JPH04315068A - プリント回路板の検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、プリント回路板の検
査装置に関するものである。プリント回路板とは、図６
に示すように、プリント配線板に半導体部品、回路部品
、機構部品などの電子部品を搭載し、はんだ付けしたも
のをさしている。

【０００２】

【従来の技術】プリント回路板の製造工程は、一般に図
５に示す流れで行なわれる。各メーカより供給される電
子部品を集約し、部品の実装、はんだ付け、組立の工程
を経て製造される。製造部門では、多数の部品をプリン
ト配線板の所定の位置に取り付ける作業を手作業から自
動機に移行し、はんだ付けは、プリント配線板へのレジ
スト塗布により行ない、不良発生の減少に務めているが
、不良発生を皆無にすることはできない。不良のプリン
ト回路板がそのまま装置（電子機器）に組み込まれると
不良箇所発見のために単体検査に比べ１０倍以上の費用
がかかるためプリント回路板単体の検査が行なわれる。

【０００３】プリント回路板の検査には、インサーキッ
トテスターやファンクションテスターが使用されている
。インサーキットテスターは、各種の部品が実装された
プリント回路板の各接続網に、プローブピンを接触させ
、初めにプリント回路板内の各接続網間のショートオー
プンチェックを行なう。

【０００４】次に実装されている部品の検査部品の検査
を行う。この検査は被検査部品の接続を回路網の他の部
品から電気的に分離し、部品単体試験と同様に行なうも
のである。たとえば、抵抗、コンデンサー、コイルにつ
いてはアナログ測定、ＩＣ等についてはディジタル検査
を行ない期待値との照合を行ない不良の場合は不良箇所
の指摘を行なうものである。

【０００５】一般的なインサーキットテスターの構成を
図７に示す。図において判定制御部２０は、部品個々に
ついて測定した結果を検査プログラム内の判定基準とな
る良品データと比較し、ＣＲＴ、キーボード、プリンタ
ー等の入出力装置の制御を行なう部分で専用のマイクロ
プロセッサーや汎用のパソコン、ミニコンなどが用いら
れる。計測部２１は部品を測定するための定電流源や定
電圧源等の信号印加源と、それに対応する電流計、電圧
計を備えており、判定制御部２０からの命令で計測を実
行する。スキャナー部２２は計測ライン２３を目的の部
品に接続するためのスイッチ回路で、従来はリードリレ
ーを使用していたが最近では検査時間をより短縮するた
めに、半導体スイッチが使われている。テストヘッド部
２４は、通常フィックスチャーとか治具とか呼ばれる部
分で、被検査プリント回路板とプローブピンが確実に接
触していることが、正しい検査の必須条件である。プリ
ント回路板をプローブピンに接触させる駆動方法を図８
に示す。

【０００６】検査の手順は図９に示すような手順である
。ピンコンタクトチェックは実装基板の検査を正しく実
施するための事前チェックである。ショート・オープン
検査はプリント回路板１内にはんだ付け不良やはんだブ
リッジによるショート、配線パターン断線によるオープ
ン個所がないか測定する。アナログ部品検査は抵抗、コ
ンデンサー、コイルなどの受動部品の定数違いや欠品と
、ダイオード、ツェナダイオードのツェナ電圧を検査す
る。ディジタルＩＣ検査はパルス印加方式によって単体
ＩＣの動作特性を真理値表と比較することによって行な
う。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】従来のプリント回路板
の検査装置は、以上のように構成されているので、搭載
部品の逆搭載や極性付部品の逆搭載が検査出来ず装置検
査段階で発見されるなどの問題点があった。

【０００８】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので搭載部品の逆搭載を検査できるプ
リント回路板の検査装置を得ることを目的としている。

【０００９】

【課題を解決するための手段】この発明に係るプリント
回路板の検査装置は、プローブピン接触によるテストヘ
ッド部の電気的検査に加えて、光センサー等で搭載部品
の搭載状態検査を行なうセンサー部を付加し、テストヘ
ッド部をプリント回路板の一方の面に接触させ、センサ
ー部をプリント回路板の他方の面に接近させ、電気的検
査と搭載状態検査を同時期に行なう検査手段を備えたも
のである。

【００１０】

【作用】この発明におけるプリント回路板の検査装置は
、センサー部の光センサー等で部品の形状、色等を検出
し部品が正しい位置に正しく搭載されていることを判別
する。また、検査手段は、電気的検査をプリント回路板
の一方の面より行ない、搭載状態検査を他方の面より行
なうので、両検査を同時期に行なえ検査時間が増加する
ことがない。

【００１１】

【実施例】

実施例１．以下、この発明の一実施例を図について説明
する。図１は検査装置のテストヘッド部を示したもので
あり１はプリント配線板、２は搭載部品、３は判別セン
サー、４はテストヘッド部、５はセンサー部、６はプロ
ーブピン、７は加圧手段、８は検査手段である。図２は
検査の手順を示す流れ図、図３はセンサー回路系を示す
。図４は搭載部品の例であり、（ａ）はコネクター等の
機構部品の例であり、（ｂ）は極性部品の例である。

【００１２】図１において、プリント配線板１は、テス
トヘッド部４のプローブピン６が接触するＳ面と、セン
サー部５の判別センサー３が接近してくるＰ面を有して
いる。Ｓ面は通常ははんだ付けされた面であり、Ｐ面は
搭載部品２を搭載した面である。検査手段８は図１には
詳細を図示していないが、図７に示したように判定制御
部２０、計測部２１、スキャナ部２２等を有しているが
、センサー部５からの信号も入力して処理できるように
改良されたものである。また、検査手段８は、加圧手段
７を動作させテストヘッド部４とセンサー部５を同時期
に所定の位置に配置して、テストヘッド部４の電気的検
査とセンサー部５の搭載状態検査を同時期に実行する。

【００１３】次に動作について説明する。たとえば形状
判別センサー３として光電スイッチを利用した場合につ
いて説明する。光電スイッチは、可視光線、赤外線まど
の光を投光部から信号光として発射し、検出物体によっ
て反射する光を受光部で検出（反射型）したり、しゃ光
される光量の変化を受光部で検出（透過型・回帰反射型
）し、出力信号を得るものである。プリント回路板１の
検査装置では、被検査プリント回路板固有のテストヘッ
ド部（治具またはフィックスチャーと一般に呼ばれる）
を製作するため、搭載部品の中で形状検査を行なう部品
の形状の特徴または色等を利用し特徴位置にセンサー３
を配置すれば搭載部品２が正常な位置にあるかどうかを
判別するセンサー出力信号を得ることができる。プリン
ト回路板の場合、狭視界反射型すなわち検出物体に光を
、スポット照射し、検出物体からの反射光を受光して検
出する光電センサーを利用すると判別しやすい。形状判
別センサー３で搭載部品２の判別信号が得られれば周辺
回路の追加、検査手順の追加は容易に行なうことができ
る。

【００１４】以上、この実施例ではプリント回路板の検
査装置として制御部、計測部、スキャナ部、テストヘッ
ド部とを備えたプリント回路板の検査装置においてテス
トヘッド部にプローブピンのみでなくセンサー部を組み
込み搭載部品の形状検査が可能としたことを特徴とする
プリント回路板の検査装置を説明した。

【００１５】実施例２．なお上記実施例では、形状検査
の場合につき説明したが、検査開始時のプリント回路板
の位置決め確認のために利用しても良い。この場合搭載
部品の形状・色ではなくプリント配線板の形状（スルホ
ール等）、色（アイマーク等）を利用するほうが高精度
となる。

【００１６】

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、プロ
ーブピンによる電気的接触を利用した検査に、判別セン
サーを利用したセンサー部による搭載部品の形状、色等
の検査を可能とするように構成したので検査能力を上げ
ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施例による検査装置の図。

【図２】検査手順を示す流れ図。

【図３】センサー回路系を示す図。

【図４】搭載部品の例を示す図。

【図５】プリント回路板の製造工程を示す図。

【図６】プリント回路板の概念図。

【図７】インサーキットテスターの構成図。

【図８】従来の検査装置の図。

【図９】従来の検査手段を示す図。

【符号の説明】

１　　プリント配線板 ２　　搭載部品 ３　　形状判別センサー ４　　テストヘッド部 ５　　センサー部 ６　　フローブピン ７　　加圧手段 ８　　検査手段

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　以下の要素を有するプリント回路板の
   検査装置 （ａ）プリント回路板の一方の面からプリント回路及び
   搭載部品の電気的検査を行なうテストヘッド部、（ｂ）
   プリント回路板の他方の面からプリント回路板の搭載部
   品の搭載状態検査を行なうセンサー部、（ｃ）上記テス
   トヘッド部をプリント回路板の一方の面に配置し、上記
   センサー部をプリント回路板の他方の面に配置し、電気
   的検査と搭載状態検査を同時期に行なう検査手段。