JP3241777B2 - インサーキットテスタ用オープンテスト装置 - Google Patents
インサーキットテスタ用オープンテスト装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は実装基板の良否の判定に
使用するインサーキットテスタ用のオープンテスト装置
に関する。
使用するインサーキットテスタ用のオープンテスト装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、実装基板即ち多数の電気部品を半
田付けしたプリント基板はインサーキットテスタを用い
て基板の良否の判定を行なっている。その際、基板の各
指定箇所にある部品や回路網等の必要な測定ポイントに
適宜プローブを接触させ、電圧や電流等の信号を印加
し、各種の検査項目に付き電気的測定を行ない、それ等
の結果を総合的に判断して良否の判定を行なう。
田付けしたプリント基板はインサーキットテスタを用い
て基板の良否の判定を行なっている。その際、基板の各
指定箇所にある部品や回路網等の必要な測定ポイントに
適宜プローブを接触させ、電圧や電流等の信号を印加
し、各種の検査項目に付き電気的測定を行ない、それ等
の結果を総合的に判断して良否の判定を行なう。
【０００３】このようなインサーキットテスタによる基
板検査の項目の一つにオープンテストがある。オープン
テストでは被検査基板の各指定箇所毎に抵抗測定を行な
い、その測定値が基準値を超えればオープン状態にあり
合格として“ＧＯ”と判定し、基準値以下の場合にはシ
ョート状態にあり不合格として“ＮＧ”と判定する。
板検査の項目の一つにオープンテストがある。オープン
テストでは被検査基板の各指定箇所毎に抵抗測定を行な
い、その測定値が基準値を超えればオープン状態にあり
合格として“ＧＯ”と判定し、基準値以下の場合にはシ
ョート状態にあり不合格として“ＮＧ”と判定する。
【０００４】その際、抵抗測定器として指定箇所の測定
ポイントに直流の定電圧を印加し、電流値を読み取っ
て、演算により抵抗値を求めるものが多く用いられる。
そして、基準値としての抵抗値は基本的には実装されて
いる各部品等の測定により或いは論理的に求めて作成す
る。しかし、最終的には良品基板を決定してその測定値
から得るようにする。
ポイントに直流の定電圧を印加し、電流値を読み取っ
て、演算により抵抗値を求めるものが多く用いられる。
そして、基準値としての抵抗値は基本的には実装されて
いる各部品等の測定により或いは論理的に求めて作成す
る。しかし、最終的には良品基板を決定してその測定値
から得るようにする。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、インサ
ーキットテスタによるオープンテストの場合、そのよう
にして指定箇所毎に基準値を定めず、基準値を一般的に
数１０Ω程度に設定することが多い。しかも、測定値が
基準値を超えればオープン状態にあり合格と判定するた
め、プローブが接触不良を起こしていても、判定結果が
“ＧＯ”となる。それ故、被検査基板を正確に判定でき
ない。
ーキットテスタによるオープンテストの場合、そのよう
にして指定箇所毎に基準値を定めず、基準値を一般的に
数１０Ω程度に設定することが多い。しかも、測定値が
基準値を超えればオープン状態にあり合格と判定するた
め、プローブが接触不良を起こしていても、判定結果が
“ＧＯ”となる。それ故、被検査基板を正確に判定でき
ない。
【０００６】本発明はこのような従来の問題点に着目し
てなされたものであり、プローブの接触不良時に起こる
判定の不正確さを少なくし得るインサーキットテスタ用
オープンテスト装置を提供することを目的とする。
てなされたものであり、プローブの接触不良時に起こる
判定の不正確さを少なくし得るインサーキットテスタ用
オープンテスト装置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の手段を、以下本発明を明示する図１を用いて説明す
る。このインサーキットテスタ用オープンテスト装置は
操作部１２を有し、実装基板２８にプローブを接触し
て、予め設定した指定箇所の抵抗値を測定する抵抗測定
器４０を備える。そして、オープンテスト用の判定基準
を良品基板２８を用いて作成する判定基準作成手段４２
として、判定基準値を入力し、良品基板２８における指
定箇所の抵抗値を入力した判定基準値に対応するレンジ
で測定し、その測定値が判定基準値を超える場合に、そ
の判定基準値を１次判定基準値と決定する１次判定基準
決定手段４４と、同一指定箇所の抵抗値を最高レンジで
測定し、その測定値が最高レンジ値に相当する２次判定
基準値を超える場合に、２次判定基準をオーバレンジと
設定し、２次判定基準値以下の場合に、２次判定基準を
２次判定基準値以下の１次判定基準値を超えたレンジ範
囲と設定する２次判定基準決定手段４６とを備える。
の手段を、以下本発明を明示する図１を用いて説明す
る。このインサーキットテスタ用オープンテスト装置は
操作部１２を有し、実装基板２８にプローブを接触し
て、予め設定した指定箇所の抵抗値を測定する抵抗測定
器４０を備える。そして、オープンテスト用の判定基準
を良品基板２８を用いて作成する判定基準作成手段４２
として、判定基準値を入力し、良品基板２８における指
定箇所の抵抗値を入力した判定基準値に対応するレンジ
で測定し、その測定値が判定基準値を超える場合に、そ
の判定基準値を１次判定基準値と決定する１次判定基準
決定手段４４と、同一指定箇所の抵抗値を最高レンジで
測定し、その測定値が最高レンジ値に相当する２次判定
基準値を超える場合に、２次判定基準をオーバレンジと
設定し、２次判定基準値以下の場合に、２次判定基準を
２次判定基準値以下の１次判定基準値を超えたレンジ範
囲と設定する２次判定基準決定手段４６とを備える。
【０００８】又、被検査基板に対するオープンテスト手
段４８として、被検査基板２８における同一指定箇所の
抵抗値を１次判定基準値に対応するレンジで測定し、そ
の測定値が１次判定基準値を超えるか判定して、測定値
が１次判定基準値以下の場合にショート状態にあると判
定する１次判定手段５０と、その測定値が１次判定基準
値を超える場合に、最高レンジで同一指定箇所の抵抗値
を再度測定し、その測定値が２次判定基準値以下か判定
し、測定値が２次判定基準値を超える場合には更に２次
判定基準がオーバレンジか判定して、２次判定基準が２
次判定基準値以下の１次判定基準値を超えたレンジ範囲
の場合にプローブが接触不良状態にあると判定し、２次
判定基準がオーバレンジの場合と測定値が２次判定基準
値以下の場合にオープン状態にあると判定する２次判定
手段５２とを備える。
段４８として、被検査基板２８における同一指定箇所の
抵抗値を１次判定基準値に対応するレンジで測定し、そ
の測定値が１次判定基準値を超えるか判定して、測定値
が１次判定基準値以下の場合にショート状態にあると判
定する１次判定手段５０と、その測定値が１次判定基準
値を超える場合に、最高レンジで同一指定箇所の抵抗値
を再度測定し、その測定値が２次判定基準値以下か判定
し、測定値が２次判定基準値を超える場合には更に２次
判定基準がオーバレンジか判定して、２次判定基準が２
次判定基準値以下の１次判定基準値を超えたレンジ範囲
の場合にプローブが接触不良状態にあると判定し、２次
判定基準がオーバレンジの場合と測定値が２次判定基準
値以下の場合にオープン状態にあると判定する２次判定
手段５２とを備える。
【０００９】
【作用】上記のように構成し、先ず良品基板２８を用い
て、判定基準値を入力し、良品基板２８における指定箇
所の抵抗値を入力した判定基準値に対応するレンジで測
定し、その測定値が判定基準値を超える場合に、その判
定基準値を１次判定基準値と決定する。更に、同一指定
箇所の抵抗値を最高レンジで測定し、その測定値が２次
判定基準値を超える場合に、２次判定基準をオーバレン
ジと設定し、２次判定基準値以下の場合に、２次判定基
準を２次判定基準値以下の１次判定基準値を超えたレン
ジ範囲と設定する。
て、判定基準値を入力し、良品基板２８における指定箇
所の抵抗値を入力した判定基準値に対応するレンジで測
定し、その測定値が判定基準値を超える場合に、その判
定基準値を１次判定基準値と決定する。更に、同一指定
箇所の抵抗値を最高レンジで測定し、その測定値が２次
判定基準値を超える場合に、２次判定基準をオーバレン
ジと設定し、２次判定基準値以下の場合に、２次判定基
準を２次判定基準値以下の１次判定基準値を超えたレン
ジ範囲と設定する。
【００１０】次に、被検査基板２８における同一指定箇
所の抵抗値を１次判定基準値に対応するレンジで測定
し、その測定値が１次判定基準値を超えるか判定する。
その際、測定値が１次判定基準値以下の場合には指定箇
所がショート状態にあると判定する。そして、測定値が
１次判定基準値を超える場合には更に最高レンジで同一
指定箇所の抵抗値を再度測定し、その測定値が２次判定
基準値以下か判定し、測定値が２次判定基準値を超える
場合には２次判定基準がオーバレンジか判定する。その
際、測定値が２次判定基準値を超えるにも係わらず、２
次判定基準が２次判定基準値以下の１次判定基準値を超
えたレンジ範囲の場合にプローブが接触不良状態にある
と判定し、２次判定基準がオーバレンジの場合と測定値
が２次判定基準値以下の場合にオープン状態にあると判
定する。
所の抵抗値を１次判定基準値に対応するレンジで測定
し、その測定値が１次判定基準値を超えるか判定する。
その際、測定値が１次判定基準値以下の場合には指定箇
所がショート状態にあると判定する。そして、測定値が
１次判定基準値を超える場合には更に最高レンジで同一
指定箇所の抵抗値を再度測定し、その測定値が２次判定
基準値以下か判定し、測定値が２次判定基準値を超える
場合には２次判定基準がオーバレンジか判定する。その
際、測定値が２次判定基準値を超えるにも係わらず、２
次判定基準が２次判定基準値以下の１次判定基準値を超
えたレンジ範囲の場合にプローブが接触不良状態にある
と判定し、２次判定基準がオーバレンジの場合と測定値
が２次判定基準値以下の場合にオープン状態にあると判
定する。
【００１１】
【実施例】以下、添付図面に基づいて、本発明の実施例
を説明する。図２は本発明を適用したフィクスチャー式
インサーキットテスタのオープンテスト部の構成を示す
ブロック図である。図中、１０はインサーキットテス
タ、１２はその操作部、１４は計測部、１６はマルチプ
レクサ、１８は表示部、２０は演算制御部である。この
操作部１２にはキーボード、各種スイッチ等を備える。
それ故、キーやスイッチ等を適宜操作すると、外部から
第１次判定基準値等のデータを入力し、測定レンジの切
り替え等を実施できる。
を説明する。図２は本発明を適用したフィクスチャー式
インサーキットテスタのオープンテスト部の構成を示す
ブロック図である。図中、１０はインサーキットテス
タ、１２はその操作部、１４は計測部、１６はマルチプ
レクサ、１８は表示部、２０は演算制御部である。この
操作部１２にはキーボード、各種スイッチ等を備える。
それ故、キーやスイッチ等を適宜操作すると、外部から
第１次判定基準値等のデータを入力し、測定レンジの切
り替え等を実施できる。
【００１２】計測部１４には直流の定電圧電源２２、電
流測定器２４等を備え、それ等をマルチプレクサ１６と
接続する。更に、マルチプレクサ１６に備えた多数のス
イッチから出る各チャンネルをフィクスチャー(図示な
し)上に立設させた対応するプローブ２６とそれぞれ接
続する。それ故、フィクスチャー上に実装した実装基板
（被検査基板或いは良品基板）２８を載せ、予め設定し
た各指定箇所にある部品や回路網等の必要な測定ポイン
トにそれぞれプローブを接触させると、各指定箇所毎に
定電圧を印加して、そこに流れる電流を測定できる。そ
の際、演算制御部２０からマルチプレクサ１６を制御
し、設定した測定順に従って指定箇所に対応するスイッ
チを選択し、計測部１４と各プローブ２６とを適宜オ
ン、オフする。
流測定器２４等を備え、それ等をマルチプレクサ１６と
接続する。更に、マルチプレクサ１６に備えた多数のス
イッチから出る各チャンネルをフィクスチャー(図示な
し)上に立設させた対応するプローブ２６とそれぞれ接
続する。それ故、フィクスチャー上に実装した実装基板
（被検査基板或いは良品基板）２８を載せ、予め設定し
た各指定箇所にある部品や回路網等の必要な測定ポイン
トにそれぞれプローブを接触させると、各指定箇所毎に
定電圧を印加して、そこに流れる電流を測定できる。そ
の際、演算制御部２０からマルチプレクサ１６を制御
し、設定した測定順に従って指定箇所に対応するスイッ
チを選択し、計測部１４と各プローブ２６とを適宜オ
ン、オフする。
【００１３】表示部１８にはＣＲＴ等の画面表示装置を
備える。それ故、外部から入力したデータ、設定した１
次、２次判定基準値、指定箇所の合格、不合格を示す
“ＧＯ”、“ＮＧ”やプローブの接触不良を示す判定結
果等を適宜表示することができる。
備える。それ故、外部から入力したデータ、設定した１
次、２次判定基準値、指定箇所の合格、不合格を示す
“ＧＯ”、“ＮＧ”やプローブの接触不良を示す判定結
果等を適宜表示することができる。
【００１４】演算制御部２０にはＣＰＵ（中央処理装
置）３０、ＲＯＭ（読出し専用メモリ）３２、ＲＡＭ
（読出し書き込み可能メモリ）３４、入出力ポート３
６、バスライン３８等からなるマイクロコンピュータを
備える。このＣＰＵ３０はマイクロコンピュータの中心
となる頭脳部に相当し、プログラムの命令に従って全体
に対する制御を実行すると共に算術、論理演算を行い、
その結果も一時的に記憶する。又、周辺装置に対しても
適宜制御を行う。ＲＯＭ３２には全体を制御するための
制御プログラム等を格納する。
置）３０、ＲＯＭ（読出し専用メモリ）３２、ＲＡＭ
（読出し書き込み可能メモリ）３４、入出力ポート３
６、バスライン３８等からなるマイクロコンピュータを
備える。このＣＰＵ３０はマイクロコンピュータの中心
となる頭脳部に相当し、プログラムの命令に従って全体
に対する制御を実行すると共に算術、論理演算を行い、
その結果も一時的に記憶する。又、周辺装置に対しても
適宜制御を行う。ＲＯＭ３２には全体を制御するための
制御プログラム等を格納する。
【００１５】又、ＲＡＭ３４は外部から入力した入力デ
ータ、１次、２次判定基準値、測定した電流値、指定箇
所の合格、不合格、プローブの接触不良を示す判定結
果、フロッピーディスクから入力したオープンテスト用
判定基準処理プログラム、オープンテスト処理プログラ
ム、ＣＰＵ３０で演算した抵抗値等の各種データを記憶
する。入出力ポート３６は操作部１２、計測部１４、マ
ルチプレクサ１６、表示部１８等に備えた各種機器等と
接続する。又、バスライン３８はそれ等を接続するため
のアドレスバスライン、データバスライン、制御バスラ
イン等を含み、周辺装置とも適宜結合している。
ータ、１次、２次判定基準値、測定した電流値、指定箇
所の合格、不合格、プローブの接触不良を示す判定結
果、フロッピーディスクから入力したオープンテスト用
判定基準処理プログラム、オープンテスト処理プログラ
ム、ＣＰＵ３０で演算した抵抗値等の各種データを記憶
する。入出力ポート３６は操作部１２、計測部１４、マ
ルチプレクサ１６、表示部１８等に備えた各種機器等と
接続する。又、バスライン３８はそれ等を接続するため
のアドレスバスライン、データバスライン、制御バスラ
イン等を含み、周辺装置とも適宜結合している。
【００１６】次に、本実施例の動作を説明する。図３は
オープンテスト用判定基準処理プログラムによる動作を
示すＰ１〜Ｐ８のステップからなるフローチャートであ
る。先ず、被検査基板２８と同種の良品基板２８を用い
て、その良品基板２８をフィクスチャー上の所定箇所に
載せて固定し、各指定箇所の測定ポイントにそれぞれプ
ローブを接触させる。
オープンテスト用判定基準処理プログラムによる動作を
示すＰ１〜Ｐ８のステップからなるフローチャートであ
る。先ず、被検査基板２８と同種の良品基板２８を用い
て、その良品基板２８をフィクスチャー上の所定箇所に
載せて固定し、各指定箇所の測定ポイントにそれぞれプ
ローブを接触させる。
【００１７】そこで、プログラムによる処理を開始し、
Ｐ１で予め設定した測定順に従って、測定する１指定箇
所の測定ポイントを設定する。次に、Ｐ２へ行く。Ｐ２
では操作部１２にあるキーボードを操作し、仮の１次判
定基準値ａを入力する。次に、Ｐ３へ行く。Ｐ３では指
定箇所の抵抗値を入力した１次判定基準値ａに対応する
レンジで測定し、その測定値ｘが１次判定基準値ａを超
えるか判定する。ＹＥＳの場合にはＰ４へ行く。Ｐ４で
は入力した１次判定基準値ａを１次判定基準値ａとして
確定する。
Ｐ１で予め設定した測定順に従って、測定する１指定箇
所の測定ポイントを設定する。次に、Ｐ２へ行く。Ｐ２
では操作部１２にあるキーボードを操作し、仮の１次判
定基準値ａを入力する。次に、Ｐ３へ行く。Ｐ３では指
定箇所の抵抗値を入力した１次判定基準値ａに対応する
レンジで測定し、その測定値ｘが１次判定基準値ａを超
えるか判定する。ＹＥＳの場合にはＰ４へ行く。Ｐ４で
は入力した１次判定基準値ａを１次判定基準値ａとして
確定する。
【００１８】ＮＯの場合にはＰ２へ戻り、Ｐ３でＹＥＳ
と判定されるまで、１次判定基準値ａを調整して入力す
る。その際、測定値ｘに対し、検査の際の許容範囲を考
慮して１次判定基準値ａを確定するが、通常は数１０Ω
程度に設定する。なお、指定箇所の抵抗値ｘは既知の定
電圧ｖと測定した電流値ｉからｘ＝ｖ／ｉの式を用いて
算出する。
と判定されるまで、１次判定基準値ａを調整して入力す
る。その際、測定値ｘに対し、検査の際の許容範囲を考
慮して１次判定基準値ａを確定するが、通常は数１０Ω
程度に設定する。なお、指定箇所の抵抗値ｘは既知の定
電圧ｖと測定した電流値ｉからｘ＝ｖ／ｉの式を用いて
算出する。
【００１９】１次判定基準値ａを確定後Ｐ５へ行く。Ｐ
５では測定可能な最高レンジに設定し、その最高レンジ
値例えば１０ＭΩを２次判定基準値ｂに定める。次にＰ
６へ行く。Ｐ６では同一指定箇所の抵抗値を最高レンジ
で測定し、その測定値ｘ´が２次判定基準値ｂ以下か判
定する。ＹＥＳの場合にはＰ７へ行く。Ｐ７では２次判
定基準ｃを１次判定基準値ａを超えたレンジ範囲、即ち
１次判定基準値ａを超え、２次判定基準値ｂより小さい
範囲にあることを示すＬに設定する。
５では測定可能な最高レンジに設定し、その最高レンジ
値例えば１０ＭΩを２次判定基準値ｂに定める。次にＰ
６へ行く。Ｐ６では同一指定箇所の抵抗値を最高レンジ
で測定し、その測定値ｘ´が２次判定基準値ｂ以下か判
定する。ＹＥＳの場合にはＰ７へ行く。Ｐ７では２次判
定基準ｃを１次判定基準値ａを超えたレンジ範囲、即ち
１次判定基準値ａを超え、２次判定基準値ｂより小さい
範囲にあることを示すＬに設定する。
【００２０】ＮＯの場合はＰ８へ行く。Ｐ８では２次判
定基準値ｃをオーバーレンジ即ち２次判定基準値ｂを超
えていることを示すＨに設定する。なお、通常測定器に
は最高レンジ値よりも大きい信号が入力可能であって、
最高レンジ値を閾値としてそれを超えた場合はそのこと
を示すデータや信号が出力される。それ故、最高レンジ
値とは、それ以上は表示できない或いは確度保証できな
い値であるに過ぎず、抵抗値測定用に備えられている複
数のレンジから最大レンジを選んで用いると、オーバー
レンジかプローブの接触不良かの判定を確実に行えるよ
うになる。このようにして、順次指定箇所毎に１次判定
基準値ａと２次判定基準ｃとを定める。
定基準値ｃをオーバーレンジ即ち２次判定基準値ｂを超
えていることを示すＨに設定する。なお、通常測定器に
は最高レンジ値よりも大きい信号が入力可能であって、
最高レンジ値を閾値としてそれを超えた場合はそのこと
を示すデータや信号が出力される。それ故、最高レンジ
値とは、それ以上は表示できない或いは確度保証できな
い値であるに過ぎず、抵抗値測定用に備えられている複
数のレンジから最大レンジを選んで用いると、オーバー
レンジかプローブの接触不良かの判定を確実に行えるよ
うになる。このようにして、順次指定箇所毎に１次判定
基準値ａと２次判定基準ｃとを定める。
【００２１】図４はオープンテスト処理プログラムによ
る動作を示すＰ１０〜Ｐ１９のステップからなるフロー
チャートである。先ず、良品基板２８に替えて、被検査
基板２８をフィクスチャー上の所定箇所に固定し、各指
定箇所の測定ポイントにそれぞれプローブを接触させ
る。
る動作を示すＰ１０〜Ｐ１９のステップからなるフロー
チャートである。先ず、良品基板２８に替えて、被検査
基板２８をフィクスチャー上の所定箇所に固定し、各指
定箇所の測定ポイントにそれぞれプローブを接触させ
る。
【００２２】そこで、プログラムによる処理を開始し、
Ｐ１０で予め設定した測定順に従って、測定する１指定
箇所の測定ポイントを設定する。次にＰ１１へ行く。Ｐ
１１では指定箇所の抵抗値を１次判定基準値ａに対応す
るレンジで測定する。次にＰ１２へ行く。Ｐ１２ではそ
の測定値ｘが先に定めた１次判定基準値ａを超えるか判
定する。ＮＯの場合にはＰ１３へ行く。Ｐ１３では指定
箇所がショート状態にあるとして不合格“ＮＧ”と判定
する。
Ｐ１０で予め設定した測定順に従って、測定する１指定
箇所の測定ポイントを設定する。次にＰ１１へ行く。Ｐ
１１では指定箇所の抵抗値を１次判定基準値ａに対応す
るレンジで測定する。次にＰ１２へ行く。Ｐ１２ではそ
の測定値ｘが先に定めた１次判定基準値ａを超えるか判
定する。ＮＯの場合にはＰ１３へ行く。Ｐ１３では指定
箇所がショート状態にあるとして不合格“ＮＧ”と判定
する。
【００２３】ＹＥＳの場合にはＰ１４へ行く。Ｐ１４で
は同一指定箇所の抵抗値を最高レンジで再度測定する。
次にＰ１５へ行く。Ｐ１５ではその測定値ｘ´が２次判
定基準値ｂ以下か判定する。ＮＯの場合にはＰ１６へ行
く。Ｐ１６では先に定めた判定基準ｃがＨか判定する。
ＮＯの場合にはＰ１７へ行く。Ｐ１７では接触不良状態
にあると判定する。この場合にはプローブを良く接触さ
せて再度検査を行なう。それ故、プローブの接触不良を
一律的に合格と判定するような誤りを防止できる。
は同一指定箇所の抵抗値を最高レンジで再度測定する。
次にＰ１５へ行く。Ｐ１５ではその測定値ｘ´が２次判
定基準値ｂ以下か判定する。ＮＯの場合にはＰ１６へ行
く。Ｐ１６では先に定めた判定基準ｃがＨか判定する。
ＮＯの場合にはＰ１７へ行く。Ｐ１７では接触不良状態
にあると判定する。この場合にはプローブを良く接触さ
せて再度検査を行なう。それ故、プローブの接触不良を
一律的に合格と判定するような誤りを防止できる。
【００２４】先のＰ１５でＹＥＳと判定される場合には
Ｐ１８へ行く。Ｐ１８では先に定めた判定基準ｃがＬか
判定する。ＹＥＳの場合もＮＯの場合もＰ１９へ行く。
Ｐ１９ではオープン状態であり合格として “ＧＯ”と
判定する。又、先のＰ１６でＹＥＳと判定される場合も
Ｐ１９へ行き“ＧＯ”と判定する。なお、Ｐ１６でＹＥ
Ｓと判定される場合にはプローブの接触不良の判定はで
きない。このようにして、順次指定箇所毎にオープンテ
ストを実施する。
Ｐ１８へ行く。Ｐ１８では先に定めた判定基準ｃがＬか
判定する。ＹＥＳの場合もＮＯの場合もＰ１９へ行く。
Ｐ１９ではオープン状態であり合格として “ＧＯ”と
判定する。又、先のＰ１６でＹＥＳと判定される場合も
Ｐ１９へ行き“ＧＯ”と判定する。なお、Ｐ１６でＹＥ
Ｓと判定される場合にはプローブの接触不良の判定はで
きない。このようにして、順次指定箇所毎にオープンテ
ストを実施する。
【００２５】なお、Ｐ１８の判定がＮＯの場合には回路
網に問題があると推測できるが、ショート状態にある
“ＮＧ”等と判定することなく、一律的に“ＧＯ”と判
定する。何故なら、回路網の不良は使用する部品のばら
つきにより発生し易く、他の検査ステップ、或いは検査
項目で発見できる確率が非常に高いため、オープンテス
トでは無視した方が良いからである。
網に問題があると推測できるが、ショート状態にある
“ＮＧ”等と判定することなく、一律的に“ＧＯ”と判
定する。何故なら、回路網の不良は使用する部品のばら
つきにより発生し易く、他の検査ステップ、或いは検査
項目で発見できる確率が非常に高いため、オープンテス
トでは無視した方が良いからである。
【００２６】上記実施例では本発明をフィクスチャー式
インサーキットテスタに適用したものを説明したが、当
然フィクスチャーレスのＸ−Ｙユニットを備えたインサ
ーキットテスタにも適用することができる。
インサーキットテスタに適用したものを説明したが、当
然フィクスチャーレスのＸ−Ｙユニットを備えたインサ
ーキットテスタにも適用することができる。
【００２７】
【発明の効果】以上説明した本発明によれば、オープン
テスト用判定基準として１次判定基準値と２次判定基準
とを作成し、その１次判定基準値を指定箇所がショート
状態にあるか否かの判定に用い、２次判定基準をプロー
ブの接触状態の良否の判定に用いるため、プローブの接
触不良時に起こる判定の不正確さを少なくすることがで
きる。
テスト用判定基準として１次判定基準値と２次判定基準
とを作成し、その１次判定基準値を指定箇所がショート
状態にあるか否かの判定に用い、２次判定基準をプロー
ブの接触状態の良否の判定に用いるため、プローブの接
触不良時に起こる判定の不正確さを少なくすることがで
きる。
【図１】本発明によるインサーキットテスタ用オープン
テスト装置の構成を示すブロック図である。
テスト装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明を適用したフィクスチャー式インサーキ
ットテスタのオープンテスト部の構成を示すブロック図
である。
ットテスタのオープンテスト部の構成を示すブロック図
である。
【図３】同インサーキットテスタのＲＡＭ中に格納する
オープンテスト用判定基準処理プログラムによる動作を
示すフローチャートである。
オープンテスト用判定基準処理プログラムによる動作を
示すフローチャートである。
【図４】同インサーキットテスタのＲＡＭ中に格納する
オープンテスト処理プログラムによる動作を示すフロー
チャートである。
オープンテスト処理プログラムによる動作を示すフロー
チャートである。
１０…インサーキットテスタ １２…操作部 １４…計
測部 １６…マルチプレクサ １８…表示部 ２０…演
算制御部 ２６…プローブ ２８…実装基板 ４０…抵抗測定器 ４２…オープンテスト用判定基準作
成手段 ４４…１次判定基準決定手段 ４６…２次判定
基準決定手段 ４８…オープンテスト手段 ５０…１次
判定手段 ５２…２次判定手段
測部 １６…マルチプレクサ １８…表示部 ２０…演
算制御部 ２６…プローブ ２８…実装基板 ４０…抵抗測定器 ４２…オープンテスト用判定基準作
成手段 ４４…１次判定基準決定手段 ４６…２次判定
基準決定手段 ４８…オープンテスト手段 ５０…１次
判定手段 ５２…２次判定手段
Claims (1)
- 【請求項１】操作部を有し、実装基板にプローブを接触
して、予め設定した指定箇所の抵抗値を測定する抵抗測
定器を備えたインサーキットテスタ用オープンテスト装
置において、上記オープンテスト用の判定基準を良品基
板を用いて作成する判定基準作成手段として、判定基準
値を入力し、良品基板における指定箇所の抵抗値を入力
した判定基準値に対応するレンジで測定し、その測定値
が判定基準値を超える場合に、その判定基準値を１次判
定基準値と決定する１次判定基準決定手段と、同一指定
箇所の抵抗値を最高レンジで測定し、その測定値が最高
レンジ値に相当する２次判定基準値を超える場合に、２
次判定基準をオーバレンジと設定し、２次判定基準値以
下の場合に、２次判定基準を２次判定基準値以下の１次
判定基準値を超えたレンジ範囲と設定する２次判定基準
決定手段とを備え、被検査基板に対するオープンテスト
手段として、被検査基板における同一指定箇所の抵抗値
を１次判定基準値に対応するレンジで測定し、その測定
値が１次判定基準値を超えるか判定して、測定値が１次
判定基準値以下の場合にショート状態にあると判定する
１次判定手段と、その測定値が１次判定基準値を超える
場合に、最高レンジで同一指定箇所の抵抗値を再度測定
し、その測定値が２次判定基準値以下か判定し、測定値
が２次判定基準値を超える場合には更に２次判定基準が
オーバレンジか判定して、２次判定基準が２次判定基準
値以下の１次判定基準値を超えたレンジ範囲の場合にプ
ローブ接触不良状態にあると判定し、２次判定基準がオ
ーバレンジの場合と測定値が２次判定基準値以下の場合
にオープン状態にあると判定する２次判定手段とを備え
ることを特徴とするインサーキットテスタ用オープンテ
スト装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35005691A JP3241777B2 (ja) | 1991-12-10 | 1991-12-10 | インサーキットテスタ用オープンテスト装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35005691A JP3241777B2 (ja) | 1991-12-10 | 1991-12-10 | インサーキットテスタ用オープンテスト装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05164803A JPH05164803A (ja) | 1993-06-29 |
| JP3241777B2 true JP3241777B2 (ja) | 2001-12-25 |
Family
ID=18407931
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35005691A Expired - Fee Related JP3241777B2 (ja) | 1991-12-10 | 1991-12-10 | インサーキットテスタ用オープンテスト装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3241777B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4368704B2 (ja) * | 2004-03-12 | 2009-11-18 | 三井金属鉱業株式会社 | 電子部品実装用プリント配線板の電気検査方法および電気検査装置ならびにコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
| JP4959942B2 (ja) * | 2005-01-18 | 2012-06-27 | 日本電産リード株式会社 | 基板検査装置、基板検査プログラム及び基板検査方法 |
| JP4707066B2 (ja) * | 2006-04-27 | 2011-06-22 | 株式会社リコー | 電子装置、及びその接続部の接触状態検出装置 |
| JP2009294101A (ja) * | 2008-06-05 | 2009-12-17 | Mitsubishi Electric Corp | プリント基板検査装置およびプリント基板検査方法 |
-
1991
- 1991-12-10 JP JP35005691A patent/JP3241777B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05164803A (ja) | 1993-06-29 |
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