JPS6345567A - 隣接パタ−ンの導通・非導通の測定機 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、ＩＣユニバーサル基板や、液晶パネルその
他、電気的導体を有する部品の製造工程における、同ピ
ツチで複数列ある隣接パターンの導通・非導通の測定機
に関する。

〔発明の概要〕

この発明は基板上に形成された導通パターンの導通、非
導通を検査する装置で、例えばパターンが列をなして形
成され、前後左右に隣接している場合の検査に特に有効
な装置で、２本の接触端子を１組としたユニットが複数
個とりつけられた検出バーを基板上で移動させて自動的
に検査する際に、ｌバー上にある各ユニットの一対の端
子のうちの一方の端子を、隣接するユニット間で交互に
共通端子とすることにより、前後左右に隣接するパター
ンとの導通、非導通を一度に検出する能率的な自動検査
機を提供するものである。

〔従来の技術〕

従来、図３に示すように抵抗の導通、非導通を測定する
場合は接触端子接触端子を縦及び横方向、必要としてい
る。

〔発明が解決しようとする開題点〕

多密実装パターンの導通、非導通の検査を行う場合、被
測定物に接触端子を多数接触させなければならない。

また、多密実装のため微細パターンになる場合、接触端
子の位置的精度がだしにくい等の欠点があった。

〔問題点を解決するための手段〕

上記問題点を解決するために、この発明は図２のように
２木を１祖とした接触端子の１木を交互に共通にし導通
、非導通の検査を行なうようにした。

〔作用〕

上記のようにすることにより、同ピツチで隣接したパタ
ーンの導通、非導通を測定する場合、図１のように例え
ば、■〜［Ｆ］間を測定すると、隣接した隣のパター７
０〜０間も測定できる。つまり、少ない接触端子で多方
向の導通と、非導通の測定が可能である。

〔実施例〕

以下にこの発明の実施例を図面にもとづいて説明する。

実施例は液晶パネルのパターン検査（シシート有無検査
）装置を用いる。パターン検査装置は、図１のようにガ
ラス■の表面上に付着させた数十率の金属製リードパタ
ーンに接触端子■を前後方向に２本１組としてポゴピン
取付はユニット■を取り付けて配列させる。

上記接触端子＠は、検出バー■に複数組取り付けられて
おり、この検出バー■をパルスモータ■等、駆動装置で
矢印方向０に移動させながら測定する。図２は、導通、
非導通の判定回路を示す。

図２におしてｅ〜［Ｆ］は、図１の金属製リードパター
ン■〜０と同一のものであることを示している。

図２で示すように金属製リードパターン■、０、■をコ
モンとして接触端子を接触させて基準電圧０を与えると
反転増幅機■の出力には だけ増幅された電圧力＜４６出される。

この信号と比較電圧０とをコンパレータ■で比較するこ
とによりパターン間の導通、非導通を判定してＣＰＵ■
に取り込む装面である。

上記の様に■、■、■をコモンとすることによりそれぞ
れの隣接パターンの検査を行なう。

チャネル１　（＠、０１組）では、通常の０〜０間のほ
か０〜０間の導通、非導通の検出ができる。

またチャネル２（Ｏ，＠１組）では通常の０〜０間のほ
か０−０，０−［Ｆ］間の導通、非導通が検出できる。

すなわち、少ない接触端子で多方向の導通、非導通の検
査を行なうのに有効となる。

〔発明の効果〕

この発明は、以上説明したようにそれぞれのパターン間
の４通、非導通を検出するために与える電圧のコモンを
交互のパターンとすることにより少ない接触端子で多方
向検査する効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明における接触端子と被測定物との接触
を示す図。第２図はこの発明における導通、非導通を判
定する回路図。第３図は、従来の接触端子と被σＩＩ定
吻との接触を示す図。 １・・・モータ ２・・・端子ユニット ３・・・検出バー ４・・・基板 Ａ〜Ｆ・　・　・パターン電極 以上

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 　前後に配列された２本の接触端子を１組としたユニッ
   トを、複数組検出バーに取り付け、 前記検出バーを被測定物上で移動させ、前記ユニット内
   の一組の接触端子のうち、一方の接触端子を隣接するユ
   ニット間で交互に共通端子とすることにより、被測定物
   の前後左右に隣接するパターンの導通、非導通を自動的
   に検査することを特徴とする隣接パターンの導通・非導
   通の測定機。