KR20000042722A - 다기능 검사기의 저항특성검사장치 및 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은, PCB에 실장된 저항의 특성을 검사하는 검사기에 있어서, 저항의 V-I특성 그래프를 산출한 후 산출된 V-I특성 그래프와 기설정된 특성데이터의 비교에 의해 저항의 불량 여부를 판단함으로써 PCB에 실장된 저항의 특성을 정확하고 편리하게 검사하기 위한 다기능 검사기의 저항 특성검사장치 및 방법을 제공한다.
그 저항 특성검사장치는, 키입력부(20)와 표시부(30)를 구비함과 더불어 저항들의 특성데이터가 저장되어 있는 PC(10); 정현파 패턴데이터가 저장되어 있는 주메모리부(70); 주메모리부(70)로부터의 디지털신호를 아날로그화하는 아날로그신호 발생부(80); 선택된 공급 전압을 저항으로 공급하는 공급전압범위 선택부(90); 선택된 입력 전류를 저항으로부터 공급하는 입력전류범위 선택부(110); 아날로그신호를 디지털화하는 아날로그신호 측정부(130); 디지털화된 측정 데이터를 저장하는 VI메모리부(140); 정현파 패턴데이터를 아날로그신호 발생부(80)를 통해 아날로그화한 후 공급전압범위 선택부(90)를 통해 선택된 공급 전압을 저항에 공급한 다음, 입력전류범위 선택부(110)를 통해 선택된 입력 전류를 저항으로부터 아날로그신호 측정부(130)로 공급하여 디지털화한 후 디지털화된 측정 데이터를 VI메모리부(140)에 저장한 다음, 저항의 특성을 검사하여 표시하는 주제어부(50); 그리고 PC(10)와 주제어부(50)를 연결하는 통신부(40)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.

Description

다기능 검사기의 저항 특성검사장치 및 방법
본 발명은, PCB(Printed Circuit Board)에 실장된 저항의 특성을 검사하는 검사기에 있어서, 검사대상인 저항의 V-I특성 그래프를 산출한 후 산출된 V-I특성 그래프와 기설정된 특성데이터의 비교에 의해 저항의 불량 여부를 판단함으로써 PCB에 실장된 저항의 특성을 정확하고 편리하게 검사할 수 있는 다기능 검사기의 저항 특성검사장치 및 방법에 관한 것이다.
도 1에는 일반적인 PCB에 실장된 저항의 특성을 검사하는 예를 설명하기 위한 도면이 도시된다.
도 1에 도시된 바와 같이, 종래의 PCB에 실장된 저항의 특성을 검사하기 위해서는 다양한 전원을 공급하는 전원공급기(1)를 통해 검사대상인 저항(4)과 주변 저항(5) 등이 실장된 PCB(3)로 소정전원을 공급하는 한편, 다양한 신호를 공급하는 신호공급기(2)를 통해 PCB(3)로 소정신호를 공급한다.
그 후, 저항(4)의 불량 여부를 판단하기 위해 검사기(7)(예를 들면, 테스터기, 오실로스코프 등)를 통해 PCB(3)에 실장된 검사대상인 저항(4)의 A단과 B단의 신호를 측정하여 PCB(3)에 실장된 검사대상인 저항(4)의 불량 여부를 검사하였다.
또는, 단순히 검사기(7)를 통해 PCB(3)에 실장된 검사대상인 저항(4)의 저항값을 측정하여 저항(4)의 불량 여부를 검사하거나, PCB(3)에 실장된 검사대상인 저항(4)을 뽑아서 저항(4)의 A단과 B단의 신호를 측정하여 저항(4)의 불량 여부를 검사하였다.
그러나, 상술한 바와 같이 구성되어 수행되는 종래의 검사기는 검사대상인 저항을 단순히 저항값만을 측정하여 저항의 불량 여부를 검사하기 때문에 저항과 콘덴서가 병렬로 연결된 경우 저항의 특성을 정확하게 검사하지 못한다는 문제가 있다.
또한, 저항의 불량 여부를 판단하기 위해 전원을 공급하는 장치와 신호를 공급하는 장치가 필요하고, PCB가 불량일 경우 전원인가나 신호공급으로 PCB가 손상될 우려가 있고, 주변 부품(IC, 코일, 콘덴서, 저항)과의 연결 상태를 알기 위해서는 회로도가 필요함과 더불어 PCB에 대한 전문적인 지식이 필요하고, 주변 부품이 불량인 경우 저항의 불량 여부를 판단하기 어렵고, PCB내에서 저항을 뽑아 검사하는 경우 PCB 패턴(Pattern)이 손상될 우려가 있음과 더불어 검사시간이 길어 불편하다는 문제가 있다.
따라서, 본 발명은 이러한 문제를 해결하기 위한 것으로, 검사대상인 저항의 V-I특성 그래프를 산출한 후 산출된 V-I특성 그래프와 기설정된 특성데이터의 비교에 의해 저항의 불량 여부를 판단함으로써 PCB에 실장된 저항의 특성을 정확하고 편리하게 검사하기 위한 다기능 검사기의 저항 특성검사장치 및 방법을 제공하는 데에 그 목적이 있다.
도 1은 일반적인 PCB에 실장된 저항의 특성을 검사하는 예를 설명하기 위한 도면,
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 다기능 검사기의 저항 특성검사장치의 구성도,
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 다기능 검사기의 저항 특성검사장치의 구성을 도시한 블럭도,
도 4a 내지 도 4e는 본 발명의 일실시예에 따른 다기능 검사기의 저항 특성검사장치의 원리를 설명하기 위한 도면,
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 다기능 검사기의 저항 특성검사방법의 구성을 도시한 플로우챠트.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
10 : PC 20 : 키입력부
30 : 표시부 40 : 통신부
50 : 주제어부 60 : 데이터 버퍼
70 : 주메모리부 80 : 아날로그신호 발생부
90 : 공급전압범위 선택부 100 : 제 1버퍼/필터
110 : 입력전류범위 선택부 120 : 제 2버퍼/필터
130 : 아날로그신호 측정부 140 : VI메모리부
이러한 목적을 달성하기 위해 본 발명의 일실시예에 따른 다기능 검사기의 저항 특성검사장치는, PCB에 실장된 저항의 특성을 검사하는 검사기에 있어서: 사용자가 검사대상인 저항에 공급되는 전압 범위를 선택하는 한편, 저항으로부터 입력되는 전류 범위를 선택하기 위한 키입력부와 검사된 결과를 표시하는 표시부를 구비함과 더불어 저항들의 특성데이터가 저장되어 있는 PC; 정현파 패턴데이터가 저장되어 있는 주메모리부; 상기 주메모리부로부터의 디지털신호를 아날로그화하는 아날로그신호 발생부; 다수개의 공급 전압 범위를 구비하여 사용자에 의해 선택된 공급 전압을 저항으로 공급하는 공급전압범위 선택부; 다수개의 입력 전류 범위를 구비하여 사용자에 의해 선택된 입력 전류를 저항으로부터 공급하는 입력전류범위 선택부; 상기 입력전류범위 선택부로부터의 아날로그신호를 디지털화하는 아날로그신호 측정부; 아날로그신호 측정부로부터의 디지털화된 측정 데이터를 저장하는 VI메모리부; 상기 주메모리부에 저장된 정현파 패턴데이터를 아날로그신호 발생부를 통해 아날로그화한 후 사용자가 PC의 키입력부를 통해 공급 전압을 선택하면 공급전압범위 선택부를 통해 선택된 공급 전압을 저항에 공급한 다음, 사용자가 PC의 키입력부를 통해 입력 전류를 선택하면 입력전류범위 선택부를 통해 선택된 입력 전류를 저항으로부터 아날로그신호 측정부로 공급하여 디지털화한 후 디지털화된 측정 데이터를 VI메모리부에 저장한 다음, PC에 저장된 저항들의 특성데이터에 의거하여 VI메모리부에 저장된 측정 데이터로 저항의 특성을 검사하여 그 검사 결과를 PC의 표시부에 표시하는 주제어부; 그리고 상기 PC와 주제어부를 연결하는 통신부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 목적을 달성하기 위해 본 발명의 일실시예에 따른 다기능 검사기의 저항 특성검사방법은, PCB에 실장된 저항의 특성을 검사하는 다기능 검사기에 있어서: 다기능 검사기가 온 상태인 경우 다기능 검사기와 검사대상인 저항을 연결하는 단계(S1,S2); 그 단계(S2)에서 다기능 검사기와 저항이 연결된 후 정현파 패턴데이터를 로드하여 디지털신호를 아날로그화하는 단계(S3,S4); 그 단계(S4)에서 디지털신호가 아날로그화된 후 공급 전압 범위를 선택하면 선택된 공급 전압으로 저항에 정현파를 공급하는 단계(S5,S6); 그 단계(S6)에서 저항에 정현파가 공급된 후 입력 전류 범위를 선택하면 선택된 입력 전류로 저항으로부터 공급되는 아날로그신호를 디지털화하여 측정된 데이터를 저장하는 단계(S7,S8,S9); 그 단계(S9)에서 측정된 데이터가 저장된 후 V-I특성 그래프를 산출하는 단계(S10); 그 단계(S10)에서 V-I특성 그래프가 산출된 후 산출된 V-I특성 그래프를 통한 저항의 특성 결과를 표시하는 단계(S11); 그리고 그 단계(S11)에서 저항의 특성 결과가 표시된 후 다기능 검사기가 오프 상태인가를 판단하는 단계(S12)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 2에는 본 발명의 일실시예에 따른 다기능 검사기의 저항 특성검사장치가 구성도로 도시되고, 도 3에는 본 발명의 일실시예에 따른 다기능 검사기의 저항 특성검사장치의 구성이 블럭도로 도시된다.
도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 다기능 검사기의 저항 특성검사장치는, PC(10), 통신부(40), 주제어부(50), 데이터 버퍼(60), 주메모리부(70), 아날로그신호 발생부(80), 공급전압범위 선택부(90), 제 1버퍼/필터(100), 입력전류범위 선택부(110), 제 2버퍼/필터(120), 아날로그신호 측정부(130), VI메모리부(140), 제어신호 발생부(150), 주파수 발생부(160), 분주/주파수 선택부(170), 아날로그신호주소 발생부(180), 그리고 클럭 발생부(190)를 포함하여 구성된다.
PC(Personal Computer)(10)는 사용자가 검사대상인 저항에 공급되는 전압 범위를 선택하는 한편, 저항으로부터 입력되는 전류 범위를 선택하기 위한 키입력부(20)와 검사된 결과를 표시하는 표시부(30)를 구비함과 더불어 저항들의 특성데이터(예를 들면, 저항들의 V-I특성 그래프 등)가 저장되어 있고, 통신부(40)는 PC(10)와 주제어부(50)를 연결하는 것으로 RS233C 등으로 이루어져 있다.
주제어부(50)는 주메모리부(70)에 저장된 정현파 패턴데이터를 아날로그신호 발생부(80)를 통해 아날로그화한 후 사용자가 PC(10)의 키입력부(20)를 통해 공급 전압을 선택하면 공급전압범위 선택부(90)를 통해 선택된 공급 전압을 저항에 공급한 다음, 사용자가 PC(10)의 키입력부(20)를 통해 입력 전류를 선택하면 입력전류범위 선택부(110)를 통해 선택된 입력 전류를 저항으로부터 아날로그신호 측정부(130)로 공급하여 디지털화한 후 디지털화된 측정 데이터를 VI메모리부(140)에 저장한 다음, PC(10)에 저장된 저항들의 특성데이터에 의거하여 VI메모리부(140)에 저장된 측정 데이터로 저항의 특성을 검사하여 그 검사 결과를 PC(10)의 표시부(30)에 표시한다.
데이터 버퍼(Data Buffer)(60)는 주제어부(50)와 주메모리부(70)간의 데이터의 속도나 시간 등을 조정하고, 주메모리부(70)는 정현파 패턴데이터가 저장되어 있다.
아날로그신호 발생부(80)는 주메모리부(70)로부터의 디지털신호를 아날로그화하고, 공급전압범위 선택부(90)는 다수개의 공급 전압 범위(예를 들면, 500Ω, 1㏀, 5㏀, 10㏀에 해당하는 1Vpp, 2Vpp, 10Vpp, 20Vpp)를 구비하여 구비된 다수개의 공급 전압 범위 중 사용자에 의해 선택된 공급 전압을 출력한다.
제 1버퍼/필터(100)는 공급전압범위 선택부(90)로부터 출력되는 선택된 공급 전압의 속도나 시간 등을 조정하면서 필터링하여 저항으로 공급하고, 입력전류범위 선택부(110)는 다수개의 입력 전류 범위(예를 들면, 100Ω, 1㏀, 5㏀, 10㏀, 50㏀,100㏀에 해당하는 전류)를 구비하여 구비된 다수개의 입력 전류 범위 중 사용자에 의해 선택된 입력 전류를 공급한다.
제 2버퍼/필터(120)는 입력전류범위 선택부(110)로부터의 선택된 입력 전류의 속도나 시간 등을 조정하면서 필터링하여 출력하고, 아날로그신호 측정부(130)는 제 2버퍼/필터(120)로부터의 아날로그신호를 디지털화한다.
VI메모리부(140)는 아날로그신호 측정부(130)로부터의 디지털화된 측정 데이터를 저장하고, 제어신호 발생부(150)는 주제어부(50)의 제어에 의해 제어신호를 발생한다.
주파수 발생부(160)는 주파수를 발생하고, 분주/주파수 선택부(170)는 주파수를 분주하고, 아날로그신호주소 발생부(180)는 VI메모리부(140)에 디지털화된 측정 데이터가 저장되도록 신호를 발생한다.
클럭 발생부(190)는 아날로그신호 측정부(130)에서 아날로그신호가 디지털화되도록 클럭을 발생하고, (200)은 검사대상인 저항(200)이다.
도 4a 내지 도 4e는 본 발명의 일실시예에 따른 다기능 검사기의 저항 특성검사장치의 원리를 설명하기 위한 도면이 도시된다.
도 4a는 본 발명의 일실시예에 따른 다기능 검사기의 저항 특성검사장치의 원리를 설명하기 위한 회로도이고, 도 4b는 본 발명의 일실시예에 따른 다기능 검사기의 저항 특성검사장치의 원리를 설명하기 위한 파형도이고, 도 4c 내지 도4g는 본 발명의 일실시예에 따른 다기능 검사기의 저항 특성검사장치의 원리를 설명하기 위한 V-I특성 그래프이다.
도 4a에서, Vs(t): 입력전압(입력신호(정현파)), (Rs): 전압 범위 선택 저항(1Vpp, 2Vpp ,10Vpp, 20 Vpp), Z: 검사대상 부품(저항인 경우 Z=R), (Rd): 전류 범위 선택 저항(100Ω, 1㏀, 5㏀, 10㏀, 50㏀,100㏀), Vd(t): 측정전압을 나타낸다.
즉, 입력전압인 정현파 Vs(t)는 검사대상 부품인 Z(즉, 저항인 경우 Z=R)를 통해 인가되며 이때, Vs(t)는 검사대상 부품의 임피던스(impedence)(Z=R인 경우 저항)의 크기에 따라 전압 범위 선택 저항(Rs)으로 조정하는데 (Rs)는 500Ω, 1㏀, 5㏀, 10㏀ 으로 각각 1Vpp, 2Vpp, 10Vpp, 20Vpp를 발생한다. 즉, 검사대상 부품의 저항이 클수록 큰 정현파를 공급한다.
그리고, 검사대상 부품을 통해 흐르는 전류 i1(t)은 측정 회로를 통해 검출되며 이때, 검사대상 부품에 따라 전류 범위를 선택하는데 전류 범위 선택 저항(Rd)은 100Ω. 1㏀, 5㏀, 10㏀, 50㏀, 100㏀으로 검사대상 부품의 저항이 클수록 작은 범위의 저항을 선택한다.
즉, 측정전압 Vd(t)=i2(t).Rd이므로 도 4b에 도시된 바와 같이, Vd(t)를 주기(T)동안 128, 256, 512중 선택된 데이터로 샘플링(Sampling)하여 측정한 후 입력전압에 대한 측정전류값을 환산하면 도 4c에 도시된 바와 같은, V-I특성 그래프(Z=R인 경우)를 구할 수 있다.
도 4c는 저항의 크기에 따라 기울기가 달라지는 V-I특성 그래프를 도시한 것으로, 도 4c에 도시된 V-I특성 그래프를 참조하면 알 수 있듯이, 저항의 크기에 따라 V-I 특성 그래프의 기울기가 달라지므로 검사대상 부품의 저항값을 구할 수 있고, 또한 기울기의 기울짐으로 저항의 크기를 판단할 수 있다.
또한, 도 4d는 저항과 콘덴서가 병렬로 연결된 경우의 V-I특성 그래프를 도시한 것으로, 도 4d에 도시된 V-I특성 그래프를 참조하면 알 수 있듯이, 저항 성분과 콘덴서 성분이 합성된 V-I특성 그래프를 통해 부품의 연결 상태와 이상 유무를 판단할 수 있다.
그리고, 도 4e는 저항이 오픈(Open)된 경우와 쇼트(Short)된 경우의 V-I특성 그래프를 도시한 것으로, 도 4e에 도시된 V-I특성 그래프를 참조하면 알 수 있듯이, 저항이 오픈된 (가)와 저항이 쇼트된 (나)의 V-I특성 그래프를 통해 저항의 오픈과 쇼트를 판단할 수 있다.
이와 같이 구성되는 본 발명의 일실시예에 따른 다기능 검사기의 저항 특성검사장치는, 사용자가 다기능 검사기와 검사대상인 저항(200)을 연결하면 즉, 다기능 검사기로부터의 소정신호가 저항(200)에 공급되도록 다기능 검사기와 저항(200)을 연결하면 주제어부(50)에서 주메모리부(70)에 저장된 정현파 패턴데이터를 로드하여 아나로그신호 발생부(80)로 출력하기 위한 제어신호를 출력함으로써 주메모리부(70)에 저장된 정현파 패턴데이터가 아날로그신호 발생부(80)에 입력된다.
그에 따라, 아날로그신호 발생부(80)에서 입력된 정현파 패턴데이터를 아날로그화하여 공급전압범위 선택부(90)로 공급하고, 공급전압범위 선택부(90)에서 다수개의 공급 전압 범위(예를 들면, 1Vpp, 2Vpp, 10Vpp, 20Vpp)중 사용자가 선택한 공급 전압 범위로 정현파를 제 1버퍼/필터(100)를 통해 저항으로 공급한다.
그 후. 입력전류범위 선택부(110)에서 다수개의 입력 전류 범위(예를 들면, 100Ω, 1㏀, 5㏀, 10㏀, 50㏀, 100㏀) 중 사용자가 선택한 입력 전류 범위로 저항(200)으로부터의 입력 전류를 제 2버퍼/필터(120)를 통해 아날로그신호 측정부(130)로 출력한다.
그에 따라, 아날로그신호 측정부(130)에서 제 2버퍼/필터(120)로부터의 입력 전류를 디지털화하여 VI메모리부(140)로 출력함으로써 VI메모리부(140)에 측정된 데이터가 저장된다.
그 후, 주제어부(5)에서 VI메모리부(140)에 저장되어 있는 측정된 데이터를 통해 V-I특성 그래프를 산출한다(상세하게는, 도 4b에 도시된 바와 같이, Vd(t)를 주기(T)동안 128, 256, 512중 선택된 하나의 데이터로 샘플링(Sampling)하여 측정한 후 입력전압에 대한 측정전류값을 환산하여 산출함).
다음에, 주제어부(5)에서 산출된 V-I특성 그래프와 PC(10)에 저장된 저항들의 특성데이터(예를 들면, V-I특성 그래프)의 비교에 의한 저항(200)의 특성 결과(예를 들면, 도 4c의 V-I특성 그래프를 통해 저항의 크기를 판단하고, 도 4d의 V-I특성 그래프를 통해 부품의 연결 상태와 이상 유무를 판단하며, 도 4e의 V-I특성 그래프를 통해 저항의 오픈과 쇼트를 판단함)를 표시하기 위한 제어신호를 출력하고, PC(10)의 표시부(30)에서 그 제어신호에 의해 저항(200)의 특성 결과를 표시하게 된다.
도 5에는 본 발명에 따른 다기능 검사기의 저항 특성검사방법의 구성이 플로우챠트로 도시된다.
도 5의 단계(S1)에서 다기능 검사기가 온 상태인 경우 단계(S2)에서 사용자가 다기능 검사기와 검사대상인 저항을 연결하고, 단계(S3)에서 정현파 패턴데이터를 로드한다.
즉, 다기능 검사기가 온 상태인 경우 사용자가 다기능 검사기로부터의 소정신호가 저항에 공급되도록 다기능 검사기와 저항을 연결하면 주제어부에서 주메모리부에 저장된 정현파 패턴데이터를 로드하여 아나로그신호 발생부로 출력하기 위한 제어신호를 출력함으로써 주메모리부에 저장된 정현파 패턴데이터가 아날로그신호 발생부에 입력된다.
그 단계(S3)에서 정현파 패턴데이터가 로드된 후 단계(S4)에서 디지털신호를 아날로그화하고, 그 단계(S4)에서 디지털신호가 아날로그화된 후 단계(S5)에서 공급 전압 범위를 선택하고, 단계(S5)에서 공급 전압 범위가 선택된 후 단계(S6)에서 저항에 선택된 공급 전압 범위로 정현파를 공급한다
즉, 정현파 패턴데이터가 로드된 후 아날로그신호 발생부에서 입력된 정현파 패턴데이터를 아날로그화하여 공급전압범위 선택부로 공급하고, 공급전압범위 선택부에서 다수개의 공급 전압 범위 중 사용자가 선택한 공급 전압 범위로 정현파를 제 1버퍼/필터를 통해 저항으로 공급한다.
그 단계(S6)에서 저항에 선택된 공급 전압 범위로 정현파가 공급된 후 단계(S7)에서 입력 전류 범위를 선택하고, 그 단계(S7)에서 입력 전류 범위가 선택된 후 단계(S8)에서 선택된 입력 전류로 공급되는 아날로그신호를 디지털화하고, 그 단계(S8)에서 선택된 입력 전류로 공급되는 아날로그신호가 디지털화된 후 단계(S9)에서 측정된 데이터를 저장한다.
즉, 저항에 선택된 공급 전압 범위로 정현파가 공급된 후 입력전류범위 선택부에서 다수개의 입력 전류 범위 중 사용자가 선택한 입력 전류 범위로 저항으로부터의 입력 전류를 제 2버퍼/필터를 통해 아날로그신호 측정부로 출력하고, 아날로그신호 측정부에서 제 2버퍼/필터로부터의 입력 전류를 디지털화하여 VI메모리부로 출력함으로써 VI메모리부에 측정된 데이터가 저장된다.
그 단계(S9)에서 측정된 데이터가 저장된 후 단계(S10)에서 V-I특성 그래프를 산출하고, 그 단계(S10)에서 V-I특성 그래프가 산출된 후 단계(S11)에서 산출된 V-I특성 그래프를 통한 저항의 특성 결과를 표시한다.
즉, 측정된 데이터가 저장된 후 주제어부에서 VI메모리부에 저장되어 있는 측정된 데이터를 입력전압에 대한 측정전류값으로 환산하여 V-I특성 그래프를 산출한 후 산출된 V-I특성 그래프와 PC에 저장된 저항들의 특성데이터의 비교에 의한 저항의 특성 결과를 표시하기 위한 제어신호를 출력함으로써 PC의 표시부에 저항의 특성 결과가 표시된다.
그 단계(S11)에서 저항의 특성 결과가 표시된 후 단계(S12)에서 다기능 검사기가 오프 상태인가를 판단하여 다기능 검사기가 오프 상태인 경우 다기능 검사기의동작을 종료한다.
즉, 저항의 특성 결과가 표시된 후 주제어부에서 다기능 검사기가 오프 상태인가를 판단하여 다기능 검사기가 오프 상태인 경우 주제어부에 의해 다기능 검사기의 동작이 종료된다.
한편, 본 발명에 따른 다기능 검사기의 저항 특성검사장치 및 방법은 검사대상인 저항의 V-I특성 그래프를 산출한 후 산출된 V-I특성 그래프와 기설정된 특성데이터의 비교에 의해 저항의 불량 여부를 검사하는 것을 예로서 설명하였지만 이에 한정되는 것이 아니라, 양품 PCB와 특성 비교검사를 통해 저항의 불량 여부를 검사하거나, 표시부에 표시되는 측정 파형을 통해 저항의 불량 여부를 검사하도록 구성될 수도 있다.
이상에서 설명한 본 발명의 실시예에 따른 다기능 검사기의 저항 특성검사장치 및 방법의 구성과 작용에 의하면, 검사대상인 저항의 V-I특성 그래프를 산출한 후 산출된 V-I특성 그래프와 기설정된 특성데이터의 비교에 의해 저항의 불량 여부를 판단함으로써 PCB에 실장된 저항의 특성을 정확하고 편리하게 검사할 수 있는 효과가 있다.
또한, 양품 PCB와의 비교시 V-I특성 그래프의 저항 기울기 오차(0∼99%)로 불량 여부를 쉽게 검사할 수 있고, PCB가 불량인 경우 PCB에 별도 전원인가 없이 불량 여부를 검사하여 PCB의 손상을 방지할 수 있는 등의 효과가 있다.

Claims (2)

  1. PCB에 실장된 저항의 특성을 검사하는 검사기에 있어서:
    사용자가 검사대상인 저항에 공급되는 전압 범위를 선택하는 한편, 저항으로부터 입력되는 전류 범위를 선택하기 위한 키입력부(20)와 검사된 결과를 표시하는 표시부(30)를 구비함과 더불어 저항들의 특성데이터가 저장되어 있는 PC(10);
    정현파 패턴데이터가 저장되어 있는 주메모리부(70);
    상기 주메모리부(70)로부터의 디지털신호를 아날로그화하는 아날로그신호 발생부(80);
    다수개의 공급 전압 범위를 구비하여 사용자에 의해 선택된 공급 전압을 저항으로 공급하는 공급전압범위 선택부(90);
    다수개의 입력 전류 범위를 구비하여 사용자에 의해 선택된 입력 전류를 저항으로부터 공급하는 입력전류범위 선택부(110);
    상기 입력전류범위 선택부(110)로부터의 아날로그신호를 디지털화하는 아날로그신호 측정부(130);
    아날로그신호 측정부(130)로부터의 디지털화된 측정 데이터를 저장하는 VI메모리부(140);
    상기 주메모리부(70)에 저장된 정현파 패턴데이터를 아날로그신호 발생부(80)를 통해 아날로그화한 후 사용자가 PC(10)의 키입력부(20)를 통해 공급 전압을 선택하면 공급전압범위 선택부(90)를 통해 선택된 공급 전압을 저항에 공급한 다음, 사용자가 PC(10)의 키입력부(20)를 통해 입력 전류를 선택하면 입력전류범위 선택부(110)를 통해 선택된 입력 전류를 저항으로부터 아날로그신호 측정부(130)로 공급하여 디지털화한 후 디지털화된 측정 데이터를 VI메모리부(140)에 저장한 다음, PC(10)에 저장된 저항들의 특성데이터에 의거하여 VI메모리부(140)에 저장된 측정 데이터로 저항의 특성을 검사하여 그 검사 결과를 PC(10)의 표시부(30)에 표시하는 주제어부(50); 그리고
    상기 PC(10)와 주제어부(50)를 연결하는 통신부(40)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 다기능 검사기의 저항 특성검사장치.
  2. PCB에 실장된 저항의 특성을 검사하는 다기능 검사기에 있어서:
    다기능 검사기가 온 상태인 경우 다기능 검사기와 검사대상인 저항을 연결하는 단계(S1,S2);
    그 단계(S2)에서 다기능 검사기와 저항이 연결된 후 정현파 패턴데이터를 로드하여 디지털신호를 아날로그화하는 단계(S3,S4);
    그 단계(S4)에서 디지털신호가 아날로그화된 후 공급 전압 범위를 선택하면 선택된 공급 전압으로 저항에 정현파를 공급하는 단계(S5,S6);
    그 단계(S6)에서 저항에 정현파가 공급된 후 입력 전류 범위를 선택하면 선택된 입력 전류로 저항으로부터 공급되는 아날로그신호를 디지털화하여 측정된 데이터를 저장하는 단계(S7,S8,S9);
    그 단계(S9)에서 측정된 데이터가 저장된 후 V-I특성 그래프를 산출하는 단계(S10);
    그 단계(S10)에서 V-I특성 그래프가 산출된 후 산출된 V-I특성 그래프를 통한 저항의 특성 결과를 표시하는 단계(S11); 그리고
    그 단계(S11)에서 저항의 특성 결과가 표시된 후 다기능 검사기가 오프 상태인가를 판단하는 단계(S12)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 다기능 검사기의 저항 특성검사방법.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR20020094629A (ko) * 2001-06-12 2002-12-18 (주)유피텍 커패시터 미터
KR101044257B1 (ko) * 2006-05-15 2011-06-28 김근효 전압/전류 발생장치
CN113109691A (zh) * 2021-03-04 2021-07-13 国营芜湖机械厂 一种基于vi曲线的便携式电路板测试设备

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