JPH08304486A - 四端子測定用接触子構造 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 実装部品が基板側に正しく接続されているか
否かを四端子測定用接触子を用いて検査する際の検査作
業を迅速に行えるようにする。 【構成】 装置本体に上下左右方向に移動自在に配設さ
れる治具部１１と、水平バネ部２３を介して分岐された
上側垂直部２２と下側垂直部２４とを有してなる絶縁被
膜２１ａを備える偶数本の線状接触子２１とで構成さ
れ、水平バネ部２３を同一方向に整列させて配置される
線状接触子２１のそれぞれは、被検査基板５１上の実装
部品５２が備えるリード５３自体の横幅ａの範囲内で隣
り合う各２本を一組とし、前記各リード５３相互の間隔
ｂに対応する間隔を介在させて配置される各組の線状接
触子２１をそれぞれの上側垂直部２２を介して治具部１
１に固定させ、下側垂直部２４を治具部１１の対応部位
に設けらた各ガイド孔１７内に各別に挿入し、それぞれ
の下端部２４ａを被測定ポイントＰ₁ ，Ｐ₂ との導通を
自在にして突出させた。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は四端子測定用接触子構造
に係り、さらに詳しくは、被検査基板の実装部品の各リ
ードが基板側の対応回路パターンにハンダ付けされて正
しく接続されているか否かをインサーキットテスタ等の
基板検査装置が備える四端子測定用接触子を用いて検査
する際の検査作業を迅速に行うことができるようにした
四端子測定用接触子構造に関する。

【０００２】

【従来の技術】いわゆる四端子測定法による場合には、
抵抗体である被測定物に電流を流すための定電流端子
と、その際における電圧降下状態を検出するための電圧
検出端子とを組み込んで一本化したコンタクトプローブ
として形成し、このコンタクトプローブを二か所の測定
ポイントに各別に接触させることで、コンタクトプロー
ブの側の抵抗を含めずに抵抗値を測定することができる
ことから、高精度の抵抗測定能力が要求されるディジタ
ルマルチメータやＬＣＲメータなどに多く採用されてい
る。

【０００３】図３は、上記四端子測定法により測定する
際に従来から使用されてきているコンタクトプローブの
うち、いわゆる平行型タイプと称されるものについての
構造例を示す。

【０００４】同図によれば、コンタクトプローブ１は、
先端部に電圧測定ピン２ａを有するプランジャー２ｂを
バレル２ｃ内にその進退を自在に付勢して保持させてな
る電圧測定用接触端子２と、先端部に電流測定ピン３ａ
を有するプランジャー３ｂをバレル３ｃ内にその進退を
自在に付勢して保持させてなる電流測定用接触端子３
と、これら接触端子２，３相互を絶縁体４を介在させて
一体的に抱持するスリーブ５とで形成されている。

【０００５】図４は、図３に示すコンタクトプローブ１
を用いて被検査基板５１上の回路パターン５１ａにＩＣ
などの実装部品５２のリード５３が足浮きせずに正しく
接続されているか否かを四端子測定法により検査する際
の配置関係を示す説明図であり、一方のコンタクトプロ
ーブ１は、前記リード５３の脚部５３ｂがはんだ付けさ
れている側の回路パターン５１ａの被測定ポイントに、
他方のコンタクトプローブ１は、リード５３の肩部５３
ａの被測定ポイントにそれぞれ接触させることで行われ
ることになる。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところで、図３に示す
コンタクトプローブ１を２本用いることで被検査基板５
１上の回路パターン５１ａに実装部品５２のリード５３
が正しく接続されているか否かを四端子測定法のもとで
検査することはできる。

【０００７】しかし、図３に示すコンタクトプローブ１
による場合には、実装部品５２が備える１個１個の各リ
ード５３が被検査基板５１上の対応する回路パターン５
１ａに正しく接続されているかをリード５３毎に個別測
定しなければならず、煩雑であるばかりでなく、必要な
検査を終えるまでに多くの時間を費やしてしまうという
不都合があった。

【０００８】本発明は従来技術にみられた上記課題に鑑
みてなされたものであり、その目的は、被検査基板上の
実装部品にあって同一方向に一連となって突設されてい
る複数個の各リードには各２本を一組として用意される
線状接触子を、前記各リードと接続されるそれぞれの回
路パターンには同様に各２本を一組として用意される線
状接触子を同時に接触させて測定できるようにした四端
子測定用接触子構造を提供することにある。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成すべくな
された本発明の構成上の特徴は、基板検査装置本体に上
下左右方向への移動を自在に配設される治具部と、水平
バネ部を介して分岐された上側垂直部と下側垂直部とを
有してなる絶縁被膜を備える偶数本の線状接触子とで構
成され、前記水平バネ部を同一方向に整列させて配置さ
れる前記線状接触子のそれぞれは、被検査基板上の実装
部品が備えるリード自体の横幅に納まる範囲内で離間す
るように隣り合わせた各２本を一組とし、実装部品の前
記各リード相互の間隔に対応する間隔を介在させて配置
される各組の線状接触子をそれぞれの上側垂直部を介し
て前記治具部の側に固定させ、前記下側垂直部の側を治
具部の対応部位に設けられている各ガイド孔内に各別に
挿入し、それぞれの下端部を被測定ポイントとの導通を
自在にして突出させたことにある。なお、前記各ガイド
孔は、請求項２記載のごとく治具部とは別体となって治
具部に固定配置される絶縁性の各中空筒材が画成する内
部空間によりそれぞれ設けることができるほか、請求項
３記載のごとく治具部自体に穿設された絶縁性を備える
各通孔によりそれぞれ設けるものであってもよい。

【００１０】

【作用】このため、本発明によれば、被検査基板上の実
装部品が備える同一方向に突出されて一連となっている
各リードと、これら各リードと個別に接続されている各
回路パターンとのそれぞれには、各２本を一組として用
意される線状接触子を対応するすべての各リードの側
と、これらと接続関係にある各回路パターンの側との二
系統に対し各別に前記水平バネ部を介して接触圧を付与
しながら同時接触させることができるので、測定作業を
迅速、かつ、確実に行うことができる。

【００１１】

【実施例】図１は本発明の第１実施例を、図２は本発明
の第１実施例をそれぞれその要部を一部切り欠いて示す
拡大斜視図であり、その全体は、図示しない基板検査装
置本体に上下方向（Ｚ軸方向）と左右方向（Ｘ−Ｙ軸方
向）への移動を自在に配設される治具部１１と、水平バ
ネ部２３を介して分岐される上側垂直部２２と下側垂直
部２４とを有して前記治具部１１の側に固定される例え
ばテフロンコーティングなどの絶縁被覆処理を経て形成
された絶縁被膜２１ａを備える偶数本の導電性の線状接
触子２１とで構成されている。

【００１２】このうち、治具部１１は、絶縁性合成樹脂
材や絶縁性金属材などのほか、必要な絶縁被覆処理が施
された導電性金属材を用いて形成されるものであり、少
なくとも前記線状接触子２１が固定配置される側には、
これら線状接触子２１の各上側垂直部２２を固定するた
めの上部垂直壁部１２と、前記水平バネ部２３と同一面
を形成して棚状の平面を形成している水平壁部１３と、
前記下側垂直部２４に沿うように垂設された下部垂直壁
部１４とが形成されている。

【００１３】また、上記構造を備えた治具部１１に固定
配置される線状接触子２１のそれぞれは、水平バネ部２
３を同一方向に整列させ、かつ、基板５１上の実装部品
５２が備えるリード５３自体の横幅ａに納まる範囲内で
離間するように隣り合わせた各２本を一組とすることで
それぞれ組み合わされる。

【００１４】この場合、組をなしている一方の線状接触
子２１は、被測定物であるリード５３もしくは回路パタ
ーン５１ａの側に電流を流すための定電流端子としての
役割を、他方の線状接触子２１は、その際における電圧
降下状態を検出するための電圧検出端子としての役割を
それぞれ分担することになる。

【００１５】かくして２本が一組となって組み合わされ
た各組の線状接触子２１は、実装部品５２の前記各リー
ド５３，５３相互の間隔ｂに対応する間隔を隣り合う組
相互間に介在させた上で、それぞれの上側垂直部２２を
前記治具部１１の上部垂直壁部１２の側に例えば固定材
１５を用いて固着するなど、適宜の固着手段を用いるこ
とで前記治具部１１の側に固定配置されている。

【００１６】また、このように上側垂直部２２を介して
前記治具部１１の側に固定された各組を構成しているそ
れぞれの線状接触子２１は、前記水平壁部１３とは非接
触状態となってこれと平行するように水平バネ部２３が
配置され、かつ、この水平バネ部２３を経て下方に延設
された下側垂直部２４が治具部１１の対応部位に絶縁性
が付与されて設けられている各ガイド孔１７内に各別に
挿入された状態のもとで配設されている。

【００１７】このため、組毎の各線状接触子２１，２１
は、ガイド孔１７から突出しているそれぞれの下端部２
４ａ，２４ａを介することで例えば図１に円形破線で示
す被測定ポイントＰ₁ 又はＰ₂ にその導通を自在にして
接触できることになる。なお、各線状接触子２１は、そ
の表面に絶縁被膜２１ａが形成されているので、被測定
ポイントＰ₁ 又はＰ₂ と直接接触する接触端２４ｂの絶
縁被膜２１ａを予め除去した上で使用されることにな
る。

【００１８】しかも、前記各ガイド孔１７は、図１に示
すように治具部１１とは別体となって当該治具部１１に
固定配置される絶縁性の各中空筒材１８により画成され
る内部空間１８ａとして設けるのが望ましい。

【００１９】この場合、上記中空筒材１８は、少なくと
もその内径である前記内部空間１８ａの口径が実装部品
５２のリード５３自体の横幅ａよりも小さなサイズとな
るように形成したものを用いることで、この内部空間１
８ａ（ガイド孔１７）内に一組を構成している２本の線
状接触子２１を相互に触れ合うことなく、かつ、被測定
ポイントＰ₁ としてのリード５３の側、もしくは被測定
ポイントＰ₂ としての回路パターン５１ａの側に同時に
接触させることができるように配置することができるこ
とになる。

【００２０】また、前記中空筒材１８は、治具部１１の
前記下部垂直壁部１４に沿わせて配列され、固定板材１
６により治具部１１の側に固着するなど、適宜の固定手
段を用いて治具部１１に固定配置されている。なお、各
中空筒材１８は、隣接配置される二本の中空筒材１８の
合計肉厚を実装部品５２の前記各リード５３，５３相互
の間隔ｂと一致させておくならば、単に相互に密着する
配置関係のもとで治具部１１に固定配置しさえすれば、
結果的に各リード５３との対応をとりながら２本を一組
とした線状接触子２１を治具部１１に固定配置すること
ができることになる。

【００２１】一方、前記各ガイド孔１７は、図２に示す
ように治具部１１自体に穿設された絶縁性を備える各通
孔１９によりそれぞれ設けることもできる。

【００２２】この場合、前記通孔１９は、その内径が実
装部品５２が備えるリード５３自体の横幅ａよりも小さ
なサイズとなるように形成する必要があり、この通孔
（ガイド孔１７）を一組を構成している２本の線状接触
子２１を相互に触れ合うことなく、かつ、被測定ポイン
トＰ₁ としてのリード５３の側、もしくは被測定ポイン
トＰ₂ としての回路パターン５１ａの側に同時に接触さ
せることができるように配置することができることにな
る。なお、前記各通孔１９は、実装部品５２の前記各リ
ード５３，５３相互の間隔ｂと一致する間隔をおいて穿
設する必要があり、これにより各リード５３との対応を
とりながら２本を一組とした線状接触子２１を治具部１
１に固定配置することができることになる。

【００２３】本発明はこのようにして構成されているの
で、一方の治具部１１を所定位置にある被検査基板５１
上の実装部品５２側へと移動させた後、これを実装部品
５２の同一方向に一連となって突出している各リード５
３に向けて降下させることで、線状接触子２１のすべて
をその接触端２４ｂを介して対応するリード５３の肩部
５３ａ上の図１に円形破線で示す被測定ポイントＰ₁ に
対し２本を一組として各別に同時接触させることができ
る。

【００２４】また、他方の治具部１１も実装部品５２の
前記各リード５３とその脚部５３ｂを介して接続関係に
ある各回路パターン５１ａ上の所定位置へと移動させた
後、これを各回路パターン５１ａに向けて降下させるこ
とで、線状接触子２１のすべてをその接触端２４ｂを介
して対応する回路パターン５１ａの側の図１に円形破線
で示す被測定ポイントＰ₂ に対し２本を一組として各別
に同時接触させることができる。

【００２５】したがって、一方の治具部１１と他方の治
具部１１とを用いることで、所定位置の実装部品５２が
備える複数個のリード５３と、これらリード５３の各脚
部５３ｂがはんだ付けにより接続されて対応する回路パ
ターン５１ａとの間の接続状況を四端子測定法により正
確、かつ、迅速に検査することができる。

【００２６】しかも、前記線状接触子２１は、上側垂直
部２２と下側垂直部２４との間に介在させた水平バネ部
２３を備えているので、下側垂直部２４の側が前記接触
端２４ａを介してリード５３の被測定ポイントＰ₁ や回
路パターン５１ａの被測定ポイントＰ₂ に当接して垂直
方向に負荷がかかった際，水平バネ部２３が撓むことで
前記接触端２４ａに対し接触圧を付与することができる
ので、その接触状態を確実なものとすることができる。

【００２７】なお、前記各ガイド孔１７が治具部１１と
は別体な中空筒材１８により画成される内部空間１８ａ
として形成されるものである場合には、中空筒材１８の
固定位置を変更した上で線状接触子２１を治具部１１に
固定することにより、実装部品５２の規格等に対応させ
ることができる。また、前記各ガイド孔１７が治具部１
１自体に穿設された絶縁性を備える各通孔１９として形
成されている場合には、別体となった中空筒材１８を設
ける場合に比して設計上の融通性には欠けるものの、規
格化の程度の高い実装部品５２に対してはより簡単な構
造のもとで対処することができることになる。

【００２８】

【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、被検
査基板上の実装部品が同一方向に位置して連なる各リー
ドと、これら各リードと個別に接続されている各回路パ
ターンとのそれぞれには、各２本を一組とした線状接触
子を対応するすべての各リードの側とこれらと接続関係
にある各回路パターンの側との二系統に対し各別に前記
水平バネ部を介して接触圧を付与しながら同時接触させ
ることができるので、測定作業を迅速、かつ、確実に行
うことができる。

【００２９】なお、前記各ガイド孔が請求項２記載のよ
うに治具部とは別体な中空筒材により画成される内部空
間として形成される場合には、中空筒材の固定位置を変
更した上で線状接触子を治具部に固定するで規格を異に
する実装部品に対しても柔軟に対応させることができ
る。また、前記各ガイド孔が請求項３記載のように治具
部自体に穿設された絶縁性を備える各通孔として形成さ
れている場合には、規格化の程度の高い実装部品に対
し、より簡単な構造のもとで対処することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例の要部についてその一部を切
り欠いて示す拡大斜視図である。

【図２】本発明の他の実施例の要部についてその一部を
切り欠いて示す拡大斜視図である。

【図３】従来からある四端子測定用プローブの一例を示
す説明図である。

【図４】図３に示す四端子測定用プローブを用いて行わ
れる検査状況を示す説明図である。

【符号の説明】

１１ 治具部 １２ 上部垂直壁部 １３ 水平壁部 １４ 下部垂直壁部 １５ 固定材 １６ 固定板材 １７ ガイド孔 １８ 中空筒材 １８ａ 内部空間 １９ 通孔 ２１ 線状接触子 ２１ａ 絶縁被覆層 ２２ 上側垂直部 ２３ 水平バネ部 ２４ 下側垂直部 ２４ａ 下端部 ２４ｂ 接触端 ５１ 被検査基板 ５１ａ 回路パターン ５２ 実装部品 ５３ リード ５３ａ 肩部 ５３ｂ 脚部 Ｐ₁ ，Ｐ₂ 測定ポイント

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 基板検査装置本体に上下左右方向への移
   動を自在に配設される治具部と、水平バネ部を介して分
   岐された上側垂直部と下側垂直部とを有してなる絶縁被
   膜を備える偶数本の線状接触子とで構成され、前記水平
   バネ部を同一方向に整列させて配置される前記線状接触
   子のそれぞれは、被検査基板上の実装部品が備えるリー
   ド自体の横幅に納まる範囲内で離間するように隣り合わ
   せた各２本を一組とし、実装部品の前記各リード相互の
   間隔に対応する間隔を介在させて配置される各組の線状
   接触子をそれぞれの上側垂直部を介して前記治具部の側
   に固定させ、前記下側垂直部の側を治具部の対応部位に
   設けられている各ガイド孔内に各別に挿入し、それぞれ
   の下端部を被測定ポイントとの導通を自在にして突出さ
   せたことを特徴とする四端子測定用接触子構造。
2. 【請求項２】 前記各ガイド孔は、治具部とは別体とな
   って治具部に固定配置される絶縁性の各中空筒材が画成
   する内部空間によりそれぞれ設けたことを特徴とする請
   求項１記載の四端子測定用接触子構造。
3. 【請求項３】 前記各ガイド孔は、治具部自体に穿設さ
   れた絶縁性を備える各通孔によりそれぞれ設けたことを
   特徴とする請求項１記載の四端子測定用接触子構造。