JPS5817377A - フラットケ−ブルの導通検査装置 - Google Patents
フラットケ−ブルの導通検査装置Info
- Publication number
- JPS5817377A JPS5817377A JP56115058A JP11505881A JPS5817377A JP S5817377 A JPS5817377 A JP S5817377A JP 56115058 A JP56115058 A JP 56115058A JP 11505881 A JP11505881 A JP 11505881A JP S5817377 A JPS5817377 A JP S5817377A
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- JP
- Japan
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- resistance
- circuit
- deviation
- value
- flat cable
- Prior art date
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- Pending
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/08—Measuring resistance by measuring both voltage and current
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/52—Testing for short-circuits, leakage current or ground faults
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/54—Testing for continuity
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はフラットケーブルの導通検査に係り特にフラッ
トケーブルとコネクタ等の接続部における微小抵抗検査
に好適な導通検査装置に関する６ 従来の７ラツトケープルとコネクタ等の接続部における
導通検査装置は第１図に示す如く、検査用電源１に接続
されたピン走査回路２、電流測定回路３および電圧測定
回路４と、抵抗値変換回路５と、基準抵抗値設定回路６
と、比較回路７と、表示回路８とから構成されている。
トケーブルとコネクタ等の接続部における微小抵抗検査
に好適な導通検査装置に関する６ 従来の７ラツトケープルとコネクタ等の接続部における
導通検査装置は第１図に示す如く、検査用電源１に接続
されたピン走査回路２、電流測定回路３および電圧測定
回路４と、抵抗値変換回路５と、基準抵抗値設定回路６
と、比較回路７と、表示回路８とから構成されている。
この導通検査装置は、被検査フラットケーブル９におけ
る各ライン毎の導通検査を、ピン走査回路２を駆動し検
査用電源１を被検査フラットケーブル９に供給し電流測
定回路３により得られた電流値および電圧測定回路４に
より得られた電圧値とから抵抗値演算回路５により抵抗
値とし【算出し、該抵抗値と基準抵抗値回路６より得ら
れた基準抵抗値とを比較することにより行なっている。
る各ライン毎の導通検査を、ピン走査回路２を駆動し検
査用電源１を被検査フラットケーブル９に供給し電流測
定回路３により得られた電流値および電圧測定回路４に
より得られた電圧値とから抵抗値演算回路５により抵抗
値とし【算出し、該抵抗値と基準抵抗値回路６より得ら
れた基準抵抗値とを比較することにより行なっている。
このため、従来技術においては検出抵抗値が被検査フラ
ットケーブル９の抵抗値、検査用電源１の内部抵抗値、
ピン走査回路２の内部抵抗値および電流測定回路３の内
部抵抗値の総和として求められてしまう。従って従来は
、基準抵抗値設定にあたって、被検査フラットクープル
９の長さの変動による抵抗値の変動、および検査用電源
１ほかの導通検査装置の内部抵抗値の変動を含む抵抗値
として設定しなければならないといさ問題点を有する。
ットケーブル９の抵抗値、検査用電源１の内部抵抗値、
ピン走査回路２の内部抵抗値および電流測定回路３の内
部抵抗値の総和として求められてしまう。従って従来は
、基準抵抗値設定にあたって、被検査フラットクープル
９の長さの変動による抵抗値の変動、および検査用電源
１ほかの導通検査装置の内部抵抗値の変動を含む抵抗値
として設定しなければならないといさ問題点を有する。
またこのため基準抵抗値は、フラットケーブルとコネク
タなどの接続部の接続抵抗に此ぺ大きくなりこの結果＃
接続抵抗の変動を充分検出できないという欠点があった
。
タなどの接続部の接続抵抗に此ぺ大きくなりこの結果＃
接続抵抗の変動を充分検出できないという欠点があった
。
本発明の目的は従来技術の問題点を解決し、フラットケ
ーブルとコネクタなどの接続部の微小な接続抵抗を検出
することを可能とする導通検査装置を提供するととＫあ
る。
ーブルとコネクタなどの接続部の微小な接続抵抗を検出
することを可能とする導通検査装置を提供するととＫあ
る。
本発明は検査用電源に接続されたビン走査回路、電流測
定回路および電圧測定回路と、電流値および電圧値を用
いて抵抗値を算出するための抵抗値演算回路と、抵抗値
を用いて抵抗標準偏差値を算出する抵抗偏差演算回路と
、基準抵抗偏差設定回路と、比較回路と、表示回路とよ
り成る導通検査装置において、ビン走査回路忙接続され
た被検査７′）ットクープルにおける各ライン毎の導通
抵抗値を電流測定回路、電圧測定回路および抵抗値演算
回路によりそれぞれ測定、算出し、ビン走査回路の走査
終了後に７ラツトケーブルのライ／毎抵抗値より抵抗の
標準偏差値を算出する抵抗偏差演算回路を設け、該偏差
値と基準偏差値とを比較するととくより７２ットケープ
ル長さによる抵抗値および導通検査装置の内部抵抗値の
影響を受けることなく７２ツトケーブルの導通検査を行
なう機能を特徴とするフラットケーブルの導通検査装置
を要旨とするものである。
定回路および電圧測定回路と、電流値および電圧値を用
いて抵抗値を算出するための抵抗値演算回路と、抵抗値
を用いて抵抗標準偏差値を算出する抵抗偏差演算回路と
、基準抵抗偏差設定回路と、比較回路と、表示回路とよ
り成る導通検査装置において、ビン走査回路忙接続され
た被検査７′）ットクープルにおける各ライン毎の導通
抵抗値を電流測定回路、電圧測定回路および抵抗値演算
回路によりそれぞれ測定、算出し、ビン走査回路の走査
終了後に７ラツトケーブルのライ／毎抵抗値より抵抗の
標準偏差値を算出する抵抗偏差演算回路を設け、該偏差
値と基準偏差値とを比較するととくより７２ットケープ
ル長さによる抵抗値および導通検査装置の内部抵抗値の
影響を受けることなく７２ツトケーブルの導通検査を行
なう機能を特徴とするフラットケーブルの導通検査装置
を要旨とするものである。
次に本発明の一実施例を第２図について詳細に説明する
。図中、９は被検査フラットケーブルで、ビン走査回路
２を介して検査用電源１、電流測定回路３および電圧測
定回路４に１＃！続され電流値および電圧値を用いて紙
ｆ値を算出す−るだめに使用される。１ｏは抵抗偏差演
算回路で抵抗演算回路５の算出した抵抗値を格納記憶し
ビン走査回路２の走査が終了した一点で肢格納抵抗値を
用いて骸抵抗値の標準偏差値を算出するために使用され
る。１１は基準抵抗偏差値設定回路、７は比較回路で抵
抗偏差演算回路１ｏと基準抵抗偏差設定回路１１との抵
抗偏差値をそれぞれ比較するために使用される。８は表
示回路で比較回路７の結果を表示するために使用される
。
。図中、９は被検査フラットケーブルで、ビン走査回路
２を介して検査用電源１、電流測定回路３および電圧測
定回路４に１＃！続され電流値および電圧値を用いて紙
ｆ値を算出す−るだめに使用される。１ｏは抵抗偏差演
算回路で抵抗演算回路５の算出した抵抗値を格納記憶し
ビン走査回路２の走査が終了した一点で肢格納抵抗値を
用いて骸抵抗値の標準偏差値を算出するために使用され
る。１１は基準抵抗偏差値設定回路、７は比較回路で抵
抗偏差演算回路１ｏと基準抵抗偏差設定回路１１との抵
抗偏差値をそれぞれ比較するために使用される。８は表
示回路で比較回路７の結果を表示するために使用される
。
尚、前記抵抗偏差値は、通常の標準偏差の算出手法によ
って算出される、 而して上記構成に基づいて動作を説明すれば、ビン走査
回路２を駆動させることにより被検査７２ツトケーブル
９に検査用電源１を順次印加し、このとき７−）ットケ
ーブル９に流れる電流値を電流測定回路５で、フラット
ケーブル９０両端で生ずる電圧値を電圧測定回路４に【
それぞれ測定し、該電流値および該電圧値を抵抗値演算
回路５にそれぞれ送出し抵抗値として算出する。咳抵抗
値をビン走査回路２の走査に１対１で対応して抵抗偏差
演算回路１０に送出し順次記憶させる。ビン走査回路１
２の走査終了時点で抵抗偏差演算回路１０は、記憶済の
抵抗値を用いて該抵抗値の抵抗標準偏差値を算出し該偏
差値を比較回路７へ送出する。比較回路７において該偏
差値と基準抵抗偏差設定回路１１より得られた基準抵抗
偏差値とを比較し、仮りに基準抵抗偏差値に比べ骸備差
が大きい場合に不合格を表示回路Ｉｎ表示させるもので
ある。
って算出される、 而して上記構成に基づいて動作を説明すれば、ビン走査
回路２を駆動させることにより被検査７２ツトケーブル
９に検査用電源１を順次印加し、このとき７−）ットケ
ーブル９に流れる電流値を電流測定回路５で、フラット
ケーブル９０両端で生ずる電圧値を電圧測定回路４に【
それぞれ測定し、該電流値および該電圧値を抵抗値演算
回路５にそれぞれ送出し抵抗値として算出する。咳抵抗
値をビン走査回路２の走査に１対１で対応して抵抗偏差
演算回路１０に送出し順次記憶させる。ビン走査回路１
２の走査終了時点で抵抗偏差演算回路１０は、記憶済の
抵抗値を用いて該抵抗値の抵抗標準偏差値を算出し該偏
差値を比較回路７へ送出する。比較回路７において該偏
差値と基準抵抗偏差設定回路１１より得られた基準抵抗
偏差値とを比較し、仮りに基準抵抗偏差値に比べ骸備差
が大きい場合に不合格を表示回路Ｉｎ表示させるもので
ある。
この時抵抗値演算回路５により算出される抵抗値には被
検査フラットケーブル９のラインの抵抗値および本導通
検査装置の内部抵抗として検査用電源１の内部抵抗値な
ど測定目的外抵抗値が含まれているが、抵抗標準偏差演
算回路１０による抵抗標準偏差演算過程において該目的
外抵抗値は、抵抗値演算回路５により算出される抵抗値
より減算処理されるため、骸目的外抵抗値に影響される
ことなくフラノ、トケープルの導通検査を行えるもので
ある。
検査フラットケーブル９のラインの抵抗値および本導通
検査装置の内部抵抗として検査用電源１の内部抵抗値な
ど測定目的外抵抗値が含まれているが、抵抗標準偏差演
算回路１０による抵抗標準偏差演算過程において該目的
外抵抗値は、抵抗値演算回路５により算出される抵抗値
より減算処理されるため、骸目的外抵抗値に影響される
ことなくフラノ、トケープルの導通検査を行えるもので
ある。
本発明は上記した様に抵抗庫準偏差演算回路を設け、測
定抵抗値より該抵抗値の抵抗標準偏差値を算出し、該偏
差値と基準抵抗偏差値とを比較するものであるから、従
来の導通検査装置の様に、フラットケーブル長さ変動に
よる抵抗値の変動および導通検査装置の内部抵抗値の影
響を受ける必要が全くなくなり、且つ従来ケーブル長さ
毎に実施していた基準抵抗値の設定替えも不要となるば
かりか、基準抵抗偏差値を７ラツトケーブルとコネクタ
等の微小接続抵抗値レベルと合致させておくことにより
該接続抵抗値レベルの導通検査が可能という効果を有す
るものである。
定抵抗値より該抵抗値の抵抗標準偏差値を算出し、該偏
差値と基準抵抗偏差値とを比較するものであるから、従
来の導通検査装置の様に、フラットケーブル長さ変動に
よる抵抗値の変動および導通検査装置の内部抵抗値の影
響を受ける必要が全くなくなり、且つ従来ケーブル長さ
毎に実施していた基準抵抗値の設定替えも不要となるば
かりか、基準抵抗偏差値を７ラツトケーブルとコネクタ
等の微小接続抵抗値レベルと合致させておくことにより
該接続抵抗値レベルの導通検査が可能という効果を有す
るものである。
第１図は従来技術の７−）ットケーブルの導通検査装置
における具体例を示す図であり、第２図は本発明に係る
フラットケーブルの導通検査装置の一実施例を示す図で
ある。 符号の説明 １・・・検査用電源 ２・・・ビン走査回路５・・
・電流検出回路 ４・・・電圧検出回路６・・・基準
抵抗値設定回路 ７・・・比較回路 ８・・・表示回路 ９・・・被検査フラットケーブル １０・・・抵抗偏差演算回路 １１・・・基準抵抗偏差設定回路
における具体例を示す図であり、第２図は本発明に係る
フラットケーブルの導通検査装置の一実施例を示す図で
ある。 符号の説明 １・・・検査用電源 ２・・・ビン走査回路５・・
・電流検出回路 ４・・・電圧検出回路６・・・基準
抵抗値設定回路 ７・・・比較回路 ８・・・表示回路 ９・・・被検査フラットケーブル １０・・・抵抗偏差演算回路 １１・・・基準抵抗偏差設定回路
Claims (1)
- 複数のケーブルが並設されたフラットケーブルの導通検
査を行な５フラツトケーブルの導通検査装置であって、
７２ツトケーブルの両端と電気的に接続するピン走査回
路と、該ピン走査回路を用いて前記フラットケーブル、
の抵抗値を測定する抵抗値測定手段と、該抵抗値測定手
段により測定した抵抗値の標準偏差値を演算する抵抗偏
差演算手段と、フラットケーブルの基準抵抗偏差値を記
憶する基準抵抗偏差設定手段と前記抵抗偏差演算手段よ
り得られた抵抗値の標準偏差値と基準抵抗偏差設定手段
より得られた基準抵抗偏差値とを比較する比較回路とを
備えることを特徴とする７：１７ツトケープルの導通検
査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56115058A JPS5817377A (ja) | 1981-07-24 | 1981-07-24 | フラットケ−ブルの導通検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56115058A JPS5817377A (ja) | 1981-07-24 | 1981-07-24 | フラットケ−ブルの導通検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5817377A true JPS5817377A (ja) | 1983-02-01 |
Family
ID=14653124
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56115058A Pending JPS5817377A (ja) | 1981-07-24 | 1981-07-24 | フラットケ−ブルの導通検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5817377A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6030916A (ja) * | 1983-07-30 | 1985-02-16 | Taada:Kk | 調理装置 |
| JPS6028313U (ja) * | 1983-07-30 | 1985-02-26 | 株式会社ハ−マン | 調理装置 |
| JPS62192116U (ja) * | 1986-05-29 | 1987-12-07 | ||
| JPS62192117U (ja) * | 1986-05-29 | 1987-12-07 | ||
| FR2689677A1 (fr) * | 1992-04-03 | 1993-10-08 | Electricite De France | Dispositif de contrôle de l'état d'un fusible multibrins. |
| FR2725790A1 (fr) * | 1994-10-18 | 1996-04-19 | Lyla Electronique Sarl | Dispositif pour la mesure de la variation de resistance d'au moins un cable electrique |
| WO2007062979A1 (de) * | 2005-12-02 | 2007-06-07 | Robert Bosch Gmbh | Leistungstransistor-schalteinrichtung und verfahren zur funktionsprüfung einer derartigen leistungstransistor-schalteinrichtung |
-
1981
- 1981-07-24 JP JP56115058A patent/JPS5817377A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6030916A (ja) * | 1983-07-30 | 1985-02-16 | Taada:Kk | 調理装置 |
| JPS6028313U (ja) * | 1983-07-30 | 1985-02-26 | 株式会社ハ−マン | 調理装置 |
| JPS62192116U (ja) * | 1986-05-29 | 1987-12-07 | ||
| JPS62192117U (ja) * | 1986-05-29 | 1987-12-07 | ||
| FR2689677A1 (fr) * | 1992-04-03 | 1993-10-08 | Electricite De France | Dispositif de contrôle de l'état d'un fusible multibrins. |
| FR2725790A1 (fr) * | 1994-10-18 | 1996-04-19 | Lyla Electronique Sarl | Dispositif pour la mesure de la variation de resistance d'au moins un cable electrique |
| WO2007062979A1 (de) * | 2005-12-02 | 2007-06-07 | Robert Bosch Gmbh | Leistungstransistor-schalteinrichtung und verfahren zur funktionsprüfung einer derartigen leistungstransistor-schalteinrichtung |
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