JPS6385468A

JPS6385468A - 導通検査方法

Info

Publication number: JPS6385468A
Application number: JP61233036A
Authority: JP
Inventors: Tadayoshi Maruta; 丸田　忠良
Original assignee: Toppan Printing Co Ltd
Current assignee: Toppan Inc
Priority date: 1986-09-30
Filing date: 1986-09-30
Publication date: 1988-04-15

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野）本発明は、ＸＹマトリックス型表示素子や入力−１＝素子等の様に直線状で等間隔に複数個平行して並んでい
ろ導電体の短絡を検出する方法に係わる。

（従来の技術）従来直線状で等間隔で複数個並行して１１トんでいる導
電体の短絡を検出する方法について説明を加える。

従来は、相隣り合う、導電体にピンを立て、その間の断
線を調べるということを全ての隣り合う導電体につき行
なっていた。また、この導電体の途中に不導体部が存在
している場合、この不導体部の両端で別個の導電体と見
做して、各々につき相隣り合う導電体どうしでピンを立
てて導電体の導通検査を行なっていた。この場合、検査
する必要のある導電体の数が非常に多い為、予め検査す
る導電体の形状に合う様に検査用のピンを位置合わせし
たものであるプローバーを作成し、それを導電体に位置
合わせして合わせて検査を行なって（・た。

（発明が解決しようとする問題点）上述の従来の技術では５品種により導電１体の形状が違
っている。従って各々の品種に応じたプローバーを用い
なければ検査が行なえなかった。

また、プローバー上の全てのピンが導電体の所望の位置
に合わせなければならない為に１位置合わせが容易でな
く、どこかのピンが導電体より外れろということがあっ
た。また、この様なことがない様に、導電体の型も精度
が求められていた。

また、ピン間の導通を試験しなければならない為に、各
々のピン間を順次スキャンする必要があり、相当時間が
かかつていた。

（問題を解決する為の手段） −Ｆ述の問題点を解決する為に隣り合う長手方向と垂直
方向の二つの導電体の内縁どうしの距離（第１図におい
てＡで示した長さ）より大きく、かつ導電体の幅（第１
図においてＢで示した長さ）より大きく、さらに導電体
の幅（第１図においてＣで示した長さ）より小さい間隔
の二つの測定点を摺動し、この二つの測定点の間に電圧
をかけてパルスが発生するかどうかにより隣り合う二つ
の導電体の間に短絡が生じているかどうかを判断する。

なお、この間隔とか距離とか幅とかは、導電体の長手方
向と垂直な方向に関しての長さのみの要素を表わし、長
手方向成分については考慮しないものとする。

また、この測定点とは電圧な印加できるものならばいか
なるものでも良（、ピン、プローブ、ローラー等いかな
るものでも良い。

（作用）上述の様な摺動する方法を用いたなら、もし全ての隣り
合う二つの導電体の間に絶縁性があるなら、二つの測定
点の間には、電圧をかけても・くルスが発生しないこと
となる。このとき、もし何れかの二つの隣り合う導電体
の間に短絡があるならば、その二つの導電体の各々に測
定点が立っている状態ではその間に電圧をかけるとその
間だけパルスが発生することとなる。

また、上述の様な効果が発生するのは、二つの測定点の
間隔内縁どうしの距＃（第１図においてＡで示した長さ
）より大きい為、摺動していくと何れかの時間に二つの
隣り合った導電体上に測定点が存在することが出来るか
らである。また、導電体の幅（第１図においてＢで示し
た長さ）より大きい為、一つの導電体の上に二つの測定
点が同じときにあることがないためである。さらに、外
縁どうしの距離（第１図においてＣで示した長さ）より
小さい為、摺動していくと何れかの時間に二つの隣り合
った導電体上に測定点が存在することが出来るからであ
る。

なお、とのとき、純粋に隣り合う二つの導電体の絶縁性
のみを調べるなら、一つの導電体を挾んだ二つの導電体
の内縁どうしの距離（第１図においてＤで示した長さ）
より小さい事も条件として必要があるが、本実施例にお
いては、ことさらその様な事は必要としていない。

（実施例）本発明の実施例を、図面を用いて説明を加える。

第６図は基板（１６）上に平行に導電体口）が形成して
いる。この導電体（１１）の間隔は各々対象物により異
なっており、ロットが大きいものならば同一のピッチの
ものを何万枚と多数枚検査することもあるし。

−ち　− 一枚で一ロットを形成しているものもある。この場合、
導電体口）の各−本の中に不導体部（１２１が形成され
ている場合、この導電体口）のピンチより細かいゼブラ
ゴム（■５）を導電体口）と平行に押しつける。

この状態で同時に導電体ピッチ距離（第１図においてＥ
で示した長さ）の間隔で二つの測定点であるピン（１３
１を次々と第２図に示す様に摺動させ、各々の導電体口
）が短絡しているかどうかを、導電ゴム（１４１との間
で電圧をかけ、流れる電流のパルスが発生するかどうか
で検知する。従って１、この方法によれば不導体部がな
いもので数十μｍから、不導体部が導電体中にあるもの
でも百μｍ程度から種々の幅をもった導電体の検査に対
しても用いることができる。

なお、このときに二つのピンを同時に同じ間隔を保った
ままで摺動するが、この間隔は被検査物によって種々変
わってくるので、任意に二つのピンの間隔を設定し得る
様にした方が良い。この為。

第４図で示した様なピン受を用いると良い。このピン受
は、円盤の円周上の二点にピンを設け、この円盤を回転
する事により第５図の様にピッチの細かい場合でも任意
のピンの間隔を設定する事が出来る。特に１．細かい距
離の場合の設定が容易である。

（発明の幼果）本発明を用いることにより、品種に関わりなく検査がい
つでも即座に数量に関わりなく行なえる様になった。ま
た、ピンの位置合わせの様な精度を必要としなくとも検
査が行なえる様になり、だれにでも検査が行なえる様に
なった。特に、導電体に不導体部が存する場合に良（応
用可能である。

【図面の簡単な説明】

第１図は５本発明のピン間隔の説明図であり。第２図は、本発明による導電体の検査中を示す平面図で
あり、第６図は、検査の対象である導電体の平面図であ
り、第４図は、ピン受の平面図であり、第５図は、同回
転した平面図である。（１１）・・・導電体　　　　（１２１・・・不導体部
１１：（ｌ・・ピン　　　　　（１４）・・・ピン受（
Ｉ５）・・・ゼブラゴム　　（１６）・・・基板第１図第４図第５図

Claims

【特許請求の範囲】１）直線状で等間隔に複数個平行して並んでいる導電体
の短絡を検出する方法に於いて、隣り合う二つの導電体
の長手方向と垂直方向の内縁どうしの距離および導電体
の幅より大きく外縁どうしの距離より小さい長手方向と
垂直方向の間隔を持つ二つの測定点を同時に順次摺動し
、該測定点間に電圧をかけて短絡の有無を検査する導通
検査方法。２）前記導電体に予め不導体部が存在している場合、該
不導体部へ該導体と平行にゼブラゴムを当て、該不導体
部の導通をとって検査する特許請求の範囲第１項記載の
導通検査方法。