　３で［ピンＱｔ一対象とし、残余のピン１〜（Ｑ−
１）および（Ｑ＋１．ｌ〜Ｍｔ−全て短絡」を行なう。

そして次のＳＴ　４で「ピンＱとピン１〜（Ｑ−１）お
よび（Ｑ＋１）〜Ｍ間の抵抗は脆以上か？」を判定する
。そしてこの判定結果がＹＥＳであれば、次のＳＴ　５
を実行する。

ＳＴ　５では、「ピン番号ＱをＱ＋１．とする」を行な
う。次いでＳＴ　６でｒＱ＝Ｍ＋１か？」を判定する。

ここでＱがＭに達していれば全てのピンに対する測定を
終了したことになる。したがってＳＴ　７で「試験終了
表示」を行ないＳＴ　８で「終了」する。

またＳＴ　４の判定結果がＮＯであれば、ＳＴ９で「ピ
ンＱとピン１〜（Ｑ−１）および（Ｑ＋１）〜Ｍ間の抵
抗をそれぞれ測定」を実行する。

そして次にＳＴ　１０で「測定値は論以上か？」全判定
する。そしてこの判定結果がＹＥＳであれば前述のＳＴ
　５へ戻る。またこの判定結果がＮｏであれば次のＳＴ
　１１で「当該ピン番号を表示」を行なった後ＳＴ　５
へ戻る。

なおこのような測定手順を測定部４で行なうために、例
えば測定部４をマイクロコンピュータで制御してもよい
。

このような測定方法であれば、たとえばピン数が１０本
の場合、すべてのピン間について抵抗の測定を行なうと
その測定回数は、 １０Ｘ（１０−１）＝９０回 となるが上記実施例によれば１０回でよい。したがって
測定回数を著しく少なくできることにより、試験時間を
短くでき、装置も小規模なものとすることができる。

〔発明の効果〕

以上のように本発明によれば、特にハンダブリッジ等に
よるプリント基板の不良を短時間にもれなく試験するこ
とができ、装置も比較的小規模なものでよ〈産業上有用
なプリント配線基板の試験装置を提供することができる
。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の方法を実施する装置の一実施例を示す
ブロック図、第２図は上記実施例の測定手順を示す７０
−チャートである。 ノ・・・プリント基板、２・・・接続部、３・・・ピン
、４・・・測定部、５・・・表示部。 出願人代理人　　弁理士　鈴　江　武　彦第１図

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）試験を行なうプリント基板の配線パターンの所定
   位置に弾性的に当接する複数のピンを植設した接続部と
   、この接続部の上記各ピンに接続され対象とするピンを
   除いて残余の全てのピン間を短絡して上記対象とするピ
   ンとの間の抵抗を測定し該対象とするピンとして全ての
   ピンを順次に選択して抵抗の測定を行なう測定部と、こ
   の測定部の測定結果を表示する表示部とを具備するプリ
   ント配線基板の試験装置。
2. （２）特許請求の範囲第１項記載のものにおいて、測定
   部はマイクロコンピュータによって制御するプリント配
   線基板の試験装置。
3. （３）試験を行なうプリント基板の配線パターンの所定
   位置に弾性的に当接する複数のピンを介して上記プリン
   ト基板の配線パターン導出し、対象とするピンを除いて
   残余の全てのピン間を短絡して上記対象とするピンとの
   間の抵抗を測定し、該対象とするピンとして全てのピン
   を順次に選択して抵抗の測定を行ないこの測定結果を表
   示することを特徴とするプリント配線基板の試験方法。