JPH095768A - 液晶表示素子の検査装置 - Google Patents

液晶表示素子の検査装置

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Publication number
JPH095768A
JPH095768A JP15179195A JP15179195A JPH095768A JP H095768 A JPH095768 A JP H095768A JP 15179195 A JP15179195 A JP 15179195A JP 15179195 A JP15179195 A JP 15179195A JP H095768 A JPH095768 A JP H095768A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrodes
segment
inspection
circuit
signal
Prior art date
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Pending
Application number
JP15179195A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeo Takeuchi
重雄 竹内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Casio Computer Co Ltd
Original Assignee
Casio Computer Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Casio Computer Co Ltd filed Critical Casio Computer Co Ltd
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Publication of JPH095768A publication Critical patent/JPH095768A/ja
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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】液晶表示素子におけるセグメント電極間のショ
ートの有無および信号電極間のショートの有無を正確に
かつ容易に能率よくチェックして検査する。 【構成】複数の第1の検査端子12と、複数の第2の検
査端子13と、各セグメント電極に電流を流してそのセ
グメント電極間の抵抗値を測定することによりセグメン
ト間のショートの有無をチェックするキャラクター部検
査回路10と、ドットマトリックス表示領域に配列する
信号電極のうちの1本おきの信号電極に電圧を印加して
その1本おきの信号電極に対応するドット画素を点灯さ
せるドット部検査回路11と、キャラクター部検査回路
10の出力端子14をその対応する第1の検査端子12
に導通させる状態と、ドット部検査回路11の各出力端
子15をその対応する第1の検査端子12に導通させる
状態とに選択的に切換える接点板16とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は製造した液晶表示素子の
電気的な欠陥の有無を検査する液晶表示素子の検査装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】電子手帳等に使用される液晶表示素子と
して、その表示領域をドットマトリックス表示領域と、
所定の形状のセグメント電極を有するセグメント表示領
域とに区分し、前記ドットマトリックス表示領域では各
ドット画素により所望の文字や図形等を表示し、セグメ
ント表示領域では前記セグメント電極の形状に対応する
特定の文字や図形等のキャラクター絵柄を表示するよう
にしたものが知られている。
【0003】この種の液晶表示素子においては、図2
(A)に示すように、液晶表示素子を構成する一方の透
明基板1に、ITO等の透明導電膜からなる複数の信号
電極2が配列形成され、さらに前記信号電極2の一端側
において、所定の形状をなした比較的面積の大きなIT
O等の透明導電膜からなる複数のセグメント電極3が形
成されている。そして各セグメント電極3の個々が前記
信号電極2のうちのいずれか1本の信号電極2aの端部
につながっている。
【0004】また、図2(B)には液晶表示素子を構成
する他方の透明基板4を示してあり、この基板4には、
ITO等の透明導電膜からなる複数の走査電極5が配列
形成され、これら走査電極5が前記信号電極2と直交す
る方向に延びている。そして、これら複数の走査電極5
のうちの一方側の最端列に配置する走査電極5aには前
記各セグメント電極3の配置領域に対応する面積の大き
な形状の対向電極5a′が形成されている。
【0005】液晶表示素子は、図3および図4に示すよ
うに、前記一方の基板1と他方の基板4とをその透明導
電膜の形成面を互いに対向させ、かつ枠状のシール材6
を介して接合し、その両基板1,4と前記シール材6と
で囲まれた空間内に液晶LCを封入して組み立てられ
る。
【0006】そして、一方の基板1に形成された信号電
極2と他方の基板4に形成された走査電極5とが立体的
に交差して多数のドット画素が構成され、これらドット
画素が集合する領域の部分がドットマトリックス表示領
域Dで、一方の基板1に形成された各セグメント電極3
と他方の基板4の対向電極5a′とが対向する領域の部
分がセグメント表示領域Sとなっている。
【0007】この液晶表示素子においては、各走査電極
5に順次走査信号を供給し、これに同期して各信号電極
2にデータ信号を供給して、ドットマトリックス表示領
域Dでは所望のドット画素を逐次点灯させて所望の文字
や図形等を表示し、セグメント表示領域Sでは前記セグ
メント電極3の形状に対応する特定のキャラクター絵柄
を表示する。この液晶表示素子を製造した際には、各信
号電極間のショートの有無および各セグメント電極間の
ショートの有無をチェックする検査が行なわれる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところで、セグメント
表示方式のみで画像を表示する液晶表示素子において
は、そのセグメント電極間の抵抗値を測定し、その抵抗
値に基づいてセグメント電極間のショートの有無をチェ
ックする方式が一般に用いられている。
【0009】しかしこの方式を、セグメント表示領域と
ドットマトリックス表示領域とが併存するタイプの液晶
表示素子に適用しようとすると、セグメント表示領域に
おけるセグメント電極間のショートの有無については正
確にチェックすることができるが、ドットマトリックス
表示領域における信号電極間のショートの有無について
は、その信号電極が互いに近接して長い区間に延びてい
るから、その互いに近接した区間で漏れ電流の影響が生
じ、このため抵抗値の測定に基づく方式では正確にチェ
ックすることが困難となる。
【0010】また、ドットマトリックス表示方式のみで
画像を表示する液晶表示素子においては、互いに隣接し
て配列する複数本の信号電極のうちの1本おきの信号電
極に電圧を印加してその1本おきの信号電極に対応する
ドット画素を点灯させ、その点灯状態を目視することに
より互いに隣接する信号電極間でのショートの有無をチ
ェックする方式が一般に用いられている。
【0011】しかしこの方式を、セグメント表示領域と
ドットマトリックス表示領域とが併存するタイプの液晶
表示素子に適用した場合には、ドットマトリックス表示
領域における信号電極間のショートの有無については各
信号電極が規則正しく配列しているから正確にチェック
することができるが、セグメント表示領域におけるセグ
メント電極間のショートの有無については、そのセグメ
ント電極の形状が複雑でかつ規則的な配列状態にないか
ら、点灯目視方式では正確にチェックすることが困難と
なる。
【0012】本発明はこのような点に着目してなされた
もので、その目的とするところは、セグメント表示領域
とドットマトリックス表示領域とが併存するタイプの液
晶表示素子におけるセグメント電極間のショートの有無
および信号電極間のショートの有無を正確にかつ容易に
能率よくチェックして検査することができる液晶表示素
子の検査装置を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明はこのような目的
を達成するために、特定の文字や図形等のキャラクター
絵柄を表示するための複数のセグメント電極を有するセ
グメント表示領域と、前記セグメント電極につながった
複数の信号電極および前記セグメント電極につながらな
い複数の信号電極とが配列し、かつこれら信号電極に走
査電極が交差して対向するように配置したドットマトリ
ックス表示領域とを備える液晶表示素子を検査する検査
装置であって、セグメント電極につながっている各信号
電極に対応する複数の第1の検査端子、およびセグメン
ト電極につながっていない各信号電極に対応する複数の
第2の検査端子と、各セグメント電極に電流を流してそ
のセグメント電極間の抵抗値を測定することによりセグ
メント電極間のショートの有無をチェックするキャラク
ター部検査回路、およびドットマトリックス表示領域に
配列する信号電極のうちの1本おきの信号電極に電圧を
印加してその1本おきの信号電極に対応するドット画素
を点灯させるドット部検査回路と、前記キャラクター部
検査回路に前記第1の検査端子に対応して設けられた複
数の出力端子、およびドット部検査回路に前記第1の検
査端子に対応して設けられた複数の出力端子と、前記キ
ャラクター部検査回路の各出力端子をその対応する第1
の検査端子に導通させる状態と、ドット部検査回路の各
出力端子をその対応する第1の検査端子に導通させる状
態とに選択的に切換える切換回路とを備えるようにした
ものである。
【0014】
【作用】セグメント表示領域とドットマトリックス表示
領域とが併存するタイプの液晶表示素子について検査を
実施する際には、まず第1の検査端子を液晶表示素子に
おけるセグメント電極につながっている信号電極に接触
させる。また第2の検査端子を液晶表示素子におけるセ
グメント電極につながっていない信号電極に接触させ
る。
【0015】そしてセグメント電極間のショートの有無
をチェックする場合には、切換回路を介してキャラクタ
ー部検査回路の出力端子を第1の検査端子に導通させ
る。そしてキャラクター部検査回路により前記第1の検
査端子から信号電極を通して各セグメント電極に電流を
流し、そのセグメント電極間の抵抗値を測定する。
【0016】ここで、セグメント電極間にショートが発
生していなければセグメント電極間の抵抗値は一定以上
の値を示し、ショートが発生していれば、セグメント電
極間の抵抗値はその一定値を下回り、したがってこの抵
抗値の測定によりセグメント電極間のショートの有無を
チェックすることができる。
【0017】次に、互いに隣接して配置する各信号電極
間でのショートの有無をチェックする。この場合には、
切換回路を介してドット部検査回路の出力端子を第1の
検査端子に導通させる。そして各信号電極に対向して配
置した各走査電極に所定の基準電圧を印加する。
【0018】この状態でドット部検査回路により、すべ
ての信号電極のうちの1本おきの信号電極に駆動電圧を
印加してその1本おきの信号電極に対応するドット画素
を点灯させ、この点灯状態を目視によりチェックする。
【0019】このとき、隣接して配置する各信号電極間
でショートが生じていなければ、駆動電圧を印加した1
本おきの信号電極に対応するドット画素のみが点灯する
が、これに対し、駆動電圧が印加された信号電極とこれ
に隣接して配置した信号電極との間でショートが生じて
いると、その駆動電圧が印加された信号電極に対応する
ドット画素とともに、さらにその駆動電圧が印加された
信号電極と隣接する信号電極に対応するドット画素も点
灯するから、この点灯目視チェックにより各信号電極間
でのショートの有無を判定することができる。
【0020】
【実施例】以下、本発明の一実施例について説明する。
図1には検査装置の回路構成を示してあり、この検査装
置はキャラクター部検査回路10と、ドット部検査回路
11とを備えている。さらにこの検査装置は、前記液晶
表示素子におけるセグメント電極3につながった信号電
極2aに対応する複数の第1の検査端子12と、セグメ
ント電極3につながっていない信号電極2に対応する複
数の第2の検査端子13とを備えている。
【0021】前記キャラクター部検査回路10およびド
ット部検査回路11には、それぞれ前記第1の検査端子
12に対応する複数の出力端子14,15が設けられて
いる。そして第1の検査端子12と、キャラクター部検
査回路10の出力端子14およびドット部検査回路11
の出力端子15との間には切換回路を構成する接点板1
6が設けられ、この接点板16を介して第1の検査端子
12が、キャラクター部検査回路10の出力端子14
と、ドット部検査回路11の出力端子15とのいずれか
一方に選択的に接触するようになっている。
【0022】すなわち、キャラクター部検査回路10の
出力端子14およびドット部検査回路11の出力端子1
5は、一対ずつが互いに対応して並列配置し、第1の検
査端子12に導通した接点板16がその並列した出力端
子14,15のいずれか一方に選択的に接触してキャラ
クター部検査回路10の出力端子14が第1の検査端子
12に導通する状態と、ドット部検査回路11の出力端
子15が第1の検査端子12に導通する状態とに設定す
ることができるようになっている。
【0023】前記液晶表示素子について検査を実施する
際には、第1の検査端子12を液晶表示素子におけるセ
グメント電極3につながっている信号電極2aに接触さ
せる。また第2の検査端子13を液晶表示素子における
セグメント電極3につながっていない信号電極2に接触
させる。
【0024】セグメント電極3間のショートの有無をチ
ェックする場合には、切換回路の接点板16を介してキ
ャラクター部検査回路10の出力端子14を第1の検査
端子12に導通させる。そしてキャラクター部検査回路
10により前記第1の検査端子12から信号電極2aを
通して各セグメント電極3に電流を流し、そのセグメン
ト電極3間の抵抗値を測定する。
【0025】ここで、セグメント電極3間にショートが
発生していなければセグメント電極3間の抵抗値は一定
以上の値を示し、ショートが発生していれば、セグメン
ト電極3間の抵抗値はその一定値を下回り、したがって
この抵抗値の測定によりセグメント電極3間のショート
の有無を正確にチェックすることができる。
【0026】次に、互いに隣接して配置する各信号電極
2,2a間でのショートの有無をチェックする。この場
合には、切換回路の接点板16を介してドット部検査回
路11の出力端子14を第1の検査端子12に導通させ
る。そして各信号電極2,2aに対向して配置した各走
査電極5に所定の基準電圧を印加する。
【0027】この状態でドット部検査回路10により、
すべての信号電極2,2aのうちの1本おきの信号電極
2,2aに駆動電圧を印加してその1本おきの信号電極
2,2aに対応するドット画素を点灯させ、この点灯状
態を目視によりチェックする。
【0028】このとき、隣接して配置する各信号電極
2,2a間でショートが生じていなければ、駆動電圧を
印加した1本おきの信号電極2,2aに対応するドット
画素のみが点灯するが、これに対し、駆動電圧が印加さ
れた信号電極2,2aとこれに隣接して配置した信号電
極2,2aとの間でショートが生じていると、その駆動
電圧が印加された信号電極2,2aに対応するドット画
素とともに、さらにその駆動電圧が印加された信号電極
2,2aと隣接する信号電極2,2aに対応するドット
画素も点灯するから、この点灯目視チェックにより各信
号電極2,2a間でのショートの有無を正確に判定する
ことができる。
【0029】さらにこの検査装置においては、各セグメ
ント電極3と、このセグメント電極3につながっていな
い信号電極2との間でのショートの有無をチェックする
ことができる。この場合には、切換回路の接点板16を
介して第1の検査端子12をキャラクター部検査回路1
0の出力端子14に導通させて各セグメント電極3をキ
ャラクター部検査回路10を介してアースする。
【0030】この状態で、ドット検査回路11により、
セグメント電極3につながっていない信号電極2に定電
圧(DC)を印加する。ここで、セグメント電極3につ
ながっていない信号電極2とセグメント電極3との間が
ショートしていると、定電圧が印加された信号電極2か
らそのショートしているセグメント電極3に電流が流れ
るから、この電流の流れの有無によりセグメント電極3
につながっていない信号電極2とセグメント電極3との
間でのショートの有無をチェックすることができる。
【0031】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、第
1の検査端子を液晶表示素子におけるセグメント電極に
つながっている信号電極に接触させ、第2の検査端子を
液晶表示素子におけるセグメント電極につながっていな
い信号電極に接触させ、この状態でキャラクター部検査
回路の出力端子、あるいはドット部検査回路の出力端子
を切換回路により第1の検査端子に選択的に導通させる
だけで、セグメント電極間のショートの有無および信号
電極間のショートの有無を正確にかつ容易に能率よくチ
ェックして検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係る液晶表示素子の検査装
置の回路構成を示す図。
【図2】セグメント表示領域とドットマトリックス表示
領域とが併存するタイプの液晶表示素子における基板の
電極構造を示す平面図。
【図3】その基板を組み合わせて構成した液晶表示素子
の平面図。
【図4】その液晶表示素子の構造を示す断面図。
【符号の説明】
S…セグメント表示領域 D…ドットマトリックス表示領域 2,2a…信号電極 3…セグメント電極 5…走査電極 10…キャラクター部検査回路 11…ドット部検査回路 12…第1の検査端子 13…第2の検査端子 14…キャラクター部検査回路の出力端子 15…ドット部検査回路の出力端子 16…接点板(切換回路)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】特定の文字や図形等のキャラクター絵柄を
    表示するための複数のセグメント電極を有するセグメン
    ト表示領域と、前記セグメント電極につながった複数の
    信号電極および前記セグメント電極につながらない複数
    の信号電極とが配列し、かつこれら信号電極に走査電極
    が交差して対向するように配置したドットマトリックス
    表示領域とを備える液晶表示素子を検査する検査装置で
    あって、 セグメント電極につながっている各信号電極に対応する
    複数の第1の検査端子、およびセグメント電極につなが
    っていない各信号電極に対応する複数の第2の検査端子
    と、 各セグメント電極に電流を流してそのセグメント電極間
    の抵抗値を測定することによりセグメント電極間のショ
    ートの有無をチェックするキャラクター部検査回路、お
    よびドットマトリックス表示領域に配列する信号電極の
    うちの1本おきの信号電極に電圧を印加してその1本お
    きの信号電極に対応するドット画素を点灯させるドット
    部検査回路と、 前記キャラクター部検査回路に前記第1の検査端子に対
    応して設けられた複数の出力端子、およびドット部検査
    回路に前記第1の検査端子に対応して設けられた複数の
    出力端子と、 前記キャラクター部検査回路の各出力端子をその対応す
    る第1の検査端子に導通させる状態と、ドット部検査回
    路の各出力端子をその対応する第1の検査端子に導通さ
    せる状態とに選択的に切換える切換回路と、 を具備することを特徴とする液晶表示素子の検査装置。
JP15179195A 1995-06-19 1995-06-19 液晶表示素子の検査装置 Pending JPH095768A (ja)

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JP15179195A JPH095768A (ja) 1995-06-19 1995-06-19 液晶表示素子の検査装置

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JP15179195A JPH095768A (ja) 1995-06-19 1995-06-19 液晶表示素子の検査装置

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JPH095768A true JPH095768A (ja) 1997-01-10

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ID=15526378

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JP15179195A Pending JPH095768A (ja) 1995-06-19 1995-06-19 液晶表示素子の検査装置

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JP (1) JPH095768A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100658525B1 (ko) * 2000-06-05 2006-12-15 엘지.필립스 엘시디 주식회사 테스트용 검사 패드 및 이를 이용한 저항차 보상방법
US11087712B2 (en) 2019-09-30 2021-08-10 Seiko Epson Corporation Driving circuit, display module, and mobile body

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100658525B1 (ko) * 2000-06-05 2006-12-15 엘지.필립스 엘시디 주식회사 테스트용 검사 패드 및 이를 이용한 저항차 보상방법
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