JPH03121413A - 電極基板の製造方法 - Google Patents
電極基板の製造方法Info
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- JPH03121413A JPH03121413A JP1259775A JP25977589A JPH03121413A JP H03121413 A JPH03121413 A JP H03121413A JP 1259775 A JP1259775 A JP 1259775A JP 25977589 A JP25977589 A JP 25977589A JP H03121413 A JPH03121413 A JP H03121413A
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Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は例えば液晶表示パネルやタッチパネル等に用い
る電極基板の製造方法に関する。
る電極基板の製造方法に関する。
例えば、液晶表示パネルにおいては、第４図に示すよう
に、一対の電極基板ｌ・１間に液晶層３を挟持し、その
液晶層３に対面する各電極基板ｌの表面に透明電極２を
設けた構成である。特に、ドツトマトリックス型の表示
パネルに用いる電極基板にあっては各基板１の表面に細
い線状の透明電極２が多数配列されて設けられている。
に、一対の電極基板ｌ・１間に液晶層３を挟持し、その
液晶層３に対面する各電極基板ｌの表面に透明電極２を
設けた構成である。特に、ドツトマトリックス型の表示
パネルに用いる電極基板にあっては各基板１の表面に細
い線状の透明電極２が多数配列されて設けられている。
上記のような電極基板を製造し組立てる場合には、予め
各電極基板ｌ上の各電極２に短絡や断線があるか否かを
検査してから組立てるのが普通である。
各電極基板ｌ上の各電極２に短絡や断線があるか否かを
検査してから組立てるのが普通である。
その検査方法として、例えば第５図に示すような電極パ
ターンをプローブによるなぞり方式で検査する場合、従
来は３つのプローブＰ１〜Ｐ３を備えたテスタＴを用い
、以下の要領で検査を行っている。
ターンをプローブによるなぞり方式で検査する場合、従
来は３つのプローブＰ１〜Ｐ３を備えたテスタＴを用い
、以下の要領で検査を行っている。
即ち、第５図実線示のように３つのプローブＰ１−Ｐ
３のうちの２つのプローブＰ１・Ｐ２を同一の電極２の
両端部に配置すると共に、残りのプローブＰ３を隣りの
電極上に配置し、それ等のプローブＰ１〜Ｐ３を図中矢
印のように電極２の配例方向に等速度で移動走査するこ
とにより、プローブＰ１・２２問およびプローブＰ３と
ＰｌまたはＰ２との間に流れる電流値等の変化を電気的
に検出して各電極２に断線や短絡があるか否かを調ベて
いる。なお、上記第５図のように各電極２の信号入力部
２ａ・２ａを電極２の長手方向両端部に交互に突出させ
て設けたものにあっては、上記第５図実線示のように移
動走査したのち各プローブを同図鎖線水ＰＩ−Ｐ３のよ
うに配置して同様に矢示方向に移動走査するものである
。
３のうちの２つのプローブＰ１・Ｐ２を同一の電極２の
両端部に配置すると共に、残りのプローブＰ３を隣りの
電極上に配置し、それ等のプローブＰ１〜Ｐ３を図中矢
印のように電極２の配例方向に等速度で移動走査するこ
とにより、プローブＰ１・２２問およびプローブＰ３と
ＰｌまたはＰ２との間に流れる電流値等の変化を電気的
に検出して各電極２に断線や短絡があるか否かを調ベて
いる。なお、上記第５図のように各電極２の信号入力部
２ａ・２ａを電極２の長手方向両端部に交互に突出させ
て設けたものにあっては、上記第５図実線示のように移
動走査したのち各プローブを同図鎖線水ＰＩ−Ｐ３のよ
うに配置して同様に矢示方向に移動走査するものである
。
ところが、第６図のように各電極２の信号入力部２ａ・
２ａを、表示領域（アクティブエリア）よりも小さいピ
ッチで配線したものにあっては、前記のプローブＰ１〜
Ｐ３を第６図実線示もしくは鎖線水ＰＩ−Ｐ３のように
配置し前記と同様に移動走査することにより上記信号入
力部を含めて各電極を全長にわたって検査しようとして
も上記各プローブＰ１〜Ｐ３の移動走査上における電極
のピッチが違うため検査できないという不具合があった
。
２ａを、表示領域（アクティブエリア）よりも小さいピ
ッチで配線したものにあっては、前記のプローブＰ１〜
Ｐ３を第６図実線示もしくは鎖線水ＰＩ−Ｐ３のように
配置し前記と同様に移動走査することにより上記信号入
力部を含めて各電極を全長にわたって検査しようとして
も上記各プローブＰ１〜Ｐ３の移動走査上における電極
のピッチが違うため検査できないという不具合があった
。
そこで、従来は第７図に示すように各電極２の信号入力
部２ａ・２ａの外方にアクティブエリアと等しいピッチ
の検査用電極延長部２ｂ・２ｂを設け、検査終了後は不
要となった上記延長部２ｂ・２ｂを例えば図の一点鎖線
位置ｆｆ１ｌ−１１で切断して除去することが提案され
ているが、上記の延長部を形成するために大きなスペー
スが必要であり、例えば大きな１枚のガラス板から複数
枚の電極基板を板取りする場合には、材料効率が悪く不
経済である。しかも上記延長部のみに断線等があり、他
の部分は正常であっても不良品とされてしまうため歩留
まりが低下する等の不具合があった。
部２ａ・２ａの外方にアクティブエリアと等しいピッチ
の検査用電極延長部２ｂ・２ｂを設け、検査終了後は不
要となった上記延長部２ｂ・２ｂを例えば図の一点鎖線
位置ｆｆ１ｌ−１１で切断して除去することが提案され
ているが、上記の延長部を形成するために大きなスペー
スが必要であり、例えば大きな１枚のガラス板から複数
枚の電極基板を板取りする場合には、材料効率が悪く不
経済である。しかも上記延長部のみに断線等があり、他
の部分は正常であっても不良品とされてしまうため歩留
まりが低下する等の不具合があった。
また、例えば第８図のように各電極の信号入力部２ａ・
２ａを、それぞれ水やイソプロピルアルコール（ＩＰＡ
）等の導電性液体Ｅ −Ｅ’に浸漬して各電極を互いに
電気的に導通させ、２つのプローブＰＩ−Ｐ２を備えた
テスタＴの一方のプローブＰＩまたはＰ２を上記の導通
部に接触させ、他方のプローブＰ２またはＰＩを各電極
の他端側に配置し矢印方向に移動走査して検査する方法
も提案されているが、検査時に流れる電流により電極が
電蝕反応を起こして電極が侵される等の問題があった。
２ａを、それぞれ水やイソプロピルアルコール（ＩＰＡ
）等の導電性液体Ｅ −Ｅ’に浸漬して各電極を互いに
電気的に導通させ、２つのプローブＰＩ−Ｐ２を備えた
テスタＴの一方のプローブＰＩまたはＰ２を上記の導通
部に接触させ、他方のプローブＰ２またはＰＩを各電極
の他端側に配置し矢印方向に移動走査して検査する方法
も提案されているが、検査時に流れる電流により電極が
電蝕反応を起こして電極が侵される等の問題があった。
本発明は上記の問題点に鑑みて提案されたもので、電極
の断線・短絡等の検査を容易に行うことができ、しかも
容易・安価に製造することのできる電極基板の製造方法
を提供することを目的とする。
の断線・短絡等の検査を容易に行うことができ、しかも
容易・安価に製造することのできる電極基板の製造方法
を提供することを目的とする。
本発明は、表面に多数の電極を設けた電極基板を製造す
るに当たり、上記電極基板上の多数の電極に共通に導通
する断線・短絡検査用端子部を電極基板の縁部に沿って
略直線状に設け、検査終了後に上記検査用端子部を切除
することを特徴とする。
るに当たり、上記電極基板上の多数の電極に共通に導通
する断線・短絡検査用端子部を電極基板の縁部に沿って
略直線状に設け、検査終了後に上記検査用端子部を切除
することを特徴とする。
上記の各電極の断線・短絡の有無を検査するに際しては
、例えばテスタ等に設けたプローブの一方を上記検査用
端子部に接触させ、他方のプローブを検査用端子と反対
側の各電極端部上を移動走査することによって、各電極
上に断線や短絡があるか否かを検査することができ、検
査終了後は上記の検査用端子を切除することによって所
期の機能を有する電極基板が得られる。
、例えばテスタ等に設けたプローブの一方を上記検査用
端子部に接触させ、他方のプローブを検査用端子と反対
側の各電極端部上を移動走査することによって、各電極
上に断線や短絡があるか否かを検査することができ、検
査終了後は上記の検査用端子を切除することによって所
期の機能を有する電極基板が得られる。
第１図は本発明による電極基板の一例を示すもので、左
右に交互に引出された信号入力部２ａ・２ａの端部にそ
れぞれ検査用端子部２Ｃ・２ｃを設けたものである。
右に交互に引出された信号入力部２ａ・２ａの端部にそ
れぞれ検査用端子部２Ｃ・２ｃを設けたものである。
各電極２の断線・短絡を検査する場合にはまず第１図実
線示のように２つのプローブＰ１・Ｐ２を有するテスタ
Ｔの一方のプローブＰｉを一方の検査用端子部２Ｃに導
通させ、他方のプローブＰ２をその検査用端子部２ｃに
導通する各透明電橋の他端部上を図中矢印の方向に移動
走査する０次いでプローブＰ２を鎖線水Ｐ２のように他
方の検査用端子部２ｃ′に導通させ、他方のプローブＰ
Ｉを第１図鎖線位置ＰＩに配置し図中矢印の方向に移動
走査することによって各電極２の断線および短絡の有無
を検知することができるものである。
線示のように２つのプローブＰ１・Ｐ２を有するテスタ
Ｔの一方のプローブＰｉを一方の検査用端子部２Ｃに導
通させ、他方のプローブＰ２をその検査用端子部２ｃに
導通する各透明電橋の他端部上を図中矢印の方向に移動
走査する０次いでプローブＰ２を鎖線水Ｐ２のように他
方の検査用端子部２ｃ′に導通させ、他方のプローブＰ
Ｉを第１図鎖線位置ＰＩに配置し図中矢印の方向に移動
走査することによって各電極２の断線および短絡の有無
を検知することができるものである。
なお、２つのテスダ橙用い、その一方のテスタの一対の
プローブを第１図実線位置Ｐ１・Ｐ２に配置し、他方の
テスタの一対のプローブを同図鎖線位置Ｐ１・Ｐ２に配
置して同時に移動走査することにより１回の走査ですべ
ての電極を同時に検査することも可能である。
プローブを第１図実線位置Ｐ１・Ｐ２に配置し、他方の
テスタの一対のプローブを同図鎖線位置Ｐ１・Ｐ２に配
置して同時に移動走査することにより１回の走査ですべ
ての電極を同時に検査することも可能である。
前記の検査において第１図実線示の状態で両プローブＰ
Ｉ−Ｐ２間にｘＶの電圧を印加して検査を行うと、正常
な場合には図で左側の検査用端子部２Ｃと導通する電極
上では該電極の抵抗による電圧降下でｘＶよりもやや電
圧の小さいｘＶの電圧が検知され、図で右側の検査用端
子部２ｃに導通ずる電極上ではＯｖの電圧が検知される
。従って、第１図における電極２を上から順に２１ ・
２・２．・２４・・・とし、同図実線示の状態からプロ
ーブＰ２を図で矢印の方向に移動走査すると、正常な場
合、各電極２．・２！ ・２．・２４・・・上では順に
下記表１の（１）に示す電圧が検知される。
Ｉ−Ｐ２間にｘＶの電圧を印加して検査を行うと、正常
な場合には図で左側の検査用端子部２Ｃと導通する電極
上では該電極の抵抗による電圧降下でｘＶよりもやや電
圧の小さいｘＶの電圧が検知され、図で右側の検査用端
子部２ｃに導通ずる電極上ではＯｖの電圧が検知される
。従って、第１図における電極２を上から順に２１ ・
２・２．・２４・・・とし、同図実線示の状態からプロ
ーブＰ２を図で矢印の方向に移動走査すると、正常な場
合、各電極２．・２！ ・２．・２４・・・上では順に
下記表１の（１）に示す電圧が検知される。
表１
又この場合、上記プローブＰＩの移動走査速度を一定に
して検査を行うと、第２図（ａ）のように検出電圧ｘＶ
と０■が一定時間毎に交互に表れるパルス状の波形とし
て出力することができる。
して検査を行うと、第２図（ａ）のように検出電圧ｘＶ
と０■が一定時間毎に交互に表れるパルス状の波形とし
て出力することができる。
一方、例えば電８ｉ２．が断線していると、その電極２
、上を走査したとき本来ｘ’Ｖの電圧が検知されるべき
ところが、上記表１の（ｂ）および第２図（ｂ）のよう
にＯｖとなって断線していることがわかる。
、上を走査したとき本来ｘ’Ｖの電圧が検知されるべき
ところが、上記表１の（ｂ）および第２図（ｂ）のよう
にＯｖとなって断線していることがわかる。
また、例えば電極２．と２□とが短絡している場合には
、リークして電極２．上を走査したときに表１の（Ｃ）
および第２図（ｃ）のように電圧ｘ’Ｖが検出されて短
絡していることがわかるものである。
、リークして電極２．上を走査したときに表１の（Ｃ）
および第２図（ｃ）のように電圧ｘ’Ｖが検出されて短
絡していることがわかるものである。
なお、前記のプローブＰＩ−Ｐ２としては、例えば第３
図に示すようにＳＫ鋼にロジウムメツキしたφ０．０５
〜０．３−の丸棒材５よりなるプローブを用い、パター
ンに応じて太さの異なるプローブを選択的に交換する。
図に示すようにＳＫ鋼にロジウムメツキしたφ０．０５
〜０．３−の丸棒材５よりなるプローブを用い、パター
ンに応じて太さの異なるプローブを選択的に交換する。
あるいは第３図（ｂ）のように５Ｋｌｉ等よりなるロー
ラ６を板ばね７もしくはコイルスプリング等により上下
動可能に保持したものを用いることもできる。
ラ６を板ばね７もしくはコイルスプリング等により上下
動可能に保持したものを用いることもできる。
この口〒う式のプローブを用いる場合の検査は前記第２
図の波形を時間ｔで区切り電圧の高（Ｘ■）または低（
Ｏｖ）で判断する。この場合、時間ｔをカウンタに入れ
ていくと何本目にどういう欠陥があるかを判別すること
も可能となる。
図の波形を時間ｔで区切り電圧の高（Ｘ■）または低（
Ｏｖ）で判断する。この場合、時間ｔをカウンタに入れ
ていくと何本目にどういう欠陥があるかを判別すること
も可能となる。
上記のようにして電極の断線や短絡がないことを確認し
たところで、第１図の一点鎖線位置１１・１１で前記の
検査用端子部２Ｃ・２Ｃを切除して液晶表示パネル等を
組立てるもので、その場合、検査用端子２ｃのみを切除
する、あるいは基Ｆｉｔをも含めて例えば組立てた後に
切除してもよい。
たところで、第１図の一点鎖線位置１１・１１で前記の
検査用端子部２Ｃ・２Ｃを切除して液晶表示パネル等を
組立てるもので、その場合、検査用端子２ｃのみを切除
する、あるいは基Ｆｉｔをも含めて例えば組立てた後に
切除してもよい。
なお、上記実施例は電極の信号入力部を基板の両側に交
互に引出したものに適用した例を示したが片側にのみ引
出すものにも適用できる。さらに各電極を中央で２分割
して両側に引出すもの、その他各種の電極パターンにも
適用可能である。
互に引出したものに適用した例を示したが片側にのみ引
出すものにも適用できる。さらに各電極を中央で２分割
して両側に引出すもの、その他各種の電極パターンにも
適用可能である。
以上説明したように本発明は、電極基板上の多数の電極
に共通に導通する断線・短絡検査用端子部を電極基板の
縁部に沿って略直線状に設け、検査終了後に上記検査用
端子部を切除するようにしたから、アクティブエリアと
信号入力部とで配線ピッチの異なる電極においても断線
や短絡を筒車・確実に検査することができる。
に共通に導通する断線・短絡検査用端子部を電極基板の
縁部に沿って略直線状に設け、検査終了後に上記検査用
端子部を切除するようにしたから、アクティブエリアと
信号入力部とで配線ピッチの異なる電極においても断線
や短絡を筒車・確実に検査することができる。
また、上記の検査用端子部を電極基板の縁部に略直線状
に設けたから、前記第７図例のように検査用端子部とし
てアクティブエリアと同様のパターンを形成するものに
比べて、検査用端子部を設けるためのスペースが小さく
て済み、１枚のガラス板等から複数枚の電極基板を板取
りする場合の材料効率を向上させることができる。さら
に、前記第８図例のように水等の液体に浸漬して検査す
る場合のように透明電極が電蝕反応で侵されることがな
いので耐久的であり、所期の目的をよく達成することが
できる。
に設けたから、前記第７図例のように検査用端子部とし
てアクティブエリアと同様のパターンを形成するものに
比べて、検査用端子部を設けるためのスペースが小さく
て済み、１枚のガラス板等から複数枚の電極基板を板取
りする場合の材料効率を向上させることができる。さら
に、前記第８図例のように水等の液体に浸漬して検査す
る場合のように透明電極が電蝕反応で侵されることがな
いので耐久的であり、所期の目的をよく達成することが
できる。
第１図は本発明による電極基板の一例を示す説明図、第
２図（ａ） ・ （ｂ） ・ （Ｃ）は本発明に基づ
く断線・短絡検査時の電圧波形図、第３図（ａ） ・
（ｂ）は本発明に用いるプローブの一例を示す斜視図、
第４図は電気光学装置の一例を示す縦断面図、第５図・
第６図・第７図・第８図は従来の検査要領を示す説明図
である。 ｌは電極基板、２は電極、２ａは信号入力部、２Ｃは検
査用端子部、ＰＩ−Ｐ２はプローブ、Ｔはテスタ。 第１ 第２図
２図（ａ） ・ （ｂ） ・ （Ｃ）は本発明に基づ
く断線・短絡検査時の電圧波形図、第３図（ａ） ・
（ｂ）は本発明に用いるプローブの一例を示す斜視図、
第４図は電気光学装置の一例を示す縦断面図、第５図・
第６図・第７図・第８図は従来の検査要領を示す説明図
である。 ｌは電極基板、２は電極、２ａは信号入力部、２Ｃは検
査用端子部、ＰＩ−Ｐ２はプローブ、Ｔはテスタ。 第１ 第２図
Claims (1)
- （１）表面に多数の電極を設けた電極基板を製造するに
当たり、上記電極基板上の多数の電極に共通に導通する
断線・短絡検査用端子部を電極基板の縁部に沿って略直
線状に設け、検査終了後に上記検査用端子部を切除する
ことを特徴とする電極基板の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1259775A JPH03121413A (ja) | 1989-10-04 | 1989-10-04 | 電極基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1259775A JPH03121413A (ja) | 1989-10-04 | 1989-10-04 | 電極基板の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03121413A true JPH03121413A (ja) | 1991-05-23 |
Family
ID=17338799
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1259775A Pending JPH03121413A (ja) | 1989-10-04 | 1989-10-04 | 電極基板の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03121413A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999050708A1 (fr) * | 1998-03-26 | 1999-10-07 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Affichage a cristaux liquides et sa fabrication |
| JP2002277848A (ja) * | 2001-03-22 | 2002-09-25 | Adtec Engineeng Co Ltd | 液晶基板及び検査装置 |
| JP2005203747A (ja) * | 2003-11-26 | 2005-07-28 | General Electric Co <Ge> | フラットパネルｘ線検出器におけるより小型のアクティブ領域の設計及び製造プロセス |
| US7051423B2 (en) * | 2000-04-27 | 2006-05-30 | Fujitsu Limited | Testing method for a head IC |
| JP2016194748A (ja) * | 2015-03-31 | 2016-11-17 | 大日本印刷株式会社 | タッチパネルセンサ用中間部材、及び、タッチパネルセンサ用中間部材の電気的検査方法 |
| JP2016194746A (ja) * | 2015-03-31 | 2016-11-17 | 大日本印刷株式会社 | タッチパネルセンサ用中間部材、及び、タッチパネルセンサの製造方法 |
-
1989
- 1989-10-04 JP JP1259775A patent/JPH03121413A/ja active Pending
Cited By (7)
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|---|---|---|---|---|
| WO1999050708A1 (fr) * | 1998-03-26 | 1999-10-07 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Affichage a cristaux liquides et sa fabrication |
| US6522378B1 (en) | 1998-03-26 | 2003-02-18 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Liquid crystal display and manufacture therefore |
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