JPH0567188B2 - - Google Patents
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- JPH0567188B2 JPH0567188B2 JP62142051A JP14205187A JPH0567188B2 JP H0567188 B2 JPH0567188 B2 JP H0567188B2 JP 62142051 A JP62142051 A JP 62142051A JP 14205187 A JP14205187 A JP 14205187A JP H0567188 B2 JPH0567188 B2 JP H0567188B2
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- JP
- Japan
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- contact probe
- printed circuit
- circuit board
- contact
- inspection
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 67
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 26
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 16
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 14
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はベアボード、実装基板等のプリント基
板の検査、修理に使用するプリント基板測定検査
装置に関する。
板の検査、修理に使用するプリント基板測定検査
装置に関する。
(従来の技術)
プリント基板に実装された各部品を検査する際
各部品にコンタクトプローブを接触させ、その電
気的性能をチエツクする。
各部品にコンタクトプローブを接触させ、その電
気的性能をチエツクする。
従来、この種の検査装置は各部品の検査箇所毎
に、コンタクトピン(コンタクトプローブ)をア
クリルボード等に配置した治具(以後ピンボード
と称する。)を使用し、このピンボードをプリン
ト基板に接触させ、各コンタクトピンから各部品
の電気的情報を取り出し検査するものであつた。
に、コンタクトピン(コンタクトプローブ)をア
クリルボード等に配置した治具(以後ピンボード
と称する。)を使用し、このピンボードをプリン
ト基板に接触させ、各コンタクトピンから各部品
の電気的情報を取り出し検査するものであつた。
このような従来技術によると、ピンボードをプ
リント基板に1回接触させるだけで、多数の検査
箇所から情報を得ることができ、プリント基板一
枚当りの検査時間を短縮することができるが、一
方プリント基板の品種に対してピンボードを製作
しななければならず、その製作時間がかかる為、
少品種多量生産には好適であるが多品種少量生産
には向かない。
リント基板に1回接触させるだけで、多数の検査
箇所から情報を得ることができ、プリント基板一
枚当りの検査時間を短縮することができるが、一
方プリント基板の品種に対してピンボードを製作
しななければならず、その製作時間がかかる為、
少品種多量生産には好適であるが多品種少量生産
には向かない。
近年、多品種少量生産に適合するプリント基板
測定検査装置として、第5図に示す可動プローブ
方式の装置が提案されている。
測定検査装置として、第5図に示す可動プローブ
方式の装置が提案されている。
この装置はXYテーブル1の2本の駆動軸2
に、夫々れ一つずつコンタクトプローブ3を取付
け、コンタクトプローブからの測定信号を電気性
能検査装置4で検査するものである。この装置に
おいては、コンタクトプローブ3は駆動軸2によ
り検査箇所に移動され、ソレノイド等(図示せ
ず)で下降され被検査プリント基板9に接触す
る。したがつて、この装置では試験すべき部品に
対しコンタクトプローブを移動しなければならな
いが、上記従来技術のようにピンボードを製作し
なくてよいため、多品種少量生産向きの装置であ
るといえる。
に、夫々れ一つずつコンタクトプローブ3を取付
け、コンタクトプローブからの測定信号を電気性
能検査装置4で検査するものである。この装置に
おいては、コンタクトプローブ3は駆動軸2によ
り検査箇所に移動され、ソレノイド等(図示せ
ず)で下降され被検査プリント基板9に接触す
る。したがつて、この装置では試験すべき部品に
対しコンタクトプローブを移動しなければならな
いが、上記従来技術のようにピンボードを製作し
なくてよいため、多品種少量生産向きの装置であ
るといえる。
(発明が解決すべき問題点)
上記可動プローブ方式のプリント基板測定検査
装置は、コンタクトプローブを2本しか持つてい
ない為、2本のコンタクトプローブの間に一つの
回路が形成される場合には、その回路内の部品の
電気的性能が試験できる。
装置は、コンタクトプローブを2本しか持つてい
ない為、2本のコンタクトプローブの間に一つの
回路が形成される場合には、その回路内の部品の
電気的性能が試験できる。
しかし、2本のコンタクトプローブの間に2つ
以上の回路が形成されると、各回路同士が影響し
あつて、一つの回路内の部品の電気的性能を検査
できなくなる。
以上の回路が形成されると、各回路同士が影響し
あつて、一つの回路内の部品の電気的性能を検査
できなくなる。
例えば、並列に接続されている部品の一方のみ
を検査しようとして、その部分の両端にコンタク
トプローブを接触させても、並列に接続されてい
る他の部品の影響を受け、部品単体時と異なる値
を示す場合がある。
を検査しようとして、その部分の両端にコンタク
トプローブを接触させても、並列に接続されてい
る他の部品の影響を受け、部品単体時と異なる値
を示す場合がある。
本発明の目的は、周辺回路の影響をうけずに各
部品の電気的性能を測定検査する可動プローブ方
式のプリント基板測定検査装置を提供することに
ある。
部品の電気的性能を測定検査する可動プローブ方
式のプリント基板測定検査装置を提供することに
ある。
(問題点を解決するための手段)
上記目的を解決するため、本発明は3本以上の
XY駆動軸の各々にコンタクトプローブを設け、
これらコンタクトプローブのうち2本のコンタク
トプローブを被検査部品の両端子に接触するよう
位置決めし、他のコンタクトプローブを被検査部
品と並列に設けられた回路の一点に接触するよう
位置決めする位置制御部および、上記他のコンタ
クトプローブに所定電圧を加えて、上記2本のコ
ンタクトプローブにより得られる検出情報に基き
被検査部品の電気的性能の測定を行なう測定部と
を設ける。
XY駆動軸の各々にコンタクトプローブを設け、
これらコンタクトプローブのうち2本のコンタク
トプローブを被検査部品の両端子に接触するよう
位置決めし、他のコンタクトプローブを被検査部
品と並列に設けられた回路の一点に接触するよう
位置決めする位置制御部および、上記他のコンタ
クトプローブに所定電圧を加えて、上記2本のコ
ンタクトプローブにより得られる検出情報に基き
被検査部品の電気的性能の測定を行なう測定部と
を設ける。
(作用)
位置制御部は被検査部品の端子位置座標および
これに並列な回路の座標を記憶しており、検査順
に従つてこれら座標をXY駆動軸に指示する。
これに並列な回路の座標を記憶しており、検査順
に従つてこれら座標をXY駆動軸に指示する。
XY駆動軸はコンタクトプローブのうち2本を
被検査部品の両方の端子位置に位置決めし、残り
のコンタクトプローブは、被検査部品と並列に設
けられた回路の一点と接触するよう位置決めす
る。回路の一点に接触されたコンタクトプローブ
により、被検査部品と並列に設けられた回路の一
点に所定電圧を印加する。この所定電圧の印加に
より上記回路を流れる電流が、上記2本のコンタ
クトプローブに検出されるのを抑止する。このた
め上記2本のコンタクトプローブで検出される電
流は被検査部品を流れるものとなり、被検査部品
単体的の電気的性能を得ることができる。
被検査部品の両方の端子位置に位置決めし、残り
のコンタクトプローブは、被検査部品と並列に設
けられた回路の一点と接触するよう位置決めす
る。回路の一点に接触されたコンタクトプローブ
により、被検査部品と並列に設けられた回路の一
点に所定電圧を印加する。この所定電圧の印加に
より上記回路を流れる電流が、上記2本のコンタ
クトプローブに検出されるのを抑止する。このた
め上記2本のコンタクトプローブで検出される電
流は被検査部品を流れるものとなり、被検査部品
単体的の電気的性能を得ることができる。
(実施例)
以下本発明の実施例を図面を参照して説明す
る。
る。
第1図は本発明のプリント基板測定検査装置の
略式全体構成図である。
略式全体構成図である。
3本のXY駆動軸2の各対に取付けられたコン
タクトプローブ3A〜3Bは被検査基板9の全域
を夫々移動できる。各コンタクトプローブ3A〜
3Bの位置制御およびコンタクトプローブの上下
動作制御は位置制御部5によつて行なわれる。コ
ンタクトプローブは電気性能検査部4に接続され
ている。さらに位置制御部5及び電気性能検査部
4は、それらを統括的にコントロールするコンロ
ール部6に接続されている。被検査基板9はガイ
ド8により所定の位置に位置決めされる。
タクトプローブ3A〜3Bは被検査基板9の全域
を夫々移動できる。各コンタクトプローブ3A〜
3Bの位置制御およびコンタクトプローブの上下
動作制御は位置制御部5によつて行なわれる。コ
ンタクトプローブは電気性能検査部4に接続され
ている。さらに位置制御部5及び電気性能検査部
4は、それらを統括的にコントロールするコンロ
ール部6に接続されている。被検査基板9はガイ
ド8により所定の位置に位置決めされる。
コントロール部6は位置制御部5および電気性
能検査部4を制御するための制御情報を持つてい
る。この制御情報は第2図に示すテーブル20に
格納されており、項番21に従つて順番に読み出
される。
能検査部4を制御するための制御情報を持つてい
る。この制御情報は第2図に示すテーブル20に
格納されており、項番21に従つて順番に読み出
される。
テーブル20には、各コンタクトプローブの
X、Y座標位置22および各コンタクトプローブ
に与えるべき信号23,24,25さらには試験
の予想結果26が格納されている。テーブル20
において、「E」は試験電圧を対応するコンタク
トプローブに印加することを示し、「G」は対応
するコンタクトプローブを接地することを示し、
「検」は対応するコンタクトプローブを検出器4
4に接続することを示し、「出」はコンタクトブ
ローブを比較器45に接続することを示す。
X、Y座標位置22および各コンタクトプローブ
に与えるべき信号23,24,25さらには試験
の予想結果26が格納されている。テーブル20
において、「E」は試験電圧を対応するコンタク
トプローブに印加することを示し、「G」は対応
するコンタクトプローブを接地することを示し、
「検」は対応するコンタクトプローブを検出器4
4に接続することを示し、「出」はコンタクトブ
ローブを比較器45に接続することを示す。
テーブル20中の位置22は位置制御部5へ出
力され、この情報に基き位置制御部5はXY駆動
軸2を制御しコンタクトプローブ3A〜3Cを位
置決めする。テーブル20中の信号22,24,
25および26は電気性能検査部4へ送られる。
力され、この情報に基き位置制御部5はXY駆動
軸2を制御しコンタクトプローブ3A〜3Cを位
置決めする。テーブル20中の信号22,24,
25および26は電気性能検査部4へ送られる。
第3図に電気性能検査部4の内部構成を示す。
電気性能検査部4は電圧Eを発生する電源42、
接地端43、検出器44、比較器45およびセレ
クタ41を有している。セレクタ41は、コント
ロール部6からの信号23〜25に基き、いずれ
のコンタクトプローブを電源42接地端43比較
器45および検出器44に接続するかを制御す
る。比較器45は、検出器44の検出結果とコン
トロール部6からの試験予想結果26と比較し
て、被検査部品の良否の判定を行う。判定結果は
コントロール部6に記憶される。
電気性能検査部4は電圧Eを発生する電源42、
接地端43、検出器44、比較器45およびセレ
クタ41を有している。セレクタ41は、コント
ロール部6からの信号23〜25に基き、いずれ
のコンタクトプローブを電源42接地端43比較
器45および検出器44に接続するかを制御す
る。比較器45は、検出器44の検出結果とコン
トロール部6からの試験予想結果26と比較し
て、被検査部品の良否の判定を行う。判定結果は
コントロール部6に記憶される。
以下本実施例の基本的な動作について説明す
る。まずコントロール部6のテーブル20から第
1番目の項番のデータが読み出される。各コンタ
クトプローブ3A〜3Cが位置制御回路5の制御
により、第1番目の被検査部品に対して位置決め
される。この場合において第3図の部品11を、
第1番目の被検査部品とすると、コンタクトプロ
ーブ3Aおよび3Cは部品11の両側端子位置、
コンタクトプローブ3Bは部品11に並列な回路
を構成する部品12および13の接続点に夫々位
置決めされる。
る。まずコントロール部6のテーブル20から第
1番目の項番のデータが読み出される。各コンタ
クトプローブ3A〜3Cが位置制御回路5の制御
により、第1番目の被検査部品に対して位置決め
される。この場合において第3図の部品11を、
第1番目の被検査部品とすると、コンタクトプロ
ーブ3Aおよび3Cは部品11の両側端子位置、
コンタクトプローブ3Bは部品11に並列な回路
を構成する部品12および13の接続点に夫々位
置決めされる。
位置決めが終了した段階でセレクタ41が駆動
され、テーブル20に従つてコンタクトプローブ
3Aには電源42、コンタクトプローブ3Bには
接地端43、コンタクトプローブ3Cには検出器
44が夫々接続される。その結果部品11、1
2、13および電気性能検査部の各回路により、
第4図に示す回路が形成される。
され、テーブル20に従つてコンタクトプローブ
3Aには電源42、コンタクトプローブ3Bには
接地端43、コンタクトプローブ3Cには検出器
44が夫々接続される。その結果部品11、1
2、13および電気性能検査部の各回路により、
第4図に示す回路が形成される。
第4図の回路において、検出器44を構成する
OPアンプの2つの入力端は等価的に短絡してい
るとみなされる。したがつて、入力端の電位差は
零となるからL点とG点は同電位となり、部品1
1のインピーダンスをRx、流れる電流をIxとす
ると、Ix=Vo/R、Rx=E/Ixの関係が成立す
る。(Voは検出器44出力電圧)これによつて部
品11のインピーダンスRxは、Rx=ER/Voと
して求められる。したがつて、検出器44の出力
電圧は部品11のインピーダンスRxに対応する
値となつており、この電圧がテーブル20内の予
想結果26と等しいかが、比較器45で検査され
る。検査結果はコントロール部6に記憶される。
検査が終了するとコンタクトプローブ3A〜3C
は上昇する。コントロール部6は、テーブル20
から第2番目の項番のデータが読出される。
OPアンプの2つの入力端は等価的に短絡してい
るとみなされる。したがつて、入力端の電位差は
零となるからL点とG点は同電位となり、部品1
1のインピーダンスをRx、流れる電流をIxとす
ると、Ix=Vo/R、Rx=E/Ixの関係が成立す
る。(Voは検出器44出力電圧)これによつて部
品11のインピーダンスRxは、Rx=ER/Voと
して求められる。したがつて、検出器44の出力
電圧は部品11のインピーダンスRxに対応する
値となつており、この電圧がテーブル20内の予
想結果26と等しいかが、比較器45で検査され
る。検査結果はコントロール部6に記憶される。
検査が終了するとコンタクトプローブ3A〜3C
は上昇する。コントロール部6は、テーブル20
から第2番目の項番のデータが読出される。
第2番目のデータは、2本のコンタクトプロー
ブしか位置決めがされていない。すなわちこれ
は、被検査部品に並列する回路のない場合であ
り、この場合は2本のコンタクトプローブを用い
て検査が行われる。すなわち、コンタクトプロー
ブ3A,3Cは被検査部品の両端子に位置決めさ
れるとともにコンタクトプローブ3Aには電源4
2が接続され、コンタクトプローブ3Cには比較
器45が接続される。
ブしか位置決めがされていない。すなわちこれ
は、被検査部品に並列する回路のない場合であ
り、この場合は2本のコンタクトプローブを用い
て検査が行われる。すなわち、コンタクトプロー
ブ3A,3Cは被検査部品の両端子に位置決めさ
れるとともにコンタクトプローブ3Aには電源4
2が接続され、コンタクトプローブ3Cには比較
器45が接続される。
例えば被検査部品のインピーダンスをRyとし、
これに流れる電流をIyとするとRy=E/Iyとし
て求められる。Iyが抵抗46に流れるとし、抵抗
46の値をrとすると、比較器45にはEr/Ry
なる電圧が与えられる。この電圧がテーブ20内
の予想結果26と等しいかが比較器45で検査さ
れコントロール部6に検査結果が記憶される検査
が終了するとコンタクトプローブ3A,3Cは上
昇し、テーブル20から第3番目の項番のデータ
が読出され、上記と同様の検査を行なう。
これに流れる電流をIyとするとRy=E/Iyとし
て求められる。Iyが抵抗46に流れるとし、抵抗
46の値をrとすると、比較器45にはEr/Ry
なる電圧が与えられる。この電圧がテーブ20内
の予想結果26と等しいかが比較器45で検査さ
れコントロール部6に検査結果が記憶される検査
が終了するとコンタクトプローブ3A,3Cは上
昇し、テーブル20から第3番目の項番のデータ
が読出され、上記と同様の検査を行なう。
このような検査を予め設定された項数だけ繰返
し行う。
し行う。
2本のコンタクトプローブを用いるか、3本の
コンタクトプローブを用いるかはテーブル20に
データを記憶させる時点あるいは記憶されている
データを変更することにより容易に行なえる。
コンタクトプローブを用いるかはテーブル20に
データを記憶させる時点あるいは記憶されている
データを変更することにより容易に行なえる。
なお、上記実施例ではコンタクトプローブは3
本としたが、同一の目的を持つて3本以上のコン
タクトプローブを用いた形を採用することも可能
である。
本としたが、同一の目的を持つて3本以上のコン
タクトプローブを用いた形を採用することも可能
である。
(発明の効果)
本発明によれば3本以上のコンタクトプローブ
を持つことにより、並列に接続された部品の電気
的性能を周辺回路の影響を受けずに検査可能にし
たプローブ移動式のプリント基板測定検査装置を
提供することができる。
を持つことにより、並列に接続された部品の電気
的性能を周辺回路の影響を受けずに検査可能にし
たプローブ移動式のプリント基板測定検査装置を
提供することができる。
第1図は本発明によるプリント基板測定検査装
置の略式全体構成図、第2図はコントロール部6
内のテーブル20構成図、第3図は電気性能検査
部4の内部構成図、第4図は被検査部品11の測
定原理を示す回路図、第5図は従来のプリント基
板測定検査装置を示す図である。 1……XYテーブル、2……XY駆動軸、3A,
3B,3C……コンクタトブローブ、4……電気
性能検査部、5……位置制御部、6……コントロ
ール部。
置の略式全体構成図、第2図はコントロール部6
内のテーブル20構成図、第3図は電気性能検査
部4の内部構成図、第4図は被検査部品11の測
定原理を示す回路図、第5図は従来のプリント基
板測定検査装置を示す図である。 1……XYテーブル、2……XY駆動軸、3A,
3B,3C……コンクタトブローブ、4……電気
性能検査部、5……位置制御部、6……コントロ
ール部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 プリント基板に実装された複数部品の電気的
性能を検査するプリント基板測定検査装置におい
て、プリント基板上に独立に位置決めされる少な
くとも3本のコンタクトプローブと、各被検査部
品について該コンタクトプローブの位置を指定す
るデータを記憶する記憶部であつて、被検査部品
に並列する回路がある場合には、該被検査部品の
両端の位置の他に、該並列する回路の一点の位置
のデータを記憶する記憶部と、該記憶部から順次
読出される位置に基き、前記コンタクトプローブ
を位置決めする位置制御部と、前記並列する回路
を流れる電流が他の一のコンタクトプローブに流
れない状態下で、該他の一のコンタクトプローブ
から得られたデータが、予め定めたデータと等し
いか否かを検出する電気性能検査部とを有するプ
リント基板測定検査装置。 2 特許請求の範囲第1項において、前記所定電
圧は接地電圧であることを特徴とするプリント基
板測定検査装置。 3 特許請求の範囲第2項において、前記電気性
能検査部は、前記他の一のコンタクトプローブに
一つの入力端が接続され、他の入力端が接地され
るオペアンプを有することを特徴とするプリント
基板測定検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62142051A JPS63305263A (ja) | 1987-06-06 | 1987-06-06 | プリント基板測定検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62142051A JPS63305263A (ja) | 1987-06-06 | 1987-06-06 | プリント基板測定検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63305263A JPS63305263A (ja) | 1988-12-13 |
JPH0567188B2 true JPH0567188B2 (ja) | 1993-09-24 |
Family
ID=15306265
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62142051A Granted JPS63305263A (ja) | 1987-06-06 | 1987-06-06 | プリント基板測定検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63305263A (ja) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4092593A (en) * | 1976-06-24 | 1978-05-30 | Siemens Aktiengesellschaft | Circuit board testing machine |
JPS5535577U (ja) * | 1978-08-31 | 1980-03-07 | ||
JPS5798869A (en) * | 1980-12-12 | 1982-06-19 | Fujitsu Ltd | Checking method for continuity of printed board circuit |
JPS62282277A (ja) * | 1986-05-30 | 1987-12-08 | Nippon Seiko Kk | 導通検査装置 |
-
1987
- 1987-06-06 JP JP62142051A patent/JPS63305263A/ja active Granted
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4092593A (en) * | 1976-06-24 | 1978-05-30 | Siemens Aktiengesellschaft | Circuit board testing machine |
JPS5535577U (ja) * | 1978-08-31 | 1980-03-07 | ||
JPS5798869A (en) * | 1980-12-12 | 1982-06-19 | Fujitsu Ltd | Checking method for continuity of printed board circuit |
JPS62282277A (ja) * | 1986-05-30 | 1987-12-08 | Nippon Seiko Kk | 導通検査装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS63305263A (ja) | 1988-12-13 |
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