JP3111069B2 - 走査検査装置 - Google Patents
走査検査装置Info
- Publication number
- JP3111069B2 JP3111069B2 JP11297821A JP29782199A JP3111069B2 JP 3111069 B2 JP3111069 B2 JP 3111069B2 JP 11297821 A JP11297821 A JP 11297821A JP 29782199 A JP29782199 A JP 29782199A JP 3111069 B2 JP3111069 B2 JP 3111069B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- printed circuit
- circuit board
- test
- inspection
- inspection apparatus
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/302—Contactless testing
- G01R31/304—Contactless testing of printed or hybrid circuits
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2805—Bare printed circuit boards
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はプリント回路板の自
動検査に関し、特に導通状態を識別するために剥き出し
のプリント回路板上の検査サイトを走査し、正常である
ことが確認された時には検査サイトの更なる検査を排除
する走査検査装置に関する。
動検査に関し、特に導通状態を識別するために剥き出し
のプリント回路板上の検査サイトを走査し、正常である
ことが確認された時には検査サイトの更なる検査を排除
する走査検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】プリント回路板をチェックする自動検査
機では検査中にプリント回路板を取り付ける”ピンベッ
ド”型の検査治具が長く使用されている。この検査治具
はバネ荷重をかけられたピン状の多数のプローブを有
し、これらプローブはバネ圧力のもとで検査中のプリン
ト回路板上の指定の検査点と電気的に接触するように配
設される。なおこの検査中のプリント回路板は検査中ユ
ニットまたは”ＵＵＴ”とも呼ばれる。プリント回路板
に形成される特別な回路は他の回路とは異なっており、
したがって、プリント回路板の検査点と接触するピンベ
ッド構成をこの特別なプリント回路板用に特別に作らな
くてはならない。検査されるべき回路が設計されると、
その回路をチェックするのに使用される検査点のパター
ンが選択され、このパターンに対応する検査プローブ列
が検査治具に形成される。このことは概して検査プロー
ブの特別の配列に適合するようなパターンの孔をプロー
ブプレートに開け、プローブプレート上に開けられたこ
れら孔に検査プローブを取り付けることにより行われ
る。次いで検査治具にプリント回路板が取りつけられ、
検査プローブ列上に配置される。検査の間、バネ荷重が
かけられた検査プローブは検査中のプリント回路板の検
査点にバネ圧力で接触せしめられる。そして電気検査信
号がプリント回路板から検査プローブへ送信され、そし
て検査治具の外へ送信され、該電気信号が高速電気検査
分析器に伝達され、プリント回路板上の回路の様々な検
査点間の導通状態および導通状態の欠陥を検知する。
機では検査中にプリント回路板を取り付ける”ピンベッ
ド”型の検査治具が長く使用されている。この検査治具
はバネ荷重をかけられたピン状の多数のプローブを有
し、これらプローブはバネ圧力のもとで検査中のプリン
ト回路板上の指定の検査点と電気的に接触するように配
設される。なおこの検査中のプリント回路板は検査中ユ
ニットまたは”ＵＵＴ”とも呼ばれる。プリント回路板
に形成される特別な回路は他の回路とは異なっており、
したがって、プリント回路板の検査点と接触するピンベ
ッド構成をこの特別なプリント回路板用に特別に作らな
くてはならない。検査されるべき回路が設計されると、
その回路をチェックするのに使用される検査点のパター
ンが選択され、このパターンに対応する検査プローブ列
が検査治具に形成される。このことは概して検査プロー
ブの特別の配列に適合するようなパターンの孔をプロー
ブプレートに開け、プローブプレート上に開けられたこ
れら孔に検査プローブを取り付けることにより行われ
る。次いで検査治具にプリント回路板が取りつけられ、
検査プローブ列上に配置される。検査の間、バネ荷重が
かけられた検査プローブは検査中のプリント回路板の検
査点にバネ圧力で接触せしめられる。そして電気検査信
号がプリント回路板から検査プローブへ送信され、そし
て検査治具の外へ送信され、該電気信号が高速電気検査
分析器に伝達され、プリント回路板上の回路の様々な検
査点間の導通状態および導通状態の欠陥を検知する。
【０００３】検査プローブと検査中のプリント回路板と
を検査のために圧力をかけて接触させるのに現在様々な
アプローチが使用されている。これら治具の一つの種類
として”布線検査治具”があり、ここでの検査プローブ
はプローブから外部の電子制御検査分析器に検査信号を
伝達するのに使用するための別々のインターフェイス接
触子に個々に配線される。これら布線検査治具は検査中
に検査治具のハウジング内に真空を適用し、プリント回
路板を検査プローブに押しつけ接触するので”真空検査
治具”と呼ばれることが多い。また、同様に構成された
特注の布線検査治具にはプリント回路板を検査中に検査
プローブに押しつけ接触させるのに必要なバネ力を適用
する真空とは別の機械的手段を使用して作られるものも
ある。
を検査のために圧力をかけて接触させるのに現在様々な
アプローチが使用されている。これら治具の一つの種類
として”布線検査治具”があり、ここでの検査プローブ
はプローブから外部の電子制御検査分析器に検査信号を
伝達するのに使用するための別々のインターフェイス接
触子に個々に配線される。これら布線検査治具は検査中
に検査治具のハウジング内に真空を適用し、プリント回
路板を検査プローブに押しつけ接触するので”真空検査
治具”と呼ばれることが多い。また、同様に構成された
特注の布線検査治具にはプリント回路板を検査中に検査
プローブに押しつけ接触させるのに必要なバネ力を適用
する真空とは別の機械的手段を使用して作られるものも
ある。
【０００４】布線検査治具で使用する検査プローブとイ
ンターフェイスピンと伝達ピンとのワイヤラップ接続ま
たは別の接続は非常に時間がかかる。しかしながら、特
注の布線検査治具は大きく複雑で高価な電子検査分析器
が実用的でないような検査点の構成が複雑で製造量の少
ないプリント配線板を検査するのには特に有効である。
ンターフェイスピンと伝達ピンとのワイヤラップ接続ま
たは別の接続は非常に時間がかかる。しかしながら、特
注の布線検査治具は大きく複雑で高価な電子検査分析器
が実用的でないような検査点の構成が複雑で製造量の少
ないプリント配線板を検査するのには特に有効である。
【０００５】前述のように、特注の検査治具は信号を治
具から外部の回路検査器に伝達する治具の一つの種類で
ある。別の種類の検査治具は”格子型治具”として公知
のいわゆる”専用”検査治具であり、ここでの検査治具
ではプリント回路板上のランダムなパターンの検査点は
伝達ピンにより接触せしめられ、これら伝達ピンは検査
信号を受信機の格子状のパターンで配設されたインター
フェイスピンに伝達する。これら格子型検査器における
取付けは概して特注の布線検査治具より複雑ではなく簡
単である。
具から外部の回路検査器に伝達する治具の一つの種類で
ある。別の種類の検査治具は”格子型治具”として公知
のいわゆる”専用”検査治具であり、ここでの検査治具
ではプリント回路板上のランダムなパターンの検査点は
伝達ピンにより接触せしめられ、これら伝達ピンは検査
信号を受信機の格子状のパターンで配設されたインター
フェイスピンに伝達する。これら格子型検査器における
取付けは概して特注の布線検査治具より複雑ではなく簡
単である。
【０００６】典型的な専用検査治具または格子型治具は
非常に多くのスイッチを備える検査電子回路を有し、こ
のスイッチは格子板の検査プローブを電子検査分析器の
対応する検査回路に接続する。格子型検査器の一実施例
では40,000ものスイッチが使用されている。このような
検査器で剥き出しのプリント回路板を検査する時、格子
板の格子状のパターンの検査プローブと検査中のプリン
ト回路板の格子状ではないパターンの検査点との間をつ
なぐ伝達ピンを伝達治具が支持する。従来の格子型治具
ではいわゆる”傾斜ピン”と呼ばれるピンが伝達ピンと
して使用される。傾斜ピンは直っすぐな堅いピンであ
り、伝達治具の一部である伝達プレート内の予め開けら
れた対応した穴に固定される。傾斜ピンは別々の検査信
号をプリント回路板の格子状ではないランダムなパター
ンの検査点から格子板の格子状のパターンの検査プロー
ブへ伝達するために様々な方向に傾斜することができ
る。
非常に多くのスイッチを備える検査電子回路を有し、こ
のスイッチは格子板の検査プローブを電子検査分析器の
対応する検査回路に接続する。格子型検査器の一実施例
では40,000ものスイッチが使用されている。このような
検査器で剥き出しのプリント回路板を検査する時、格子
板の格子状のパターンの検査プローブと検査中のプリン
ト回路板の格子状ではないパターンの検査点との間をつ
なぐ伝達ピンを伝達治具が支持する。従来の格子型治具
ではいわゆる”傾斜ピン”と呼ばれるピンが伝達ピンと
して使用される。傾斜ピンは直っすぐな堅いピンであ
り、伝達治具の一部である伝達プレート内の予め開けら
れた対応した穴に固定される。傾斜ピンは別々の検査信
号をプリント回路板の格子状ではないランダムなパター
ンの検査点から格子板の格子状のパターンの検査プロー
ブへ伝達するために様々な方向に傾斜することができ
る。
【０００７】伝達治具はレキサンのようなプラスチック
材料で作られた複数の伝達プレートを組み立てて構成さ
れる。これら伝達プレートは伝達治具の周囲で互いに離
間した”離間領域（stand-offs）”を形成するために互
いに鉛直方向に一列に並べられた対応した組のスペーサ
の間に伝達治具内で重ねられる。スペーサは伝達プレー
トを互いに鉛直方向に離間した固定位置に保持し、互い
に合理的に平行である。伝達治具の各段にある伝達プレ
ートは或るパターンで予め開けられた整列穴がを有し、
これら整列穴が伝達治具内での各傾斜ピンの位置を制御
する。
材料で作られた複数の伝達プレートを組み立てて構成さ
れる。これら伝達プレートは伝達治具の周囲で互いに離
間した”離間領域（stand-offs）”を形成するために互
いに鉛直方向に一列に並べられた対応した組のスペーサ
の間に伝達治具内で重ねられる。スペーサは伝達プレー
トを互いに鉛直方向に離間した固定位置に保持し、互い
に合理的に平行である。伝達治具の各段にある伝達プレ
ートは或るパターンで予め開けられた整列穴がを有し、
これら整列穴が伝達治具内での各傾斜ピンの位置を制御
する。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】ところがプリント回路
板の検査点が互いに非常に近い場合やプリント回路板が
非常に薄い場合、これらのタイプの検査治具には幾つか
の問題がある。個々の検査点は一般に検査パッドとして
呼ばれ、これら検査パッドのグループは一般的に検査パ
ックとして公知である。傾斜ピンが非常に薄い検査パッ
ドと接触する時、検査パッドは傾斜ピンによって破壊さ
れたり、曲げられたりする可能性がある。検査パッドの
損傷具合と検査パッド同士の配置の近接具合とによって
は、個々の検査パッドが検査中に永続的に短絡してしま
うことになる。
板の検査点が互いに非常に近い場合やプリント回路板が
非常に薄い場合、これらのタイプの検査治具には幾つか
の問題がある。個々の検査点は一般に検査パッドとして
呼ばれ、これら検査パッドのグループは一般的に検査パ
ックとして公知である。傾斜ピンが非常に薄い検査パッ
ドと接触する時、検査パッドは傾斜ピンによって破壊さ
れたり、曲げられたりする可能性がある。検査パッドの
損傷具合と検査パッド同士の配置の近接具合とによって
は、個々の検査パッドが検査中に永続的に短絡してしま
うことになる。
【０００９】これらのタイプの検査治具に起こる第二の
問題は検査パッド同士が非常に近くに配置されている時
には検査パックの正確な検査結果を得ることが困難なこ
とである。検査パッド同士が非常に近くに配置されてい
る場合には、傾斜ピンを検査パック内の各検査パッドに
向けるのは非常に困難である。検査用の傾斜ピンが僅か
でも調整不良が検査結果に影響を及ぼし、検査の精度が
低下してしまう。
問題は検査パッド同士が非常に近くに配置されている時
には検査パックの正確な検査結果を得ることが困難なこ
とである。検査パッド同士が非常に近くに配置されてい
る場合には、傾斜ピンを検査パック内の各検査パッドに
向けるのは非常に困難である。検査用の傾斜ピンが僅か
でも調整不良が検査結果に影響を及ぼし、検査の精度が
低下してしまう。
【００１０】第三の問題は検査ボール格子列（BGA ）ま
たは四角で平坦なパッド（QFP ）としてとして形成され
る時のように, 検査プローブの格子密度より高い検査パ
ッドの格子密度を有する検査パックに対して生じる。こ
のような場合、各検査パッドの検査での利用に十分に応
えられる伝達ピンはなく、したがって検査パックを完全
に検査することはできない。
たは四角で平坦なパッド（QFP ）としてとして形成され
る時のように, 検査プローブの格子密度より高い検査パ
ッドの格子密度を有する検査パックに対して生じる。こ
のような場合、各検査パッドの検査での利用に十分に応
えられる伝達ピンはなく、したがって検査パックを完全
に検査することはできない。
【００１１】これら問題を扱うために、確実且つ安全に
小さい検査パッドを有するプリント回路板を検査できる
プリント回路板検査治具が開発された。このプリント回
路板検査治具は非常に近接した検査すべき検査点のグル
ープがあるプリント回路板上の位置に対応して治具に配
置された気圧作動式短絡プレートを有する。またこの短
絡プレートが検査中ユニットに係合できるように短絡プ
レートの寸法に対応した穴が上方伝達プレートに開けら
れている。検査点に電気的に接続するために短絡プレー
トの上面を覆うようにコンプライアント導電媒体層が配
置される。また短絡プレートは伝達プレートの層を通っ
て下方へ延びる空気シリンダに取り付けるためのスナッ
プ嵌めタイプの取付け具を有する。空気シリンダは検査
治具の下方伝達プレートにしっかりと固定された底面受
け口にスナップ式に嵌る底面プラグにより検査治具の底
部に取り付けられる。
小さい検査パッドを有するプリント回路板を検査できる
プリント回路板検査治具が開発された。このプリント回
路板検査治具は非常に近接した検査すべき検査点のグル
ープがあるプリント回路板上の位置に対応して治具に配
置された気圧作動式短絡プレートを有する。またこの短
絡プレートが検査中ユニットに係合できるように短絡プ
レートの寸法に対応した穴が上方伝達プレートに開けら
れている。検査点に電気的に接続するために短絡プレー
トの上面を覆うようにコンプライアント導電媒体層が配
置される。また短絡プレートは伝達プレートの層を通っ
て下方へ延びる空気シリンダに取り付けるためのスナッ
プ嵌めタイプの取付け具を有する。空気シリンダは検査
治具の下方伝達プレートにしっかりと固定された底面受
け口にスナップ式に嵌る底面プラグにより検査治具の底
部に取り付けられる。
【００１２】検査中ユニットの検査中においては、空気
シリンダを作動し、短絡プレートを上昇して検査パック
に接触させ、検査点を曲げたり損傷したりせずにこれら
を有効に短絡し検査する。
シリンダを作動し、短絡プレートを上昇して検査パック
に接触させ、検査点を曲げたり損傷したりせずにこれら
を有効に短絡し検査する。
【００１３】この方法の問題は検査中に全ての検査サイ
トが短絡されてしまうので、検査パック内の一以上の個
々の検査サイトが不適当に短絡されているか否かが判ら
ないことである。
トが短絡されてしまうので、検査パック内の一以上の個
々の検査サイトが不適当に短絡されているか否かが判ら
ないことである。
【００１４】密集した検査パッドを検査するための別の
方法は浮動可能なプローブに検査パック内の個々のパッ
ドを接触することである。プローブは概して絶縁検査と
導通検査の二種類の検査を行う。絶縁検査ではプローブ
は二つのネットワーク内の一つの点に接触する。導通検
査では各検査パッドが接触されなければならない。この
導通検査の方法は各検査パッドに接触する工程が時間の
かかる工程であるので望ましくない。
方法は浮動可能なプローブに検査パック内の個々のパッ
ドを接触することである。プローブは概して絶縁検査と
導通検査の二種類の検査を行う。絶縁検査ではプローブ
は二つのネットワーク内の一つの点に接触する。導通検
査では各検査パッドが接触されなければならない。この
導通検査の方法は各検査パッドに接触する工程が時間の
かかる工程であるので望ましくない。
【００１５】したがって迅速に検査結果を出すことがで
きる剥き出しのプリント回路板の導通検査用の改良され
た検査機器の必要性が存在する。
きる剥き出しのプリント回路板の導通検査用の改良され
た検査機器の必要性が存在する。
【００１６】
【課題を解決するための手段】本発明は剥き出しのプリ
ント回路板の導通検査をするための走査検査器を具備す
る。プリント回路板の導通検査に先立ちプリント回路板
上の検査サイトに物理的に１００％接触せしめられた検
査機がプリント回路板の潜在的な問題をチェックする。
これに対し、本発明の走査検査器は問題を確定するため
にプリント回路板を検査せず、適切な導通状態を発見す
るためにプリント回路板を迅速に走査し、そしてこれら
検査サイトを検査ルーチンから排除する。本発明は全検
査サイトの８０〜９０％を迅速に排除することができ、
残った検査サイトが従来のプローブによる方法で検査さ
れる。本発明の走査検査器は導電物質およびコンプライ
アント物質からなる上部層と導電物質およびコンプライ
アント物質からなる下部層とを具備し、これら上部層と
下部層とは検査すべきプリント回路板の上面および下面
の全てを覆うことができる大きさである。電流が導電層
に送られ、この導電層がプリント回路板の回路を短絡さ
せる。ワイパブラシの列が上部導電層および下部導電層
のどちらか一方または両方を通って延びる。個々の各ワ
イパブラシは測定用電子装置に接続されたプリント回路
板上の別々のスイッチに配線される。
ント回路板の導通検査をするための走査検査器を具備す
る。プリント回路板の導通検査に先立ちプリント回路板
上の検査サイトに物理的に１００％接触せしめられた検
査機がプリント回路板の潜在的な問題をチェックする。
これに対し、本発明の走査検査器は問題を確定するため
にプリント回路板を検査せず、適切な導通状態を発見す
るためにプリント回路板を迅速に走査し、そしてこれら
検査サイトを検査ルーチンから排除する。本発明は全検
査サイトの８０〜９０％を迅速に排除することができ、
残った検査サイトが従来のプローブによる方法で検査さ
れる。本発明の走査検査器は導電物質およびコンプライ
アント物質からなる上部層と導電物質およびコンプライ
アント物質からなる下部層とを具備し、これら上部層と
下部層とは検査すべきプリント回路板の上面および下面
の全てを覆うことができる大きさである。電流が導電層
に送られ、この導電層がプリント回路板の回路を短絡さ
せる。ワイパブラシの列が上部導電層および下部導電層
のどちらか一方または両方を通って延びる。個々の各ワ
イパブラシは測定用電子装置に接続されたプリント回路
板上の別々のスイッチに配線される。
【００１７】検査中ユニットは上部導電層および下部導
電層を通過し、ワイパブラシが検査点上を通過する時、
ワイパブラシのスイッチが入る。ワイパブラシのスイッ
チが入るとワイパブラシは検査信号を測定用電子装置に
送る。測定用電子装置は特定の検査中ユニット用の分類
された検査データを有するソフトウェアを具備する。分
類された検査データはワイパブラシからのデータと比較
され、これらが適合した場合には更なる検査をしない。
電層を通過し、ワイパブラシが検査点上を通過する時、
ワイパブラシのスイッチが入る。ワイパブラシのスイッ
チが入るとワイパブラシは検査信号を測定用電子装置に
送る。測定用電子装置は特定の検査中ユニット用の分類
された検査データを有するソフトウェアを具備する。分
類された検査データはワイパブラシからのデータと比較
され、これらが適合した場合には更なる検査をしない。
【００１８】これらおよび他の本発明の特徴は後述の詳
細な説明と添付の図面からさらに詳しく理解することが
できる。
細な説明と添付の図面からさらに詳しく理解することが
できる。
【００１９】
【発明の実施の形態】本発明の一実施例の走査検査装置
１０を図１に示す。走査検査装置１０は上部短絡層１２
および下部短絡層１４を有し、これら短絡層は検査中に
検査すべきプリント回路板または検査中ユニット１６を
挟み込む。上部短絡層１２は導電布または金属のような
内側の導電層１８と発泡体のような外側のコンプライア
ント層（検査中ユニットを短絡するのに十分なコンプラ
イアンスを有する層）２０とを具備する。下部短絡層１
４と同様に上部短絡層１２と同じ物質で作られた内側の
導電層２２および外側のコンプライアント層２４を有す
る。なお、上部短絡層１２および下部短絡層１４を導電
ゴムのように導電性があり且つコンプライアンスを有す
る一つの物質で作製してもよい。
１０を図１に示す。走査検査装置１０は上部短絡層１２
および下部短絡層１４を有し、これら短絡層は検査中に
検査すべきプリント回路板または検査中ユニット１６を
挟み込む。上部短絡層１２は導電布または金属のような
内側の導電層１８と発泡体のような外側のコンプライア
ント層（検査中ユニットを短絡するのに十分なコンプラ
イアンスを有する層）２０とを具備する。下部短絡層１
４と同様に上部短絡層１２と同じ物質で作られた内側の
導電層２２および外側のコンプライアント層２４を有す
る。なお、上部短絡層１２および下部短絡層１４を導電
ゴムのように導電性があり且つコンプライアンスを有す
る一つの物質で作製してもよい。
【００２０】上部短絡層１２および下部短絡層１４のど
ちらか一方または両方を横断するようにワイパブラシ
（掃引用ブラシ）２６が列をなして延びており、このワ
イパブラシを一つだけ図１の上部短絡層１２内に示す。
各ワイパブラシ２６はプリント回路板２８の個々のスイ
ッチに配線される。プリント回路板２８はケーブル３２
を介して測定用電子装置３０に接続される。
ちらか一方または両方を横断するようにワイパブラシ
（掃引用ブラシ）２６が列をなして延びており、このワ
イパブラシを一つだけ図１の上部短絡層１２内に示す。
各ワイパブラシ２６はプリント回路板２８の個々のスイ
ッチに配線される。プリント回路板２８はケーブル３２
を介して測定用電子装置３０に接続される。
【００２１】上部短絡層１２および下部短絡層１４はワ
イパブラシ２６の列の部分を除いて検査中ユニット全体
に接触しなければならず、このワイパブラシ２６の列の
幅は検査中ユニットの幅よりも広い。ワイパブラシ２６
の列を上部短絡層１２および下部短絡層１４の両方に配
置する場合にはこれらワイパブラシ２６の列は互いにオ
フセットされるが、これは検査中ユニットの長さに（移
動方向に）沿って同じ配置にすることで検査中にユニッ
トが接触しないようにするためである。検査中ユニット
１６は上部短絡層１２と下部短絡層１４とに挟まれ、こ
の検査中ユニットは該短絡層の導電層に流される電流に
より検査中ユニットの両側を短絡する。検査中ユニット
に短絡電流を流しつつ、検査中ユニットをプッシュロッ
ド３４によりワイパブラシ２６の下に押し込む。プッシ
ュロッド３４は気圧シリンダ、油圧シリンダまたはリニ
アモータ３６により作動せしめられる。
イパブラシ２６の列の部分を除いて検査中ユニット全体
に接触しなければならず、このワイパブラシ２６の列の
幅は検査中ユニットの幅よりも広い。ワイパブラシ２６
の列を上部短絡層１２および下部短絡層１４の両方に配
置する場合にはこれらワイパブラシ２６の列は互いにオ
フセットされるが、これは検査中ユニットの長さに（移
動方向に）沿って同じ配置にすることで検査中にユニッ
トが接触しないようにするためである。検査中ユニット
１６は上部短絡層１２と下部短絡層１４とに挟まれ、こ
の検査中ユニットは該短絡層の導電層に流される電流に
より検査中ユニットの両側を短絡する。検査中ユニット
に短絡電流を流しつつ、検査中ユニットをプッシュロッ
ド３４によりワイパブラシ２６の下に押し込む。プッシ
ュロッド３４は気圧シリンダ、油圧シリンダまたはリニ
アモータ３６により作動せしめられる。
【００２２】検査中ユニット１６は例えば図２（Ａ）に
示したようにトレース３９により互いに接続された検査
パッド３８および４０のような、トレースにより互いに
接続された複数の検査パッドを有する。図２（Ａ）から
図２（Ｄ）に示したように、検査中ユニット１６がワイ
パブラシ２６の下を通過した時、すなわちワイパブラシ
により掃引された時に、個々の検査パッド３８および４
０が互いに適切に接続されており、電流を通す場合には
これら検査パッド３８および４０は検査パッドに接触し
ている個々のワイパブラシ２６のスイッチを入れる。ス
イッチが入れられたワイパブラシ２６は測定用電子装置
３０に信号を送り、測定用電子装置３０はこの測定用電
子装置３０にプログラムされたソフトウェアにより検査
パッド３８および４０の第一の検査像４２および４４を
生成する。ところで検査中ユニット１６上の個々の検査
パッドの大きさは異なるであろうと予想され、したがっ
て互いに近接したワイパブラシ２６により形成される幅
とは正確に一致しないかもしれない。したがって、生成
された第一の検査像４２および４４は検査パッドにより
スイッチが入れられたワイパブラシ２６の幅と一致する
であろうが、これは検査パッド自身の正確な物理的寸法
ではない可能性がある。また第一の検査像４２および４
４は検査中ユニット１６が４６の方向に向かってワイパ
ブラシ２６の下を通過する時に生成される。ところがこ
の第一の検査像が実際の検査パッドより大きい可能性が
あるので、検査中ユニット１６を９０°回転し４８の方
向に向かって第二回目の走査としてワイパブラシ２６の
下を通過させる。ワイパブラシ２６が第二回目の走査と
して検査パッド３８および４０に接触すると、これらワ
イパブラシ２６は検査パッドの第二の寸法に対応した第
二の検査像５０および５２を生成する。測定用電子装置
３０用のソフトウェアは図２（Ｃ）に示したように第一
の検査像の上に第二の検査像を重ね合わせ、これより検
査パッド３８および４０に対応した第一の検査像と第二
の検査像とが重なる領域である最終検査像５４および５
６ができる。最終検査像５４および５６はソフトウェア
に含まれるネットリストデータまたは検査パッドデータ
と比較される。ソフトウェアは走査されたデータと蓄え
られたデータとを比較し、これらが適合していた時、ソ
フトウェアはこれら検査パッドをプローブのような従来
の手段で次に行われる更なる導通検査から排除する。
示したようにトレース３９により互いに接続された検査
パッド３８および４０のような、トレースにより互いに
接続された複数の検査パッドを有する。図２（Ａ）から
図２（Ｄ）に示したように、検査中ユニット１６がワイ
パブラシ２６の下を通過した時、すなわちワイパブラシ
により掃引された時に、個々の検査パッド３８および４
０が互いに適切に接続されており、電流を通す場合には
これら検査パッド３８および４０は検査パッドに接触し
ている個々のワイパブラシ２６のスイッチを入れる。ス
イッチが入れられたワイパブラシ２６は測定用電子装置
３０に信号を送り、測定用電子装置３０はこの測定用電
子装置３０にプログラムされたソフトウェアにより検査
パッド３８および４０の第一の検査像４２および４４を
生成する。ところで検査中ユニット１６上の個々の検査
パッドの大きさは異なるであろうと予想され、したがっ
て互いに近接したワイパブラシ２６により形成される幅
とは正確に一致しないかもしれない。したがって、生成
された第一の検査像４２および４４は検査パッドにより
スイッチが入れられたワイパブラシ２６の幅と一致する
であろうが、これは検査パッド自身の正確な物理的寸法
ではない可能性がある。また第一の検査像４２および４
４は検査中ユニット１６が４６の方向に向かってワイパ
ブラシ２６の下を通過する時に生成される。ところがこ
の第一の検査像が実際の検査パッドより大きい可能性が
あるので、検査中ユニット１６を９０°回転し４８の方
向に向かって第二回目の走査としてワイパブラシ２６の
下を通過させる。ワイパブラシ２６が第二回目の走査と
して検査パッド３８および４０に接触すると、これらワ
イパブラシ２６は検査パッドの第二の寸法に対応した第
二の検査像５０および５２を生成する。測定用電子装置
３０用のソフトウェアは図２（Ｃ）に示したように第一
の検査像の上に第二の検査像を重ね合わせ、これより検
査パッド３８および４０に対応した第一の検査像と第二
の検査像とが重なる領域である最終検査像５４および５
６ができる。最終検査像５４および５６はソフトウェア
に含まれるネットリストデータまたは検査パッドデータ
と比較される。ソフトウェアは走査されたデータと蓄え
られたデータとを比較し、これらが適合していた時、ソ
フトウェアはこれら検査パッドをプローブのような従来
の手段で次に行われる更なる導通検査から排除する。
【００２３】一方、例えばトレース３９が壊れ、検査パ
ッド３８と検査パッド４０とを適切に正確に接続してい
ない時、ワイパブラシ２６は必要な最終検査像を生成で
きず、ソフトウェアは検査パッド３８および４０をプロ
ーブによる更なる導通検査を必要とする問題領域である
可能性があるとみなす。
ッド３８と検査パッド４０とを適切に正確に接続してい
ない時、ワイパブラシ２６は必要な最終検査像を生成で
きず、ソフトウェアは検査パッド３８および４０をプロ
ーブによる更なる導通検査を必要とする問題領域である
可能性があるとみなす。
【００２４】本発明はプリント回路板を電気的に走査し
且つプリント回路板において適切に電気的に接続されて
いる検査点を探すことにより、更なる導通検査からこれ
ら検査点を排除する。電気的に適切に接続されている検
査点を排除することにより、従来の検査から検査パッド
の８０〜９０％が排除される。本発明の走査検査装置に
よれば剥き出しのプリント回路板の導通検査を実行する
のに必要な時間が非常に短縮される。
且つプリント回路板において適切に電気的に接続されて
いる検査点を探すことにより、更なる導通検査からこれ
ら検査点を排除する。電気的に適切に接続されている検
査点を排除することにより、従来の検査から検査パッド
の８０〜９０％が排除される。本発明の走査検査装置に
よれば剥き出しのプリント回路板の導通検査を実行する
のに必要な時間が非常に短縮される。
【００２５】図６は本発明の別の実施例の走査検査装置
６０を示す。この走査検査装置６０での上部短絡層１２
および下部短絡層１４はモータ６４により駆動されるロ
ーラ６２周りの無限軌道（連続軌道）で形成される。実
施例の検査中ユニット１６は検査像を生成するために上
部短絡層１２および下部短絡層１４によりワイパブラシ
を通過するよう駆動される。
６０を示す。この走査検査装置６０での上部短絡層１２
および下部短絡層１４はモータ６４により駆動されるロ
ーラ６２周りの無限軌道（連続軌道）で形成される。実
施例の検査中ユニット１６は検査像を生成するために上
部短絡層１２および下部短絡層１４によりワイパブラシ
を通過するよう駆動される。
【００２６】以上、本発明をその実施例について説明
し、図示したが本発明はこれに限定されず請求の範囲に
あるような本発明の範囲内で本発明を変更し、修正する
ことができる。
し、図示したが本発明はこれに限定されず請求の範囲に
あるような本発明の範囲内で本発明を変更し、修正する
ことができる。
【図１】本発明の走査検査装置の略側面図である。
【図２】（Ａ）〜（Ｄ）はそれぞれワイパブラシおよび
図１の走査検査装置により生成される検査信号の略詳細
図である。
図１の走査検査装置により生成される検査信号の略詳細
図である。
【図３】第一の別の実施例の走査検査装置の略側面図で
ある。
ある。
１０…走査検査装置 １２…上部短絡層 １４…下部短絡層 １６…検査中ユニット ２６…ワイパブラシ（掃引用ブラシ） ３０…測定用電子装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平７−83954（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−274278（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−230064（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 31/02 - 31/06 G01R 1/06 - 1/067
Claims (13)
- 【請求項１】 プリント回路板を導通検査するための走
査検査装置であって、 プリント回路板の検査サイトに電気的に接触することが
できる導電層と、 前記プリント回路板の検査サイトを掃引することができ
る掃引手段と、 該掃引手段を通過するように前記プリント回路板を移動
するための移動手段とを具備し、 前記掃引手段と前記導電層とにより前記プリント回路板
上の異なる検査サイトを短絡させ、該掃引手段により掃
引された検査サイトに対応する検査信号を該掃引手段に
より発生させ、 該検査信号を受信するように前記掃引手段に電気的に接
続された測定用電子装置に蓄えられたデータと前記検査
信号とを比較してプリント回路板の導通検査をするよう
にした走査検査装置において、 前記導電層と前記掃引手段とをプリント回路板の一方の
側に配置した走査検査装置。 - 【請求項２】 他の導電層を前記プリント回路板の他方
の側に配置した請求項１に記載の走査検査装置。 - 【請求項３】 前記プリント回路板の反対側の導電層上
にコンプライアント層を配置した請求項１または２に記
載の走査検査装置。 - 【請求項４】 前記導電層は導電布であり、前記コンプ
ライアント層は発泡体である請求項３に記載の走査検査
装置。 - 【請求項５】 前記導電層は導電コンプライアント層で
ある請求項１または２に記載の走査検査装置。 - 【請求項６】 前記導電コンプライアント層は導電ゴム
である請求項５に記載の走査検査装置。 - 【請求項７】 各導電層に前記掃引手段を配置し、前記
プリント回路板を横断する方向において互いにオフセッ
トするように前記掃引手段を配置した請求項２に記載の
走査検査装置。 - 【請求項８】 前記掃引手段は前記導電層の少なくとも
一方を幅方向に通って延びるワイパである請求項１また
は２に記載の走査検査装置。 - 【請求項９】 前記ワイパはブラシの列である請求項８
に記載の走査検査装置。 - 【請求項１０】 前記ブラシは検査信号を発生するため
のスイッチを具備する請求項９に記載の走査検査装置。 - 【請求項１１】 前記移動手段はプッシュロッドである
請求項１に記載の走査検査装置。 - 【請求項１２】 前記移動手段は回転ローラ周りに無限
軌道で形成された前記導電層である請求項１に記載の走
査検査装置。 - 【請求項１３】 プリント回路板を導通検査するための
走査検査方法において、 プリント回路板の検査サイトを掃引手段により掃引しつ
つ、該掃引手段とプリント回路板の両側に配置された導
電層とによりプリント回路板の異なる検査サイトを短絡
するようにプリント回路板を移動させ、掃引手段により
掃引された検査サイトに対応するよ検査信号を発生する
工程と、 前記検査信号を蓄えられたデータと比較する比較工程と
を具備する走査検査方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US09/236,029 US6191600B1 (en) | 1999-01-22 | 1999-01-22 | Scan test apparatus for continuity testing of bare printed circuit boards |
| US09/236029 | 1999-01-22 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000214207A JP2000214207A (ja) | 2000-08-04 |
| JP3111069B2 true JP3111069B2 (ja) | 2000-11-20 |
Family
ID=22887831
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11297821A Expired - Fee Related JP3111069B2 (ja) | 1999-01-22 | 1999-10-20 | 走査検査装置 |
Country Status (9)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6191600B1 (ja) |
| EP (1) | EP1022572B1 (ja) |
| JP (1) | JP3111069B2 (ja) |
| KR (1) | KR100345024B1 (ja) |
| CN (1) | CN1150405C (ja) |
| AT (1) | ATE304178T1 (ja) |
| DE (1) | DE69927126T2 (ja) |
| HK (1) | HK1028915A1 (ja) |
| TW (1) | TW521150B (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6788078B2 (en) * | 2001-11-16 | 2004-09-07 | Delaware Capital Formation, Inc. | Apparatus for scan testing printed circuit boards |
| EP1724599B1 (en) * | 2005-05-20 | 2007-08-22 | Agilent Technologies, Inc. | Test device with test parameter adaptation |
| DE102009004555A1 (de) | 2009-01-14 | 2010-09-30 | Atg Luther & Maelzer Gmbh | Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten |
| KR101365996B1 (ko) * | 2012-05-15 | 2014-02-24 | 서울대학교산학협력단 | 유연 기판 구조체의 열화특성 평가방법 |
| CN103454570B (zh) * | 2012-05-29 | 2016-05-18 | 纬创资通股份有限公司 | 电路布局的短路检测方法与电路布局的短路检测装置 |
| CN106211562A (zh) * | 2016-08-30 | 2016-12-07 | 苏州良基电子科技有限公司 | 一种电路板 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3629702A (en) * | 1970-03-09 | 1971-12-21 | Hazeltine Corp | Automatic tester for a plurality of discrete electrical components supplied in a repetitive predetermined sequence |
| US4836797A (en) * | 1986-12-16 | 1989-06-06 | Sym-Tek Systems, Inc. | Electrical device contactor |
| GB2267970B (en) | 1992-06-11 | 1995-10-04 | Northern Telecom Ltd | Monitoring the quality of unpopulated printed circuit boards |
| US5506510A (en) * | 1994-05-18 | 1996-04-09 | Genrad, Inc. | Adaptive alignment probe fixture for circuit board tester |
| JP3821171B2 (ja) | 1995-11-10 | 2006-09-13 | オー・エイチ・ティー株式会社 | 検査装置及び検査方法 |
| DE19730516A1 (de) | 1997-07-03 | 1999-01-07 | Luther & Maelzer Gmbh | Leiterplattenprüfvorrichtung |
-
1999
- 1999-01-22 US US09/236,029 patent/US6191600B1/en not_active Expired - Fee Related
- 1999-08-10 DE DE69927126T patent/DE69927126T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1999-08-10 EP EP99250268A patent/EP1022572B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-08-10 AT AT99250268T patent/ATE304178T1/de not_active IP Right Cessation
- 1999-09-08 CN CNB991186249A patent/CN1150405C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1999-09-08 TW TW088115508A patent/TW521150B/zh not_active IP Right Cessation
- 1999-09-09 KR KR1019990038257A patent/KR100345024B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1999-10-20 JP JP11297821A patent/JP3111069B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-12-21 HK HK00108277A patent/HK1028915A1/xx not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| HK1028915A1 (en) | 2001-03-09 |
| DE69927126D1 (de) | 2005-10-13 |
| DE69927126T2 (de) | 2006-06-22 |
| TW521150B (en) | 2003-02-21 |
| CN1150405C (zh) | 2004-05-19 |
| EP1022572B1 (en) | 2005-09-07 |
| ATE304178T1 (de) | 2005-09-15 |
| CN1262442A (zh) | 2000-08-09 |
| KR100345024B1 (ko) | 2002-07-24 |
| EP1022572A1 (en) | 2000-07-26 |
| KR20000052323A (ko) | 2000-08-16 |
| JP2000214207A (ja) | 2000-08-04 |
| US6191600B1 (en) | 2001-02-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5469064A (en) | Electrical assembly testing using robotic positioning of probes | |
| JP2007256277A (ja) | 印刷回路板を走査検査する装置 | |
| CN1690723A (zh) | 非接触式测试与诊断电通路的方法和装置 | |
| US20030030459A1 (en) | Apparatus and methods for testing circuit boards | |
| JP3111069B2 (ja) | 走査検査装置 | |
| US4290015A (en) | Electrical validator for a printed circuit board test fixture and a method of validation thereof | |
| TW381180B (en) | Scan test machine for densely spaced test sites | |
| US20010015641A1 (en) | Circuit board testing apparatus | |
| JP2005315775A (ja) | 片面移動式プローブを用いた４端子検査方法及び４端子検査用治具 | |
| EP1415166B1 (en) | Apparatus and method for testing bare circuit boards | |
| JP4292013B2 (ja) | 回路基板検査装置 | |
| KR20050067759A (ko) | 반도체 검사장치 | |
| JP2673241B2 (ja) | コンタクト検査方法及びプロービング方法 | |
| JP4490005B2 (ja) | プリント回路板の試験方法及び試験装置 | |
| JP2002100658A (ja) | 半導体装置の検査装置 | |
| JP2591453B2 (ja) | バーンインボード検査装置およびバーンインボード検査方法 | |
| JP2008008716A (ja) | 接触試験装置および接触試験方法 | |
| KR980012185A (ko) | 웨이퍼의 전기적 테스트 장치 | |
| JPH04236368A (ja) | 被測定基板実装ｉｃのはんだ付け不良箇所の検出装置 | |
| JP2004144759A (ja) | 検査装置及び検査方法 | |
| JPH07244106A (ja) | 電気部品接続部とその電気回路の検査方法及び装置 | |
| JPH0567188B2 (ja) | ||
| JPH06242177A (ja) | 半導体装置のテスト装置 | |
| KR20080002506A (ko) | 패키지 에미션 분석 장치 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080914 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090914 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100914 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110914 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110914 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120914 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120914 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130914 Year of fee payment: 13 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |