KR100796171B1 - 접촉식 싱글사이드 프로브와 이를 이용한 도선의 단선 및단락 검사장치 및 그 방법 - Google Patents

접촉식 싱글사이드 프로브와 이를 이용한 도선의 단선 및단락 검사장치 및 그 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 도선의 단선과 단락을 검사할 수 있는 검사장치와 그를 이용한 검사방법에 관한 것으로서, 종래의 기술에 의해 도선의 단선을 검사하기위해서는 해당 도선의 양단을 동시에 탐침하여야 하고, 그리고 두 도선간의 단락을 검사하기위해서는 두 도선 각각을 동시에 탐침하여야 하던 것에 비하여, 도선의 일단만을 탐침하여 교류전원을 인가한 후 그 프로브(이후, '싱글사이드 프로브'라 지칭한다)에서 측정되는 전기적 변화를 통해 해당 도선의 단선여부와 다른 도선과의 단락여부를 모두 검사할 수 있도록 하였다. 이와 같이 본 발명에 의한 '싱글사이드 프로브'를 사용함으로써 PCB 패턴이나 데이터 전송선 및 전기 케이블 등의 단선 및 단락을 검사하는 경우에 탐침횟수를 획기적으로 줄일 수 있으므로 그에 따라 검사에 소요되는 시간과 노력을 획기적으로 줄이는 이점이 있으며, 일단만을 검사함으로써 도선의 단선과 단락을 검사할 수 있음으로써 전기장치의 입출력단에 내장하여 연결된 도선의 단선과 단락의 자기 진단기능을 쉽게 구현할 수 있는 이점이 있다.
싱글사이드 프로브, PROBE, 단락, 단선, OPEN, SHORT, 전극검사, PCB검사, 배선검사, 선로검사

Description

접촉식 싱글사이드 프로브와 이를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치 및 그 방법{CONTACT TYPE SINGLE SIDE PROBE AND INSPECTION APPARATUS AND METHOD FOR OPEN/SHORT TEST OF CONDUCTIVE LINES USED THEREOF}
도 1은 일반적인 도선의 단선 및 단락 검사방식을 설명하기 위한 도면이다.
도 2는 본 발명의 제 1실시예에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브를 나타낸 구성도이다.
도 3은 본 발명의 제 2실시예에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브를 나타낸 구성도이다.
도 4는 본 발명의 제 3실시예에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브를 나타낸 구성도이다.
도 5는 본 발명에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용하여 동일한 길이의 도선을 검사할 때 측정되는 검사 파형을 나타낸 도면이다.
도 6은 본 발명에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치를 나타낸 블록구성도이다.
도 7은 본 발명에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사 장치를 통해 길이가 서로 다른 회로기판의 도선의 단선 및 단락을 검사 하는 실시예이다.
- 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 -
10 : 도선 20 : 싱글사이드 프로브
30 : 저장부 40 : 신호처리부
50 ; 표시부 60 : 키입력부
70 : 회로기판 80 : IC 칩
210 : 급전부 212 : 교류전류원
214 : 교류전압원 216 : 임피던스 소자
220 : 탐침자 230 : 감지부
본 발명은 접촉식 싱글사이드 프로브와 이를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치 및 그 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 PCB 패턴이나 데이터 전송선 및 전기 케이블 등 다수 도선의 단선 및 단락을 도선별로 일단에서 하나의 프로브로 탐침하여 교류전원을 인가한 후 그 프로브에서 측정되는 전기적 변화값을 통해 단선 및 단락을 검사할 수 있도록 한 접촉식 싱글사이드 프로브와 이를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치 및 그 방법에 관한 것이다.
일반적으로 데이터 전송선과 같은 다선케이블의 단선 및 단락을 검사하기 위해서는 다른 회로와 분리시킨 뒤 케이블 양단간의 저항을 측정하는 방법으로써 반드시 2인 이상의 작업원인이 필요하게 되며, 케이블의 전선 수가 많은 경우에는 전선번호를 잃어버려 반복 체크해야 하는 경우가 종종 발생되어 신뢰도가 떨어질 뿐만 아니라 작업시간이 많이 소요되는 등의 많은 문제점이 있다.
또한, LCD나 PDP 등과 같은 평판표시소자의 투명전극의 단선 및 단락을 검출하기 위해서는 도 1에 도시된 바와 같이 일일이 하나하나의 도선(10)의 일단에서 전류을 인가한 후 해당 도선(10)의 반대단에서 전압을 측정하여 도선(10)의 단선 및 단락을 검사하거나, 현미경등으로 도선을 추적하여 단선 및 단락을 검출하도록 하였다.
따라서 하나의 도선의 단선 및 단락을 측정하여 이상유무를 체크하기 위해서는 최소 2개 이상의 프로브가 필요하게 되어 많은 수의 프로브가 소요되어 원가상승의 원인이 되는 문제점이 있을 뿐만 아니라 도선의 길이가 길어질 경우에는 서로 다른 위치에서 측정하기 위한 2사람 이상의 측정자가 필요하게 됨에 따라 많은 시간과 많은 인력이 필요한 문제점이 있다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 창작된 것으로서, 본 발명의 목적은 PCB 패턴이나 데이터 전송선 및 전기 케이블 등 다수 도선의 단선 및 단락을 도선별로 일단에서 하나의 프로브로 탐침하여 교류전원을 인가한 후 그 프로브 에서 측정되는 전기적 변화값을 통해 단선 및 단락을 검사할 수 있도록 한 접촉식 싱글사이드 프로브와 이를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치 및 그 방법을 제공함에 있다.
상기와 같은 목적을 실현하기 위한 본 발명에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브는 검사 대상 도선의 일단에 접촉하기 위한 탐침자와, 탐침자로 교류전원을 입력하기 위한 급전부와, 탐침자에서의 전기적 변화값을 측정하기 위한 감지부로 이루어진 것을 특징으로 한다.
본 발명에서 급전부는 교류전류를 인가하기 위한 교류전류원으로 이루어지며, 감지부는 전압변화값을 측정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에서 급전부는 교류전압을 인가하기 위한 교류전압원으로 이루어지며, 감지부는 교류전압원과 탐침자 사이에 흐르는 전류변화값을 측정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에서 급전부는 교류전압을 인가하기 위한 교류전압원과, 교류전압원과 탐침자 사이에 매개된 임피던스 소자로 이루어지며, 감지부는 전압변화값을 측정하는 것을 특징으로 한다.
이때 임피던스 소자는 커패시터나 저항인 것을 특징으로 한다.
또한 임피던스 소자는 용량가변형인 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치는 도선의 일단에 탐침자로 접촉하여 교류전원을 입력하고 탐침자에서의 전기적 변화값을 측정하는 싱글사이드 프로브와, 싱글사이드 프로브에서 측정된 전기적 변화값을 저장하기 위한 저장부와, 싱글사이드 프로브에서 측정된 전기적 변화값을 저장부에 저장시키며 싱글사이드 프로브에서 측정되는 전기적 변화값으로 단선 및 단락을 판단하거나 싱글사이드 프로브에서 측정되는 전기적 변화값과 저장부에 저장된 전기적 변화값을 비교하여 단선 및 단락을 판단하는 신호처리부와, 신호처리부의 작동상태 및 싱글사이드 프로브에서 측정된 전기적 변화값을 표시하기 위한 표시부와, 신호처리부의 작동상태를 선택하기 위한 키입력부로 이루어진 것을 특징으로 한다.
본 발명에서 접촉식 싱글사이드 프로브는 검사 대상 도선의 일단에 접촉하기 위한 탐침자와, 탐침자로 교류전원을 입력하기 위한 급전부와, 탐침자에서의 전기적 변화값을 측정하기 위한 감지부로 이루어진 것을 특징으로 한다.
본 발명에서 급전부는 교류전류를 인가하기 위한 교류전류원으로 이루어지며, 감지부는 전압변화값을 측정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에서 급전부는 교류전압을 인가하기 위한 교류전압원으로 이루어지며, 감지부는 교류전압원과 탐침자 사이에 흐르는 전류변화값을 측정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에서 급전부는 교류전압을 인가하기 위한 교류전압원과, 교류전압원과 탐침자 사이에 매개된 임피던스 소자로 이루어지며, 감지부는 전압변화값을 측 정하는 것을 특징으로 한다.
이때 임피던스 소자는 커패시터나 저항인 것을 특징으로 한다.
또한 임피던스 소자는 용량가변형인 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사방법은 도선의 일단에 탐침자로 접촉하여 교류전원을 입력하고 탐침자에서의 전기적 변화값을 측정하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치에 있어서, 동일한 길이를 갖는 다수 도선 각각의 일단에 싱글사이드 프로브를 접촉하여 교류전원을 인가한 후 싱글사이드 프로브에서 전기적 변화값을 측정하여 도선의 단선과 단락을 검사하는 것을 특징으로 한다.
이때 감지되는 전기적 변화값이 전압일 때 진폭이 증가할 경우 단선된 것으로 판단하고 감소할 경우 단락된 것으로 판단하는 것을 특징으로 한다.
이때 감지되는 전기적 변화값이 전류일 때 진폭이 감소할 경우 단선된 것으로 판단하고 증가할 경우 단락된 것으로 판단하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사방법은 도선의 일단에 탐침자로 접촉하여 교류전원을 입력하고 탐침자에서의 전기적 변화값을 측정하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치에 있어서, 회로기판에 형성된 길이가 서로 다른 다수개의 도선 각각의 일단에 싱글사이드 프로브를 접촉하여 교류전원을 인가한 후 도선별로 상글 사이드 프로브에서 측정되는 전기적 변화값을 저장한 후 동일한 패턴을 갖는 다른 회로기판에서 동일한 순서로 측정하여 저장된 전기적 변화값과 비교하여 해당 도선의 단선과 단락을 검사하는 것을 특징으로 한다.
이때 감지되는 전기적 변화값이 전압일 때 진폭이 증가할 경우 단선된 것으로 판단하고 감소할 경우 단락된 것으로 판단하는 것을 특징으로 한다.
이때 감지되는 전기적 변화값이 전류일 때 진폭이 감소할 경우 단선된 것으로 판단하고 증가할 경우 단락된 것으로 판단하는 것을 특징으로 한다.
이와 같이 이루어진 본 발명은 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용하여 도선별로 일단에서만 탐침하여 교류전원을 인가한 후 도선별로 측정되는 전기적 변화값을 통해 도선의 단선과 단락을 검사함으로써 한 번의 스캔으로 단선과 단락을 동시에 검사할 수 있을 뿐만 아니라 도선의 일단에서만 측정하여도 도선의 단선과 단락을 판단할 수 있게 된다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하며 종래 구성과 동일한 부분은 동일한 부호 및 명칭을 사용한다. 또한 본 실시예는 본 발명의 권리범위를 한정하는 것은 아니고, 단지 예시로 제시된 것이며 당 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 기술적 사상 내에서 많은 변형이 가능할 것이다.
도 2는 본 발명의 제 1실시예에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브를 나타낸 구 성도이다.
여기에 도시된 바와 같이 본 실시예에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브(20)는 검사 대상 도선(10)의 일단에 접촉하기 위한 탐침자(220)와, 탐침자(220)로 교류전류를 인가하기 위한 교류전류원(212)과, 탐침자(220)에서 전압변화값을 측정하기 위한 감지부(230)로 이루어진다.
이와 같이 급전부(210)가 교류전류를 인가하기 위한 교류전류원(212)으로 이루어져 탐침자(220)로 교류전류를 인가한 후 탐침자(220)에서 측정되는 전압변화값을 통해 도선(10)의 단선과 단락을 판단할 수 있도록 한다.
도 3은 본 발명의 제 2실시예에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브를 나타낸 구성도이다.
여기에 도시된 바와 같이 본 실시예에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브(20)는 검사 대상 도선(10)의 일단에 접촉하기 위한 탐침자(220)와, 탐침자(220)로 교류전압을 인가하기 위한 교류전압원(214)과, 교류전압원(214)과 탐침자(220) 사이에 흐르는 전류변화값을 측정하기 위한 감지부(230)로 이루어진다.
이와 같이 급전부(210)가 교류전압원(214)으로 이루어져 교류전압원(214)과 탐침자(220) 사이에 흐르는 전류변화값을 측정하여 도선(10)의 단선과 단락을 판단할 수 있도록 한다.
도 4는 본 발명의 제 3실시예에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브를 나타낸 구 성도이다.
여기에 도시된 바와 같이 본 실시예에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브(20)는 검사 대상 도선(10)의 일단에 접촉하기 위한 탐침자(220)와, 탐침자(220)로 교류전압을 인가하기 위한 교류전압원(214)과, 교류전압원(214)과 탐침자(220) 사이에 매개된 임피던스 소자(216)와, 탐침자(220)에서의 전압변화값을 측정하기 위한 감지부(230)로 이루어진다.
이때 임피던스 소자(216)는 수동소자들로써 커패시터나 저항으로 구성할 수 있으며, 검사대상이 되는 도선(10)의 표면적에 대응되어 뚜렷한 전기적 변화가 측정될 수 있도록 용량을 가변할 수 있는 용량 가변형인 것이 바람직하다.
이와 같이 급전부(210)가 교류전압원(214)과 임피던스 소자(216)로 이루어진 접촉식 싱글사이드 프로브(20)를 통해 동일한 길이의 도선(10)을 측정할 때 감지되는 전압값을 도 5에 도시하였다.
즉, 도선(10)의 일단에 본 발명에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브(20)로 탐침하여 교류전원을 인가한 후 감지되는 전기적 변화로써 전압값을 측정한 경우를 설명한다.
이때, (가)와 같이 정상적인 도선(10)에서 측정되는 전압값은 VPP_N 값으로 동일하게 측정된다. 그러나, (나)와 같이 도선(10)이 단선된 경우에는 도선(10)의 전극 면적이 작아짐에 따라 도선(10)의 전극 면적과 도선(10) 주위의 엠비언트 그라운드(Ambient Ground)의 사이에 형성된 기생커패시터(240)의 정전용량이 작아지게 되어 측정되는 전압값은 VPP_O 값으로써 정상적인 도선(10)에서 측정된 전압값 VPP_N 값과 비교할 경우 크게 나타난다.
반면에, (다)와 같이 도선(10)이 인접한 도선(10)과 단락된 경우에는 도선(10)의 전극 면적이 커짐에 따라 도선(10)의 전극 면적과 도선(10) 주위의 엠비언트 그라운드(Ambient Ground)의 사이에 형성된 기생커패시터(240)의 정전용량이 커지게 되어 측정되는 전압값은 VPP_S 값으로써 정상적인 도선(10)에서 측정된 전압값 VPP_N 값과 비교할 경우 작게 나타난다.
이와 같이 접촉식 싱글사이드 프로브(20)를 통해 동일한 길이의 도선(10)의 단선 및 단락을 검사하고자 할 경우 도선(10)의 일단에서 감지된 전압값의 변화를 판단하여 전압값이 높게 감지되는 도선(10)은 단선된 라인으로 판단하게 되며, 정상적인 전압값보다 낮게 감지되는 도선(10)은 단락된 라인으로 판단하게 된다.
본 실시예에서는 사인파형의 교류전원을 인가한 후 감지된 전압값의 변화로 도선의 단선 및 단락을 판단하였으나, 교류전원으로써 사인파형을 비롯하여 구형파(계단파), 임펄스파, 그리고 백색잡음 등을 사용하여 도선의 단선 및 단락을 판단할 수 있다.
한편, 본 발명에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브(20)를 전기장치(미도시)의 입출력포트에 형성할 경우 내부 회로와의 연결관계나 타 장치와의 연결관계에서 단선 및 단락을 자가 진단하기 위한 포트로 사용할 수도 있다.
도 6은 본 발명에 의한 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치를 나타낸 구성도이다.
여기에 도시된 바와 같이 도선(10)의 일단에 탐침자(220)를 접촉하여 교류전원을 입력하고 탐침자(220)에서의 전기적 변화값을 측정하는 싱글사이드 프로브(20)와, 싱글사이드 프로브(20)에서 측정되는 전기적 변화값을 저장하기 위한 저 장부(30)와, 싱글사이드 프로브(20)에서 측정되는 전기적 변화값을 저장부(30)에 저장시키며 싱글사이드 프로브(20)에서 측정되는 전기적 변화값으로 단선 및 단락을 판단하거나 싱글사이드 프로브(20)에서 측정되는 전기적 변화값과 저장부(30)에 저장된 전기적 변화값을 비교하여 단선 및 단락을 판단하는 신호처리부(40)와, 신호처리부(40)의 작동상태 및 싱글사이드 프로브(20)에서 측정된 전기적 변화값을 표시하기 위한 표시부(50)와, 신호처리부(50)의 작동상태를 선택하기 위한 키입력부(60)로 이루어진다.
이와 같이 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선 검사장치는 저장부(30)를 이용하여 동일한 패턴으로 형성된 다수개의 회로기판(70)을 측정할 경우 회로기판(70)에 형성된 도선(10)들의 길이가 서로 다르더라도 측정되는 전기적 변화값을 저장한 후 동일한 패턴의 다른 회로기판(70)에서 측정되는 전기적 변화값을 비교함으로써 해당 도선(10)에 대한 전기적 변화를 판단할 수 있음으로써 단선 및 단락을 측정할 수 있게 된다.
즉, 도 7에 도시된 바와 같이 회로기판의 하나의 IC칩(80)과 연결된 도선(10)의 배선이 서로 길이가 다르더라도 모든 도선(10)의 일단에서 모든 도선(10)에 대해 싱글사이드 프로브(20)를 통해 순차적으로 전기적 변화값을 측정하여 저장부(30)에 저장한 후 동일 패턴을 갖는 다른 회로기판(70)에 대해서도 동일한 순서에 의해 순차적으로 전기적 변화값을 측정하여 저장부(30)에 저장된 전기적 변화값과 비교할 경우 해당 도선(10)에 대한 단선 및 단락을 검사할 수 있게 된다.
예를 들어, 전기적 변화값으로 전압값을 측정할 때 신호처리부(40)에서 그 전압값을 판단하여 해당 도선(10)에 대해 반복해서 측정된 전압값보다 낮게 측정될 경우에는 단락된 것으로 판단하여 표시부(50)에 표시하게 되며 높게 측정될 경우에는 단선된 것으로 판단하여 표시부(50)에 표시할 뿐만 아니라 동일하게 측정될 경우에는 정상적인 라인으로 표시함으로써 서로 다른 길이의 도선(10)에 대해서도 단선 및 단락을 검사할 수 있게 된다.
또한, 키입력부(60)를 통해 신호처리부(40)의 처리상태를 제어하여 측정되는 값을 바로 표시하도록 함으로써 동일한 길이의 도선(10)을 측정할 경우에는 측정되는 값의 변화를 표시부(50)를 통해 사용자가 곧바로 판단하도록 할 수도 있으며 저장부(30)에 저장한 후 비교하여 단선 및 단락 여부를 판단하여 표시할 수 있도록 선택할 수도 있다.
상술한 바와 같이 본 발명은 PCB 패턴이나 데이터 전송선 및 전기 케이블 등 다수의 도선의 단선 및 단락을 도선별로 일단에서 하나의 프로브로 탐침하여 교류전원을 인가한 후 그 프로브에서 측정되는 전기적 변화값을 통해 단선 및 단락을 검사할 수 있도록 함으로써 양측에서 두 개의 프로브로 탐침하기 위해 소요되는 장비 및 인력을 획기적으로 줄일 수 있는 이점이 있다.
또한, 측정하고자 하는 도선의 길이가 매우 긴 경우에도 한사람에 의해 일단에서 단선 및 단락을 검사할 수 있음으로써 적은 인원으로 간편하게 검사할 수 있는 이점이 있다.
또한, 일단에서만 측정함으로써 도선의 단선 및 단락을 검사할 수 있음으로써 전기장치의 입출력단에 싱글사이드 프로브를 내장할 경우 단선 및 단락의 자가 진단이 가능한 이점이 있다.

Claims (21)

  1. 검사 대상 도선의 일단에 접촉하기 위한 탐침자와,
    상기 탐침자로 교류전원을 입력하기 위한 급전부와,
    상기 탐침자에서의 전기적 변화값을 측정하기 위한 감지부
    를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 급전부는 교류전류를 인가하기 위한 교류전류원으로 이루어지며, 상기 감지부는 전압변화값을 측정하는 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브.
  3. 제 1항에 있어서, 상기 급전부는 교류전압을 인가하기 위한 교류전압원으로 이루어지며, 상기 감지부는 상기 교류전압원과 상기 탐침자 사이에 흐르는 전류변화값을 측정하는 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브.
  4. 제 1항에 있어서, 상기 급전부는 교류전압을 인가하기 위한 교류전압원과, 상기 교류전압원과 상기 탐침자 사이에 매개된 임피던스 소자로 이루어지며, 상기 감지부는 전압변화값을 측정하는 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브.
  5. 제 4항에 있어서, 상기 임피던스 소자는 커패시터인 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브.
  6. 제 4항에 있어서, 상기 임피던스 소자는 저항인 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브.
  7. 제 4항 내지 제 6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 임피던스 소자는 용량 가변형인 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브.
  8. 도선의 일단에 탐침자로 접촉하여 교류전원을 입력하고 탐침자에서의 전기적 변화값을 측정하는 싱글사이드 프로브와,
    상기 싱글사이드 프로브에서 측정되는 전기적 변화값을 저장하기 위한 저장부와,
    상기 싱글사이드 프로브에서 측정되는 전기적 변화값을 상기 저장부에 저장 시키며 상기 싱글사이드 프로브에서 측정되는 전기적 변화값으로 단선 및 단락을 판단하거나 상기 싱글사이드 프로브에서 측정되는 전기적 변화값과 상기 저장부에 저장된 전기적 변화값을 비교하여 단선 및 단락을 판단하는 신호처리부와,
    상기 신호처리부의 작동상태 및 상기 싱글사이드 프로브에서 측정된 전기적 변화값을 표시하기 위한 표시부와,
    상기 신호처리부의 작동상태를 선택하기 위한 키입력부
    를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치.
  9. 제 8항에 있어서, 상기 접촉식 싱글사이드 프로브는
    검사 대상 도선의 일단에 접촉하기 위한 탐침자와,
    상기 탐침자로 교류전원을 입력하기 위한 급전부와,
    상기 탐침자에서의 전기적 변화값을 측정하기 위한 감지부
    로 이루어진 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치.
  10. 제 9항에 있어서, 상기 급전부는 교류전류원으로 이루어지며, 상기 감지부는 전압변화값을 측정하는 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도 선의 단선 및 단락 검사장치.
  11. 제 9항에 있어서, 상기 급전부는 교류전압을 인가하기 위한 교류전압원으로 이루어지며, 상기 감지부는 상기 교류전압원과 상기 탐침자 사이에 흐르는 전류변화값을 측정하는 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치.
  12. 제 9항에 있어서, 상기 급전부는 교류전압을 인가하기 위한 교류전압원과, 상기 탐침자 사이에 매개된 임피던스 소자로 이루어지며, 상기 감지부는 전압변화값을 측정하는 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치.
  13. 제 12항에 있어서, 상기 임피던스 소자는 커패시터인 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치.
  14. 제 12항에 있어서, 상기 임피던스 소자는 저항인 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치.
  15. 제 12항 내지 제 14항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 임피던스 소자는 용량 가변형인 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치.
  16. 도선의 일단에 탐침자로 접촉하여 교류전원을 입력하고 탐침자에서의 전기적 변화값을 측정하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치에 있어서,
    동일한 길이를 갖는 다수개의 도선 각각의 일단에 상기 싱글사이드 프로브를 접촉하여 교류전원을 인가한 후 상기 싱글사이드 프로브에서 전기적 변화값을 측정하여 도선의 단선과 단락을 검사하는 것
    을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사방법.
  17. 제 16항에 있어서, 상기에서 측정되는 전기적 변화값이 전압일 때 진폭이 증가할 경우 단선된 것으로 판단하고, 감소할 경우 단락된 것으로 판단하는 것을 특 징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사방법.
  18. 제 16항에 있어서, 상기에서 측정되는 전기적 변화값이 전류일 때 진폭이 감소할 경우 단선된 것으로 판단하고, 증가할 경우 단락된 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사방법.
  19. 도선의 일단에 탐침자로 접촉하여 교류전원을 입력하고 탐침자에서의 전기적 변화값을 측정하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사장치에 있어서,
    회로기판에 형성된 길이가 서로 다른 다수개의 도선 각각의 일단에 싱글사이드 프로브를 접촉하여 교류전원을 인가한 후 도선별로 상기 싱글 사이드 프로브에서 측정되는 전기적 변화값을 저장한 후 동일한 패턴을 갖는 다른 회로기판에서 동일한 순서로 측정하여 저장된 전기적 변화값과 비교하여 해당 도선의 단선과 단락을 검사하는 것
    을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사방법.
  20. 제 19항에 있어서, 상기에서 전기적 변화값이 전압일 때 진폭이 증가할 경우 단선된 것으로 판단하고, 감소할 경우 단락된 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사방법.
  21. 제 19항에 있어서, 상기에서 전기적 변화값이 전류일 때 진폭이 감소할 경우 단선된 것으로 판단하고, 증가할 경우 단락된 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 접촉식 싱글사이드 프로브를 이용한 도선의 단선 및 단락 검사방법.
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Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100799161B1 (ko) * 2006-07-20 2008-01-29 마이크로 인스펙션 주식회사 비접촉 싱글사이드 프로브와 이를 이용한 패턴전극의 단선및 단락 검사장치 및 그 방법
WO2010001468A1 (ja) * 2008-07-02 2010-01-07 株式会社アドバンテスト 試験装置、プログラム、および、記録媒体
US8829912B2 (en) * 2008-08-27 2014-09-09 Sabic Innovative Plastics Ip B.V. Tribocharge test fixture
KR101214955B1 (ko) * 2009-12-11 2012-12-24 마이크로 인스펙션 주식회사 회로기판의 검사장치
CN102156271B (zh) * 2011-03-15 2015-11-04 上海华虹宏力半导体制造有限公司 半导体参数测量系统的检测方法
CN102798787B (zh) * 2011-05-24 2014-12-10 宸鸿光电科技股份有限公司 电子设备及其断路检测系统与断路检测方法
KR20140078604A (ko) * 2011-07-13 2014-06-25 인핸스드 서페이스 다이나믹스, 아이엔씨. 압력 검출 매트의 제조 및 개시를 위한 방법 및 시스템
CN103308817B (zh) * 2013-06-20 2015-11-25 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板线路检测装置及检测方法
CN103926486B (zh) * 2014-04-01 2017-12-01 可牛网络技术(北京)有限公司 物体导电性的检测方法及装置
CN104101743B (zh) * 2014-07-16 2017-03-29 北京京东方视讯科技有限公司 探头、线路检测装置及检测线路的方法
CN104614643B (zh) * 2015-01-30 2018-05-08 加弘科技咨询(上海)有限公司 线路中短路位置的检测装置及方法
CN104820134A (zh) * 2015-04-29 2015-08-05 业成光电(深圳)有限公司 线路检测装置及方法及其所应用的线路
CN108828428A (zh) * 2016-01-11 2018-11-16 南京协辰电子科技有限公司 绝缘测试装置
US11083418B2 (en) 2016-11-04 2021-08-10 Wellsense, Inc. Patient visualization system
US10492734B2 (en) 2016-11-04 2019-12-03 Wellsense, Inc. Patient visualization system
US10564209B2 (en) 2017-04-07 2020-02-18 Hamilton Sundstrand Corporation Alternating current coupled open circuit detection for low level direct current analog interfaces
CN108627730A (zh) * 2018-04-20 2018-10-09 四川斐讯信息技术有限公司 一种手柄电极的检测系统及方法
JP6721667B2 (ja) * 2018-12-19 2020-07-15 Nissha株式会社 タッチパネル、タッチパネルモジュールおよびタッチパネルの検査方法
CN111224223B (zh) * 2020-03-20 2021-05-11 Oppo广东移动通信有限公司 传感器及电子设备
CN112648646A (zh) * 2020-12-10 2021-04-13 广州市红日燃具有限公司 集成灶离子感应式防火墙预警装置及预警方法
CN112816836A (zh) * 2020-12-30 2021-05-18 上海格鲁布科技有限公司 一种故障检测系统、局部放电在线监测装置及方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR940019622U (ko) * 1993-01-29 1994-08-22 휴대용 권취식 전선 연속성 시험기
JPH10274668A (ja) 1997-03-24 1998-10-13 Em Microelectron Marin Sa チップ上に集積化されたコイルの巻線の短絡を検出する測定方法及びその測定方法を採用した集積回路構造
KR19990042109U (ko) * 1998-05-30 1999-12-27 김영환 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 팁 어셈블리의 케이블연결구조
KR20060029405A (ko) * 2004-10-01 2006-04-06 마이크로 인스펙션 주식회사 평판 디스플레이 패널에 장착되는 드라이버 ic 또는tcp의 장착결함 검사장치

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52144765A (en) * 1976-05-26 1977-12-02 Matsushita Electric Works Ltd Line balancing coil
US4262254A (en) * 1979-06-27 1981-04-14 United Technologies Corporation Balanced corona electrostatic field sensor
US4656416A (en) * 1984-08-03 1987-04-07 Applied Microsystems Corporation Method and apparatus for locating short circuits
JPH0625778B2 (ja) 1985-07-19 1994-04-06 光一 吉田 コンタクト式マルチプロ−ブ
JP3224495B2 (ja) * 1995-08-24 2001-10-29 三菱電機株式会社 車載電子装置
JPH0974317A (ja) * 1995-09-06 1997-03-18 Nec Corp ミキサ回路
JPH09230005A (ja) * 1996-02-22 1997-09-05 Hioki Ee Corp 回路基板検査装置
US6825673B1 (en) * 2000-05-19 2004-11-30 Oht Inc. Method and apparatus for circuit board continuity test, tool for continuity test, and recording medium
JP2002014134A (ja) * 2000-06-30 2002-01-18 Hioki Ee Corp 回路基板検査装置
US6812685B2 (en) * 2001-03-22 2004-11-02 Actuant Corporation Auto-selecting, auto-ranging contact/noncontact voltage and continuity tester
JP4586124B2 (ja) * 2003-07-10 2010-11-24 奇美電子股▲ふん▼有限公司 電気的接続部の非接触検査方法及び非接触検査装置
JP4410033B2 (ja) * 2004-05-28 2010-02-03 日置電機株式会社 静電容量測定方法、回路基板検査方法、静電容量測定装置および回路基板検査装置
US7129719B2 (en) * 2004-06-01 2006-10-31 Samsung Techwin Co., Ltd. Apparatus for detecting defect in circuit pattern and defect detecting system having the same
US7084653B2 (en) * 2004-12-20 2006-08-01 Wintek Corporation Contact-type film probe

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR940019622U (ko) * 1993-01-29 1994-08-22 휴대용 권취식 전선 연속성 시험기
JPH10274668A (ja) 1997-03-24 1998-10-13 Em Microelectron Marin Sa チップ上に集積化されたコイルの巻線の短絡を検出する測定方法及びその測定方法を採用した集積回路構造
KR19990042109U (ko) * 1998-05-30 1999-12-27 김영환 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 팁 어셈블리의 케이블연결구조
KR20060029405A (ko) * 2004-10-01 2006-04-06 마이크로 인스펙션 주식회사 평판 디스플레이 패널에 장착되는 드라이버 ic 또는tcp의 장착결함 검사장치

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