JP4537261B2 - 検査装置 - Google Patents
検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4537261B2 JP4537261B2 JP2005158558A JP2005158558A JP4537261B2 JP 4537261 B2 JP4537261 B2 JP 4537261B2 JP 2005158558 A JP2005158558 A JP 2005158558A JP 2005158558 A JP2005158558 A JP 2005158558A JP 4537261 B2 JP4537261 B2 JP 4537261B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tft substrate
- resistance value
- short
- inspection
- inspection apparatus
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Description
先ず、本発明の第1の実施形態について説明する。図1は、TFT基板と本発明の第1の実施形態に係るTFT基板用検査装置との関係を示す図である。
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。図2は、TFT基板と本発明の第2の実施形態に係るTFT基板用検査装置との関係を示す図である。
次に、本発明の第3の実施形態について説明する。図3は、TFT基板と本発明の第3の実施形態に係るTFT基板用検査装置との関係を示す図である。
次に、本発明の第4の実施形態について説明する。図4は、TFT基板と本発明の第4の実施形態に係るTFT基板用検査装置との関係を示す図である。
次に、本発明の第5の実施形態について説明する。図5は、TFT基板と本発明の第5の実施形態に係るTFT基板用検査装置との関係を示す図である。
次に、本発明の第6の実施形態について説明する。図6は、TFT基板と本発明の第6の実施形態に係るTFT基板用検査装置との関係を示す図である。
次に、本発明の第7の実施形態について説明する。図7は、TFT基板と本発明の第7の実施形態に係るTFT基板用検査装置との関係を示す図である。
次に、本発明の第8の実施形態について説明する。図8は、TFT基板と本発明の第8の実施形態に係るTFT基板用検査装置との関係を示す図である。
次に、本発明の第9の実施形態について説明する。図9は、TFT基板と本発明の第9の実施形態に係るTFT基板用検査装置との関係を示す図である。
2a、2b、2c、2d、2e、2f、2g、2h:測定器
11:探針
12:抵抗素子
13:可変抵抗素子
101:ゲート線
102:データ線
103:保持容量線
104a、104b、104c:ショートバー
105a、105b、105c、106a、106b、106ca、106cb:検査端子
107:抵抗素子
Claims (3)
- 複数のデータ線、複数のゲート線及び複数の保持容量線と、
前記複数のデータ線のすべてが共通接続された第1のショートバーと、
前記複数のゲート線のすべてが共通接続された第2のショートバーと、
前記複数の容量保持線のすべてが共通接続された第3のショートバーと、
を備えた薄膜トランジスタ基板の検査を行う検査装置であって、
前記第1乃至第3のショートバーのいずれか2個と導通される2個の探針と、
前記2個の探針の間に備えられた抵抗成分と、
を有し、
前記2個の探針は、プローブブロックに設けられており、
前記プローブブロックはケーブルを介して測定器に接続されていることを特徴とする検査装置。 - 前記第1乃至第3のショートバーは、互いに抵抗分離されていることを特徴とする請求項1に記載の検査装置。
- 前記抵抗成分として、可変抵抗素子を有することを特徴とする請求項1又は2に記載の検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005158558A JP4537261B2 (ja) | 2005-05-31 | 2005-05-31 | 検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005158558A JP4537261B2 (ja) | 2005-05-31 | 2005-05-31 | 検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006337034A JP2006337034A (ja) | 2006-12-14 |
JP4537261B2 true JP4537261B2 (ja) | 2010-09-01 |
Family
ID=37557729
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005158558A Expired - Fee Related JP4537261B2 (ja) | 2005-05-31 | 2005-05-31 | 検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4537261B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109073695A (zh) * | 2016-03-28 | 2018-12-21 | 堺显示器制品株式会社 | 基板的配线路径的检查方法及检查系统 |
TWI634339B (zh) * | 2017-11-21 | 2018-09-01 | 興城科技股份有限公司 | 檢測薄膜電晶體基板之方法及裝置 |
CN109742037B (zh) * | 2019-01-03 | 2021-01-26 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种测试基板及其制作方法、测试方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06130419A (ja) * | 1992-10-21 | 1994-05-13 | Sharp Corp | アクティブマトリクス基板 |
JPH06130108A (ja) * | 1992-10-16 | 1994-05-13 | Fujitsu Ltd | プリント基板の試験方法 |
JPH06242173A (ja) * | 1993-02-15 | 1994-09-02 | Sharp Corp | アクティブマトリクス表示装置の検査装置及び検査方法 |
JPH06342170A (ja) * | 1993-06-02 | 1994-12-13 | Fujitsu Ltd | Tft基板の検査方法 |
JPH11119683A (ja) * | 1997-10-13 | 1999-04-30 | Fujitsu Ltd | 液晶表示パネルの検査方法 |
JP2001091562A (ja) * | 1999-09-28 | 2001-04-06 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
-
2005
- 2005-05-31 JP JP2005158558A patent/JP4537261B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06130108A (ja) * | 1992-10-16 | 1994-05-13 | Fujitsu Ltd | プリント基板の試験方法 |
JPH06130419A (ja) * | 1992-10-21 | 1994-05-13 | Sharp Corp | アクティブマトリクス基板 |
JPH06242173A (ja) * | 1993-02-15 | 1994-09-02 | Sharp Corp | アクティブマトリクス表示装置の検査装置及び検査方法 |
JPH06342170A (ja) * | 1993-06-02 | 1994-12-13 | Fujitsu Ltd | Tft基板の検査方法 |
JPH11119683A (ja) * | 1997-10-13 | 1999-04-30 | Fujitsu Ltd | 液晶表示パネルの検査方法 |
JP2001091562A (ja) * | 1999-09-28 | 2001-04-06 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006337034A (ja) | 2006-12-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100353955B1 (ko) | 신호라인 검사를 위한 액정표시장치 | |
US6836140B2 (en) | Method for manufacturing a display device, and display device substrate | |
KR100796171B1 (ko) | 접촉식 싱글사이드 프로브와 이를 이용한 도선의 단선 및단락 검사장치 및 그 방법 | |
KR100800330B1 (ko) | 라인 온 글래스형 신호라인 검사를 위한 액정표시패널 | |
JP6257192B2 (ja) | アレイ基板およびその検査方法ならびに液晶表示装置 | |
US20070064192A1 (en) | Liquid crystal display apparatus | |
CN110824799B (zh) | 阵列基板线路检测结构及其检测方法、阵列基板 | |
JP4537261B2 (ja) | 検査装置 | |
US9395401B2 (en) | Electrical connection assembly and testing method thereof | |
US20100224875A1 (en) | Substrate with test circuit | |
KR100576629B1 (ko) | 액정표시장치의 tft어레이 기판 및 그 검사방법 | |
JP4473427B2 (ja) | アレイ基板の検査方法及び該検査装置 | |
JP3586049B2 (ja) | 液晶表示パネル | |
JP3268102B2 (ja) | アレイ基板 | |
KR100646777B1 (ko) | 정전기 보호 회로를 가지는 액정 표시 장치 및 정전기 보호 회로를 이용한 표시검사 방법 | |
JP5944121B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
JP3014915B2 (ja) | 多面取り薄膜トランジスタアレイ基板及びその検査方法 | |
JP3038936B2 (ja) | マトリックス型配線基板 | |
JP2002229056A (ja) | 表示装置用電極基板及びその検査方法 | |
CN208706213U (zh) | 一种基板结构和显示设备 | |
KR100507269B1 (ko) | 액정표시소자의 결함 테스트 방법 | |
JP4546723B2 (ja) | 表示装置用基板及びそれを用いた液晶表示装置 | |
KR100521259B1 (ko) | 박막 트랜지스터 액정 표시 장치용 쇼팅 바 | |
JPH02251931A (ja) | アクティブマトリックスアレイ | |
JPH02198424A (ja) | アクティブマトリクス基板 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070907 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100127 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100202 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100303 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100330 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100422 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100518 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100617 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130625 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4537261 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |