JP2013057597A - 導通検査装置および導通検査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】第1の端子と第2の端子を有し、かつ第1および第2の端子を電気的に接続する複数の配線を有する多重配線パターンの導通検査を行う導通検査装置100であって、第1の端子と前記第2の端子間のインダクタンス値を測定するインダクタンス測定部110と、インダクタンス値と所定の導通判定用閾値とを比較し、その結果、インダクタンス値が導通判定用閾値よりも大きければ多重配線パターンに断線が発生していると判定し、そうでなければ断線が発生していないと判定する導通判定部120と、導通判定用閾値を記憶する記憶部130と、導通判定部120による判定結果を表示する表示部140と、を備える。
【選択図】図1
Description
図1は、第1の実施形態に係る導通検査装置100の概略的な構成を示すブロック図である。導通検査装置100は、インダクタンス測定部110と、導通判定部120と、記憶部130と、表示部140とを備える。
次に、第2の実施形態に係る導通検査装置100Aについて、図5を用いて説明する。第2の実施形態と第1の実施形態との相違点の一つは、導通検査装置100Aが抵抗測定部150を備えることである。以下、第1の実施形態と異なる部分を中心に説明する。
2,52 絶縁基板
3A,3B,53A,53B 導体パターン
4,7,54,57 配線
5,6,8,9,55,56,58,59 端子
10,11,60,61 貫通ビア
12、13 ケルビンプローブ
12a,12b,13a,13b プローブピン
16 インダクタンス・メータ
17 交流信号源
18 交流電流計
19 交流電圧計
21,22,23,24 同軸ケーブル
21a,22a,23a,24a 中心導体
21b,22b,23b,24b 外部導体(シールド部)
25 導体
100,100A 導通検査装置
110 インダクタンス測定部
120 導通判定部
130 記憶部
140 表示部
150 抵抗測定部
Claims (16)
- 第1の端子と第2の端子を有し、かつ前記第1および第2の端子を電気的に接続する複数の配線を有する多重配線パターンの導通検査を行う導通検査装置であって、
前記第1の端子と前記第2の端子間のインダクタンス値を測定する、インダクタンス測定部と、
前記インダクタンス値と導通判定用閾値とを比較し、前記インダクタンス値が前記導通判定用閾値よりも大きければ前記多重配線パターンに断線が発生していると判定し、そうでなければ断線が発生していないと判定する、導通判定部と、
を備えることを特徴とする導通検査装置。 - 前記導通判定用閾値は、
前記多重配線パターンに断線が発生しているときの前記第1の端子と前記第2の端子間のインダクタンス値である断線インダクタンス値よりも小さく、かつ、前記多重配線パターンに断線が発生していないときの前記第1の端子と前記第2の端子間のインダクタンス値である非断線インダクタンス値よりも大きい値であることを特徴とする請求項1に記載の導通検査装置。 - 前記断線インダクタンス値は、前記多重配線パターンの寸法ばらつきによって断線時のインダクタンス値がとり得る範囲の下限値であり、前記非断線インダクタンス値は、前記多重配線パターンの寸法ばらつきによって非断線時のインダクタンス値がとり得る範囲の上限値であることを特徴とする請求項2に記載の導通検査装置。
- 前記導通判定用閾値は、前記断線インダクタンス値と非断線インダクタンス値の平均値であることを特徴とする請求項2に記載の導通検査装置。
- 前記インダクタンス測定部は、
前記多重配線パターンの前記第1の端子に測定用の交流電流を流す交流信号源と、
前記第2の端子から流れ出た前記交流電流を測定する交流電流計と、
前記第1の端子および前記第2の端子間の電圧を測定する交流電圧計と、
を有するインダクタンス・メータを備え、さらに、
前記交流信号源の出力端子と電気的に接続された中心導体、および前記交流信号源の入力端子と電気的に接続された外部導体を有する第1の同軸ケーブルと、
前記交流電流計の入力端子と電気的に接続された中心導体、および前記交流電流計の出力端子と電気的に接続された外部導体を有する第2の同軸ケーブルと、
前記交流電圧計の一方の端子と電気的に接続された中心導体と、前記第1の同軸ケーブルの外部導体と電気的に接続された外部導体とを有する第3の同軸ケーブルと、
前記交流電圧計の他方の端子と電気的に接続された中心導体と、前記第2の同軸ケーブルの外部導体および前記第3の同軸ケーブルの外部導体と電気的に接続された外部導体とを有する第4の同軸ケーブルと、
前記第1の同軸ケーブルの中心導体と電気的に接続され、前記第1の端子に接触可能な第1のプローブピンと、
前記第2の同軸ケーブルの中心導体と電気的に接続され、前記第2の端子に接触可能な第2のプローブピンと、
前記第3の同軸ケーブルの中心導体と電気的に接続され、前記第1の端子に接触可能な第3のプローブピンと、
前記第4の同軸ケーブルの中心導体と電気的に接続され、前記第2の端子に接触可能な第4のプローブピンと、
を備えることを特徴とする請求項1ないし4のいずれかに記載の導通検査装置。 - 前記交流電流の周波数は、1kHz〜10MHzの範囲にあることを特徴とする請求項5に記載の導通検査装置。
- 前記第1の端子と前記第2の端子間の抵抗値を測定する、抵抗測定部をさらに備え、
前記導通判定部は、前記抵抗値とオープン判定用閾値とを比較し、前記抵抗値が前記オープン判定用閾値よりも大きければ、前記複数の配線が全て断線していると判定し、前記インダクタンス値を用いた導通検査を行わないことを特徴とする請求項1ないし6のいずれかに記載の導通検査装置。 - 前記導通判定部は、前記抵抗値とショート判定用閾値を比較して、前記抵抗値が前記ショート判定用閾値よりも小さければ、前記多重配線パターンに短絡が発生していると判定することを特徴とする請求項7に記載の導通検査装置。
- 第1の端子と第2の端子を有し、かつ前記第1および第2の端子を電気的に接続する複数の配線を有する多重配線パターンの導通検査を行う導通検査方法であって、
前記第1の端子と前記第2の端子間のインダクタンス値を測定し、
前記インダクタンス値と導通判定用閾値とを比較し、前記インダクタンス値が前記導通判定用閾値よりも大きければ前記多重配線パターンに断線が発生していると判定し、そうでなければ断線が発生していないと判定する、
ことを特徴とする導通検査方法。 - 前記多重配線パターンに断線が発生しているときの前記第1の端子と前記第2の端子間のインダクタンス値である断線インダクタンス値よりも小さく、かつ、前記多重配線パターンに断線が発生していないときの前記第1の端子と前記第2の端子間のインダクタンス値である非断線インダクタンス値よりも大きい値を、前記導通判定用閾値として用いることを特徴とする請求項9に記載の導通検査方法。
- 前記断線インダクタンス値として、前記多重配線パターンの寸法ばらつきによって断線時のインダクタンス値がとり得る範囲の下限値を用い、前記非断線インダクタンス値として、前記多重配線パターンの寸法ばらつきによって非断線時のインダクタンス値がとり得る範囲の上限値を用いることを特徴とする請求項10に記載の導通検査方法。
- 前記導通判定用閾値として、前記断線インダクタンス値と非断線インダクタンス値の平均値を用いることを特徴とする請求項10に記載の導通検査装置。
- 前記インダクタンス値の測定は、4端子対法により行うことを特徴とする請求項9ないし12のいずれかに記載の導通検査方法。
- 前記インダクタンス値の測定に用いる交流電流の周波数は、1kHz〜10MHzの範囲にあることを特徴とする請求項13に記載の導通検査方法。
- 前記インダクタンス値を測定する前に、前記第1の端子と前記第2の端子間の抵抗値を測定し、前記抵抗値とオープン判定用閾値とを比較し、前記抵抗値が前記オープン判定用閾値よりも大きければ、前記複数の配線が全て断線していると判定し、前記インダクタンス値を用いた導通検査を行わないことを特徴とする請求項9ないし14のいずれかに記載の導通検査方法。
- 前記抵抗値とショート判定用閾値を比較して、前記抵抗値が前記ショート判定用閾値よりも小さければ、前記多重配線パターンに短絡が発生していると判定することを特徴とする請求項15に記載の導通検査方法。
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