JPH01311288A

JPH01311288A - 開放短絡検査装置及びその接触具及び開放短絡検査方法

Info

Publication number: JPH01311288A
Application number: JP63142273A
Authority: JP
Inventors: Toyoji Nishimoto; 西本　豊司
Original assignee: Toppan Printing Co Ltd
Current assignee: Toppan Inc
Priority date: 1988-06-09
Filing date: 1988-06-09
Publication date: 1989-12-15

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〈産業上の利用分野〉各種デイスプレィ、各種スイッチ等の如く、多数条の被
測定導線（以下導線と略する）間の電気的開放短絡を全
ての両端部間及び隣合う導線の、開放もしくは短絡の有
無につき検査する装置及びその接触具と検査方法に係る
。

〈従来の技術〉従来の導線の検査装置の接触具及び検査方法Ｇこついて
は、導線全部に対応させて探針を設けた接触具の探針間
で電気的短絡を検査していた。第５図は、その検査装置
の一例である。これは、全ての測定点に対応する位置に
探針を設けてあり、これに導線の測定点を接触する事で
対となる測定点および隣りあう測定点間の開放短絡を電
気的に選択して検査していた。

〈発明が解決しようとする課題〉しかし、導線間隔が小さくなっていき、探針の配設が困
難になってきた。それは、ある一定収上の距離が探針間
にないと、探針が固定出来なＬＭからである。その為、
探針を斜めに配設する方法や、千鳥配列する事により探
針間隔を広めていた。しかし、これにも限界があり、あ
る一定収下の間隔では作成出来ない。

従って、探針間隔が広くても狭い間隔の導線の開放と短
絡の検査が行える装置や方法が求められていた。

く課題を解決するための手段〉上述の課題を解決する為、両端部の探針を整数倍個毎に
配設し、その探針群を被測定導線と直交方向に移動する
ことで探針すべき導線の両端部間についての開放検査と
、隣合う導線間の短絡検査を全ての検査対象について行
なう。

なお所定とは、検査対象全体でも構わないが、その一部
であっても構わない。その場合は、上記の検査を繰り返
し実施することで全体を検査した事になる。

く作用〉本発明により、各々の探針固定具が独立に、しかも整数
倍回だけ動かすだけで、あたかも探針間隔が導線間隔と
同一の様な検査結果を得る事となる。

それは、探針固定具が交互に一間隔分だけ探針位置をず
らす事を一定整数倍だけ繰り返すと、全ての導線の開放
と短絡を検査した事になるからである。

なお、探針固定具が交互に一間隔分だけ探針位置をずら
す方法は、必ずしも片方の探針固定具だけ垂直に上下移
動したのち端部の直線方向に移動しなくとも、上下は両
方の探針固定具が行い、端部の直線方向の移動のみを片
方の探針固定具が行っても、上下移動のない摺動でも実
施できるので、端部の直線方向の移動以外は必須ではな
い。

〈実施例〉本発明の両端部の間隔が等しい場合の一実施例を、図面
を用いて説明する。第１図は、導線が設けられている基
板の平面図である。この基板（１１）は絶縁性で、この
上に導線０２１が、平行に多数条設けられている。その
中央部分０湯は、実際に入力や表示に用いられる主要部
である。

それに対し、端部０４θつは、検査用の領域外部である
。この導線θカは、等間隔に設けられている。

但し、本発明は、説明の為十条しか描かれていないが、
実際はこれより条数の多い、百条乃至一万条以上の本数
のとき用いられる。ここで、この十条の導線を上より（
１旧）＋　（１０２）　（１０３）　、　（１０４）　
、　（１０５）　、　（１０６）　、　（１０７）　、
　（１０８）　、　（１０９）　、　（１１０）　と番
号を付け、その各々の中央部分０３）を（２０１）、　
（２０２）　、　（２０３）　。

（２０４）　、　（２０５）　、　（２０６）　、　（
２０７）　、　（２０８）　、　（２０９）　、　（２
１０）　、その左端部０４）を（３０１）、　（３０２
）　、　（３０３）　、　（３０４）　、　（３０５）
　、　（３０６）　、　（３０７）　、　（３０８）　
、　（３０９）　、　（３１０）　　とし、その右端部
０５）を（４０１）、　（４０２）　、　（４０３）　
、　（４０４）　、　（４０５）　、　（４０６）　、
　（４０７）　、　（４０Ｂ）　、　（４０９）　、　
（４１０）　　とする。

次に、第２図に、探針間隔を導線間隔の三倍とした場合
の探針固定具（２１）（２２）の平面図を示す。

この各々の探針（３１）　、　（３２）　、　（３３）
　、　（３４）　、　（４１）、　（４２）　。

（４３）　、　（４４）間の移動する方向間隔は導線間
隔の三倍であるが、探針の配設の仕易さの為少々斜めに
配され、実際の探針間隔はもう少し開いている。

まず、最初の探針の位置は左端部（３０１）　（３０４
）　。

（３０７）　、　（３１０）には各々探針（３１）　、
　（３２）　、　（３３）　、　（３４）が置かれ、右
端部（４０１）、　（４０４）、　（４０７）　、　（
４１０）には各々探針（４１）（４２）　（４３）　（
４４）が置かれる。その各々対となる探針（３１）　（
３２）　（３３）　（３４）と探針（４１）　（４２）
　（４３）　（４４）との間の抵抗値を検査する事によ
り、導線（１０１）　（１０４）　（１０７）　（１１
０）の中央部分（２０１）　（２０４）　（２０７）　
（２１０）の開放検査が行える０次に、左の探針固定具
（２１）を−間隔分だけ移動し、左端部（３０２）　（
３０５）　（３０８）には各々探針（３１）　（３２）
　（３３）が置かれる。

ここで各月となる探針（３１）　（３２）　（３３）と
探針（４１）（４２）　（４３）との抵抗値を検査する
事により、導線（１０１）　（１０４）　（１０７）　
　と次の導線（１０２）　（１０５）　（ｔ０８）間の
短絡検査が行える。次に、右の探針固定具（２２）を−
間隔分だけ移動し、右端部（４０２）　（４０５）　（
４０８）には各々探針（４１）　（４２）　（４３）が
置かれる。この様にして順次検査を行ない、全ての導線
の開放と、隣り合う全ての導線間の短絡を調査する事が
出来る。

また、その探針固定具（２１）　（２２）の駆動機構は
、第３図及び第４図に示す様に、各々上下するリニアモ
ーター（６１）とガイド管（６２）により支持されてい
る支持台（６３）自体が上下する仕組みになっている。

また、その各支持台（６３）には、ボールスクリュー（
６５）が固定されている。また、その支持台（６３）に
は、各ボールスクリュー（６６）　（６７）が固定され
ている。また、そのボールスクリュー（６６）　（６７
）にガイドされて支持台（７１）　（７２）が縦方向に
微洲整可能に支持されている。また、その支持台（７１
）　（７２）には各々探針固定具（２１）（２２）が左
右の間隔を調整可能に固定されており、そのボールスク
リュー（６６）　（６７）にガイドされて探針固定具（
２１）　（２２）が独立に上下に移動可能になっている
。そのボールスクリュー（６５）はハンドル（６８）に
より任意の幅に決める事ができる。また、そのボールス
クリュー（６６）（６７）はステッピングモーター（６
９）　（７０）により正確に位置決めする事ができる。

〈効果〉本発明により、探針の間隔を、導線の端部の間隔より大
幅に広くとる事が可能になり、狭い間隔の導線も検査を
する事が出来る測定具の作製が可能になり、その測定も
可能になった。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の測定の対象となる基板の平面図であ
る。第２図は、本発明の一実施例を示す探針固定具の対
の平面図であり、第３図は、同駆動部分の正面図であり
、第４図は、同側面図である。第５図は、従来の探針固
定具の対の平面図である。１１・・・基板１２・・・導線１３・・・中央部１４．１５・・・端部２１．２２，５１．５２・・・探針固定具３１　、３２
．３３．３４．４１　、４２．４３．４４．５３・・・
探針２０１．２０２，２０３，２０４，２０５，２０６
，２０７．２０８，２０９．２１０・・・各導線の中央
部分３０１．３０２，３０３，３０４，３０５，３０６，３
０７，３０８，３０９，３１０・・・各導線の左端部４０１．４０２，４０３，４０４，４０５，４０６，４
０７，４０８，４０９，４１０・・・各導線の右端部６１・・・リニアモーター６２・・・ガイド管６３．７１．７２・・・支持台６５．６６．６７・・・ボールスクリュー６８・・・ハ
ンドル

Claims

【特許請求の範囲】１）第一の探針固定具と第二の探針固定具が被検査導線
の端部に沿った直線に沿って移動させる移動手段を有し
、前記第一の探針固定具と前記第二の探針固定具にはそ
れぞれ被検査導線の整数行おきの被検査導線の端部の整
数倍の位置に探針を配置しており、前記第一の探針固定
具と前記第二の探針固定具で対応する探針間で電気的短
絡開放を検知する手段からなる、開放短絡検査装置。２）前記各探針群を独立もしくは同時に上下方向に移動
可能な手段も具える事を特徴とする特許請求の範囲第１
項記載の開放短絡検査装置３）前記探針間隔を独立に設定可能な事を特徴とする特
許請求の範囲第１項乃至第２項記載の開放短絡検査装置
。４）前記第一と第二の探針固定具で探針の間隔が違う事
を特徴とする特許請求の範囲第１項乃至第２項乃至第３
項記載の開放短絡検査装置。５）第一の探針固定具と第二の探針固定具が被検査導線
の端部に沿った直線に沿って移動させる移動手段を有し
、前記第一と前記第二の探針固定具にはそれぞれ被検査
導線の整数行おきの被検査導線の端部の整数倍の位置に
探針を配置している接触具。６）前記探針間隔を独立に設定可能な事を特徴とする特
許請求の範囲第４項乃至第５項記載の開放短絡検査装置
。７）所定の領域内で、所定の被検査導線から一定整数倍
毎の位置の基準の被検査導線の両端部間の電気的開放を
検査する第一の工程と、一方の端部が基準の被検査導線
の端部であり、他方の端部が基準の被検査導線に隣合う
被検査導線の端部である、両端部間で電気的短絡を検査
する第二の工程を、前記隣り合う被検査導線を順次新た
な基準の被検査導線としながら前記整数の回だけ順次繰
り返す事を特徴とする開放短絡検査方法。８）所定の領域内で、一方の端部が所定の被検査導線か
ら一定整数倍毎の位置の基準の被検査導線の端部であり
、他方の端部が基準の被検査導線に隣合う被検査導線の
端部である、両端部間で電気的短絡を検査する第一の工
程と、前記隣合う被検査導線の両端部間の電気的開放を
検査する第二の工程を、前記隣り合う被検査導線を順次
新たな基準の被検査導線としながら前記整数回だけ順次
繰り返す事を特徴とする開放短絡検査方法。