KR100200607B1

KR100200607B1 - 피씨비(pcb)에서의 핀접촉 검사방법

Info

Publication number: KR100200607B1
Application number: KR1019960030475A
Authority: KR
Inventors: 정영기; 박상곤
Original assignee: 윤종용; 삼성전자주식회사
Priority date: 1996-07-25
Filing date: 1996-07-25
Publication date: 1999-06-15
Also published as: KR980013590A

Abstract

본 발명에 따른 PCB에서의 핀접촉 검사방법은 실제로 검사를 받는 임의의 핀을 제외한 나머지 복수의 핀을 모두 하나로 묶고, 상기 임의의 핀과 하나로 묶여진 복수의 핀으로 구성되는 회로의 임피던스를 측정하여 미리 설정된 기준 임피던스와 비교하여 상기 임의의 핀의 접촉상태를 검사한다.

이상과 같은 본 발명에 의하면, 종래와 같이 검사대상의 PCB마다 일일이 기준핀을 설정해야 하는 번거로움과, 적절한 기준핀을 찾아내야 하는 어려움을 제거할 수 있다.

Description

피씨비(PCB)에서의 핀접촉 검사방법

본 발명은 PCB(printed circuit board:인쇄회로기판)에서의 핀접촉 검사방법 에 관한 것으로서, 특히 검사 대상 PCB의 기준핀을 설정하지 않아도 핀접촉 여부를 검사할 수 있는 PCB에서의 핀접촉 검사방법에 관한 것이다.

일반적으로, PCB 조립공정에서는 부품의 조립상태나 불량 여부를 검사하기 위하여 일정한 테스트를 수행한다. 그리고, 그와 같은 테스트를 수행하기 위하여 통상 PCB 검사장치가 사용된다. 이 PCB 검사 장치에 의하면, 부품이 PCB에 조립된 지점을 검사장치의 테스트용 핀으로 찍어서 발생되는 신호를 검출함으로써 부품이 정확히 조립되었는지를 판단하게 된다.

도 1에는 그와 같은 PCB 검사장치를 이용한 종래의 PCB에서의 핀접촉 검사 시스템이 개략적으로 도시되어 있다.

도 1을 참조하면, 종래의 핀접촉 검사 시스템은 PCB(10)의 검사대상핀(미도시)에 핀접촉 테스트를 위한 소정의 신호를 제공하기 위한 신호입력부(11)와, PCB (10)의 검사대상핀을 거쳐 출력되는 신호를 증폭하기 위한 출력신호 증폭부(12)와, 출력신호 증폭부(12)를 거쳐 입력되는 아날로그 신호를 디지탈 신호로 변환하여 출력하는 A/D(analog-to-digital)변환부(13) 및 A/D변환부(13)로부터의 출력신호를 입력받아 검사대상핀의 접촉상태를 판단하는 제어부(14)로 구성되어 있다.

이상과 같은 구성의 종래 핀접촉 검사 시스템에 있어서, 핀의 접촉상태를 검사하기 위하여 사용자는 먼저 각각의 측정대상핀들에 대해 일정 범위 내의 임피던스 측정이 예상되는 임의의 핀을 기준핀으로 설정한다. 그런 후, 신호입력부(11)로부터 그 기준핀을 통하여 소정의 신호를 입력시킨다. 그리고, 기준핀과 각 측정대상핀 사이의 임피던스 값을 각각 측정함으로써 각각의 핀에 대한 접촉 여부를 검사한다. 즉, 측정대상핀이 피접촉부에 확실히 접촉된 상태이면 임피던스는 Zx이고, 접촉이 안된 상태이면 임피던스는 Zx보다 커지게 된다. 이와 같이 임피던스 값을 측정함으로써 핀의 접촉여부를 판단하게 되는 것이다.

한편, 임피던스의 측정을 위해 입력된 신호는 임의의 측정대상핀을 통하여 출력되고, 그 신호는 출력신호증폭부(12)에서 증폭되어 A/D변환부(13)로 입력된다. 그러면, A/D변환부(13)는 입력된 아날로그 신호를 디지탈 신호로 변환하여 출력하며, A/D변환부(13)로부터 출력된 디지탈 신호를 입력받은 제어부(14)는 그 신호를 분석하여 핀의 접촉여부를 판단한다.

그런데, 이상과 같은 종래 핀접촉 검사 시스템에 의하면, 사용자가 검사 대상의 PCB마다 기준핀을 일일이 지정해야 하는 번거로움이 따른다. 그리고, 그와 같이 기준핀을 정함에 있어서, 나머지 측정핀들과 임피던스를 작게 하는 핀을 설정해야 하는데, 사용자가 해당 PCB에 대해 잘 알고 있지 않는 한 수차례의 반복 테스트를 통해 기준핀으로 설정하기에 적당한 핀을 찾아내게 된다. 따라서, 그 작업이 복잡하고 많은 시간이 소요된다.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 감안하여 창출된 것으로서, 검사 대상 PCB의 기준핀을 설정하지 않아도 핀접촉 여부를 검사할 수 있는 PCB에서의 핀접촉 검사방법을 제공함에 그 목적이 있다.

도 1은 종래의 PCB에서의 핀접촉 검사 시스템의 개략적인 구성도.

도 2는 본 발명에 따른 PCB에서의 핀접촉 검사방법에 의해 n개의 핀에 대한 접촉검사를 순차적으로 수행하는 과정을 나타내 보인 플로우 챠트.

도 3은 본 발명에 따른 PCB에서의 핀접촉 검사방법에 의해 임의의 핀의 접촉을 검사하기 위한 시스템 구성도.

도 4는 본 발명에 따른 PCB에서의 핀접촉 검사방법에 있어서, 임의의 핀의 검사 시 나머지핀들의 합성임피던스와 입,출력신호와의 관계를 나타내 보인 도면.

도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명

10,30...검사대상 PCB 11,31...신호입력부

12,32...출력신호증폭부 13,33...A/D변환부

14,34...제어부

상기의 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 PCB에서의 핀접촉 검사방법은, PCB에서의 핀접촉 상태를 검사하기 위한 방법에 있어서, 실제로 검사를 받는 임의의 핀을 제외한 나머지 복수의 핀을 모두 하나로 묶고, 상기 임의의 핀과 하나로 묶여진 복수의 핀으로 구성되는 회로의 임피던스를 측정하여 미리 설정된 기준 임피던스와 비교하여 상기 임의의 핀의 접촉상태를 검사하는 점에 그 특징이 있다.

이하 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다.

도 2 및 도 3은 본 발명에 따른 PCB에서의 핀접촉 검사방법을 설명하는 도면으로서, 도 2는 n개의 핀에 대한 접촉검사를 순차적으로 수행하는 과정을 나타내 보인 플로우 챠트이고, 도 3은 임의의 핀의 접촉을 검사하기 위한 시스템 구성도이다.

먼저, 도 2 및 도 3을 참조하면, 초기 상태로서 in=1, Pin=P1을 설정한다(단계 21). 이는 n개의 핀중에서 임의로 설정한 순번 1번핀부터 접촉검사를 수행함을 의미한다. 그런 후, in〉n, Pin〉Pn인지를 판별한다(단계 22). 즉, 1번핀, 2번핀, 3번핀...등과 같이 순차적으로 핀검사를 수행하여 마지막 n번핀까지 검사가 완료되었는지를 판별한다. 상기 단계 22에서 대답이 YES이면 작업을 종료하고, NO이면 도 3에서와 같이 Pin(현재의 검사해당핀:P1)을 제외한 나머지 핀들(P2,P3,...,Pn)을 병렬접속으로 하나로 묶는다(단계 23). 그런 후, 신호입력부(31)로부터 Pin에 소정의 신호를 인가한다(단계 24). 그리고는 상기 Pin이외의 하나로 묶인 핀들의 출력신호를 검출한다(단계 25). 물론, 이때 상기 출력신호는 출력신호증폭부(32)에 의해 증폭되고, A/D변환부(33)에 의해 아날로그 신호에서 디지탈 신호로 변환되어 제어부(34)로 입력된다. 여기서, 상기 입력신호가 검사해당핀(P1) 및 병렬접속된 나머지 핀들(P2,P3,...,Pn)을 거쳐 출력신호증폭부(32)로 입력되는 과정에서의 전압, 전류 및 임피던스의 상호 관계를 도 4를 참조하여 설명해 보기로 한다.

도 4에서와 같이, 신호입력부(31)의 공급전원의 전압을 Vs, 전류를 I, 현재의 검사대상핀(P1)과 나머지 핀들(P2,P3,...,Pn)과의 각각의 임피던스(Z12,Z13,..., Z1n)의 병렬접속에서의 합성임피던스를 Zx, 그리고 출력신호증폭부(32)의 저항(RL) 양단에 걸리는 전압(출력신호)을 VR이라고 하면,

따라서, I가 일정할 경우 Zx가 크면 VR은 작아지고, Zx가 작으면 VR은 커진다. 여기서, Zx가 크다는 것은 검사대상핀(P1)이 피접촉부에 접촉되지 않았음을 의미한다.

한편, 상기 단계 25에 의해 제어부(34)로 출력신호가 입력되면, 제어부(34)는 그 입력된 출력신호의 값이 기준값보다 큰지를 판별한다(단계 26). 이 단계 26에서 출력값이 기준값보다 크면 제어부(34)는 현재의 검사대상핀(Pin)을 접촉불량으로 판정하고(단계 27), 출력값이 기준값보다 작거나 같으면 현재의 검사대상핀(Pin)을 접촉양호로 판정한다(단계 28). 이렇게 하여 임의의 순번의 핀에 대한 접촉검사가 끝나면, 연속되는 다음 순번의 핀으로 프로그램을 진행시킨다(단계 29).

이상의 설명에서와 같이 본 발명에 따른 PCB에서의 핀접촉 검사방법은 검사대상핀을 제외한 나머지핀들을 병렬접속으로 하나로 묶고, 검사대상핀과 하나로 묶여진 나머지 핀들과의 임피던스를 측정하여 검사대상핀의 접촉여부를 검사하게 되므로, 종래와 같이 검사대상의 PCB마다 일일이 기준핀을 설정해야 하는 번거로움과, 적절한 기준핀을 찾아내야 하는 어려움을 제거할 수 있다.

Claims

PCB에서의 핀접촉 상태를 검사하기 위한 방법에 있어서, 실제로 검사를 받는 임의의 핀을 제외한 나머지 복수의 핀을 모두 하나로 묶고, 상기 임의의 핀과 하나로 묶여진 복수의 핀으로 구성되는 회로의 임피던스를 측정하여 미리 설정된 기준 임피던스와 비교하여 상기 임의의 핀의 접촉상태를 검사하는 것을 특징으로 하는 PCB에서의 핀접촉 검사방법.
제 1항에 있어서,

상기 실제로 검사를 받는 임의의 핀을 제외한 나머지 복수의 핀은 병렬접속으로 하나로 묶는 것을 특징으로 하는 PCB에서의 핀접촉 검사방법.