JP2001091562A - 回路基板検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 絶縁検査を短時間で精度良く行う。 【解決手段】 導体パターンＰ１，Ｐ２間に検査電圧を
印加する検査用プローブ３ａ，３ｂと、複数の入力レン
ジを備え、切替制御された各入力レンジ毎の変換率で検
査用プローブ３ａ，３ｂ間の電流を電圧変換するレンジ
回路１２と、入力レンジを大電流用の入力レンジから小
電流用の入力レンジに切替制御する制御回路１１と、導
体パターンＰ１，Ｐ２間の絶縁抵抗値を演算する演算回
路１４とを備え、導体パターン間の絶縁良否を判定する
回路基板検査装置において、制御回路１１は、良否判定
に合致する入力レンジよりも大電流用の入力レンジのい
ずれかに切替制御した際に、検査用プローブ３ａ，３ｂ
間を流れる電流の電流値が、その入力レンジにおける定
格電流範囲の下限値よりも小電流の基準値に低下したと
きに、レンジ回路１２の入力レンジを小電流用の入力レ
ンジに切り替える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、検査対象としての
一対の導体パターン間に一対の検査用プローブを介して
検査電圧を印加した状態で、その一対の検査用プローブ
を流れる電流をレンジ回路によって電圧変換し、その変
換した電圧値から演算した絶縁抵抗値に基づいて絶縁検
査を行う回路基板検査装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】この種の回路基板検査装置として、図３
に示す検査装置２１が従来から知られている。この検査
装置２１は、制御装置２２と、検査用のプローブ３ａ，
３ｂとを備えている。この場合、制御装置２２は、絶縁
検査の際に各種制御を実行する制御部３１と、検査電圧
を出力する直流電源１５と、プローブ３ａ，３ｂ間を流
れる電流の電流値を測定する電流計３２とを備えてい
る。この場合、電流計３２は、切替制御可能な複数の入
力レンジを備え、その入力レンジが制御部３１によって
切替制御された際には、その各入力レンジ毎に予め規定
された所定の変換率でプローブ３ａ，３ｂ間を流れる電
流ＩO を電圧変換し、その変換した電圧データＤV を制
御部３１に出力する。一方、プローブ３ａ，３ｂは、接
触型プローブであって、検査対象の回路基板ＰＣに対し
てＸ，ＹおよびＺ（上下）方向に移動可能に構成される
と共に、絶縁検査時には、回路基板ＰＣ上に形成された
導体パターンＰ１，Ｐ２に接触させられる。

【０００３】この検査装置２１では、絶縁検査時には、
まず、プローブ３ａ，３ｂが、検査対象の導体パターン
Ｐ１，Ｐ２にそれぞれ接触させられる。次いで、プロー
ブ３ａ，３ｂを介して、直流電源１５の検査電圧を導体
パターンＰ１，Ｐ２間に印加する。続いて、電流計３２
が、プローブ３ａ，３ｂ間を流れる電流を電流−電圧変
換した後、電圧データＤV を制御部３１に出力する。次
いで、制御部３１が、電圧データＤV 、および検査電圧
の電圧値に基づいて、導体パターンＰ１，Ｐ２間の絶縁
抵抗値を演算し、その絶縁抵抗値に基づいて絶縁良否を
判定する。

【０００４】この場合、導体パターンＰ１，Ｐ２間の絶
縁抵抗値が例えば１００ＭΩ程度の高抵抗のときに絶縁
状態が良好と判定される。したがって、絶縁良否を精度
良く判定するためには、制御部３１は、電流計３２の入
力レンジを分解能が最も細かい小電流用の入力レンジに
切替制御し、その際に電流計３２から出力される電圧デ
ータＤV に基づいて絶縁良否を判定する。その一方、導
体パターンＰ１，Ｐ２間には、一般的には、ある程度の
容量が存在する。また、コンデンサのオープンテストを
兼用する場合、そのコンデンサが導体パターンＰ１，Ｐ
２間に接続されていることもある。このため、両導体パ
ターンＰ１，Ｐ２間に検査電圧を印加した場合、通常、
印加直後には、大電流の突入電流が流れ、時間の経過に
伴い、その電流値が徐々に減少する。したがって、検査
電圧の印加直後の状態では、電流計３２の破損を防止す
るために、制御部３１は、制御信号ＳS を出力すること
により、電流計３２の入力レンジを最も分解能が粗い大
電流測定用の入力レンジに切替制御し、電流ＩO の電流
値がその大電流測定用の入力レンジの定格電流範囲（例
えば、定格電流が１００ｍＡのときには１２０ｍＡ〜１
０ｍＡ）の下限値（例えば、この例では１０ｍＡ）より
も低下したときに制御信号ＳS を出力して、その入力レ
ンジよりも小電流用の入力レンジに切替制御する。これ
らの切替制御を繰り返し行うことにより、いわゆるオー
トレンジ機能が実現され、電流ＩO の電流値の読取精度
が向上されると共に、絶縁検査に最適な入力レンジが複
数の入力レンジから自動的に選択される。

【０００５】したがって、このオートレンジ機能によっ
て電流計３２の入力レンジが切替制御される場合、最初
に、最も大電流用の入力レンジＡに切替制御されるた
め、図４に示すように、電流ＩO の電流値が検査電圧を
印加した直後の時間ｔ１１の時点で最も大きくなる。次
いで、電流ＩO の電流値が時間の経過と共に減少し、そ
の入力レンジＡの定格電流範囲の下限値ＩALまで低下し
た時間ｔ１２の時点では、制御部３１が、制御信号ＳS
を出力することにより、次に大電流用の入力レンジＢに
レンジダウンさせる。やがて、時間ｔ１３の時点で入力
レンジＢの定格電流範囲の下限値ＩBLまで低下すると、
制御部３１が、制御信号ＳS を出力することにより、や
や小電流用の入力レンジＣにレンジダウンさせる。次い
で、時間ｔ１４の時点で入力レンジＣの定格電流範囲の
下限値ＩCLまで低下すると、制御部３１は、制御信号Ｓ
S を出力することにより、最も小電流用の入力レンジＤ
にレンジダウンさせる。この後、導体パターンＰ１，Ｐ
２間の容量が電流ＩO によって充電されるため、電流Ｉ
O の電流値は、時間ｔ１５の時点で、リーク電流程度の
電流値に安定する。この際には、制御部３１が、その入
力レンジＤに切替制御した状態の電流計３２から出力さ
れる電圧データＤV 、および検査電圧の電圧値に基づい
て絶縁抵抗値を演算した後、その絶縁抵抗値に基づいて
絶縁良否を最終的に判定する。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところが、従来の検査
装置２１には、以下の問題点がある。すなわち、従来の
検査装置２１では、電流ＩO の電流値が各入力レンジの
定格電圧範囲の下限値まで低下したときに、制御部３１
が電流計３２の入力レンジを１つずつレンジダウンさせ
ている。この場合、小電流用の入力レンジの等価内部抵
抗のほうが大電流用の入力レンジの等価内部抵抗よりも
高抵抗となる。このため、電流計３２の入力レンジがよ
り小電流用の入力レンジであればあるほど、導体パター
ンＰ１，Ｐ２間の容量を充電する充電電流が小電流に電
流制限される。したがって、検査電圧の印加時に大電流
用の入力レンジに固定されている場合と比較して、導体
パターンＰ１，Ｐ２間の容量が完全に充電されるまでに
長時間を要する。この結果、最終的に絶縁抵抗値を測定
するのに適した入力レンジに切り替えられるまでに長時
間を必要としてしまう。このため、従来の検査装置２１
には、各導体パターンＰ１，Ｐ２間についての絶縁検査
に時間を要する結果、回路基板ＰＣ全体としての検査時
間が非常に長時間化し、これにより検査コストの高騰を
招いているという問題点がある。

【０００７】なお、上記したように、検査電圧の印加時
に、大電流用の入力レンジに固定しておくこともでき
る。この場合には、導体パターンＰ１，Ｐ２間の容量を
素早く充電することは可能である。しかし、かかる場
合、絶縁抵抗値を正確に測定することができないため、
絶縁検査自体の信頼性が低下するという問題点がある。

【０００８】本発明は、かかる問題点に鑑みてなされた
ものであり、絶縁検査を短時間で精度良く行うことが可
能な回路基板検査装置を提供することを主目的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成すべく請
求項１記載の回路基板検査装置は、検査対象としての一
対の導体パターン間に検査電圧を印加する一対の検査用
プローブと、切替制御可能な複数の入力レンジを備える
と共に切替制御された各入力レンジ毎に予め規定された
所定の変換率で一対の検査用プローブ間を流れる電流を
電圧変換するレンジ回路と、検査電圧の印加時にレンジ
回路の入力レンジを大電流用の入力レンジから小電流用
の入力レンジに向けて順に切替制御する制御回路と、電
圧変換された電圧の電圧値に基づいて一対の導体パター
ン間の絶縁抵抗値を演算する演算回路とを備え、演算さ
れた絶縁抵抗値に基づいて、その一対の導体パターン間
の絶縁良否を判定する回路基板検査装置において、制御
回路は、良否判定に合致する入力レンジよりも大電流用
の入力レンジのいずれか１つに切替制御した際に、一対
の検査用プローブ間を流れる電流の電流値が、その入力
レンジにおける定格電流範囲の下限値よりも小電流の所
定の基準値に低下したときに、レンジ回路の入力レンジ
を小電流用の入力レンジに向けて切り替える第１の切替
制御を行うことを特徴とする。なお、本発明における
「絶縁検査」とは、導体パターン間の絶縁状態について
の検査、および一対の導体パターン間に半田付けまたは
形成されたコンデンサについてのオープン検査を含む概
念である。

【００１０】請求項２記載の回路基板検査装置は、検査
対象としての一対の導体パターン間に検査電圧を印加す
る一対の検査用プローブと、切替制御可能な複数の入力
レンジを備えると共に切替制御された各入力レンジ毎に
予め規定された所定の変換率で一対の検査用プローブ間
を流れる電流を電圧変換するレンジ回路と、検査電圧の
印加時にレンジ回路の入力レンジを大電流用の入力レン
ジから小電流用の入力レンジに向けて順に切替制御する
制御回路と、電圧変換された電圧の電圧値に基づいて一
対の導体パターン間の絶縁抵抗値を演算する演算回路と
を備え、演算された絶縁抵抗値に基づいて、その一対の
導体パターン間の絶縁良否を判定する回路基板検査装置
において、制御回路は、良否判定に合致する入力レンジ
よりも大電流用の入力レンジのいずれか１つに切替制御
した際に、一対の検査用プローブ間を流れる電流の電流
値が、その入力レンジにおける定格電流範囲の下限値よ
りも小電流であって、その電流値の変化量が所定変化量
を下回ったときに、レンジ回路の入力レンジを小電流用
の入力レンジに向けて切り替える第１の切替制御を行う
ことを特徴とする。なお、本発明における「所定変化
量」については、各入力レンジ毎に異なる変化量に規定
してもよいし、すべての入力レンジにおいて同一変化量
に規定してもよい。

【００１１】請求項３記載の回路基板検査装置は、請求
項１または２記載の回路基板検査装置において、制御回
路は、良否判定に合致する入力レンジよりも大電流用の
各入力レンジに切替制御したすべての際に、第１の切替
制御を行うことを特徴とする。

【００１２】

【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して、本発
明に係る回路基板検査装置の好適な実施の形態について
説明する。なお、従来の検査装置２１および検査対象と
同一の構成要素については同一の符号を付して重複した
説明を省略する。

【００１３】検査装置１は、ベアボード（プリント基板
単体）やＩＣパッケージの検査を実行可能に構成されて
いる。具体的には、検査装置１は、図１に示すように、
制御装置２、および検査用のプローブ３ａ，３ｂを備え
ている。この場合、制御装置２は、制御回路１１、本発
明におけるレンジ回路に相当するレンジ抵抗回路１２、
Ａ／Ｄ変換回路１３、演算回路１４および直流電源１５
を備えている。制御回路１１は、制御信号ＳS を出力し
てのレンジ抵抗回路１２内のレンジ抵抗の切り替えによ
る入力レンジの切替制御、および演算回路１４から出力
される測定データＤM に基づいての絶縁良否の判定処理
などを実行する。レンジ抵抗回路１２は、制御信号ＳS
によって切替制御可能な複数のレンジ抵抗を備えて構成
され、このレンジ抵抗が切り替えられることにより入力
レンジが切替制御される。また、レンジ抵抗回路１２
は、入力された制御信号ＳS に応じて、例えば、１００
ｍＡ以下、１０ｍＡ以下、１ｍＡ以下、および１００μ
Ａ以下の各入力レンジのいずれか１つに切替制御され、
切替制御された入力レンジ毎に予め規定された所定の変
換率で、プローブ３ａ，３ｂ間を流れる電流ＩO を電圧
変換することにより電圧信号ＳV を生成する。また、レ
ンジ抵抗回路１２では、各入力レンジの定格電流範囲が
定格電流（例えば１００ｍＡ以下の入力レンジであれば
１００ｍＡ）の例えば１．２倍〜１／１０倍までと規定
されており、その定格電圧範囲内のときには、電流ＩO
の電流波形をクリップさせることなく高精度で電圧変換
する。

【００１４】また、Ａ／Ｄ変換回路１３は、レンジ抵抗
回路１２から出力される電圧信号ＳV をアナログ−ディ
ジタル変換することにより電圧データＤV を生成する。
演算回路１４は、Ａ／Ｄ変換回路１３から出力される電
圧データＤV 、および直流電源１５から出力される検査
電圧の電圧値に基づいて導体パターンＰ１，Ｐ２間の絶
縁抵抗値を演算し、その演算結果である測定データＤM
を出力する。直流電源１５は、例えば、ＤＣ１００Ｖの
検査電圧を生成して出力する。

【００１５】次に、検査装置１における絶縁検査処理に
ついて、図２を参照して説明する。

【００１６】この検査装置１では、まず、プローブ３
ａ，３ｂが、検査対象の導体パターンＰ１，Ｐ２にそれ
ぞれ接触させられる。次いで、制御回路１１が、制御信
号ＳSを出力することにより、レンジ抵抗回路１２の入
力レンジを最も分解能が粗く、かつ大電流用入力レンジ
である１００ｍＡ用の入力レンジＡに切替制御する。続
いて、制御回路１１は、同図に示す時間ｔ１の時点で、
直流電源１５から検査電圧を出力させることにより、プ
ローブ３ａ，３ｂを介して導体パターンＰ１，Ｐ２間に
検査電圧を印加させる。この際には、レンジ抵抗回路１
２内のレンジ抵抗の抵抗値に応じて制限される電流値の
電流ＩO がプローブ３ａ，３ｂ間を流れる。この場合、
レンジ抵抗回路１２は、電流ＩO を電流−電圧変換する
ことにより生成した電圧信号ＳV をＡ／Ｄ変換回路１３
に出力する。次いで、Ａ／Ｄ変換回路１３が、電圧信号
ＳV をアナログ−ディジタル変換することにより生成し
た電圧データＤV を制御回路１１に出力する。

【００１７】次に、制御回路１１は、電流ＩO の電流値
が、レンジ抵抗回路１２の入力レンジＡにおける定格電
流範囲の下限値ＩAL（この例では１０ｍＡ）よりも低電
流である所定の基準値ＩAR（例えば、２ｍＡ）まで低下
したか否かを電圧データＤVに基づいて監視する。時間
ｔ２の時点で電流ＩO が基準値ＩARまで低下すると、制
御回路１１は、制御信号ＳS を出力することによって、
レンジ抵抗回路１２の入力レンジを１０ｍＡ用の入力レ
ンジＢに切替制御する。引き続き、制御回路１１は、入
力レンジＢにおける定格電流範囲の下限値ＩBL（この例
では１ｍＡ）よりも低電流である所定の基準値ＩBR（例
えば、０．２ｍＡ）まで低下したか否かを監視する。時
間ｔ３の時点で電流ＩO が基準値ＩBRまで低下すると、
制御回路１１は、制御信号ＳS を出力することによっ
て、レンジ抵抗回路１２の入力レンジを１ｍＡ用の入力
レンジＣに切替制御する。

【００１８】同様にして、制御回路１１は、レンジ抵抗
回路１２の入力レンジＣにおける定格電流範囲の下限値
ＩCL（この例では１００μＡ）よりも低電流である所定
の基準値ＩCR（例えば、２０μＡ）まで低下したか否か
を監視する。時間ｔ４の時点で電流ＩO が基準値ＩCRま
で低下すると、制御回路１１は、制御信号ＳS を出力す
ることによって、レンジ抵抗回路１２の入力レンジを、
最も分解能が細かく、かつ絶縁抵抗値の測定に適した低
電流用入力レンジである１００μＡ用の入力レンジＤに
切替制御する。次いで、制御回路１１は、この状態で電
流ＩO の変化量が所定変化量（例えば、１ｍＡ／Ｓ）を
下回ったか否かを監視する。時間ｔ５の時点で下回った
ときには、導体パターンＰ１，Ｐ２間の容量がほぼ満充
電状態のため、制御回路１１は、演算回路１４に対して
絶縁抵抗値の演算を開始させる。この際には、演算回路
１４は、Ａ／Ｄ変換回路１３から出力される電圧データ
ＤV 、および検査電圧の電圧値に基づいて、導体パター
ンＰ１，Ｐ２間の絶縁抵抗値を演算し、その演算結果で
ある測定データＤM を制御回路１１に出力する。続い
て、制御回路１１は、絶縁抵抗値が例えば１００ＭΩの
基準値以上か否かを判別し、基準値以上のときには、導
体パターンＰ１，Ｐ２の絶縁状態が良好であると判別す
る。制御回路１１は、他のすべての一対の導体パターン
間について、以上の処理を行い、すべての一対の導体パ
ターン間の絶縁状態が良好であると判別したときには、
回路基板ＰＣが良品回路基板であると判定する。

【００１９】なお、制御回路１１は、電流ＩO の電流値
変化量が所定変化量を下回ったときには、レンジ抵抗回
路１２の入力レンジを切替制御する。例えば、導体パタ
ーンＰ１，Ｐ２間に絶縁不良が存在するときには、ある
程度の漏れ電流が電流ＩO として流れる。このため、電
流ＩO が各入力レンジの定格電流の下限値から、その入
力レンジの基準値（ＩAR，ＩBRまたはＩCR）までの範囲
内の電流値となるときがある。かかる場合、電流ＩO の
所定変化量を各入力レンジに対応させて予め制御回路１
１に記憶させておくことで、制御回路１１は、その入力
レンジに切替制御された際に、電流ＩO の電流値の変化
量が所定変化量を下回ったときに、低電流側の入力レン
ジに切替制御する。この際には、制御回路１１は、その
低電流側の入力レンジに切替制御した状態で測定された
絶縁抵抗値に基づいて、絶縁良否を判定する。この場合
にも、導体パターンＰ１，Ｐ２間の容量がより大電流の
電流ＩO で、かつより長時間充電されるため、その容量
が素早く充電される結果、より短時間で絶縁抵抗値を演
算可能な状態に到達する。

【００２０】このように、この検査装置１では、各入力
レンジの定格電流範囲内の下限値よりも低電流の基準値
（ＩAR，ＩBR，ＩCR）に達した時点で入力レンジを切替
制御する。このため、電流ＩO が各入力レンジの定格電
流範囲内の下限値に達した時点で入力レンジを切替制御
する方式と比較して、導体パターンＰ１，Ｐ２間の容量
がより大電流の電流ＩO で、かつより長時間充電され
る。したがって、図２の波線で示す検査装置２１におけ
る電流特性と比較して、その容量が素早く充電されるた
め、より短時間で絶縁抵抗値を演算可能な状態に到達す
る。この結果、一対の導体パターンＰ１，Ｐ１に対する
絶縁検査をより短時間で、かつ精度良く行うことができ
る。

【００２１】なお、本発明は、上記した実施の形態に示
した構成および動作に限定されず、適宜変更が可能であ
る。例えば、レンジ抵抗回路１２における各入力レンジ
の定格電流、定格電流範囲、およびその下限値などは本
発明の実施の形態で示した数値に限定されず、適宜変更
が可能である。また、検査装置１では、レンジ抵抗回路
１２の各入力レンジ毎に、その入力レンジに対応する基
準値よりも電流ＩO の電流値が下回ったときに低電流側
の入力レンジに切替制御しているが、例えば、最も大電
流用の入力レンジ（この例では１００ｍＡ）のときにの
みこの切替制御を行うなど、特定の１つまたは複数の入
力レンジに切替制御した際にのみ、この切替制御を行う
ように構成することもできる。さらに、レンジ抵抗回路
１２の回路自体も特に限定されず、各種方式のレンジ回
路を採用することができる。また、絶縁検査に加えて導
体パターンＰ１，Ｐ２間の導通検査やいわゆるオープン
／ショート検査を行えるように検査装置１を構成しても
よいのは勿論である。

【００２２】さらに、本発明における一対の検査用プロ
ーブは検査装置１における移動型のプローブ３ａ，３ｂ
に限定されない。例えば、数多くのプローブを導体パタ
ーンの形成位置に応じた位置に植設した治具側プローブ
であってもよい。この場合、通常、絶縁検査の際には、
１本のプローブを除いた他のすべてのプローブを共通接
続し、その１本のプローブと他のプローブ（両者が本発
明における一対の検査用プローブに相当する）との間の
絶縁抵抗値を測定することによって絶縁検査を実行す
る。その際に、１本のプローブが接触している導体パタ
ーンと、他のすべてのプローブが接触している数多くの
導体パターンとの間（これらが本発明における一対の導
体パターン間に相当する）の容量が数ｎＦ〜数百ｎＦに
なることがあり、かかる場合にも、本発明を適用するこ
とにより、絶縁検査をより短時間で終了することができ
る。

【００２３】また、本発明は、回路基板検査装置への適
用に限らず、電圧計、電力計、マルチメータおよび波形
記録計などの入力レンジを複数有する各種測定装置に適
用することもできる。

【００２４】

【発明の効果】以上のように、請求項１記載の回路基板
検査装置によれば、制御回路が、良否判定に合致する入
力レンジよりも大電流用の入力レンジのいずれか１つに
切替制御した際に、一対の検査用プローブ間を流れる電
流の電流値がその入力レンジにおける所定の基準値に低
下したときに第１の切替制御を行うことにより、その電
流の電流値が各入力レンジの定格電流範囲内の下限値に
達した時点で入力レンジを切替制御する方式と比較し
て、導体パターン間の容量に対して、より大電流の電流
で、より長時間充電することができるため、その容量を
素早く充電することができる。これにより、より短時間
で絶縁抵抗値を演算可能な状態に到達させることができ
る結果、一対の導体パターンに対する絶縁検査をより短
時間で、かつ精度良く行うことができる。

【００２５】また、請求項２記載の回路基板検査装置に
よれば、制御回路が、良否判定に合致する入力レンジよ
りも大電流用の入力レンジのいずれか１つに切替制御し
た際に、一対の検査用プローブ間を流れる電流の変化量
が所定変化量を下回ったときに第１の切替制御を行うこ
とにより、その電流の電流値が各入力レンジの定格電流
範囲内の下限値に達した時点で入力レンジを切替制御す
る方式と比較して、導体パターン間の容量に対して、よ
り大電流の電流で、より長時間充電することができるた
め、その容量を素早く充電することができる。これによ
り、より短時間で絶縁抵抗値を演算可能な状態に到達さ
せることができる結果、一対の導体パターンに対する絶
縁検査をより短時間で、かつ精度良く行うことができ
る。

【００２６】さらに、請求項３記載の回路基板検査装置
によれば、制御回路が、良否判定に合致する入力レンジ
よりも大電流用の各入力レンジに切替制御したすべての
際に第１の切替制御を行うことにより、最も早く絶縁抵
抗値を演算可能な状態に到達させることができる結果、
一対の導体パターンに対する絶縁検査を最も短時間で終
了することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態に係る検査装置１の構成を
示すブロック図である。

【図２】検査装置１および検査装置２１による絶縁検査
時における電流ＩO の経過時間に対する電流値の特性を
示す電流特性図である。

【図３】従来の検査装置２１のブロック図である。

【図４】検査装置２１による絶縁検査時における電流Ｉ
O の経過時間に対する電流値の特性を示す電流特性図で
ある。

【符号の説明】

１ 検査装置 ３ａ，３ｂ プローブ １１ 制御回路 １２ レンジ抵抗回路 １４ 演算回路 １５ 直流電源 ＩO 電流 Ｐ１，Ｐ２ 導体パターン ＰＣ 回路基板

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 検査対象としての一対の導体パターン間
   に検査電圧を印加する一対の検査用プローブと、切替制
   御可能な複数の入力レンジを備えると共に切替制御され
   た前記各入力レンジ毎に予め規定された所定の変換率で
   前記一対の検査用プローブ間を流れる電流を電圧変換す
   るレンジ回路と、前記検査電圧の印加時に前記レンジ回
   路の前記入力レンジを大電流用の入力レンジから小電流
   用の入力レンジに向けて順に切替制御する制御回路と、
   前記電圧変換された電圧の電圧値に基づいて前記一対の
   導体パターン間の絶縁抵抗値を演算する演算回路とを備
   え、前記演算された絶縁抵抗値に基づいて、その一対の
   導体パターン間の絶縁良否を判定する回路基板検査装置
   において、 前記制御回路は、前記良否判定に合致する前記入力レン
   ジよりも大電流用の入力レンジのいずれか１つに切替制
   御した際に、前記一対の検査用プローブ間を流れる電流
   の電流値が、その入力レンジにおける定格電流範囲の下
   限値よりも小電流の所定の基準値に低下したときに、当
   該レンジ回路の前記入力レンジを前記小電流用の入力レ
   ンジに向けて切り替える第１の切替制御を行うことを特
   徴とする回路基板検査装置。
2. 【請求項２】 検査対象としての一対の導体パターン間
   に検査電圧を印加する一対の検査用プローブと、切替制
   御可能な複数の入力レンジを備えると共に切替制御され
   た前記各入力レンジ毎に予め規定された所定の変換率で
   前記一対の検査用プローブ間を流れる電流を電圧変換す
   るレンジ回路と、前記検査電圧の印加時に前記レンジ回
   路の前記入力レンジを大電流用の入力レンジから小電流
   用の入力レンジに向けて順に切替制御する制御回路と、
   前記電圧変換された電圧の電圧値に基づいて前記一対の
   導体パターン間の絶縁抵抗値を演算する演算回路とを備
   え、前記演算された絶縁抵抗値に基づいて、その一対の
   導体パターン間の絶縁良否を判定する回路基板検査装置
   において、 前記制御回路は、前記良否判定に合致する前記入力レン
   ジよりも大電流用の入力レンジのいずれか１つに切替制
   御した際に、前記一対の検査用プローブ間を流れる電流
   の電流値が、その入力レンジにおける定格電流範囲の下
   限値よりも小電流であって、その電流値の変化量が所定
   変化量を下回ったときに、当該レンジ回路の前記入力レ
   ンジを前記小電流用の入力レンジに向けて切り替える第
   １の切替制御を行うことを特徴とする回路基板検査装
   置。
3. 【請求項３】 前記制御回路は、前記良否判定に合致す
   る前記入力レンジよりも大電流用の前記各入力レンジに
   切替制御したすべての際に、前記第１の切替制御を行う
   ことを特徴とする請求項１または２記載の回路基板検査
   装置。