JPS63305263A

JPS63305263A - プリント基板測定検査装置

Info

Publication number: JPS63305263A
Application number: JP62142051A
Authority: JP
Inventors: Masao Matsunari; 松成　昌男
Original assignee: TAKAYA KK
Current assignee: TAKAYA KK
Priority date: 1987-06-06
Filing date: 1987-06-06
Publication date: 1988-12-13
Also published as: JPH0567188B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野）本発明はベアボード、実装基板等のプリント基板の検査
、修理に使用するプリント基板測定検査装置に関する。

（従来の技術）プリント基板に実装された各部品を検査する際各部品に
コンタクトプローブを接触させ、その電気的性能をチェ
ックする。

従来、この種の検査装置は各部品の検査箇所毎ニ、コン
タクトピン（コンタクト１０−プ）をアクリルボード等
に配置した治具（以後ピンボードと称する。）を使用し
、このピンボード全プリント基板に接触させ、各コンタ
クトピンから各部品の電気的情報を取シ出し検査するも
のであった。

検査箇所から情報を得ることができ、プリント基板一枚
当りの検査時間を短縮することができるが、一方プリン
ト基板の品種に対してピンボードを製作しなければなら
ず、その製作時間がかかる為、少品種多量生産には好適
であるが多品種少量生産には向かない。

近年、多品種少量生産に適合するプリント基板測定検査
装置として、第５図に示す可動プローブ方式の装置が提
案されている。

この装置はＸＹテープ／ｌ／　ｌの２木の駆動軸２（ζ
、犬々れ−っずつコンタクトプローグ３を取付け、コン
タクトプローブからの測定信号をＴ気性能検査装置４で
検査するものである。この装置においては、コンタクト
プローブ３は駆動軸２によう検査箇所に移動され、ソレ
ノイド等（図示せず）で下降され被検査プリント基板９
に接触する。したがって、この装置では試験すべき部品
に対しコンタクトプローブを移動しなければならないが
、上記従来技術のようにピンボードを製作しなくてよい
ため、多品種少量生産向きの装置であるといえる。

（発明が解決すべき問題点）上記可動プローブ方式のプリント基板測定検査装置は、
コンタクトプローブを２本しか持っていない為、２本の
コンタクトプローブの間に一つの回路が形成される場合
には、その回路内の部品の電気的性能が試験できる。

しかし、２本のコンタクトプローブの間に２つ以上の回
路が形成されると、各回路同士が影響しあって、一つの
回路内の部品の電気的性能を検査できなくなる。

例えば、並列に接続されている部品の一方のみを検査し
ようとして、その部分の両端にコンタクトプローブを接
触させても、並列に接続されている他の部品の影響を受
け、部品単体時と異なる値を示す場合がある。

本発明の目的は、周辺回路の影響をうけずに各部品の電
気的性能を測定検査する可動プローブ方式のプリント基
板測定検査装置を提供することにある。

（間、明点を解決するための手段）上記目的を解決するため、本発明は３本以上のＸＹ駆動
軸の各々にコンタクトプローブを設け、これらコンタク
トプローブのうち２本のコンタクトプローブを被検査部
品の両端子に接触するよう位置決めし、他のコンタクト
プローブ金波検査部品と並列に設けられた回路の一点に
接触するよう位置決めする位置制御部分よび、上記他Ｏ
コンタクトプローブに所定電圧を加えて、上記２本のコ
ンタクトプローブにより得られる検出情報に基き被検査
部品の電気的性能の測定を行なう測定部とを設ける。

（作用）位置制御部は被検査部品の端子位置座標およびこれに並
列な回路の座標を記憶してお）、検査部に従ってこれら
座標上ＸＹ駆動軸に指示する。

ＸＹ駆動軸はコンタクトプローグのうち２本を被検査部
品の両方の端子位置に位置決めし、残りのコンタクトプ
ローブは、被検査部品と並列に設けられた回路の一点と
接触するよう位置決めする。回路の一点に接触されたコ
ンタクトプローブにより、被検査部品と並列に設けられ
た回路の一点に所定電圧を印加する。この所定電圧の印
加によシ上記回路を流れる電流が、上記２木のコンタク
トプローブに検出されるのを抑止する。このため上記２
本のコンタクトプローブで検出される電流は被検査部品
を流れるものとなり、被検査部品単体的の電気的性能を
得ることができる。

（実施例）以下不発明の実施例を図面の簡単な説明する。

第１図は本発明のプリント基板測定検査装置の略式全体
構成図である。

３本のＸＹ駆動軸２の各対に取付けられたコンタクトプ
ローブ３Ａ〜３Ｂは被検査基板９の全域を夫々移動でき
る。各コンタクトプローブ３Ａ〜３Ｂの位置制御および
コンタクトプローブの上下動作制御は位置制御部５によ
って行なわれる。コンタクトプローブは電気性能検査部
４に接続されている。さらに位置制御部５及び電気性能
検査部４は、それらを統括的ニコントロールするコント
ロール部６に接続されている。被検査基板９はガイド８
によシ所定の位置に位置決めされる。

コントロール部６は位置制御部５および電気性能検査部
４を制御するための制御情報を持っている。この制御情
報は第２図に示すテープ／ｌ／２０に格納されておシ、
項番２１に従って順番に読み出される。

テープ／Ｌ’２０には、各コンタクトプローブのＸ、Ｙ
座標位置２２および各コンタクトプローブに与えるべき
信号２３．２４．２５さらには試験の予想結果２６が格
納されている。テーブル２０において、ｒＥＪは試験電
圧を対応するコンタクトプローブに印加することを示し
、「Ｇ」は対応するコンタクトプローブを接地すること
を示し、「検」は対応するコンタクトプローブを検出器
４４に接続することを示し、「出」はコンタクトプロー
ブを比較器４５に接続することを示す。

チーブ／ｌ／２０中の位置２２は位置制御部５へ出力さ
れ、この情報に基き位置制御部５はＸＹ駆動軸２を制御
しコンタクトプローブ３Ａ〜３Ｃを位置決めする。チー
ブ／ｌ／２０中の信号２２２４．２５および２６は電気
性能検査部４へ送られる。

第３図に電気性能検査部４の内部構成を示す。電気性能
検査部４は電圧Ｅを発生する電源４２、接地端４８、検
出器４４、比較器４５およびセレクタ４１を有している
。セレクタ４１は、コントロール部６からの信号２３〜
２５ニ基き、いずれのコンタクトプローブを電力４２接
地端４３比較器４５および検出器４４に接続するかを制
御する。比較器４５は、検出器４４の検出結果とコント
ロール部６からの試験予想結果２６とを比較して、被検
査部品の良否の判定を行なう。判定結果はコントロール
部６に記憶される。

以下本実施例の基本的な動作について説明する。まずコ
ントロール部６のテープ／Ｌ／２０から第１番目の項番
のデータが読み出される。

各コンタクトプローブ３Ａ〜３Ｃが位置制御部５！８５
の制御によシ、第１番目の被検査部品に対して位置決め
される。この場合において第３図の部品１１を、第１番
目の被検査部品とすると、コンタクトプローブ３Ａおよ
び３Ｃは部品１１の両側端子位置、コンタクトプローブ
３Ｂは部品１１に並列な回路を構成する部品１２および
１３の接続点に夫々位置決めされる。

位置決めが終了した段階でセレクタ４１が駆動され、テ
ーブル２０に従ってコンタクトプローブ８ＡＫｌｄ電１
４２、コンタクトプローブには接地端４３、コンタクト
プローブ３Ｃには検出器４４が夫々接続される。その結
果部品１１、１２、１３および電気性能検査部の各回路
によシ、第４図に示す回路が形成される。

第４図の回路において、検出器４４を構成するＯＰアン
プの２つの入力端は等測的に短絡しているとみなされる
。したがって、入力端の電位差は零となるからＬ点とＧ
点は同電位となり、部品１１のインピーダンスをＲｚ、
流れる電流をエイとすると　工ｚ　＝　Ｖｏ　／　Ｒ、
Ｒｘ　＝　Ｆ２　／工耳の関係が成立する。（Ｖｏは検
出器４４出力電圧）これによって部品ｉｔのインピーダ
ンスＲｘは、Ｒｘ　＝　ＥＲ　／　Ｖ’として求められ
る。したがって、検出器４４の出力電圧は部品１　１の
インピーダンスＲ．に対応する這となっており、この電
圧がテープ／ｌ／２０内の予想結果２６と等しいかが、
比較器４５で検査される。検査結果はコントロール部６
に記憶される。検査が終了するとコンタクトプローブ３
Ａ〜３Ｃは上昇する。コントロール部６　ハ、Ｔ　−プ
ル２０から第２番目の項番のデータが読出される。

第２番目のデータは、２本のコンタクトプローブしか位
置決めがされていない。すなわちこれは、被検査部品に
並列する回路のない場合であり、この場合は２本のコン
タクトプローブを用いて検査が行われる。すなわち、コ
ンタクトプローブ３Ａ、３Ｃは被検査部品の両端子に位
置決めされるとともにコンタクトプローブ３Ａには電源
４２が接続され、コンタクトプローブ３Ｃには比較器４
５が接続される。

例えば被検査部品のインピーダンスをＲＦとし、これに
流れる電流をニジとすると　Ｒｖ＝Ｅ／Ｘｖとして求め
られる。工ｒが抵抗４６に流れるとし、抵抗４６の値を
ｒとすると、比較器４５にはＥｒ／Ｒｖなる電圧が与え
られる。この電圧がテーブル２０内の予想結果２６と等
しいかが比較器４５で検査されコントロール部６に検査
結果が記憶される検査が終了するとコンタクトプローブ
３Ａ１８Ｃは上昇し、テーブル２０から第３番目の項番
のデータが読出され、上記と同様の検査を行なう。

このような検査を予め設定された項数だけ繰返し行う。

２本のコンタクトプローブを用いるか、３本のコンタク
トプローブを用いるかはテーブル２０にデータを記憶さ
せる時点あるいは記憶されているデータを変更すること
によシ容易に行なえる。

なお、上記実施例ではコンタクトプローブは３本とした
が、同一の目的を持って３本以上のコンタクトプローグ
を用いた形を採用することも可能である。

（発明の効果）本発明によれば３本以上のコンタクトプローブを持つこ
とにより、並列に接続された部品の電気的性能を周辺回
路の影響を受けずに検査可能にしたプローブ移動式のプ
リント基板測定検査装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるプリント基板測定検査装置の略式
全体構成図、第２図はコントロール部６内のテープ／Ｌ
’２０構成図、第３図は電気性能検査部４の内部構成図
、第４図は被検査部品ｌｌの測定原理を示す回路図、第
５図は従来のプリント基板測定検査装置を示す図である
。１・・・罫テープ／Ｉ／２・・・ＸＹ駆動軸３Ａ、　８
Ｂ、　３０・・・コンタクトプローブ４　・・・電気性
能検査部　５　・・・位置制御部６　・−・コントロー
ル部

Claims

【特許請求の範囲】

（１）プリント基板に実装された複数部品の電気的性能
を検査するプリント基板測定検査装置において、プリン
ト基板上に独立に位置決めされる少なくとも３本のコン
タクトプローブと、各被検査部品について該コンタクト
プローブの位置を指定するデータを記憶する記憶部であ
つて、被検査部品に並列する回路がある場合には、該被
検査部品の両端の位置の他に、該並列する回路の一点の
位置のデータを記憶する記憶部と、該記憶部から順次続
出される位置に基き、前記コンタクトプローブを位置決
めする位置制御部と、前記並列する回路を流れる電流が
他の一のコンタクトプローブに流れない状態下で、該他
の一のコンタクトプローブから得られたデータが、予め
定めたデータと等しいか否かを検出する電気性能検査部
とを有するプリント基板測定、検査装置。
（２）特許請求の範囲第１項において、前記所定電圧は
接地電圧であることを特徴とするプリント基板測定検査
装置。
（３）特許請求の範囲第２項において、前記電気性能検
査部は、前記他の一のコンタクトプローブに一つの入力
端が接続され、他の入力端が接地されるオペアンプを有
することを特徴とするプリント基板測定検査装置。