JPH05346447A - 抵抗検査装置 - Google Patents
抵抗検査装置Info
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- JPH05346447A JPH05346447A JP4181889A JP18188992A JPH05346447A JP H05346447 A JPH05346447 A JP H05346447A JP 4181889 A JP4181889 A JP 4181889A JP 18188992 A JP18188992 A JP 18188992A JP H05346447 A JPH05346447 A JP H05346447A
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- measured
- resistor
- switch matrix
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 簡単な装置で、精確に回路の抵抗値を検査す
る。 【構成】 抵抗値が既知の複数の抵抗体からなる測定抵
抗体回路２０と、測定抵抗体回路２０に各々接続したス
イッチマトリクス１６とを有する。複数の測定抵抗体回
路２０に各々接続するとともに被測定回路基板３２のコ
ネクタ部３４に接続する複数の端子部４１と、スイッチ
マトリクス１６の出力側に接続され抵抗値が既知の基準
抵抗体ＲSとを設ける。基準抵抗体ＲS にかかる電圧値を
Ａ／Ｄ変換するＡ／Ｄコンバータ５２と、スイッチマト
リクス１６を切り替える制御回路１０と、測定抵抗体２
０の抵抗値データ及び被測定回路３２の各抵抗の標準値
を記憶したデータ記憶部とを設ける。スイッチマトリク
ス１６を切り替えて各端子部毎に対応する基準抵抗体Ｒ
Sにかかる電圧のＡ／Ｄ変換データとから得られる上記
測定抵抗体の抵抗値と、上記データ記憶部の対応する各
標準値とを比較する比較手段とを設ける。
る。 【構成】 抵抗値が既知の複数の抵抗体からなる測定抵
抗体回路２０と、測定抵抗体回路２０に各々接続したス
イッチマトリクス１６とを有する。複数の測定抵抗体回
路２０に各々接続するとともに被測定回路基板３２のコ
ネクタ部３４に接続する複数の端子部４１と、スイッチ
マトリクス１６の出力側に接続され抵抗値が既知の基準
抵抗体ＲSとを設ける。基準抵抗体ＲS にかかる電圧値を
Ａ／Ｄ変換するＡ／Ｄコンバータ５２と、スイッチマト
リクス１６を切り替える制御回路１０と、測定抵抗体２
０の抵抗値データ及び被測定回路３２の各抵抗の標準値
を記憶したデータ記憶部とを設ける。スイッチマトリク
ス１６を切り替えて各端子部毎に対応する基準抵抗体Ｒ
Sにかかる電圧のＡ／Ｄ変換データとから得られる上記
測定抵抗体の抵抗値と、上記データ記憶部の対応する各
標準値とを比較する比較手段とを設ける。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、回路基板に形成され
た回路又は抵抗を自動的に測定し検査する抵抗検査装置
に関する。
た回路又は抵抗を自動的に測定し検査する抵抗検査装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、回路基板上の抵抗の抵抗値を検査
するには、テスタを用いて測定点の電圧を測りその電圧
から個々の抵抗値を各々判断していた。また、抵抗値を
自動的に測定して検査する装置としては、例えば、ある
基準測定回路基板に基準抵抗体を設けて、それを基に、
個々の被測定回路基板の各抵抗端の電圧の大小で、被測
定回路基板の抵抗か所定の範囲内に入っているか否かを
検査していた。
するには、テスタを用いて測定点の電圧を測りその電圧
から個々の抵抗値を各々判断していた。また、抵抗値を
自動的に測定して検査する装置としては、例えば、ある
基準測定回路基板に基準抵抗体を設けて、それを基に、
個々の被測定回路基板の各抵抗端の電圧の大小で、被測
定回路基板の抵抗か所定の範囲内に入っているか否かを
検査していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の技術の場
合、テスタにより個々に抵抗値を測定することは、数が
多いものや大きな基板になればなるほど面倒であり、時
間がかかるとともに、精確性にも欠けるものであた。ま
た、自動検査装置においても、実際の抵抗値を測定して
いるものではなく、単に基準抵抗体との電圧の大小によ
り抵抗値の良否を判断しているため、精確に抵抗値が測
れないものであった。
合、テスタにより個々に抵抗値を測定することは、数が
多いものや大きな基板になればなるほど面倒であり、時
間がかかるとともに、精確性にも欠けるものであた。ま
た、自動検査装置においても、実際の抵抗値を測定して
いるものではなく、単に基準抵抗体との電圧の大小によ
り抵抗値の良否を判断しているため、精確に抵抗値が測
れないものであった。
【０００４】この発明は、上記従来の技術の問題点に鑑
みてなされたもので、簡単な装置で、精確に回路の抵抗
値を検査することができる抵抗検査装置を提供すること
を目的とする。
みてなされたもので、簡単な装置で、精確に回路の抵抗
値を検査することができる抵抗検査装置を提供すること
を目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明は、抵抗値が既
知の複数の測定抵抗体と、この測定抵抗体に各々接続し
たスイッチマトリクスと、上記複数の測定抵抗体に各々
接続するとともに被測定回路基板のコネクタ部に接続す
る複数の端子部と、上記スイッチマトリクスの出力に接
続され抵抗値が既知の基準抵抗体と、この基準抵抗体に
かかる電圧値をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄコンバータと、上
記スイッチマトリクスを切り替える制御回路と、被測定
回路に上記測定抵抗体を接続した時の抵抗値データ及び
被測定回路のコネクタ部での各抵抗の標準値を記憶した
データ記憶部と、被測定回路に上記測定抵抗体を接続し
た状態で上記スイッチマトリクスを切り替えて各端子部
毎に対応する上記基準抵抗体にかかる電圧のＡ／Ｄ変換
データから得られる各抵抗体の抵抗値と上記データ記憶
部の対応する各標準値とを比較する比較手段とからなる
抵抗検査装置である。
知の複数の測定抵抗体と、この測定抵抗体に各々接続し
たスイッチマトリクスと、上記複数の測定抵抗体に各々
接続するとともに被測定回路基板のコネクタ部に接続す
る複数の端子部と、上記スイッチマトリクスの出力に接
続され抵抗値が既知の基準抵抗体と、この基準抵抗体に
かかる電圧値をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄコンバータと、上
記スイッチマトリクスを切り替える制御回路と、被測定
回路に上記測定抵抗体を接続した時の抵抗値データ及び
被測定回路のコネクタ部での各抵抗の標準値を記憶した
データ記憶部と、被測定回路に上記測定抵抗体を接続し
た状態で上記スイッチマトリクスを切り替えて各端子部
毎に対応する上記基準抵抗体にかかる電圧のＡ／Ｄ変換
データから得られる各抵抗体の抵抗値と上記データ記憶
部の対応する各標準値とを比較する比較手段とからなる
抵抗検査装置である。
【０００６】またこの発明は、被測定回路に接続してい
る端子には上記測定抵抗体を接続せず、被測定回路基板
のコネクタ部の開放端子に上記測定抵抗体を接続した抵
抗検査装置である。
る端子には上記測定抵抗体を接続せず、被測定回路基板
のコネクタ部の開放端子に上記測定抵抗体を接続した抵
抗検査装置である。
【０００７】
【作用】この発明の抵抗検査装置は、被測定回路基板の
コネクタ部の抵抗値を基準抵抗体を利用して測定すると
ともに、コネクタ部の端子が開放端子の場合も各測定抵
抗体を介して短絡等の検査を行うことができるようにし
たものである。
コネクタ部の抵抗値を基準抵抗体を利用して測定すると
ともに、コネクタ部の端子が開放端子の場合も各測定抵
抗体を介して短絡等の検査を行うことができるようにし
たものである。
【０００８】
【実施例】以下この発明の実施例について図面に基づい
て説明する。この実施例の抵抗検査装置は、パーソナル
コンピュータ等の制御装置１０とＣＲＴ等の表示装置１
２とを有し、所定のタイミングでパルス信号を発生する
スタートパルス発生回路１４と、このスタートパルス発
生回路からのパルス信号によりスイッチマトリクス１６
のスイッチを切り替えるスイッチコントロール回路１８
とを有する。このスイッチマトリクス１６は、抵抗アレ
イ等の複数の抵抗体Ｒ1〜Ｒ8から成る測定抵抗体回路２
０の各抵抗体Ｒ1〜Ｒ8の端子に、切替スイッチＳＷ1〜
ＳＷ8を介して接続されている。各抵抗体Ｒ1〜Ｒ8の抵
抗値は、予め分かっているものであり、制御装置１０内
の記憶装置に記録されている。
て説明する。この実施例の抵抗検査装置は、パーソナル
コンピュータ等の制御装置１０とＣＲＴ等の表示装置１
２とを有し、所定のタイミングでパルス信号を発生する
スタートパルス発生回路１４と、このスタートパルス発
生回路からのパルス信号によりスイッチマトリクス１６
のスイッチを切り替えるスイッチコントロール回路１８
とを有する。このスイッチマトリクス１６は、抵抗アレ
イ等の複数の抵抗体Ｒ1〜Ｒ8から成る測定抵抗体回路２
０の各抵抗体Ｒ1〜Ｒ8の端子に、切替スイッチＳＷ1〜
ＳＷ8を介して接続されている。各抵抗体Ｒ1〜Ｒ8の抵
抗値は、予め分かっているものであり、制御装置１０内
の記憶装置に記録されている。
【０００９】測定抵抗体回路２０には、各抵抗体Ｒ1〜
Ｒ8に対応する接続端子２１〜２８からなるコネクタ部
３０が設けられ、このコネクタ部３０は、測定される回
路基板３２のコネクタ部３４に接続される。ここで、被
測定回路基板３２のコネクタ部３４に設けられた端子４
１〜４８のうち、端子４３，４４，４７，４８が開放端
子である。また、端子４１は抵抗ＲX1を介して電源に接
続され、端子４２は直接電源に接続されている。また、
端子４５は抵抗ＲX2を介して電源に接続され、端子４６
は直接電源に接続されている。
Ｒ8に対応する接続端子２１〜２８からなるコネクタ部
３０が設けられ、このコネクタ部３０は、測定される回
路基板３２のコネクタ部３４に接続される。ここで、被
測定回路基板３２のコネクタ部３４に設けられた端子４
１〜４８のうち、端子４３，４４，４７，４８が開放端
子である。また、端子４１は抵抗ＲX1を介して電源に接
続され、端子４２は直接電源に接続されている。また、
端子４５は抵抗ＲX2を介して電源に接続され、端子４６
は直接電源に接続されている。
【００１０】スイッチマトリクス１６の出力側には、抵
抗値が既知の基準抵抗体ＲSが接続され、基準抵抗体ＲS
の電源側電位がボルテージホロワ５０に入力されるよう
になっている。ボルテージホロワ５０の出力は、Ａ／Ｄ
コンバータ５２に接続され、Ａ／Ｄ変換コンバータ５２
の出力は、制御装置１０に入力されている。
抗値が既知の基準抵抗体ＲSが接続され、基準抵抗体ＲS
の電源側電位がボルテージホロワ５０に入力されるよう
になっている。ボルテージホロワ５０の出力は、Ａ／Ｄ
コンバータ５２に接続され、Ａ／Ｄ変換コンバータ５２
の出力は、制御装置１０に入力されている。
【００１１】この実施例の抵抗検査装置の動作は、先ず
コネクタ３４の開放端子に接続される測定抵抗体Ｒ3，
Ｒ4，Ｒ7，Ｒ8の切替スイッチＳＷ3，ＳＷ4，ＳＷ7，Ｓ
Ｗ8を閉じ、その他の切替スイッチＳＷ1，ＳＷ2，Ｓ
Ｗ5，ＳＷ6は開いた状態でコネクタ部３０を被測定回路
基板３２のコネクタ部３４に接続する。そして、図３の
フローチャートに示すように、制御装置１０内のプログ
ラムにより、抵抗体Ｒ1〜Ｒ8及び、ＲX1，ＲX2の既知の
値に対して、実際の被検査回路基板３２について、以下
に述べる抵抗測定を行った際に得られる抵抗値の検査範
囲を設定する。この検査範囲は、被検査回路基板３２を
接続した状態で、各抵抗体にかかる 電圧値から演算され
た抵抗値の適正な範囲である。そして、制御装置１０内
の記憶装置から、今回測定する被検査回路基板３２の各
端部４１〜４８での予め定められた値である標準抵抗値
を取り込む。
コネクタ３４の開放端子に接続される測定抵抗体Ｒ3，
Ｒ4，Ｒ7，Ｒ8の切替スイッチＳＷ3，ＳＷ4，ＳＷ7，Ｓ
Ｗ8を閉じ、その他の切替スイッチＳＷ1，ＳＷ2，Ｓ
Ｗ5，ＳＷ6は開いた状態でコネクタ部３０を被測定回路
基板３２のコネクタ部３４に接続する。そして、図３の
フローチャートに示すように、制御装置１０内のプログ
ラムにより、抵抗体Ｒ1〜Ｒ8及び、ＲX1，ＲX2の既知の
値に対して、実際の被検査回路基板３２について、以下
に述べる抵抗測定を行った際に得られる抵抗値の検査範
囲を設定する。この検査範囲は、被検査回路基板３２を
接続した状態で、各抵抗体にかかる 電圧値から演算され
た抵抗値の適正な範囲である。そして、制御装置１０内
の記憶装置から、今回測定する被検査回路基板３２の各
端部４１〜４８での予め定められた値である標準抵抗値
を取り込む。
【００１２】次に、スイッチコントロール回路１８によ
りスイッチマトリクス１６を作動させ、各端子４１〜４
８の電圧値を順次ボルテージホロワ５０を介してＡ／Ｄ
コンバータ５２に送る。Ａ／Ｄコンバータ５２では、各
端子部４１〜４８の電圧値をデジタルデータに変換し、
そのデータを基に、今測定したＲX1，ＲX2，Ｒ3，Ｒ4，
Ｒ7，Ｒ8の抵抗値を演算する。この演算データと、上記
標準値のデータとを比較し、上記検査範囲内にあるか否
かを表示装置１２に表示する。
りスイッチマトリクス１６を作動させ、各端子４１〜４
８の電圧値を順次ボルテージホロワ５０を介してＡ／Ｄ
コンバータ５２に送る。Ａ／Ｄコンバータ５２では、各
端子部４１〜４８の電圧値をデジタルデータに変換し、
そのデータを基に、今測定したＲX1，ＲX2，Ｒ3，Ｒ4，
Ｒ7，Ｒ8の抵抗値を演算する。この演算データと、上記
標準値のデータとを比較し、上記検査範囲内にあるか否
かを表示装置１２に表示する。
【００１３】ここで、端子４１，４２，４５，４６は、
抵抗ＲX1，ＲX2又は抵抗なしの状態と基準ＲSとで電源
電圧が分圧された値がＡ／Ｄ変換され、その抵抗値と標
準値とが比較される。また、開放端子４２，４３，４
７，４８は、測定抵抗体Ｒ3，Ｒ4，Ｒ7，Ｒ8と、基準抵
抗体ＲSとにより分圧された電圧を基に測定抵抗体Ｒ3，
Ｒ4，Ｒ7，Ｒ8の抵抗値を演算され、その演算結果と標
準値とを比較する。これによって、例えば、端子同士が
短絡していたりすると、ＲSにかかる電圧も変化し、標
準値よりかけ離れた値となり、不良であることが分か
る。
抵抗ＲX1，ＲX2又は抵抗なしの状態と基準ＲSとで電源
電圧が分圧された値がＡ／Ｄ変換され、その抵抗値と標
準値とが比較される。また、開放端子４２，４３，４
７，４８は、測定抵抗体Ｒ3，Ｒ4，Ｒ7，Ｒ8と、基準抵
抗体ＲSとにより分圧された電圧を基に測定抵抗体Ｒ3，
Ｒ4，Ｒ7，Ｒ8の抵抗値を演算され、その演算結果と標
準値とを比較する。これによって、例えば、端子同士が
短絡していたりすると、ＲSにかかる電圧も変化し、標
準値よりかけ離れた値となり、不良であることが分か
る。
【００１４】この実施例によれば、被測定回路基板３２
の各端子部での抵抗値を、コネクタ部３０，３４を接続
するだけで、自動的に迅速に検査することができるもの
である。
の各端子部での抵抗値を、コネクタ部３０，３４を接続
するだけで、自動的に迅速に検査することができるもの
である。
【００１５】尚、この抵抗検査装置において、各測定抵
抗体や被測定回路の抵抗値の等の実際の測定データを基
に、複数の被測定回路の中心値を標準値に設定し、その
標準値から大きく離れたデータを不良とするようにして
も良い。
抗体や被測定回路の抵抗値の等の実際の測定データを基
に、複数の被測定回路の中心値を標準値に設定し、その
標準値から大きく離れたデータを不良とするようにして
も良い。
【００１６】
【発明の効果】この発明の抵抗検査装置は、簡単な構成
で、確実に精確な抵抗測定データが得られ、迅速に検査
を行うことができるものである。
で、確実に精確な抵抗測定データが得られ、迅速に検査
を行うことができるものである。
【図１】この発明の一実施例の抵抗検査装置を示す回路
図である。
図である。
【図２】この実施例の抵抗検査装置のブロック図であ
る。
る。
【図３】この実施例の抵抗検査装置の動作を示すフロー
チャートである。
チャートである。
１０ 制御装置 １６ スイッチマトリクス ３０，３４ コネクタ部 ３２ 被測定回路 ２０ 測定抵抗体回路 ４１〜４８ 端子部 ５２ Ａ／Ｄコンバータ
Claims (2)
- 【請求項１】 抵抗値が既知の複数の測定抵抗体と、こ
の測定抵抗体に各々接続したスイッチマトリクスと、上
記複数の測定抵抗体に各々接続するとともに被測定回路
基板のコネクタ部に接続される複数の端子部と、上記ス
イッチマトリクスの出力に接続され抵抗値が既知の基準
抵抗体と、この基準抵抗体にかかる電圧値をＡ／Ｄ変換
するＡ／Ｄコンバータと、上記スイッチマトリクスを切
り替える制御回路と、被測定回路に上記測定抵抗体を接
続した時の抵抗値データ及び被測定回路のコネクタ部で
の各抵抗値の標準値を記憶したデータ記憶部と、被測定
回路に上記測定抵抗体を接続した状態で、上記スイッチ
マトリクスを切り替えて各端子部毎に対応する上記基準
抵抗体にかかる電圧のＡ／Ｄ変換データから得られる各
抵抗データと上記データ記憶部の対応する各標準値とを
比較する比較手段とから成ることを特徴とする抵抗検査
装置。 - 【請求項２】 上記被測定回路基板の回路に接続された
上記端子部には上記測定抵抗体は接続せず、被測定回路
基板のコネクタ部の開放端子に上記測定抵抗体を接続し
たことを特徴とする請求項１記載の抵抗検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4181889A JP2983109B2 (ja) | 1992-06-15 | 1992-06-15 | 抵抗検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4181889A JP2983109B2 (ja) | 1992-06-15 | 1992-06-15 | 抵抗検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05346447A true JPH05346447A (ja) | 1993-12-27 |
| JP2983109B2 JP2983109B2 (ja) | 1999-11-29 |
Family
ID=16108657
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4181889A Expired - Fee Related JP2983109B2 (ja) | 1992-06-15 | 1992-06-15 | 抵抗検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2983109B2 (ja) |
-
1992
- 1992-06-15 JP JP4181889A patent/JP2983109B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2983109B2 (ja) | 1999-11-29 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |