JPH0580093A - 電子回路のインピーダンス検査装置 - Google Patents

電子回路のインピーダンス検査装置

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JPH0580093A
JPH0580093A JP3239113A JP23911391A JPH0580093A JP H0580093 A JPH0580093 A JP H0580093A JP 3239113 A JP3239113 A JP 3239113A JP 23911391 A JP23911391 A JP 23911391A JP H0580093 A JPH0580093 A JP H0580093A
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JP
Japan
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voltage
circuit
electrodes
current
circuit board
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JP3239113A
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English (en)
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Hiroo Ito
裕生 伊藤
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【構成】 ゆるやかな交流波形の電圧を発生す印加電圧
発生回路によって電圧を印加し、その電圧値を計測開始
の信号とする。 【効果】 安定で電気的ストレスがなく、しかも高速に
インピーダンスの検査を行うことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、回路素子を組合わせた
電子回路の接続状態を検査するために、回路のインピー
ダンスを調べる電子回路のインピーダンス検査装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】図3は従来の電子回路のインピーダンス
検査装置の一例を示すブロック図である。
【0003】回路素子を組合わせた電子回路の接続状態
を検査するために、回路のインピーダンスを調べるため
の従来の電子回路のインピーダンス検査装置は、図3に
示すように、D/A変換回路31で発生した電圧を電源
回路28で受け、電源回路28からワークホルダ1に保
持した非検査体の電子回路基板(回路基板)2に対して
規定の電圧を印加し、この電圧によって回路基板2の内
部抵抗32に流れる還流電流を電流電圧変換回路29に
よって電圧に変換し、その変換した電圧をA/D変換回
路30において数値データに変換している。このとき電
源回路28は、常時電圧を発生しており、回路基板2に
対する電圧の印加は、電極3を上下に移動させて回路基
板2と機械的に接触させたり分離したりすることによっ
て行っている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
のインピーダンス検査装置は、電圧の印加を電極を回路
基板に機械的に接触させることによって行っているた
め、印加電圧はステップ状になる。従って、回路を構成
している配線等のイピーダンス成分により、本来印加し
たい電圧以外の過大な電圧が印加されることがあり、こ
のため、電子回路の構成要素の半導体装置を劣化させる
という欠点を有している。また、電圧を比較検出する回
路が1回路しかなく、しかも印加電圧が直流電圧である
ため、複数の動作点の電圧を調べるためには、複数回の
電圧印加を行わなければならないため、その間に多大の
待時間が生ずるという欠点も有している。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の電子回路のイン
ピーダンス検査装置は、非検査体の電子回路基板と電気
的に接触する2個の電極と、前記2個の電極のうちの対
応する1個の電極を保持して前記電子回路基板上の任意
の位置に移動しかつ上下方向に移動可能な2個のプロー
ブ機構部と、前記2個の電極間の電位を計測する第一の
緩衝増幅器と、前記2個の電極間を流れる電流を電圧に
変換する電流観測抵抗と、前記電流観測抵抗の両端に発
生する電位を計測する第二の緩衝増幅器と、前記電子回
路基板に対して印加するためのゆるやかな交流波形の電
圧を発生する印加電圧発生回路と、前記印加電圧発生回
路によって前記2個の電極間に印加された電圧を検出す
る電圧検出回路と、前記2個の電極間を流れた電流値を
規格値と比較する電流値比較回路と、前記プローブ機構
部および前記印加電圧発生回路および前記電圧検出回路
および前記電流比較回路を協調して動作させるための制
御信号を発生する制御信号発生回路と、プログラムおよ
びデータを一時的に格納する主記憶装置と、前記プログ
ラムおよび前記データを記憶しておく外部記憶装置と、
出力印字を行うプリンタと、操作者とのインターフェイ
スを司るコンソールと、前記外部記憶装置および前記プ
リンタおよび前記コンソールの動作の制御を行う入出力
制御装置と、前記プログラムの実行を行うCPUとを備
えている。
【0006】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
【0007】図1は本発明の一実施例を示すブロック図
である。
【0008】図1において、2個の電極3および4は、
それぞれプローブ機構部6および5によって保持され
て、ワークホルダ1に保持した非検査体の電子回路基板
(回路基板)2の観測点に接触している。ゆるやかな交
流波形の電圧を発生す印加電圧発生回路11は、その発
生した電圧を電流観測抵抗9を経由して回路基板2に印
加する。このとき、印加電圧発生回路11の高電位端子
11aからプローブ機構部6および電極3および回路基
板2および電極4およびプローブ機構部5および電流観
測抵抗9を経て印加電圧発生回路11の低電位端子11
bまで一巡する電流が発生する。印加電圧発生回路11
は、三角波や正弦波や対数波や階段波等の種々の波形の
パルス波を発生でき、必要に応じてそれらのうちの所望
の波形を任意に選択できる機能を有している。従って、
非検査体の回路基板2の特性に合せて適当な波形を選択
することにより、測定誤差が少い条件で計測することが
できる。
【0009】上述の電流は、電流観測抵抗9の両端に電
圧を生じさせる。この電圧を乱さないようにするため、
電流観測抵抗9の両端に緩衝増幅器10を接続し、この
緩衝増幅器10の出力信号を電流値比較回路12に入力
している。また、電極3および4の間の電圧を乱さない
ようにするため、プローブ機構部5および6の間に緩衝
増幅器7を接続し、この緩衝増幅器7の出力信号を電圧
検出回路8に入力している。
【0010】図2は、電圧検出回路8および電流値比較
回路12の詳細を示すブロック図である。
【0011】図2において、緩衝増幅器7の出力信号
は、電圧検出回路8の複数のコンパレータ23に分配さ
れる。一方D/Aコンバータ22は、データバス13を
介して入力した情報によって比較電圧を発生し、それを
比較用の基準電圧としてコンパレータ23に対して送出
する。コンパレータ23は、緩衝増幅器7の出力信号と
D/Aコンバータ22からの基準電圧とを入力し、緩衝
増幅器7の出力信号の電圧が基準電圧を超えたときにパ
ルス発生器24に対して信号を出力する。パルス発生器
24は、入力した信号を整形して1個のパルス波とし、
これをストローブ信号21として電流値比較回路12に
送出する。
【0012】電流値比較回路12は、緩衝増幅器10の
出力信号を入力してそれを複数のコンパレータ26aお
よび26bに分配する。一方D/Aコンバータ25aお
よび25bは、データバス13を介して入力した情報に
よってそれぞれ上限および下限の電圧値を発生し、それ
ぞれをコンパレータ26aおよび26bの比較用の電圧
として供給する。コンパレータ26aおよび26bは、
それぞれ緩衝増幅器10の出力信号とD/Aコンバータ
25aおよび25bからの比較用電圧とを入力し、それ
らを比較してその結果をそれぞれレジスタ27aおよび
27bに出力し、そこで一時的に記憶する。
【0013】再び図1を参照して本実施例の構成および
動作について説明する。
【0014】電流値比較回路12がレジスタ27aおよ
び27bに一時的に記憶した情報は、データバス13を
介して主記憶装置15に蓄積し、最終的には外部記憶装
置17に保存する。制御信号発生回路20は、プローブ
機構部5おおび6に対して上下方向および左右方向に移
動させるパルス信号を印加する。電圧検出回路8および
電流値比較回路12に対しては、比較電圧値をD/Aコ
ンバータ22ならびにD/Aコンバータ25aおよび2
5bに書込むタイミングを指示するタイミングパルスを
印加する。印加電圧発生回路11に対しては、発生する
電圧の諸元(波形の種類や電圧値等)をデータバス13
を介して取込むタイミングを指示するタイミングパルス
を印加し、また発生した電圧を出力する時刻を指示する
パルス信号を印加する。
【0015】主記憶装置15は、プログラムおよびデー
タを一時的に格納する。外部記憶装置17は、プログラ
ムおよびデータを記憶して保存しておく。プリンタ19
は、情報の出力印字を行う。コンソール18は、操作者
とのインターフェイスを司る。入出力制御装置16は、
外部記憶装置17およびプリンタ19およびコンソール
18の動作の制御を行う。CPU14は、プログラムの
実行を行う。
【0016】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のインピー
ダンス検査装置は、ゆるやかな交流波形の電圧を発生す
印加電圧発生回路によって電圧を印加し、その電圧値を
計測開始の信号とするため、安定で電気的ストレスがな
く、しかも高速にインピーダンスの検査を行うことがで
きるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図2】図1の実施例の電圧検出回路および電流比較回
路の詳細を示すブロック図である。
【図3】従来の電子回路のインピーダンス検査装置の一
例を示すブロック図である。
【符号の説明】
1 ワークホルダ 2 電子回路基板(回路基板) 3 電極 4 電極 5 プローブ機構部 6 プローブ機構部 7 緩衝増幅器 8 電圧検出回路 9 電流観測抵抗 10 緩衝増幅器 11 印加電圧発生回路 11a 高電位端子 11b 低電位端子 12 電流値比較回路 13 データバス 14 CPU 15 主記憶装置 16 入出力制御装置 17 外部記憶装置 18 コンソール 19 プリンタ 20 制御信号発生回路 21 ストローブ信号 22 D/Aコンバータ 23 コンパレータ 24 パルス発生器 25a D/Aコンバータ 25b D/Aコンバータ 26a コンパレータ 26b コンパレータ 27a レジスタ 27b レジスタ 28 電源回路 29 電流電圧変換回路 30 A/D変換回路 31 D/A変換回路 32 内部抵抗

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 非検査体の電子回路基板と電気的に接触
    する2個の電極と、前記2個の電極のうちの対応する1
    個の電極を保持して前記電子回路基板上の任意の位置に
    移動しかつ上下方向に移動可能な2個のプローブ機構部
    と、前記2個の電極間の電位を計測する第一の緩衝増幅
    器と、前記2個の電極間を流れる電流を電圧に変換する
    電流観測抵抗と、前記電流観測抵抗の両端に発生する電
    位を計測する第二の緩衝増幅器と、前記電子回路基板に
    対して印加するための交流波形の電圧を発生する印加電
    圧発生回路と、前記印加電圧発生回路によって前記2個
    の電極間に印加された電圧を検出する電圧検出回路と、
    前記2個の電極間を流れる電流値を規格値と比較する電
    流比較回路と、前記プローブ機構部および前記印加電圧
    発生回路および前記電圧検出回路および前記電流比較回
    路を協調して動作させるための制御信号を発生する制御
    信号発生回路とを備えることを特徴とする電子回路のイ
    ンピーダンス検査装置。
  2. 【請求項2】 非検査体の電子回路基板と電気的に接触
    する2個の電極と、それぞれ前記2個の電極のうちの対
    応する1個の電極を保持して前記電子回路基板上の任意
    の位置に移動しかつ上下方向に移動可能な2個のプロー
    ブ機構部と、前記2個の電極間の電位を計測する第一の
    緩衝増幅器と、前記2個の電極間を流れる電流を電圧に
    変換する電流観測抵抗と、前記電流観測抵抗の両端に発
    生する電位を計測する第二の緩衝増幅器と、前記電子回
    路基板に対して印加するための交流波形の電圧を発生す
    る印加電圧発生回路と、前記印加電圧発生回路によって
    前記2個の電極間に印加された電圧を検出する電圧検出
    回路と、前記2個の電極間を流れた電流値を規格値と比
    較する電流比較回路と、前記プローブ機構部および前記
    印加電圧発生回路および前記電圧検出回路および前記電
    流比較回路を協調して動作させるための制御信号を発生
    する制御信号発生回路と、プログラムおよびデータを一
    時的に格納する主記憶装置と、前記プログラムおよび前
    記データを記憶しておく外部記憶装置と、出力印字を行
    うプリンタと、操作者とのインターフェイスを司るコン
    ソールと、前記外部記憶装置および前記プリンタおよび
    前記コンソールの動作の制御を行う入出力制御装置と、
    前記プログラムの実行を行うCPUと、前記CPUおよ
    び前記部記憶装置および前記入出力制御装置および前記
    制御信号発生回路および前記印加電圧発生回路および前
    記電圧検出回路および前記電流比較回路間のデータの伝
    達を行うデータバスとを備えることを特徴とする電子回
    路のインピーダンス検査装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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