JPS5919869A - 相互インダクタンスの測定方法 - Google Patents
相互インダクタンスの測定方法Info
- Publication number
- JPS5919869A JPS5919869A JP12962582A JP12962582A JPS5919869A JP S5919869 A JPS5919869 A JP S5919869A JP 12962582 A JP12962582 A JP 12962582A JP 12962582 A JP12962582 A JP 12962582A JP S5919869 A JPS5919869 A JP S5919869A
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- Japan
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- coil
- terminal
- mutual inductance
- current
- primary coil
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
- G01R27/2611—Measuring inductance
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、四端子対測定法を用いた相互インダクタンス
の測定方法に関する。
の測定方法に関する。
従来、高周波を用いて自己インダクタンスを測定する場
合には、ノイズ、相互干渉の防止等のために、四端子対
測定法による測定が行なわれている。この方法によυ相
互インダクタンスを測定するには、第１図に示すような
回路構成に基づいて行なわれる。すなわち、２個のコイ
ル１．２を直列に接続し、その両端を電流端子Ｈｃ＋Ｌ
ｃ及び電圧端子ｌｉｐ、 Ｌｐに同軸ケーブルの芯線６
を介して接続する。また、同軸ケーブルのシールドワイ
ヤ４は中性点にて接続される。
合には、ノイズ、相互干渉の防止等のために、四端子対
測定法による測定が行なわれている。この方法によυ相
互インダクタンスを測定するには、第１図に示すような
回路構成に基づいて行なわれる。すなわち、２個のコイ
ル１．２を直列に接続し、その両端を電流端子Ｈｃ＋Ｌ
ｃ及び電圧端子ｌｉｐ、 Ｌｐに同軸ケーブルの芯線６
を介して接続する。また、同軸ケーブルのシールドワイ
ヤ４は中性点にて接続される。
このような回路構成により１？Ｘコイル１の自己インダ
クタンスをＬｌ、２次コイル２のインダクタンスを１，
２、これらのコイルの相互インダクタンスをＭとし、図
示の状態での合成自己インダクタンスをり。とずれば、 Ｌ（１＝ Ｌｌ ＋ Ｌ２＋２Ｍ ・
（１）となる。次に、コイル１とコイル２の接続を切換
えてその合成自己インダクタンスをＬｌｏとすれば、Ｉ
ｊｌ ＝ Ｌｓ ＋ Ｌ２ ２Ｍ
・・・（２）となる。従って、上記（１）
式と（２）式との差を求めて、その差の１／４をもって
Ｍ値を算出する。このような方法によれば次のような欠
点がある。
クタンスをＬｌ、２次コイル２のインダクタンスを１，
２、これらのコイルの相互インダクタンスをＭとし、図
示の状態での合成自己インダクタンスをり。とずれば、 Ｌ（１＝ Ｌｌ ＋ Ｌ２＋２Ｍ ・
（１）となる。次に、コイル１とコイル２の接続を切換
えてその合成自己インダクタンスをＬｌｏとすれば、Ｉ
ｊｌ ＝ Ｌｓ ＋ Ｌ２ ２Ｍ
・・・（２）となる。従って、上記（１）
式と（２）式との差を求めて、その差の１／４をもって
Ｍ値を算出する。このような方法によれば次のような欠
点がある。
＼１）２回測定しなければならない。従って、単一のコ
イルの自己インダクタンスを測定する自動測定器を利用
して測定した場合には直読できない。
イルの自己インダクタンスを測定する自動測定器を利用
して測定した場合には直読できない。
（ｉｌ）１次コイルと２次コイルの接続を切換えなけれ
げならない。
げならない。
Φ１）１次コイルの他に２次コイルにも通電しなければ
ならない。
ならない。
本発明は、このような状況に鑑みて発明されたものであ
り、１次コイルの一方の端子と２次コイルの一方の端子
とを接続し、１次コイルに交流電流を供給し、このとき
２次コイルに誘起する電圧及び前記交流電流を四端子対
測定法により測定し、これらの測定値によシ相互インダ
クタンスを直接求めることにより、従来技術の欠点を解
消した相互インダクタンスの測定方法を提供するもので
ある。
り、１次コイルの一方の端子と２次コイルの一方の端子
とを接続し、１次コイルに交流電流を供給し、このとき
２次コイルに誘起する電圧及び前記交流電流を四端子対
測定法により測定し、これらの測定値によシ相互インダ
クタンスを直接求めることにより、従来技術の欠点を解
消した相互インダクタンスの測定方法を提供するもので
ある。
以下、本発明に係る方法を実施例に基づいて説明する。
第２図は、本発明の一実施例に係る方法を実施するため
の回路図である。１次コイル１の一力の端子１２と２次
コイル２の一方の端子２２とは接Ｅ究され、さらに、１
次コ・イル１の両端子１１．１２は、電流端子Ｈｅｒ
Ｌｃに同軸ケーブルの芯線３を介して接続されている。
の回路図である。１次コイル１の一力の端子１２と２次
コイル２の一方の端子２２とは接Ｅ究され、さらに、１
次コ・イル１の両端子１１．１２は、電流端子Ｈｅｒ
Ｌｃに同軸ケーブルの芯線３を介して接続されている。
２次コイルの両端子２１゜２２は、電圧端子Ｈｐ、Ｌｐ
に同軸ケーブルの芯線６を介して接続されている。同軸
ケーブルのシールドワイヤ４は、第１図の場合と同様に
、中性点にて接続されている。
に同軸ケーブルの芯線６を介して接続されている。同軸
ケーブルのシールドワイヤ４は、第１図の場合と同様に
、中性点にて接続されている。
電流端子１１ｃ＋Ｌｃに交流電流工、を供給すると、１
次コイル１に電流■ｌが流れ、２次コイルは開放状態に
あって、誘起電圧Ｅ２を誘起する。このときのｉｔ ｌ
Ｅ、 ＋Ｍ及び電流周波数ｆにより次式が得らｎる。
次コイル１に電流■ｌが流れ、２次コイルは開放状態に
あって、誘起電圧Ｅ２を誘起する。このときのｉｔ ｌ
Ｅ、 ＋Ｍ及び電流周波数ｆにより次式が得らｎる。
Ｅ２＝２πｆ Ｍ Ｉ ｔ °−
（３）従って、相互インダクタンスＭは Ｍ ＝ Ｅ２ ／２π／１． ・・
・（４）により求められる。
（３）従って、相互インダクタンスＭは Ｍ ＝ Ｅ２ ／２π／１． ・・
・（４）により求められる。
第６図は、本発明の他の実施例に係る方法を実施するた
めの回路図である。第２図の実施例との相違は、２次コ
イル２．５を２個設けて直列接続したことにある。実用
的には差動接続することが多い。このように接続すれば
、相互インダクタンスの差を直接測定することができる
。
めの回路図である。第２図の実施例との相違は、２次コ
イル２．５を２個設けて直列接続したことにある。実用
的には差動接続することが多い。このように接続すれば
、相互インダクタンスの差を直接測定することができる
。
本発明は、上述の実施例に限定さ１１．るものではなく
、相互インダクタンスの他に、相互肪導に基づ（インピ
ーダンス、一般的には共通帰線二端子対回路の出力開放
伝達インピーダンスが測定対象となる。なお、本発明に
おいて、１次コイル及び２次コイルは、単に導線を巻回
したコイルのみをＪ冒すのではなく、自己インダクタン
スを有するものであって相互インダクタンスを問題にす
るものであれば全て含１九る。また、これらのコイルの
近傍に閉回路となっている第６のコイルが置かれている
場合や、金属片が置かれている場合にも同様に適用する
ことができることは言うまでもない。
、相互インダクタンスの他に、相互肪導に基づ（インピ
ーダンス、一般的には共通帰線二端子対回路の出力開放
伝達インピーダンスが測定対象となる。なお、本発明に
おいて、１次コイル及び２次コイルは、単に導線を巻回
したコイルのみをＪ冒すのではなく、自己インダクタン
スを有するものであって相互インダクタンスを問題にす
るものであれば全て含１九る。また、これらのコイルの
近傍に閉回路となっている第６のコイルが置かれている
場合や、金属片が置かれている場合にも同様に適用する
ことができることは言うまでもない。
以上の設明から明らかなように、本発明に係る方法によ
ｉＬは、１回の測定で相互インダクタンスが求められ、
コイルの接続切換えも必要がなく、才た、１次コイルに
通電するだけで済むから、従来の欠点を全て解消した相
互インダクタンスの測定方法が実現で１髪でいる。／［
′ｆに、四端子対測定法によって自己インダクタンスを
自動測定゛するようした自動測定器を用いた場合には、
自己インダクタンスを測定したときと同様に相互インダ
クタンスを直読することができる。
ｉＬは、１回の測定で相互インダクタンスが求められ、
コイルの接続切換えも必要がなく、才た、１次コイルに
通電するだけで済むから、従来の欠点を全て解消した相
互インダクタンスの測定方法が実現で１髪でいる。／［
′ｆに、四端子対測定法によって自己インダクタンスを
自動測定゛するようした自動測定器を用いた場合には、
自己インダクタンスを測定したときと同様に相互インダ
クタンスを直読することができる。
第１図は従来の方法を実施するための回路図、第２図及
び第３図はそれぞれ本発明の実施例に係る方法を実施す
るための回路図である。 １・・・１次コイル、２，５・・・２次コイル、６・・
・同軸ケーブルの芯線、４・・・同軸ケーブルのシール
ドワイヤ。 代理人 弁理士 木 村 三 朗 第２図 第３図
び第３図はそれぞれ本発明の実施例に係る方法を実施す
るための回路図である。 １・・・１次コイル、２，５・・・２次コイル、６・・
・同軸ケーブルの芯線、４・・・同軸ケーブルのシール
ドワイヤ。 代理人 弁理士 木 村 三 朗 第２図 第３図
Claims (1)
- １次コイルの一方の端子と２次コイルの一方の端子とを
接続し、１次コイルに交流電流を供給し、このと＠２次
コイルに防起する電圧及び前記交流電流を四端子対測定
法により測定し、これらの測定値により相互インダクタ
ンスを直接型めることを特徴とする相互インダクタンス
の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12962582A JPS5919869A (ja) | 1982-07-27 | 1982-07-27 | 相互インダクタンスの測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12962582A JPS5919869A (ja) | 1982-07-27 | 1982-07-27 | 相互インダクタンスの測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5919869A true JPS5919869A (ja) | 1984-02-01 |
Family
ID=15014104
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12962582A Pending JPS5919869A (ja) | 1982-07-27 | 1982-07-27 | 相互インダクタンスの測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5919869A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61129582A (ja) * | 1984-11-29 | 1986-06-17 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | 相互インダクタンスの測定方法 |
| WO2013035357A1 (ja) * | 2011-09-08 | 2013-03-14 | 日本メクトロン株式会社 | 導通検査装置および導通検査方法 |
| US9464457B2 (en) | 2012-08-30 | 2016-10-11 | The Yokohama Rubber Co., Ltd. | Handle structure for bi-fold door |
| JP2017118740A (ja) * | 2015-12-25 | 2017-06-29 | 日置電機株式会社 | 測定装置 |
-
1982
- 1982-07-27 JP JP12962582A patent/JPS5919869A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61129582A (ja) * | 1984-11-29 | 1986-06-17 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | 相互インダクタンスの測定方法 |
| WO2013035357A1 (ja) * | 2011-09-08 | 2013-03-14 | 日本メクトロン株式会社 | 導通検査装置および導通検査方法 |
| JP2013057597A (ja) * | 2011-09-08 | 2013-03-28 | Nippon Mektron Ltd | 導通検査装置および導通検査方法 |
| CN103097901A (zh) * | 2011-09-08 | 2013-05-08 | 日本梅克特隆株式会社 | 导通检测装置和导通检测方法 |
| US9464457B2 (en) | 2012-08-30 | 2016-10-11 | The Yokohama Rubber Co., Ltd. | Handle structure for bi-fold door |
| JP2017118740A (ja) * | 2015-12-25 | 2017-06-29 | 日置電機株式会社 | 測定装置 |
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