KR100215510B1 - Pcb자동측정검사장치에서의 핀접촉검사방법 및 그장치 - Google Patents

Pcb자동측정검사장치에서의 핀접촉검사방법 및 그장치 Download PDF

Info

Publication number
KR100215510B1
KR100215510B1 KR1019920015632A KR920015632A KR100215510B1 KR 100215510 B1 KR100215510 B1 KR 100215510B1 KR 1019920015632 A KR1019920015632 A KR 1019920015632A KR 920015632 A KR920015632 A KR 920015632A KR 100215510 B1 KR100215510 B1 KR 100215510B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
pin
pcb
converter
voltage
measurement target
Prior art date
Application number
KR1019920015632A
Other languages
English (en)
Other versions
KR940005205A (ko
Inventor
이창근
Original Assignee
윤종용
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 윤종용, 삼성전자주식회사 filed Critical 윤종용
Priority to KR1019920015632A priority Critical patent/KR100215510B1/ko
Publication of KR940005205A publication Critical patent/KR940005205A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100215510B1 publication Critical patent/KR100215510B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/08Monitoring manufacture of assemblages

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Operations Research (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

본 발명은 PCB 자동측정 검사장치에서의 핀접촉 검사방법 및 그 장치에 관한 것으로, 종래에는 핀과 PCB의 테스트 점이 올바르게 접촉이 되었는지의 여부를 판단할 수 있는 방법이 없었으나 본 발명에 의하면 기준핀과 측정대상핀을 정해 임의의 전압을 인가하고 이 두핀간의 전압을 측정하여 인가전압과 측정전압을 비교하여 전압강하가 발생하면 접촉이 되었다고 판단하는 방법인 것으로, 종래기술에서 비롯되던 측정오차를 배제할수 있게된 발명인 것이다.

Description

회로기판 (PCB)상의 전자부품 접속상태 검사장치
제 1 도는 본 발명의 개략적인 회로구성도,
제 2 도는 회로기판과 부품 핀과의 관계를 나타낸 구성도.
도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10 : 중앙제어부 20 : D/A 변환기
30 : 전류리미트 40 : 핀선택기
50 : 기준핀 60 : 측정대상핀
70 : 증폭부 80 : 샘플/홀더부
90 : A/D 변환기 100 : 출력부
본 발명은 PCB에 실장되는 각종 전자부품의 핀과 회로를 구성하는 박막의 접속상태를 검사하는 것으로서, 특히, 기준핀과 측정대상핀을 정해, 임의의 전압을 인가하고, 이 두 핀간의 전압을 비교측정하여 올바른 접속이 되었는지를 검사하는, 회로기판상의 전자부품 접속상태 검사장치에 관한 것이다.
일반적으로 PCB의 조립생산 라인에서, PCB상에 IC부품을 삽입하고, 납땜 작업을 통해 IC의 핀을 PCB에 접속되게 하는 과정에서, 납땜작업자 또는 자동납땜 장치의 불완전 동작으로 도면 제 2 도에서 보는바와 같이, PCB기판 (B)의 동판박막(A)에 핀(P)이 접속되지않는 경우가 간혹 발생 하였다.
이럴경우에, 부품의 핀과 테스트 점이 올바르게 접속되었는지의 여부를 육안으로 판단하기 어려우므로, 테스터 장비를 이용하여 일일이 체크하는 방법을 통해 부품의 핀과 PCB 박막의 접속여부를 알수 있었고, 이로인해, 부품접속 검사시간이 상당히 지연되는 결점이 있었다. 또한, 정상적인 부품을 사용하여 PCB에 접속한 경우에도, 부품과 박막이 비접속된 상태에서는 부품 불량으로 오인하게 되는 사례가 종종 발생 하였다.
따라서 본 발명은 상술한 바와같은 종래의 문제점을 감안하여 안출된 것으로, 기준핀과 측정대상핀을 정해 임의의 전압을 인가하고, 이 두핀간의 전압을 측정하여 인가전압과 측정전압을 비교한후 전압강하가 발생하면 접속이 되었다고 판단하는 PCB상의 전자부품 접속상태 검사장치를 제공하는데 목적이 있는것이다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 목적을 달성하기 위한 기술적 구성을 상세히 설명하면 다음과 같다.
도면 제 1 도는 본 발명의 개략적인 회로구성도를 도시한 것으로 중앙제어부(10)로 부터 명령을 받아 입력전압을 발생시키는 D/A 변환기(20)를 갖추고, 상기의 D/A 변환기(20)와 과도전류 발생을 방지하는 전류리미트(30) 및, 다수개의 핀중 특정핀을 선택하는 핀선택기(40)를 순차 연결한다.
또한, 핀접속검사시 기준이 되는 기준핀(50)과 기준핀을 제외한 측정용 측정대상핀(60)을 구비하고, 미소전압을 증폭하는 증폭부(70) 및 A/D 변환을 안정되게 하기위해 데이타를 래치시키는 샘플/홀더부(80)와 측정된 아나로그 전압을 중앙제어부(10)가 인식할수 있는 디지탈값으로 변환하는 A/D 변환기(90)를 순차적 연결하였다. 그리고, 측정결과를 받아 핀접속 여부를 판단한 후, 모니터나 프린터로된 출력부(100)에 전송하는 중앙제어부(10)로 구성된것으로, 미 설명부호 S/W1, SW/2는 스위치인 것이다.
이상과 같이 구성된 본 발명의 작용 및 효과를 일실시예를 들어 설명하면 다음과 같다.
도면 제 1 도에서 보는 바와같이 기준핀(50)과 측정대상핀(60)의 사이에 어떤 임의의 부품(Z)이 삽입된 상태에서, 중앙제어부(10)에서 데이타버스(bus)를 통해 일정전압(Vin)을 발생시키면, 입력전압(Vin)은 D/A 변환기(20)를 통해 전류리미트(30), 핀선택기(40)을 거쳐 기준핀(50)에 인가된다.
이때, 핀선택기(40)에서는 사용자가 다수의 부품핀 중에서 기준핀과 측정대상핀을 미리설정하여 놓으며, 그 핀에 해당하는 스위치를 ON시키므로, 기준핀과, 측정대상핀을 선택하게되고, 중앙제어부(10)의 입력전압은 기준핀(50)과 임의의 부품(Z) 측정대상핀(60)을 거치게 되므로, 임의의 부품(Z)이 갖고있는 고유 임피던스 값만큼 상쇄된 출력전압(V0)으로 되어 이를 증폭시키는 증폭부(70)와, A/D 변환을 안정되게 하기위한 샘플/홀더부(80) 및 아나로그 값을 디지탈 값으로 변환하는 A/D 변환기(90)를 거쳐 중앙제어부(10)에 입력된다.
이어서, 중앙제어부(10)에서는 입력전압(Vin)과 출력전압(V0)을 비교 산출하여, 측정대상핀(60)이 PCB 기판내에 접속이 되었는지를 판단하게 되는데, 이때의 핀접속여부를 판단하는 기준은 다음 제 1 식과 같다.
Vin - VTH≥ V0(출력전압) ………… 제 1 식
(여기에서 VTH는 핀선택기(40) 내부의 스위치(SW1, SW2)에 걸리는 전압이다)
즉, 입력전압(Vin)을 10으로 가정하고 볼때 측정대상핀(60)이 PCB에 제대로 접속이 되었다면 임의의 부품(Z)고유의 임피던스(4라고 가정한다) 만큼 입력전압(Vin)이 상쇄되므로, 결국에는 입력전압(Vin) : 10 - VTH: 4 ≥ 출력전압(V0) ; 6이 되므로, 중앙제어부(10)에 입력되는 출력전압이 6이하로 감지되면, 측정대상핀(60)은 PCB에 정확하게 접촉되었음을 감지하여 이를 모니터, 프린터 등의 출력부(100)를 통해 표시하게된다. 그러나, 측정대상핀(60)이 PCB에 접속이 안되었을 경우에는, 입력전압(Vin)이 임의의부품(Z) 고유 임피던스 만큼 상쇄되지 않은 상태로 출력되어, (즉, 출력전압(V0)이 6이상으로 감지되거나 입력전압과 출력전압(V0)이 같을 경우에) 상기 제 1 식이 성립되지 않으므로, 중앙제어부(10)는 임의의 부품(Z)이 PCB에 접속되지 않았음을 감지하여 이를 출력부(100)를 통해 표시하게 된다.
이런과정을 통해 PCB내의 각각의 부품이 제대로 접속되었는가를 감지하고, 이어서 각 부품의 측정 공정으로 넘어가게되는 것이다.
이상에서 본 바와같이 본 발명은 기준핀(50)과 측정대상핀(60)에 임의의 신호를 인가하고, 기준핀(50)과 측정 대상핀(60) 사이에 발생하는 신호를 측정하여 측정한 신호와 인가한 신호를 비교하므로서 측정 점(Node)과 핀간의 접속여부를 검사하도록된 발명인 것이다.

Claims (1)

  1. PCB상에 실장되는 전자부품의 핀 접속여부를 검사하는 장치에 있어서, 측정하고자 하는 전자부품의 핀을 선택하는 핀 선택기(40) 일측단으로 측정기준이 되는 기준핀(50)을 접속 구비하되, 기준핀(50)과 측정대상핀(60) 사이에 임의의 부품(Z)을 접속함과, 입력전압을 발생시키는 D/A 변환기(20)와, 과도전류 발생을 방지하는 전류리미트(30)를 순차조합으로 일단의 핀선택기(40) 일측스위치(SW1)에 접속시키는 한편, 미소전압을 증폭하는 증폭부(10)와, A/D 변환을 안정되게 하는 샘플/홀더부(80) 및 측정된 아나로그 전압을 중앙제어부(10)가 인식할 수 있는 디지탈 값으로 변환하는 A/D 변환기(10)를 핀선택기(40) 타측의 스위치(SW2)에 순차적으로 연결구성 하되, A/D 변환기(90) 및 D/A 변환기(20)와 접속되고, 측정결과를 분석하여 핀접속 여부를 판단한 후, 이를 출력부(100)에 전송하는 중앙제어부(10)로 구성됨을 특징으로 하는 회로기판(PCB) 상의 전자부품 접속상태 검사장치.
KR1019920015632A 1992-08-29 1992-08-29 Pcb자동측정검사장치에서의 핀접촉검사방법 및 그장치 KR100215510B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019920015632A KR100215510B1 (ko) 1992-08-29 1992-08-29 Pcb자동측정검사장치에서의 핀접촉검사방법 및 그장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019920015632A KR100215510B1 (ko) 1992-08-29 1992-08-29 Pcb자동측정검사장치에서의 핀접촉검사방법 및 그장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR940005205A KR940005205A (ko) 1994-03-16
KR100215510B1 true KR100215510B1 (ko) 1999-08-16

Family

ID=19338691

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019920015632A KR100215510B1 (ko) 1992-08-29 1992-08-29 Pcb자동측정검사장치에서의 핀접촉검사방법 및 그장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100215510B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101973385B1 (ko) 2017-12-28 2019-04-29 동명대학교산학협력단 휴대용 입출력단자 연결형 전자기판(pcb) 조립품 불량 검출 장치

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101973385B1 (ko) 2017-12-28 2019-04-29 동명대학교산학협력단 휴대용 입출력단자 연결형 전자기판(pcb) 조립품 불량 검출 장치

Also Published As

Publication number Publication date
KR940005205A (ko) 1994-03-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6954076B2 (en) Aircraft multi-function wire and insulation tester
US7132844B2 (en) Testing device and testing method for testing an electronic device
US6417682B1 (en) Semiconductor device testing apparatus and its calibration method
EP1224487B1 (en) Circuit and method for improved test and calibration in automated test equipment
IE56616B1 (en) Testing apparatus
US6356086B1 (en) Method and apparatus for the in-circuit testing of a capacitor
KR100215510B1 (ko) Pcb자동측정검사장치에서의 핀접촉검사방법 및 그장치
JPS5817377A (ja) フラットケ−ブルの導通検査装置
KR100353897B1 (ko) 무선기기의 자동 시험장치 및 그 제어방법
JP3241777B2 (ja) インサーキットテスタ用オープンテスト装置
KR100321230B1 (ko) 인쇄회로기판의 오류 검사 장치 및 방법
KR0134695B1 (ko) 납땜상태 체크 장치
KR100200607B1 (ko) 피씨비(pcb)에서의 핀접촉 검사방법
KR100355716B1 (ko) 인서키트테스터에서의 저저항 측정방법
JP2004271538A (ja) 電子回路検査装置
KR0130119B1 (ko) 네일 픽스춰의 테스트 핀 접촉 상태 검사 장치와 그 방법
KR200141489Y1 (ko) 전자부품의 핀 접촉검사장치
JPH0666855A (ja) プリント基板の低抵抗検査方法
KR0179093B1 (ko) 테스트 어댑터 보드 체크기
JPH07113850A (ja) 半導体集積回路
JP2004334672A (ja) 活線挿抜装置の試験システム
JPH04355378A (ja) コンタクトプローブ接触確認法
JP2006058104A (ja) 半導体装置の検査装置
KR970002373A (ko) 자동 회로검사장치
JPH10293153A (ja) インピーダンス整合回路

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20070427

Year of fee payment: 9

LAPS Lapse due to unpaid annual fee