JPS6154815A - 変流器の位相誤差除去方法 - Google Patents
変流器の位相誤差除去方法Info
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- JPS6154815A JPS6154815A JP17563284A JP17563284A JPS6154815A JP S6154815 A JPS6154815 A JP S6154815A JP 17563284 A JP17563284 A JP 17563284A JP 17563284 A JP17563284 A JP 17563284A JP S6154815 A JPS6154815 A JP S6154815A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は零相変流器を用いて電路等の漏洩電流を検出す
る場合の位相誤差を除去する方法に関する。
る場合の位相誤差を除去する方法に関する。
（従来の技術）
従来、活線状態にて電路等の絶縁抵抗を測定する方法と
して受電変圧器の低圧２次側の接地線に測定用低周波電
圧を印加し、接地線に低圧電路の絶縁抵抗、対地静電容
量を介して帰還する漏洩電流を検出し該漏洩電流中の前
記測定用低周波電圧成分と同位相成分、即ち有効分を検
出することにより電路の絶縁抵抗全測定する方法が広く
行なわれている。
して受電変圧器の低圧２次側の接地線に測定用低周波電
圧を印加し、接地線に低圧電路の絶縁抵抗、対地静電容
量を介して帰還する漏洩電流を検出し該漏洩電流中の前
記測定用低周波電圧成分と同位相成分、即ち有効分を検
出することにより電路の絶縁抵抗全測定する方法が広く
行なわれている。
この場合上記漏洩電流の検出にあたっては前記接地線を
貫通せしめた零相変流器（以下ＺＣＴと略す）による場
合が一般的である。
貫通せしめた零相変流器（以下ＺＣＴと略す）による場
合が一般的である。
（発明が解決せんとする問題点）
しかしながら、ＺＣＴの一次電流として比較的大電流が
流れる場合、この電流によってＺＣＴの磁心インダクタ
ンス特性等が変化するため。
流れる場合、この電流によってＺＣＴの磁心インダクタ
ンス特性等が変化するため。
２次巻線電流の位相が変動してしまい位相検出に誤差を
生じる。従って電路の絶縁抵抗等の正確なる測定ができ
ないと云う問題があった。
生じる。従って電路の絶縁抵抗等の正確なる測定ができ
ないと云う問題があった。
即ち、上記接地線に帰還する漏洩電流中には商用周波成
分と印加した低周波成分が含まれているが、一般に測定
用電圧としての印加電圧は負荷機器への影＠を考慮して
電路の商用周波の２次電圧にくらぺて十分に低い（例え
ば電路電圧１００又は２００■に対して測定用印加電圧
は２〜３ｖ程度）。したがって商用周波の漏洩電流は上
記低周波成分のそれにくらべ著しく太きくなるのが現状
であり、このためＺＣＴの２次巻線出力中の低周波成分
の位相は商用周波成分の増減に伴って大きく変動するこ
とが観測される。一方上述の如く、低周波成分の中の印
加電圧と同相の有効分を検出するに当ってはこのような
位相変動は結果的に絶縁抵抗の測定値に直接誤差としで
影響することになるためＺＣＴ出力の位相誤差質゛動が
大きく正確な測定が不可能であった。
分と印加した低周波成分が含まれているが、一般に測定
用電圧としての印加電圧は負荷機器への影＠を考慮して
電路の商用周波の２次電圧にくらぺて十分に低い（例え
ば電路電圧１００又は２００■に対して測定用印加電圧
は２〜３ｖ程度）。したがって商用周波の漏洩電流は上
記低周波成分のそれにくらべ著しく太きくなるのが現状
であり、このためＺＣＴの２次巻線出力中の低周波成分
の位相は商用周波成分の増減に伴って大きく変動するこ
とが観測される。一方上述の如く、低周波成分の中の印
加電圧と同相の有効分を検出するに当ってはこのような
位相変動は結果的に絶縁抵抗の測定値に直接誤差としで
影響することになるためＺＣＴ出力の位相誤差質゛動が
大きく正確な測定が不可能であった。
以下、零相変流器に大電流が流れる場合の磁心インダク
タンスの影響を説明する。
タンスの影響を説明する。
第３図は電流工の流れている線路１を貫通せしめたＺＣ
Ｔの２次巻線（ｎターン）出力を抵抗Ｂ・ｏにて終端し
た場合を示している。これを等何回路で示せば第４図の
ようになる。
Ｔの２次巻線（ｎターン）出力を抵抗Ｂ・ｏにて終端し
た場合を示している。これを等何回路で示せば第４図の
ようになる。
同図に於いてＬはＺＣＴのインダクタンス。
Ｂ・は実効抵抗であり終端抵抗Ｒ・０に得られる電圧■
ｏは ＸＬ＝ ｊωＬ となる。又＋ＶＯとｉとの位相差グは（１）式からとな
る。したがって電流ｉによる該ＺＣＴの磁心のヒステリ
シスの影響でインダクタンスＬが変化すれば位相ダは変
化することになる。
ｏは ＸＬ＝ ｊωＬ となる。又＋ＶＯとｉとの位相差グは（１）式からとな
る。したがって電流ｉによる該ＺＣＴの磁心のヒステリ
シスの影響でインダクタンスＬが変化すれば位相ダは変
化することになる。
また（２）式のＲ・ｏは電流電圧変換すれば零とできる
ことは明らかであるが、Ｂ・を零にすることは困難でお
る。
ことは明らかであるが、Ｂ・を零にすることは困難でお
る。
第５図は電流工の変化に対する位相の実測例でちりこの
場合電流の変化によって数ｄｅｇにわたって変化するこ
とが分る。このようにＺＣＴの１次電流の変化巾が大き
いと位相変動も大きくなる。
場合電流の変化によって数ｄｅｇにわたって変化するこ
とが分る。このようにＺＣＴの１次電流の変化巾が大き
いと位相変動も大きくなる。
従って１次電流の変化巾を小さくすることによって位相
変動金車さくすることができる。
変動金車さくすることができる。
（問題を解決する几めの手段）
本発明は上述のような従来の電路等の絶縁抵抗等の測定
に於いて使用する零相変流器の磁心インダクタンスの変
＠を抑圧し、より正確な測定を行うためになされたもの
であって、以下の如き構成をとる。
に於いて使用する零相変流器の磁心インダクタンスの変
＠を抑圧し、より正確な測定を行うためになされたもの
であって、以下の如き構成をとる。
即ち、従来の電路の絶縁抵抗測定方法に於いて使用する
。測定用低周波電圧の漏洩成分を検出するために接地線
を貫通した零相変流器に新らたな接続線を貫通せしめ、
別途設けた手段によって該零相変流器に影響を与える前
記測定用低周波電圧以外の周波数電流成分とはソ同レベ
ルかつ逆位相の電流成分を導出しこれを前記接続線を介
して前記零相変流器の一次側に印加せしめるように構成
する。
。測定用低周波電圧の漏洩成分を検出するために接地線
を貫通した零相変流器に新らたな接続線を貫通せしめ、
別途設けた手段によって該零相変流器に影響を与える前
記測定用低周波電圧以外の周波数電流成分とはソ同レベ
ルかつ逆位相の電流成分を導出しこれを前記接続線を介
して前記零相変流器の一次側に印加せしめるように構成
する。
この際上述した不要電流成分と同一レベルかつ逆位相電
流成分を導出手段はどのようなものであってもよい。
流成分を導出手段はどのようなものであってもよい。
（作 用）
本発明はこのように構成するものであるから、接地線に
還流する各種電流成分のうち測定用低周波電圧以外の成
分は前記零相変流器の一次側に於いて相殺され該零相変
流器ＺＣＴの磁心にこれらの電流が影響しない。従って
従来比較的高電流として前記接地線に還流する商用周波
電流或はその他の電流によって零相変流器ＺＣＴの磁心
の中心インダクタンスが振られ検出すべき測定用低周波
電流の位相に誤差を生ずると云う欠点を除去することが
でき、かつ該零相変流器の２次側に接続した増幅器の入
力にこれら不要電圧が生じないことから以後の信号処理
を極めて容易とすることができる。
還流する各種電流成分のうち測定用低周波電圧以外の成
分は前記零相変流器の一次側に於いて相殺され該零相変
流器ＺＣＴの磁心にこれらの電流が影響しない。従って
従来比較的高電流として前記接地線に還流する商用周波
電流或はその他の電流によって零相変流器ＺＣＴの磁心
の中心インダクタンスが振られ検出すべき測定用低周波
電流の位相に誤差を生ずると云う欠点を除去することが
でき、かつ該零相変流器の２次側に接続した増幅器の入
力にこれら不要電圧が生じないことから以後の信号処理
を極めて容易とすることができる。
（実施例）
以下本発明の詳細を図示した実施例に基づいて説明する
。
。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図である。同
図に於いて受電トランス２の低圧電路３及び４のうちど
ちらか一方例えば４は接地線５を介して大地と接続され
るが、前記電路に測定用低周波電圧全印加するために信
号発振器ｏｓｃ ＝２接続したトランス６と、前記測定
用低周波電圧による電路からの漏洩成分を検出するため
の第１の零相変流器ＺＣＴ １及び前記測定用低周波電
圧以外の成分を検出するための第２の零相変流器ＺＣＴ
２とを前記接地線に夫々貫通させると共に前記第１の
零相変流器の２次巻き線出力全増幅器ＡＭＰｌに、又そ
の出力を前記測定用低周波電圧のみを抽出する帯域Ｐ波
器ＢＰＦを介して同期検波器ＭＵＬに入力し、これと核
部に於いて位相シフタＰＳｆ、介して得る前記低周波発
振器Ｏ８Ｃの出力の一部との積出力を端子７に得る。
図に於いて受電トランス２の低圧電路３及び４のうちど
ちらか一方例えば４は接地線５を介して大地と接続され
るが、前記電路に測定用低周波電圧全印加するために信
号発振器ｏｓｃ ＝２接続したトランス６と、前記測定
用低周波電圧による電路からの漏洩成分を検出するため
の第１の零相変流器ＺＣＴ １及び前記測定用低周波電
圧以外の成分を検出するための第２の零相変流器ＺＣＴ
２とを前記接地線に夫々貫通させると共に前記第１の
零相変流器の２次巻き線出力全増幅器ＡＭＰｌに、又そ
の出力を前記測定用低周波電圧のみを抽出する帯域Ｐ波
器ＢＰＦを介して同期検波器ＭＵＬに入力し、これと核
部に於いて位相シフタＰＳｆ、介して得る前記低周波発
振器Ｏ８Ｃの出力の一部との積出力を端子７に得る。
更に前記第２の零相変流器ＺＣＴ ２の二次巻き線出力
を増幅器ＡＭＰ２に、又その出力を帯域阻止Ｐ波器ＢＥ
Ｆ、ｆｔ介して測定用低周波電圧以外の成分を抽出し所
要の増幅をＡＭＰ、で行なってこれを抵抗Ｂ・１及びＲ
・２を介して前記ＺＣＴ ｌに結合した接続線８に印加
する。この際ＺＣＴ、に印加する電流は接地線を流れる
商用周波成分の電流とはソ同一レベルかつ逆位相となる
ようにし、これらの電流が互いに相殺されるようにして
おく。
を増幅器ＡＭＰ２に、又その出力を帯域阻止Ｐ波器ＢＥ
Ｆ、ｆｔ介して測定用低周波電圧以外の成分を抽出し所
要の増幅をＡＭＰ、で行なってこれを抵抗Ｂ・１及びＲ
・２を介して前記ＺＣＴ ｌに結合した接続線８に印加
する。この際ＺＣＴ、に印加する電流は接地線を流れる
商用周波成分の電流とはソ同一レベルかつ逆位相となる
ようにし、これらの電流が互いに相殺されるようにして
おく。
このように構成した電路の絶縁抵抗測定回路では、該電
路と大地との間に存在する絶縁抵抗Ｒ・３及びＲ・４と
浮遊容量Ｃ１及びＣ２を経て電路への印加する測定用低
周波電圧Ｖ、（Ｖ）及び電路電圧をＶｏ（Ｖ）（商用周
波数ｆｏ ）は各電圧波形を正弦波とすれば夫々接地線
５に帰還する漏洩電流工は一般に次式となる。
路と大地との間に存在する絶縁抵抗Ｒ・３及びＲ・４と
浮遊容量Ｃ１及びＣ２を経て電路への印加する測定用低
周波電圧Ｖ、（Ｖ）及び電路電圧をＶｏ（Ｖ）（商用周
波数ｆｏ ）は各電圧波形を正弦波とすれば夫々接地線
５に帰還する漏洩電流工は一般に次式となる。
工”” （Ｘ’２” ｏ／Ｒ１）ｓｉｎωｏ ｔ ＋
Ｖ／２ Ｖ ＯωＯＣＩ ＣＯ５ωＯｔ＋−／ΣＶ １
（（１／Ｒ・３） ＋ （１／Ｂ・４））ｓｉｎω１ｔ
＋７２Ｖｔω＋（Ｃｘ＋Ｃｚ）’０５ωｔｔ ＝””
”’ｆ３）又、コノ電流のうちからＺＣＴ ２．ＡＭＰ
２゜Ｂ Ｂ Ｆ、及びＡＭＰ３からなる前述のルート
を介して接続線８に印加する測定用低周波電圧ｆ１以外
の成分ｉｏｔ算出すると次式で表わし得る。
Ｖ／２ Ｖ ＯωＯＣＩ ＣＯ５ωＯｔ＋−／ΣＶ １
（（１／Ｒ・３） ＋ （１／Ｂ・４））ｓｉｎω１ｔ
＋７２Ｖｔω＋（Ｃｘ＋Ｃｚ）’０５ωｔｔ ＝””
”’ｆ３）又、コノ電流のうちからＺＣＴ ２．ＡＭＰ
２゜Ｂ Ｂ Ｆ、及びＡＭＰ３からなる前述のルート
を介して接続線８に印加する測定用低周波電圧ｆ１以外
の成分ｉｏｔ算出すると次式で表わし得る。
ｌ ｏ 冨（Ｖ’２ＶＯａ６／’Ｒ−１）ｓｉｎ（ω６
１＋θ０）＋、／ΣＶｏωｏｃ＋ａｏｃＯ５（ωｏｆ＋
θｏ ） −−（４）但し＋ ａｇ ；係数、０ｏ；Ｚ
ＣＴ２ による位相ずれここで上記式（４）にてａ ６
”＝ ｌとなるようにＡＭＰ ２−ＢＢＦ、−ＡＭＰ
３で構成する系で調整し。
１＋θ０）＋、／ΣＶｏωｏｃ＋ａｏｃＯ５（ωｏｆ＋
θｏ ） −−（４）但し＋ ａｇ ；係数、０ｏ；Ｚ
ＣＴ２ による位相ずれここで上記式（４）にてａ ６
”＝ ｌとなるようにＡＭＰ ２−ＢＢＦ、−ＡＭＰ
３で構成する系で調整し。
更にこれを前述の接続線ｓ ｗ ＺＣＴ 、に於いて接
地線５に流れる電流と逆相になる如く結合すれば測定用
低周波電圧ｆ１を検出する零相変流器ＺＣＴ ｌの２次
電流は Ｉｏ＝Ｉ−ｉ。
地線５に流れる電流と逆相になる如く結合すれば測定用
低周波電圧ｆ１を検出する零相変流器ＺＣＴ ｌの２次
電流は Ｉｏ＝Ｉ−ｉ。
”” （Ｊ２ Ｖ ｏ／Ｒｔ ） （ｓｉｎω０ｔ−ａ
ｏｓｉｎ（ωｏｔ＋θｏ））＋、ｌ／’２ＶｏωＯＣＩ
（ＣＯ２Ｏ３ｔ ａ ｏＣＯ５（ωｏｔ＋θｏ））
＋Ｊ２Ｖ ｌ（（１／Ｒａ ＋ １／Ｒ・４ ）ｓｉｎ
ωｌ ｔ＋ＪＶｌω１（Ｃ１＋０２）ｃＯ５ωｌｔ・・
・・・・・・・（５）ここでａ ｏ ＃ １か゛つ両者
の位相ずれは１〜２ｄｅｇなるから上式（５）の第１項
及び第２項は小さいものにすることは可能である。
ｏｓｉｎ（ωｏｔ＋θｏ））＋、ｌ／’２ＶｏωＯＣＩ
（ＣＯ２Ｏ３ｔ ａ ｏＣＯ５（ωｏｔ＋θｏ））
＋Ｊ２Ｖ ｌ（（１／Ｒａ ＋ １／Ｒ・４ ）ｓｉｎ
ωｌ ｔ＋ＪＶｌω１（Ｃ１＋０２）ｃＯ５ωｌｔ・・
・・・・・・・（５）ここでａ ｏ ＃ １か゛つ両者
の位相ずれは１〜２ｄｅｇなるから上式（５）の第１項
及び第２項は小さいものにすることは可能である。
従って、測定用低周波電圧を検出する回路の出力には商
用周波数成分が除去され又は極めて小さい値となるから
以後の信号処理が容易となるばかりか、比較的大電流で
ある商用周波電流による零相変流器の磁心インダクタン
スの変動？除去せしめもって測定信号の位相世ヲ正確に
検出することができる。
用周波数成分が除去され又は極めて小さい値となるから
以後の信号処理が容易となるばかりか、比較的大電流で
ある商用周波電流による零相変流器の磁心インダクタン
スの変動？除去せしめもって測定信号の位相世ヲ正確に
検出することができる。
の絶縁抵抗を測定することができる。これらの関係は例
えば特許５４−１４２４６５に詳述されているので、そ
の説明は省略する。
えば特許５４−１４２４６５に詳述されているので、そ
の説明は省略する。
第２図は本発明の他の実施例を示すブロック図であって
前記第１図と同一の記号は同一の意味をもつものとする
。この実施例に於いてはＺＣＴを１つ用いて前記の実施
例と同等の機能を実現するものである。
前記第１図と同一の記号は同一の意味をもつものとする
。この実施例に於いてはＺＣＴを１つ用いて前記の実施
例と同等の機能を実現するものである。
即ち、接地線５を貫通せしめたＺＣＴ３出力は増幅器Ａ
ＭＰ４で増幅され、その出力の一方は周波数ｆｌ成分を
除去するフィルタＢＥＦ ２に接続する。このＢＥＦ２
出力は増幅器ＡＭＰ ５にて増幅すると共に抵抗Ｒ・ｉ
、Ｒ・祿を介して前記接続線５に貫通せしめたｚｃ’ｒ
３に結合させる。かくして商用周波成分子ｏに対するフ
ィードバック回路全構成して、該接続線に流れる商用周
波成分は接地線５を流れる商用周波成分と逆相となるよ
うにすることによｔ）ＺＣＴ３の１次電流には商用周波
成分が著しく小さくなるように作用せしめ、もって増幅
器ＡＭＰ、出力の商用周波成分が小となるようにするこ
とが可能となる。前記増幅器ＡＭＰ ４の出力端には更
に印加測定用周波数ｆ。
ＭＰ４で増幅され、その出力の一方は周波数ｆｌ成分を
除去するフィルタＢＥＦ ２に接続する。このＢＥＦ２
出力は増幅器ＡＭＰ ５にて増幅すると共に抵抗Ｒ・ｉ
、Ｒ・祿を介して前記接続線５に貫通せしめたｚｃ’ｒ
３に結合させる。かくして商用周波成分子ｏに対するフ
ィードバック回路全構成して、該接続線に流れる商用周
波成分は接地線５を流れる商用周波成分と逆相となるよ
うにすることによｔ）ＺＣＴ３の１次電流には商用周波
成分が著しく小さくなるように作用せしめ、もって増幅
器ＡＭＰ、出力の商用周波成分が小となるようにするこ
とが可能となる。前記増幅器ＡＭＰ ４の出力端には更
に印加測定用周波数ｆ。
成分を検出するために該周波数ｆ１のみを通過域とする
フィルタＢＥＦに加えその後の構成は前記第１図に示し
た実施例と同じでありかけ算器ＭＵＬ出力尋には絶縁抵
抗に逆比例した電圧金得ることができる。
フィルタＢＥＦに加えその後の構成は前記第１図に示し
た実施例と同じでありかけ算器ＭＵＬ出力尋には絶縁抵
抗に逆比例した電圧金得ることができる。
冑本発明は以上示した実施例に限定する必然性はなく、
零相変流器を用いた電路の絶縁抵抗の状態測定或は観測
装置であればいづれのものにも適用し得るものである。
零相変流器を用いた電路の絶縁抵抗の状態測定或は観測
装置であればいづれのものにも適用し得るものである。
又本発明の実施方法に於いても上記の実施例に限ること
なく他の方法であってもよいことは明らかであろう。
なく他の方法であってもよいことは明らかであろう。
（効 果）
上述の如く本発明はＺＣＴの１次電流中の商用周波成分
の大小によりＺＣＴＣ力出力中加低周波成分の位相が変
動することを抑圧するために零相変流器の１次電流中の
商用周波成分の漏洩電流を抑圧する方法を提案するもの
であるから活線状態での絶縁抵抗精度の向上に極めて効
果大である。
の大小によりＺＣＴＣ力出力中加低周波成分の位相が変
動することを抑圧するために零相変流器の１次電流中の
商用周波成分の漏洩電流を抑圧する方法を提案するもの
であるから活線状態での絶縁抵抗精度の向上に極めて効
果大である。
また本方法は相殺処理により接地線に帰還する漏洩電流
中の雑音除去の効果も奏することは明らかである。
中の雑音除去の効果も奏することは明らかである。
なお、漏洩電流中の印加低周波成分から絶縁抵抗に逆比
例した電圧を検出する方法については本発明の詳細な説
明した方法に限定されるものではなく、他の方法を適用
することも可能であることは明らかである。
例した電圧を検出する方法については本発明の詳細な説
明した方法に限定されるものではなく、他の方法を適用
することも可能であることは明らかである。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図は
本発明の他の実施例を示すブロック図、第３図はＺＣＴ
の動作を説明する図、第４図はＺＣＴの等価回路を示す
図、第５図はＺＣＴの１次電流と位相ずれの測定結果の
１例を示す図である。 ＺＣＴ、ＺＣＴ １．ＺＣＴ ２及びＺＣＴ ３．、−
、、、、−＠相変流器、 Ｒ・３及びＲ・４・・・・
・川・絶縁抵抗。 Ｃ８及びＣ２・・・・・川・対地静電容量。 Ｌ・・・・・・・・・インダクタンス、 ＡＭＰ、
ＡＭＰ １゜Ａ Ｍ Ｐ ２ 、 ＡＭ Ｐ ４及びＡ
ＭＰ、・・・・・・・・・増幅器。 Ｒ・ｏ、Ｒ・ｌ乃至Ｒ・６・・・・・・・・・抵抗、
ＯＳＣ・・・、・・・・・発振器、 １′＆４
４・・・明・・接地線。 ２・・・・・・・・・受電トラ／ス、 ３及び４・・
・・・出・電路、 ６・・・・・・・・・測定用低周
波電圧印加トランス、 ＢＰＦ・・・・・・・・・
フィルタ。 ＢＥＦ、及びＢ Ｂ Ｆ ２川叫・・ｆ１構成除去フィ
ルタ、 ＭＵＬ・・・・・・・・・かけ算器（検波
器）９々ム゛Ｓ−・−捧旙＊ 特許出願人 東洋通信機株式会社 ！ 第 Ｚ ＩＤ １）ｉ 、 業＋１３
本発明の他の実施例を示すブロック図、第３図はＺＣＴ
の動作を説明する図、第４図はＺＣＴの等価回路を示す
図、第５図はＺＣＴの１次電流と位相ずれの測定結果の
１例を示す図である。 ＺＣＴ、ＺＣＴ １．ＺＣＴ ２及びＺＣＴ ３．、−
、、、、−＠相変流器、 Ｒ・３及びＲ・４・・・・
・川・絶縁抵抗。 Ｃ８及びＣ２・・・・・川・対地静電容量。 Ｌ・・・・・・・・・インダクタンス、 ＡＭＰ、
ＡＭＰ １゜Ａ Ｍ Ｐ ２ 、 ＡＭ Ｐ ４及びＡ
ＭＰ、・・・・・・・・・増幅器。 Ｒ・ｏ、Ｒ・ｌ乃至Ｒ・６・・・・・・・・・抵抗、
ＯＳＣ・・・、・・・・・発振器、 １′＆４
４・・・明・・接地線。 ２・・・・・・・・・受電トラ／ス、 ３及び４・・
・・・出・電路、 ６・・・・・・・・・測定用低周
波電圧印加トランス、 ＢＰＦ・・・・・・・・・
フィルタ。 ＢＥＦ、及びＢ Ｂ Ｆ ２川叫・・ｆ１構成除去フィ
ルタ、 ＭＵＬ・・・・・・・・・かけ算器（検波
器）９々ム゛Ｓ−・−捧旙＊ 特許出願人 東洋通信機株式会社 ！ 第 Ｚ ＩＤ １）ｉ 、 業＋１３
Claims (3)
- （１）変圧器の接地線を介して電路に商用周波数ｆ＿０
と異なる周波数ｆ＿１なる測定用低周波電圧を電磁誘動
あるいは直列結合等によって印加し、前記接地線に還流
する測定用低周波成分ｆ＿ｌの漏洩電流を該接地線に貫
通した零相変流器によって検出し、もって電路の絶縁抵
抗等を測定する方法に於いて、前記接地線を貫通せしめ
た零相変流器に新らたな接続線を貫通させると共に、前
記接地線に還流する測定用低周波成分ｆ＿１以外の電流
成分を導出し前記接続線を介して前 記接地線に流れる測定用低周波成分ｆ＿１以外の電流成
分と逆相になる如く前記零相変 流器に印加することによって該零相変流器の２次巻線に
生ずる測定用低周波信号以外の電流を抑圧したことを特
徴とする零相変流器の位相誤差除去方法。 - （２）前記測定用低周波信号ｆ＿１以外の電圧を導出す
る手段が、前記接地線を貫通せしめた第２の零相変流器
を用いたものであることを特徴とする特許請求の範囲１
記載の零相変流器の位相誤差除去方法。 - （３）前記測定用低周波信号ｆ＿１以外の電圧を導出す
る手段が、前記接地線に結合した測定用低周波信号ｆ＿
１を検出するために設けた零相変流器とこれに接続した
増幅器を共用し該増幅器の出力の一部から前記測定用低
周波のみを阻止するフィルタを介して第２の増幅器に接
続しこの出力を前記零相変流器に結合した接続線に印加
するようにしたものであることを特徴とする特許請求の
範囲１記載の 零相変流器の位相誤差除去方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17563284A JPS6154815A (ja) | 1984-08-23 | 1984-08-23 | 変流器の位相誤差除去方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17563284A JPS6154815A (ja) | 1984-08-23 | 1984-08-23 | 変流器の位相誤差除去方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6154815A true JPS6154815A (ja) | 1986-03-19 |
| JPH028529B2 JPH028529B2 (ja) | 1990-02-26 |
Family
ID=15999475
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17563284A Granted JPS6154815A (ja) | 1984-08-23 | 1984-08-23 | 変流器の位相誤差除去方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6154815A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03142379A (ja) * | 1989-10-28 | 1991-06-18 | Tenpaale Kogyo Kk | 絶縁抵抗測定方法 |
| JP2010268543A (ja) * | 2009-05-12 | 2010-11-25 | Kanto Denki Hoan Kyokai | 漏電防止監視システム |
| JP2014173843A (ja) * | 2013-03-05 | 2014-09-22 | Omron Corp | 漏電検出装置および漏電検出方法 |
-
1984
- 1984-08-23 JP JP17563284A patent/JPS6154815A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03142379A (ja) * | 1989-10-28 | 1991-06-18 | Tenpaale Kogyo Kk | 絶縁抵抗測定方法 |
| JP2010268543A (ja) * | 2009-05-12 | 2010-11-25 | Kanto Denki Hoan Kyokai | 漏電防止監視システム |
| JP2014173843A (ja) * | 2013-03-05 | 2014-09-22 | Omron Corp | 漏電検出装置および漏電検出方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH028529B2 (ja) | 1990-02-26 |
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