JP2983109B2 - 抵抗検査装置 - Google Patents
抵抗検査装置Info
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- JP2983109B2 JP2983109B2 JP4181889A JP18188992A JP2983109B2 JP 2983109 B2 JP2983109 B2 JP 2983109B2 JP 4181889 A JP4181889 A JP 4181889A JP 18188992 A JP18188992 A JP 18188992A JP 2983109 B2 JP2983109 B2 JP 2983109B2
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- Japan
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- resistance
- resistor
- circuit board
- resistance value
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、回路基板に形成され
た回路又は抵抗を自動的に測定し検査する抵抗検査装置
に関する。
た回路又は抵抗を自動的に測定し検査する抵抗検査装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、回路基板上の抵抗の抵抗値を検査
するには、テスタを用いて測定点の電圧を測りその電圧
から個々の抵抗値を各々判断していた。また、抵抗値を
自動的に測定して検査する装置としては、例えば、ある
基準測定回路基板に基準抵抗体を設けて、それを基に、
個々の被測定回路基板の各抵抗端の電圧の大小で、被測
定回路基板の抵抗か所定の範囲内に入っているか否かを
検査していた。
するには、テスタを用いて測定点の電圧を測りその電圧
から個々の抵抗値を各々判断していた。また、抵抗値を
自動的に測定して検査する装置としては、例えば、ある
基準測定回路基板に基準抵抗体を設けて、それを基に、
個々の被測定回路基板の各抵抗端の電圧の大小で、被測
定回路基板の抵抗か所定の範囲内に入っているか否かを
検査していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の技術の場
合、テスタにより個々に抵抗値を測定することは、数が
多いものや大きな基板になればなるほど面倒であり、時
間がかかるとともに、精確性にも欠けるものであた。ま
た、自動検査装置においても、実際の抵抗値を測定して
いるものではなく、単に基準抵抗体との電圧の大小によ
り抵抗値の良否を判断しているため、精確に抵抗値が測
れないものであった。
合、テスタにより個々に抵抗値を測定することは、数が
多いものや大きな基板になればなるほど面倒であり、時
間がかかるとともに、精確性にも欠けるものであた。ま
た、自動検査装置においても、実際の抵抗値を測定して
いるものではなく、単に基準抵抗体との電圧の大小によ
り抵抗値の良否を判断しているため、精確に抵抗値が測
れないものであった。
【０００４】この発明は、上記従来の技術の問題点に鑑
みてなされたもので、簡単な装置で、精確に回路の抵抗
値を検査することができる抵抗検査装置を提供すること
を目的とする。
みてなされたもので、簡単な装置で、精確に回路の抵抗
値を検査することができる抵抗検査装置を提供すること
を目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明は 所定の電源
に接続され抵抗値が既知の複数の測定抵抗体と、複数の
切替スイッチと複数の端子との間に各々接続されたスイ
ッチマトリクスと、上記複数の測定抵抗体に上記切替ス
イッチを介して各々接続され、被測定回路基板のコネク
タ部に接続したとき、少なくとも一部が上記被測定回路
基板の回路に接続される複数の端子と、上記スイッチマ
トリクスの出力に接続され抵抗値が既知の基準抵抗体
と、この基準抵抗体にかかる電圧値をＡ／Ｄ変換するＡ
／Ｄコンバータと、上記スイッチマトリクスを切り替え
るスイッチ制御回路と、上記測定抵抗体の各抵抗値のデ
ータを記憶するとともに、上記被測定回路基板上の各抵
抗の標準抵抗値を記憶したデータ記憶部と、上記被測定
回路基板に上記測定抵抗体を接続した状態で、上記スイ
ッチマトリクスを切り替えて各端子毎に上記基準抵抗体
にかかる電圧のＡ／Ｄ変換データから得られるところの
上記測定抵抗体の抵抗値及び上記被測定回路基板上の抵
抗の各抵抗値のデータと上記データ記憶部に記憶された
上記測定抵抗体の抵抗値のデータ及び上記標準抵抗値と
を比較する比較手段とを備えた抵抗検査装置である。
に接続され抵抗値が既知の複数の測定抵抗体と、複数の
切替スイッチと複数の端子との間に各々接続されたスイ
ッチマトリクスと、上記複数の測定抵抗体に上記切替ス
イッチを介して各々接続され、被測定回路基板のコネク
タ部に接続したとき、少なくとも一部が上記被測定回路
基板の回路に接続される複数の端子と、上記スイッチマ
トリクスの出力に接続され抵抗値が既知の基準抵抗体
と、この基準抵抗体にかかる電圧値をＡ／Ｄ変換するＡ
／Ｄコンバータと、上記スイッチマトリクスを切り替え
るスイッチ制御回路と、上記測定抵抗体の各抵抗値のデ
ータを記憶するとともに、上記被測定回路基板上の各抵
抗の標準抵抗値を記憶したデータ記憶部と、上記被測定
回路基板に上記測定抵抗体を接続した状態で、上記スイ
ッチマトリクスを切り替えて各端子毎に上記基準抵抗体
にかかる電圧のＡ／Ｄ変換データから得られるところの
上記測定抵抗体の抵抗値及び上記被測定回路基板上の抵
抗の各抵抗値のデータと上記データ記憶部に記憶された
上記測定抵抗体の抵抗値のデータ及び上記標準抵抗値と
を比較する比較手段とを備えた抵抗検査装置である。
【０００６】さらにこの発明は、上記複数の端子のう
ち、上記被測定回路基板の回路に接続される一部の上記
端子にはそれに対応する上記切替スイッチを開いて上記
測定抵抗体を接続せず、上記被測定回路基板に設けられ
た開放端子に接続する上記一部の端子以外の上記端子に
は、それに対応する上記切替スイッチを閉じて上記測定
抵抗体を接続する抵抗検査装置である。
ち、上記被測定回路基板の回路に接続される一部の上記
端子にはそれに対応する上記切替スイッチを開いて上記
測定抵抗体を接続せず、上記被測定回路基板に設けられ
た開放端子に接続する上記一部の端子以外の上記端子に
は、それに対応する上記切替スイッチを閉じて上記測定
抵抗体を接続する抵抗検査装置である。
【０００７】
【作用】この発明の抵抗検査装置は、被測定回路基板の
コネクタ部での抵抗値を基準抵抗体を利用して測定する
とともに、コネクタ部に接続された端子が開放端子の場
合も各測定抵抗体を介して短絡等の検査を行うことがで
きるようにしたものである。
コネクタ部での抵抗値を基準抵抗体を利用して測定する
とともに、コネクタ部に接続された端子が開放端子の場
合も各測定抵抗体を介して短絡等の検査を行うことがで
きるようにしたものである。
【０００８】
【実施例】以下この発明の実施例について図面に基づい
て説明する。この実施例の抵抗検査装置は、パーソナル
コンピュータ等の制御装置１０とＣＲＴ等の表示装置１
２とを有し、所定のタイミングでパルス信号を発生する
スタートパルス発生回路１４と、このスタートパルス発
生回路からのパルス信号によりスイッチマトリクス１６
のスイッチを切り替えるスイッチコントロール回路１８
とを有する。このスイッチマトリクス１６は、抵抗アレ
イ等の複数の抵抗体Ｒ1〜Ｒ8から成る測定抵抗体回路２
０の各抵抗体Ｒ1〜Ｒ8の端子に、切替スイッチＳＷ1〜
ＳＷ8を介して接続されている。各抵抗体Ｒ1〜Ｒ8の抵
抗値は、予め分かっているものであり、制御装置１０内
の記憶装置に記録されている。
て説明する。この実施例の抵抗検査装置は、パーソナル
コンピュータ等の制御装置１０とＣＲＴ等の表示装置１
２とを有し、所定のタイミングでパルス信号を発生する
スタートパルス発生回路１４と、このスタートパルス発
生回路からのパルス信号によりスイッチマトリクス１６
のスイッチを切り替えるスイッチコントロール回路１８
とを有する。このスイッチマトリクス１６は、抵抗アレ
イ等の複数の抵抗体Ｒ1〜Ｒ8から成る測定抵抗体回路２
０の各抵抗体Ｒ1〜Ｒ8の端子に、切替スイッチＳＷ1〜
ＳＷ8を介して接続されている。各抵抗体Ｒ1〜Ｒ8の抵
抗値は、予め分かっているものであり、制御装置１０内
の記憶装置に記録されている。
【０００９】測定抵抗体回路２０には、各抵抗体Ｒ1〜
Ｒ8に対応する接続端子２１〜２８からなるコネクタ部
３０が設けられ、このコネクタ部３０は、測定される回
路基板３２のコネクタ部３４に接続される。ここで、被
測定回路基板３２のコネクタ部３４に設けられた端子４
１〜４８のうち、端子４３，４４，４７，４８が開放端
子である。また、端子４１は抵抗ＲX1を介して電源に接
続され、端子４２は直接電源に接続されている。また、
端子４５は抵抗ＲX2を介して電源に接続され、端子４６
は直接電源に接続されている。
Ｒ8に対応する接続端子２１〜２８からなるコネクタ部
３０が設けられ、このコネクタ部３０は、測定される回
路基板３２のコネクタ部３４に接続される。ここで、被
測定回路基板３２のコネクタ部３４に設けられた端子４
１〜４８のうち、端子４３，４４，４７，４８が開放端
子である。また、端子４１は抵抗ＲX1を介して電源に接
続され、端子４２は直接電源に接続されている。また、
端子４５は抵抗ＲX2を介して電源に接続され、端子４６
は直接電源に接続されている。
【００１０】スイッチマトリクス１６の出力側には、抵
抗値が既知の基準抵抗体ＲSが接続され、基準抵抗体ＲS
の電源側電位がボルテージホロワ５０に入力されるよう
になっている。ボルテージホロワ５０の出力は、Ａ／Ｄ
コンバータ５２に接続され、Ａ／Ｄ変換コンバータ５２
の出力は、制御装置１０に入力されている。
抗値が既知の基準抵抗体ＲSが接続され、基準抵抗体ＲS
の電源側電位がボルテージホロワ５０に入力されるよう
になっている。ボルテージホロワ５０の出力は、Ａ／Ｄ
コンバータ５２に接続され、Ａ／Ｄ変換コンバータ５２
の出力は、制御装置１０に入力されている。
【００１１】この実施例の抵抗検査装置の動作は、先ず
コネクタ３４の開放端子に接続される測定抵抗体Ｒ3，
Ｒ4，Ｒ7，Ｒ8の切替スイッチＳＷ3，ＳＷ4，ＳＷ7，Ｓ
Ｗ8を閉じ、その他の切替スイッチＳＷ1，ＳＷ2，ＳＷ
5，ＳＷ6は開いた状態でコネクタ部３０を被測定回路基
板３２のコネクタ部３４に接続する。そして、図３のフ
ローチャートに示すように、制御装置１０に記憶され
た、抵抗体Ｒ1〜Ｒ8の既知の値及びＲX1，ＲX2の既定の
標準抵抗値の値を基に、制御装置１０内のプログラムに
より実際の被検査回路基板３２について、以下に述べる
抵抗測定を行った際に得られる抵抗値の検査範囲を設定
する。この検査範囲は、被測定回路基板３２を接続した
状態で、各抵抗体にかかる電圧値から演算された抵抗値
の適正な範囲である。そして、制御装置１０内の記憶装
置から、今回測定する被測定回路基板３２の各端子４１
〜４８での予め定められた標準抵抗値を取り込む。
コネクタ３４の開放端子に接続される測定抵抗体Ｒ3，
Ｒ4，Ｒ7，Ｒ8の切替スイッチＳＷ3，ＳＷ4，ＳＷ7，Ｓ
Ｗ8を閉じ、その他の切替スイッチＳＷ1，ＳＷ2，ＳＷ
5，ＳＷ6は開いた状態でコネクタ部３０を被測定回路基
板３２のコネクタ部３４に接続する。そして、図３のフ
ローチャートに示すように、制御装置１０に記憶され
た、抵抗体Ｒ1〜Ｒ8の既知の値及びＲX1，ＲX2の既定の
標準抵抗値の値を基に、制御装置１０内のプログラムに
より実際の被検査回路基板３２について、以下に述べる
抵抗測定を行った際に得られる抵抗値の検査範囲を設定
する。この検査範囲は、被測定回路基板３２を接続した
状態で、各抵抗体にかかる電圧値から演算された抵抗値
の適正な範囲である。そして、制御装置１０内の記憶装
置から、今回測定する被測定回路基板３２の各端子４１
〜４８での予め定められた標準抵抗値を取り込む。
【００１２】次に、スイッチコントロール回路１８によ
りスイッチマトリクス１６を作動させ、各端子４１〜４
８の電圧値を順次ボルテージホロワ５０を介してＡ／Ｄ
コンバータ５２に送る。Ａ／Ｄコンバータ５２では、各
端子４１〜４８の電圧値をデジタルデータに変換し、そ
のデータを基に、ＲX1，ＲX2，Ｒ3，Ｒ4，Ｒ7，Ｒ8の抵
抗値を所定の演算により測定する。この測定した抵抗値
のデータと、上記記憶された各標準抵抗値のデータとを
比較し、上記検査範囲内にあるか否かを表示装置１２に
表示する。
りスイッチマトリクス１６を作動させ、各端子４１〜４
８の電圧値を順次ボルテージホロワ５０を介してＡ／Ｄ
コンバータ５２に送る。Ａ／Ｄコンバータ５２では、各
端子４１〜４８の電圧値をデジタルデータに変換し、そ
のデータを基に、ＲX1，ＲX2，Ｒ3，Ｒ4，Ｒ7，Ｒ8の抵
抗値を所定の演算により測定する。この測定した抵抗値
のデータと、上記記憶された各標準抵抗値のデータとを
比較し、上記検査範囲内にあるか否かを表示装置１２に
表示する。
【００１３】ここで、端子４１，４２，４５，４６は、
抵抗ＲX1，ＲX2又は抵抗なしの状態と基準抵抗体ＲSと
で電源電圧が分圧された値がＡ／Ｄ変換され、その抵抗
値と標準抵抗値とが比較される。また、開放端子４２，
４３，４７，４８は、測定抵抗体Ｒ3，Ｒ4，Ｒ7，Ｒ8
と、基準抵抗体ＲSとにより分圧された電圧を基に測定
抵抗体Ｒ3，Ｒ4，Ｒ7，Ｒ8の抵抗値を演算され、その演
算結果と標準抵抗値とを比較する。これによって、例え
ば、端子同士が短絡していたりすると、ＲSにかかる電
圧も変化し、標準抵抗値よりかけ離れた値となり、不良
であることが分かる。
抵抗ＲX1，ＲX2又は抵抗なしの状態と基準抵抗体ＲSと
で電源電圧が分圧された値がＡ／Ｄ変換され、その抵抗
値と標準抵抗値とが比較される。また、開放端子４２，
４３，４７，４８は、測定抵抗体Ｒ3，Ｒ4，Ｒ7，Ｒ8
と、基準抵抗体ＲSとにより分圧された電圧を基に測定
抵抗体Ｒ3，Ｒ4，Ｒ7，Ｒ8の抵抗値を演算され、その演
算結果と標準抵抗値とを比較する。これによって、例え
ば、端子同士が短絡していたりすると、ＲSにかかる電
圧も変化し、標準抵抗値よりかけ離れた値となり、不良
であることが分かる。
【００１４】この実施例によれば、被測定回路基板３２
の各端子での抵抗値を、コネクタ部３０，３４を接続す
るだけで、自動的に迅速に検査することができるもので
ある。
の各端子での抵抗値を、コネクタ部３０，３４を接続す
るだけで、自動的に迅速に検査することができるもので
ある。
【００１５】尚、この抵抗検査装置において、各測定抵
抗体や被測定回路の抵抗値の等の実際の測定データを基
に、複数の被測定回路の中心値を標準抵抗値に設定し、
その標準抵抗値から大きく離れたデータを不良とするよ
うにしても良い。
抗体や被測定回路の抵抗値の等の実際の測定データを基
に、複数の被測定回路の中心値を標準抵抗値に設定し、
その標準抵抗値から大きく離れたデータを不良とするよ
うにしても良い。
【００１６】
【発明の効果】この発明の抵抗検査装置は、簡単な構成
で、確実に精確な抵抗測定データが得られ、迅速に検査
を行うことができるものである。
で、確実に精確な抵抗測定データが得られ、迅速に検査
を行うことができるものである。
【図１】この発明の一実施例の抵抗検査装置を示す回路
図である。
図である。
【図２】この実施例の抵抗検査装置のブロック図であ
る。
る。
【図３】この実施例の抵抗検査装置の動作を示すフロー
チャートである。
チャートである。
１０ 制御装置 １６ スイッチマトリクス ３０，３４ コネクタ部 ３２ 被測定回路 ２０ 測定抵抗体回路 ４１〜４８ 端子 ５２ Ａ／Ｄコンバータ
Claims (2)
- 【請求項１】 所定の電源に接続され抵抗値が既知の複
数の測定抵抗体と、複数の切替スイッチと複数の端子と
の間に各々接続されたスイッチマトリクスと、上記複数
の測定抵抗体に上記切替スイッチを介して各々接続さ
れ、被測定回路基板のコネクタ部に接続したとき、少な
くとも一部が上記被測定回路基板の回路に接続される複
数の端子と、上記スイッチマトリクスの出力に接続され
抵抗値が既知の基準抵抗体と、この基準抵抗体にかかる
電圧値をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄコンバータと、上記スイ
ッチマトリクスを切り替えるスイッチ制御回路と、上記
測定抵抗体の各抵抗値のデータを記憶するとともに、上
記被測定回路基板上の各抵抗の標準抵抗値を記憶したデ
ータ記憶部と、被測定回路基板に上記測定抵抗体を接続
した状態で、上記スイッチマトリクスを切り替えて各端
子毎に上記基準抵抗体にかかる電圧のＡ／Ｄ変換データ
から得られるところの、上記測定抵抗体の抵抗値及び上
記被測定回路基板上の抵抗の各抵抗値のデータと上記デ
ータ記憶部に記憶された上記測定抵抗体の抵抗値のデー
タ及び上記標準抵抗値とを比較する比較手段とを備えた
抵抗検査装置。 - 【請求項２】 上記複数の端子のうち、上記被測定回路
基板の回路に接続される一部の上記端子にはそれに対応
する上記切替スイッチを開いて上記測定抵抗体を接続せ
ず、上記被測定回路基板に設けられた開放端子に接続す
る上記一部の端子以外の上記端子には、それに対応する
上記切替スイッチを閉じて上記測定抵抗体を接続するこ
とを特徴とする請求項１記載の抵抗検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4181889A JP2983109B2 (ja) | 1992-06-15 | 1992-06-15 | 抵抗検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4181889A JP2983109B2 (ja) | 1992-06-15 | 1992-06-15 | 抵抗検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05346447A JPH05346447A (ja) | 1993-12-27 |
| JP2983109B2 true JP2983109B2 (ja) | 1999-11-29 |
Family
ID=16108657
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4181889A Expired - Fee Related JP2983109B2 (ja) | 1992-06-15 | 1992-06-15 | 抵抗検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2983109B2 (ja) |
-
1992
- 1992-06-15 JP JP4181889A patent/JP2983109B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05346447A (ja) | 1993-12-27 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |