JPH0567188B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明はベアボード、実装基板等のプリント基
板の検査、修理に使用するプリント基板測定検査
装置に関する。

（従来の技術） プリント基板に実装された各部品を検査する際
各部品にコンタクトプローブを接触させ、その電
気的性能をチエツクする。

従来、この種の検査装置は各部品の検査箇所毎
に、コンタクトピン（コンタクトプローブ）をア
クリルボード等に配置した治具（以後ピンボード
と称する。）を使用し、このピンボードをプリン
ト基板に接触させ、各コンタクトピンから各部品
の電気的情報を取り出し検査するものであつた。

このような従来技術によると、ピンボードをプ
リント基板に１回接触させるだけで、多数の検査
箇所から情報を得ることができ、プリント基板一
枚当りの検査時間を短縮することができるが、一
方プリント基板の品種に対してピンボードを製作
しななければならず、その製作時間がかかる為、
少品種多量生産には好適であるが多品種少量生産
には向かない。

近年、多品種少量生産に適合するプリント基板
測定検査装置として、第５図に示す可動プローブ
方式の装置が提案されている。

この装置はXYテーブル１の２本の駆動軸２
に、夫々れ一つずつコンタクトプローブ３を取付
け、コンタクトプローブからの測定信号を電気性
能検査装置４で検査するものである。この装置に
おいては、コンタクトプローブ３は駆動軸２によ
り検査箇所に移動され、ソレノイド等（図示せ
ず）で下降され被検査プリント基板９に接触す
る。したがつて、この装置では試験すべき部品に
対しコンタクトプローブを移動しなければならな
いが、上記従来技術のようにピンボードを製作し
なくてよいため、多品種少量生産向きの装置であ
るといえる。

（発明が解決すべき問題点） 上記可動プローブ方式のプリント基板測定検査
装置は、コンタクトプローブを２本しか持つてい
ない為、２本のコンタクトプローブの間に一つの
回路が形成される場合には、その回路内の部品の
電気的性能が試験できる。

しかし、２本のコンタクトプローブの間に２つ
以上の回路が形成されると、各回路同士が影響し
あつて、一つの回路内の部品の電気的性能を検査
できなくなる。

例えば、並列に接続されている部品の一方のみ
を検査しようとして、その部分の両端にコンタク
トプローブを接触させても、並列に接続されてい
る他の部品の影響を受け、部品単体時と異なる値
を示す場合がある。

本発明の目的は、周辺回路の影響をうけずに各
部品の電気的性能を測定検査する可動プローブ方
式のプリント基板測定検査装置を提供することに
ある。

（問題点を解決するための手段） 上記目的を解決するため、本発明は３本以上の
XY駆動軸の各々にコンタクトプローブを設け、
これらコンタクトプローブのうち２本のコンタク
トプローブを被検査部品の両端子に接触するよう
位置決めし、他のコンタクトプローブを被検査部
品と並列に設けられた回路の一点に接触するよう
位置決めする位置制御部および、上記他のコンタ
クトプローブに所定電圧を加えて、上記２本のコ
ンタクトプローブにより得られる検出情報に基き
被検査部品の電気的性能の測定を行なう測定部と
を設ける。

（作用） 位置制御部は被検査部品の端子位置座標および
これに並列な回路の座標を記憶しており、検査順
に従つてこれら座標をXY駆動軸に指示する。

XY駆動軸はコンタクトプローブのうち２本を
被検査部品の両方の端子位置に位置決めし、残り
のコンタクトプローブは、被検査部品と並列に設
けられた回路の一点と接触するよう位置決めす
る。回路の一点に接触されたコンタクトプローブ
により、被検査部品と並列に設けられた回路の一
点に所定電圧を印加する。この所定電圧の印加に
より上記回路を流れる電流が、上記２本のコンタ
クトプローブに検出されるのを抑止する。このた
め上記２本のコンタクトプローブで検出される電
流は被検査部品を流れるものとなり、被検査部品
単体的の電気的性能を得ることができる。

（実施例） 以下本発明の実施例を図面を参照して説明す
る。

第１図は本発明のプリント基板測定検査装置の
略式全体構成図である。

３本のXY駆動軸２の各対に取付けられたコン
タクトプローブ３Ａ〜３Ｂは被検査基板９の全域
を夫々移動できる。各コンタクトプローブ３Ａ〜
３Ｂの位置制御およびコンタクトプローブの上下
動作制御は位置制御部５によつて行なわれる。コ
ンタクトプローブは電気性能検査部４に接続され
ている。さらに位置制御部５及び電気性能検査部
４は、それらを統括的にコントロールするコンロ
ール部６に接続されている。被検査基板９はガイ
ド８により所定の位置に位置決めされる。

コントロール部６は位置制御部５および電気性
能検査部４を制御するための制御情報を持つてい
る。この制御情報は第２図に示すテーブル２０に
格納されており、項番２１に従つて順番に読み出
される。

テーブル２０には、各コンタクトプローブの
Ｘ、Ｙ座標位置２２および各コンタクトプローブ
に与えるべき信号２３，２４，２５さらには試験
の予想結果２６が格納されている。テーブル２０
において、「Ｅ」は試験電圧を対応するコンタク
トプローブに印加することを示し、「Ｇ」は対応
するコンタクトプローブを接地することを示し、
「検」は対応するコンタクトプローブを検出器４
４に接続することを示し、「出」はコンタクトブ
ローブを比較器４５に接続することを示す。

テーブル２０中の位置２２は位置制御部５へ出
力され、この情報に基き位置制御部５はXY駆動
軸２を制御しコンタクトプローブ３Ａ〜３Ｃを位
置決めする。テーブル２０中の信号２２，２４，
２５および２６は電気性能検査部４へ送られる。

第３図に電気性能検査部４の内部構成を示す。
電気性能検査部４は電圧Ｅを発生する電源４２、
接地端４３、検出器４４、比較器４５およびセレ
クタ４１を有している。セレクタ４１は、コント
ロール部６からの信号２３〜２５に基き、いずれ
のコンタクトプローブを電源４２接地端４３比較
器４５および検出器４４に接続するかを制御す
る。比較器４５は、検出器４４の検出結果とコン
トロール部６からの試験予想結果２６と比較し
て、被検査部品の良否の判定を行う。判定結果は
コントロール部６に記憶される。

以下本実施例の基本的な動作について説明す
る。まずコントロール部６のテーブル２０から第
１番目の項番のデータが読み出される。各コンタ
クトプローブ３Ａ〜３Ｃが位置制御回路５の制御
により、第１番目の被検査部品に対して位置決め
される。この場合において第３図の部品１１を、
第１番目の被検査部品とすると、コンタクトプロ
ーブ３Ａおよび３Ｃは部品１１の両側端子位置、
コンタクトプローブ３Ｂは部品１１に並列な回路
を構成する部品１２および１３の接続点に夫々位
置決めされる。

位置決めが終了した段階でセレクタ４１が駆動
され、テーブル２０に従つてコンタクトプローブ
３Ａには電源４２、コンタクトプローブ３Ｂには
接地端４３、コンタクトプローブ３Ｃには検出器
４４が夫々接続される。その結果部品１１、１
２、１３および電気性能検査部の各回路により、
第４図に示す回路が形成される。

第４図の回路において、検出器４４を構成する
OPアンプの２つの入力端は等価的に短絡してい
るとみなされる。したがつて、入力端の電位差は
零となるからＬ点とＧ点は同電位となり、部品１
１のインピーダンスをRx、流れる電流をIxとす
ると、Ix＝Vo／Ｒ、Rx＝Ｅ／Ixの関係が成立す
る。（Voは検出器４４出力電圧）これによつて部
品１１のインピーダンスRxは、Rx＝ER／Voと
して求められる。したがつて、検出器４４の出力
電圧は部品１１のインピーダンスRxに対応する
値となつており、この電圧がテーブル２０内の予
想結果２６と等しいかが、比較器４５で検査され
る。検査結果はコントロール部６に記憶される。
検査が終了するとコンタクトプローブ３Ａ〜３Ｃ
は上昇する。コントロール部６は、テーブル２０
から第２番目の項番のデータが読出される。

第２番目のデータは、２本のコンタクトプロー
ブしか位置決めがされていない。すなわちこれ
は、被検査部品に並列する回路のない場合であ
り、この場合は２本のコンタクトプローブを用い
て検査が行われる。すなわち、コンタクトプロー
ブ３Ａ，３Ｃは被検査部品の両端子に位置決めさ
れるとともにコンタクトプローブ３Ａには電源４
２が接続され、コンタクトプローブ３Ｃには比較
器４５が接続される。

例えば被検査部品のインピーダンスをRyとし、
これに流れる電流をIyとするとRy＝Ｅ／Iyとし
て求められる。Iyが抵抗４６に流れるとし、抵抗
４６の値をｒとすると、比較器４５にはEr／Ry
なる電圧が与えられる。この電圧がテーブ２０内
の予想結果２６と等しいかが比較器４５で検査さ
れコントロール部６に検査結果が記憶される検査
が終了するとコンタクトプローブ３Ａ，３Ｃは上
昇し、テーブル２０から第３番目の項番のデータ
が読出され、上記と同様の検査を行なう。

このような検査を予め設定された項数だけ繰返
し行う。

２本のコンタクトプローブを用いるか、３本の
コンタクトプローブを用いるかはテーブル２０に
データを記憶させる時点あるいは記憶されている
データを変更することにより容易に行なえる。

なお、上記実施例ではコンタクトプローブは３
本としたが、同一の目的を持つて３本以上のコン
タクトプローブを用いた形を採用することも可能
である。

（発明の効果） 本発明によれば３本以上のコンタクトプローブ
を持つことにより、並列に接続された部品の電気
的性能を周辺回路の影響を受けずに検査可能にし
たプローブ移動式のプリント基板測定検査装置を
提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるプリント基板測定検査装
置の略式全体構成図、第２図はコントロール部６
内のテーブル２０構成図、第３図は電気性能検査
部４の内部構成図、第４図は被検査部品１１の測
定原理を示す回路図、第５図は従来のプリント基
板測定検査装置を示す図である。 １……XYテーブル、２……XY駆動軸、３Ａ，
３Ｂ，３Ｃ……コンクタトブローブ、４……電気
性能検査部、５……位置制御部、６……コントロ
ール部。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ プリント基板に実装された複数部品の電気的
   性能を検査するプリント基板測定検査装置におい
   て、プリント基板上に独立に位置決めされる少な
   くとも３本のコンタクトプローブと、各被検査部
   品について該コンタクトプローブの位置を指定す
   るデータを記憶する記憶部であつて、被検査部品
   に並列する回路がある場合には、該被検査部品の
   両端の位置の他に、該並列する回路の一点の位置
   のデータを記憶する記憶部と、該記憶部から順次
   読出される位置に基き、前記コンタクトプローブ
   を位置決めする位置制御部と、前記並列する回路
   を流れる電流が他の一のコンタクトプローブに流
   れない状態下で、該他の一のコンタクトプローブ
   から得られたデータが、予め定めたデータと等し
   いか否かを検出する電気性能検査部とを有するプ
   リント基板測定検査装置。 ２ 特許請求の範囲第１項において、前記所定電
   圧は接地電圧であることを特徴とするプリント基
   板測定検査装置。 ３ 特許請求の範囲第２項において、前記電気性
   能検査部は、前記他の一のコンタクトプローブに
   一つの入力端が接続され、他の入力端が接地され
   るオペアンプを有することを特徴とするプリント
   基板測定検査装置。