JPS6385469A - 導通検査方法 - Google Patents
導通検査方法Info
- Publication number
- JPS6385469A JPS6385469A JP61233038A JP23303886A JPS6385469A JP S6385469 A JPS6385469 A JP S6385469A JP 61233038 A JP61233038 A JP 61233038A JP 23303886 A JP23303886 A JP 23303886A JP S6385469 A JPS6385469 A JP S6385469A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- conductors
- conductor
- measurement point
- parallel
- terminal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 5
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 43
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 10
- 241000283070 Equus zebra Species 0.000 claims abstract description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 3
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims 1
- 239000000615 nonconductor Substances 0.000 abstract description 6
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 6
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
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- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
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Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、ＸＹマトリックス型表示素子や入力素子等の
様に直線状で等間隔に複数個平行して並んでいろ導電体
の断線を検出する方法に係わる。
様に直線状で等間隔に複数個平行して並んでいろ導電体
の断線を検出する方法に係わる。
（従来の技術）
従来直線状で等間隔で複数個並行して並んでいる導電体
の断線を検出する方法について説明を加えろ。
の断線を検出する方法について説明を加えろ。
従来は、導電体の両端にピンを立て、その間の断線を調
べるということを全ての導電体につき行なっていた。ま
た、この導電体の途中に不導体部が存在している場合、
この不導体部の両端で別個の導電体と見做して、各々に
つきその両端でピンを立てて導電体の導通検査を行なっ
ていた。この場合、検査する必要のある導電体の数が非
常に多い為、予め検査する導電体の形状に合う様に検査
用のピンを位置合わせしたものであるプローバーを作成
し、それを導電体に位置合わせして合わせて検査を行な
っていた。
べるということを全ての導電体につき行なっていた。ま
た、この導電体の途中に不導体部が存在している場合、
この不導体部の両端で別個の導電体と見做して、各々に
つきその両端でピンを立てて導電体の導通検査を行なっ
ていた。この場合、検査する必要のある導電体の数が非
常に多い為、予め検査する導電体の形状に合う様に検査
用のピンを位置合わせしたものであるプローバーを作成
し、それを導電体に位置合わせして合わせて検査を行な
っていた。
（発明が解決しようとする問題点）
上述の従来の技術では１品種により導電体の形状が違っ
ている。従って各々の品種に応じたプローバーを用いな
ければ検査が行なえなかった。
ている。従って各々の品種に応じたプローバーを用いな
ければ検査が行なえなかった。
また、プローバー上の全てのピンが導電体の所望の位置
に合わせなければならない為に５位置合わせが容易でな
（、どこかのピンが導電体より外れるということがあっ
た。また、この様なことがない様に、導電体の型も精度
が求められていた。
に合わせなければならない為に５位置合わせが容易でな
（、どこかのピンが導電体より外れるということがあっ
た。また、この様なことがない様に、導電体の型も精度
が求められていた。
また、ピン間の導通を試験しなければならない為に、各
々のピン間を順次スキャンする必要があり。
々のピン間を順次スキャンする必要があり。
相当時間がかかっていた。
（問題を解決する為の手段）
上述の問題を解決する為に、導電ゴム等の導電体を置く
等をして全部の導電体について一端で導通なとり、他端
で測定点を摺動し、この測定点とこの導通端との間で電
圧をかけて流れる電流によって断線の有無を調べる様に
する。また、ここでいう測定点はピンとは限らず、プロ
ーブ、ローラーなどでも良い。
等をして全部の導電体について一端で導通なとり、他端
で測定点を摺動し、この測定点とこの導通端との間で電
圧をかけて流れる電流によって断線の有無を調べる様に
する。また、ここでいう測定点はピンとは限らず、プロ
ーブ、ローラーなどでも良い。
（作用）
上述の様にして、一端を測定点が摺動すると、第５図の
様な周期的に電流が流れてパルスが表われる波型が表わ
れろ。もし、この様な波型で、パルスの数をカウントし
て実際検査した導電体の本数と比較して、同一本数なら
ば断線がないと判断することができる。
様な周期的に電流が流れてパルスが表われる波型が表わ
れろ。もし、この様な波型で、パルスの数をカウントし
て実際検査した導電体の本数と比較して、同一本数なら
ば断線がないと判断することができる。
（実施例）
本発明の実施例を、図面を用いて説明を加える。
第２図は、基板（１６）上に平行に導電体（１１）が形
成している。この導電体口）の間隔は各々対象物により
異なっており、ロットが大きいものならば同一のピンチ
のものを何万枚と多数枚検査することもあるし、−枚で
一ロットを形成しているものもある。
成している。この導電体口）の間隔は各々対象物により
異なっており、ロットが大きいものならば同一のピンチ
のものを何万枚と多数枚検査することもあるし、−枚で
一ロットを形成しているものもある。
この場合、一端に導電ゴム（１４１を押しつけ、導通体
を形成する。更に、導電体口］の各−本の中に不導体部
（１２１が形成されている場合、この導電体（１１）の
ピッチより細かいゼブラゴム（１５）を導電体（１１１
と平行に押しつける。この状態で他端を測定点であるピ
ン（１３１で次々と第１図に示すように摺動させ、各々
の導電体ｌＩ］ｌが断線しているかどうかを、導電ゴム
（１４１との間で電圧をかけ、流れろ電流のパルスの数
で検知する。従って、この方法によれば不導体部がない
もので数十μｍから、不導体部が導電体中にあるもので
も百μｍ程度から種々の幅をもった導電体の検査に対し
ても用いることができる。
を形成する。更に、導電体口］の各−本の中に不導体部
（１２１が形成されている場合、この導電体（１１）の
ピッチより細かいゼブラゴム（１５）を導電体（１１１
と平行に押しつける。この状態で他端を測定点であるピ
ン（１３１で次々と第１図に示すように摺動させ、各々
の導電体ｌＩ］ｌが断線しているかどうかを、導電ゴム
（１４１との間で電圧をかけ、流れろ電流のパルスの数
で検知する。従って、この方法によれば不導体部がない
もので数十μｍから、不導体部が導電体中にあるもので
も百μｍ程度から種々の幅をもった導電体の検査に対し
ても用いることができる。
（発明の効果）
本発明を用いることにより、品種に関わりな（検査がい
つでも即座に数量に関わりなく行なえる様になった。ま
た、ピンの位置合わせの様な精度を必要としなくとも検
査が行なえる様になり、だれにでも検査が行なえる様に
なった。特に、導電体に不導体部が存する場合に良く応
用可能である。
つでも即座に数量に関わりなく行なえる様になった。ま
た、ピンの位置合わせの様な精度を必要としなくとも検
査が行なえる様になり、だれにでも検査が行なえる様に
なった。特に、導電体に不導体部が存する場合に良く応
用可能である。
第１図は１本発明による導電体の検査中を示す平面図で
あり、第２図は検査の対象である導電体の平面図であり
、第６図は、検査結果のパルス波形の一例である。
あり、第２図は検査の対象である導電体の平面図であり
、第６図は、検査結果のパルス波形の一例である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）直線状で等間隔に複数個平行して並んでいる導電体
の断線を検出する方法に於いて、一端を全ての導電体間
で導通して導通端を形成し、他端を測定点が順次摺動し
、該測定点と該導通端との間で電圧をかけて発生するパ
ルスによって断線の有無を検査する導通検査方法。 ２）前記導電体に予め不導体部が存在している場合、該
不導体部へ該導体と平行にゼブラゴムを当て、該不導体
部の導通をとって検査する特許請求の範囲第１項記載の
導通検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61233038A JPS6385469A (ja) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | 導通検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61233038A JPS6385469A (ja) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | 導通検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6385469A true JPS6385469A (ja) | 1988-04-15 |
Family
ID=16948830
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61233038A Pending JPS6385469A (ja) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | 導通検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6385469A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5514966A (en) * | 1992-04-21 | 1996-05-07 | Sumitomo Wiring Systems, Ltd. | Inspection method and an inspection apparatus for a temporarily bundled circuit of a wire harness |
-
1986
- 1986-09-30 JP JP61233038A patent/JPS6385469A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5514966A (en) * | 1992-04-21 | 1996-05-07 | Sumitomo Wiring Systems, Ltd. | Inspection method and an inspection apparatus for a temporarily bundled circuit of a wire harness |
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