JPH075481A - 液晶表示パネルおよびその検査方法 - Google Patents
液晶表示パネルおよびその検査方法Info
- Publication number
- JPH075481A JPH075481A JP14726593A JP14726593A JPH075481A JP H075481 A JPH075481 A JP H075481A JP 14726593 A JP14726593 A JP 14726593A JP 14726593 A JP14726593 A JP 14726593A JP H075481 A JPH075481 A JP H075481A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- liquid crystal
- crystal display
- display panel
- data
- straight lines
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
Abstract
(57)【要約】
【目的】 液晶表示パネルに関し, 表示むらや点欠陥を
容易に検査できるようにすることを目的とする。 【構成】 １）液晶封止部の外側に導出されたデータ電
極 7上に，該データ電極に対して略垂直方向に３本の直
線を設定し，該直線の配列順に該データ電極の１ピッチ
ずつずらして形成され且つ該データ電極を１本おきに２
本連続して被覆する絶縁膜12を有する， ２）前記液晶パネルの前記３本の直線上に３本の導体か
らなるショートバー13を押しつけて該ショートバーと露
出したデータ電極とのコンタクトをとり，各ショートバ
ーに各色(RGB) ごとの３種類の異なるデータ信号を入力
して液晶表示パネルをカラー表示させることにより，目
視で表示むらや点欠陥を検出するように構成する。
容易に検査できるようにすることを目的とする。 【構成】 １）液晶封止部の外側に導出されたデータ電
極 7上に，該データ電極に対して略垂直方向に３本の直
線を設定し，該直線の配列順に該データ電極の１ピッチ
ずつずらして形成され且つ該データ電極を１本おきに２
本連続して被覆する絶縁膜12を有する， ２）前記液晶パネルの前記３本の直線上に３本の導体か
らなるショートバー13を押しつけて該ショートバーと露
出したデータ電極とのコンタクトをとり，各ショートバ
ーに各色(RGB) ごとの３種類の異なるデータ信号を入力
して液晶表示パネルをカラー表示させることにより，目
視で表示むらや点欠陥を検出するように構成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は液晶表示パネルおよびそ
の検査方法に関する。本発明は，薄膜トランジスタ(TF
T) 型液晶表示パネルのカラーフィルタ基板に形成され
たカラーフィルタの厚さや特性のパネル面内のばらつき
による表示むらや，また, 画素電極と他の電極との短絡
やトランジスタ欠陥により発生する点欠陥を容易に検出
できる方法として利用できる。
の検査方法に関する。本発明は，薄膜トランジスタ(TF
T) 型液晶表示パネルのカラーフィルタ基板に形成され
たカラーフィルタの厚さや特性のパネル面内のばらつき
による表示むらや，また, 画素電極と他の電極との短絡
やトランジスタ欠陥により発生する点欠陥を容易に検出
できる方法として利用できる。
【０００２】
【従来の技術】図４はTFT 型液晶表示パネルの構成例を
模式的に示す断面図である。図において，液晶表示パネ
ル 1は, TFT 基板 2とカラーフィルタ基板 3とが対向
し, 対向間隙はシール材 4で封止され，その中に液晶 5
が充填されている。
模式的に示す断面図である。図において，液晶表示パネ
ル 1は, TFT 基板 2とカラーフィルタ基板 3とが対向
し, 対向間隙はシール材 4で封止され，その中に液晶 5
が充填されている。
【０００３】TFT 基板 2の上面には走査電極 6, 走査電
極に垂直に配列されたデータ電極 7, 走査電極とデータ
電極を電気的に隔離し表面を平坦化する平坦化層 8, 図
示しないが走査電極とデータ電極に接続するTFT 等が形
成されている。
極に垂直に配列されたデータ電極 7, 走査電極とデータ
電極を電気的に隔離し表面を平坦化する平坦化層 8, 図
示しないが走査電極とデータ電極に接続するTFT 等が形
成されている。
【０００４】カラーフィルタ基板 3の下面にはカラーフ
ィルタ 9, カラーフィルタの表面を平坦化する平坦化層
10, 共通電極（透明電極） 11 等が形成されている。カ
ラーフィルタ 9は３色(RGB) で構成され，一般に１ライ
ンごとに異なる色になるように配列されている。
ィルタ 9, カラーフィルタの表面を平坦化する平坦化層
10, 共通電極（透明電極） 11 等が形成されている。カ
ラーフィルタ 9は３色(RGB) で構成され，一般に１ライ
ンごとに異なる色になるように配列されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】カラーフィルタの３色
の内の１種類，例えばR のカラーフィルタの厚さや特性
に面内のむらがある場合は表示むらとなるが, それを検
査するには, 従来法ではデータ電極と同数のピンをパネ
ルの封止の外に導出されたデータ電極に接続し,このピ
ンを通じてパネルに各色のデータ信号を与えて検査して
いた。
の内の１種類，例えばR のカラーフィルタの厚さや特性
に面内のむらがある場合は表示むらとなるが, それを検
査するには, 従来法ではデータ電極と同数のピンをパネ
ルの封止の外に導出されたデータ電極に接続し,このピ
ンを通じてパネルに各色のデータ信号を与えて検査して
いた。
【０００６】また，パネル内の異物や電極パターンの短
絡等による不良により生じる点欠陥の検査についても,
従来法では上記の方法と同様にピンによるコンタクトを
用いて検査を行っていた。
絡等による不良により生じる点欠陥の検査についても,
従来法では上記の方法と同様にピンによるコンタクトを
用いて検査を行っていた。
【０００７】このように, 数10μｍの微細間隔に多数配
列されたデータ電極にピンを立てて検査する装置は機構
も操作も複雑になり，高価なものになっていた。本発明
は液晶表示パネルの表示むらや点欠陥を容易に検査でき
るようにすることを目的とする。
列されたデータ電極にピンを立てて検査する装置は機構
も操作も複雑になり，高価なものになっていた。本発明
は液晶表示パネルの表示むらや点欠陥を容易に検査でき
るようにすることを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記課題の解決は， １）液晶封止部の外側に導出されたデータ電極 7上に，
該データ電極に対して略垂直方向に３本の直線を設定
し，該直線の配列順に該データ電極の１ピッチずつずら
して形成され且つ該データ電極を１本おきに２本連続し
て被覆する絶縁膜12を有する液晶表示パネル，あるいは ２）前記液晶パネルの前記３本の直線上に３本の導体か
らなるショートバー13を押しつけて該ショートバーと露
出したデータ電極とのコンタクトをとり，各ショートバ
ーに各色(RGB) ごとの３種類の異なるデータ信号を入力
して液晶表示パネルをカラー表示させることにより，目
視で表示むらや点欠陥を検出することを特徴とする液晶
表示パネルの検査方法により達成される。
該データ電極に対して略垂直方向に３本の直線を設定
し，該直線の配列順に該データ電極の１ピッチずつずら
して形成され且つ該データ電極を１本おきに２本連続し
て被覆する絶縁膜12を有する液晶表示パネル，あるいは ２）前記液晶パネルの前記３本の直線上に３本の導体か
らなるショートバー13を押しつけて該ショートバーと露
出したデータ電極とのコンタクトをとり，各ショートバ
ーに各色(RGB) ごとの３種類の異なるデータ信号を入力
して液晶表示パネルをカラー表示させることにより，目
視で表示むらや点欠陥を検出することを特徴とする液晶
表示パネルの検査方法により達成される。
【０００９】
（図１参照）本発明は, データ電極に各色(RGB) ごとの
３種類の異なる電気信号を入力して液晶表示パネルをカ
ラー表示させることにより，目視で表示むらや点欠陥を
容易に検査する際に，データ電極への信号の入力は，該
データ電極に対して略垂直方向に３本の直線を設定し，
該直線の配列順に該データ電極の１ピッチずつずらして
形成され且つ該データ電極を１本おきに２本連続して被
覆する絶縁膜(12)を介してデータ電極にショートバー13
を押しつけて，露出されたデータ電極とコンタクトをと
って行われる。
３種類の異なる電気信号を入力して液晶表示パネルをカ
ラー表示させることにより，目視で表示むらや点欠陥を
容易に検査する際に，データ電極への信号の入力は，該
データ電極に対して略垂直方向に３本の直線を設定し，
該直線の配列順に該データ電極の１ピッチずつずらして
形成され且つ該データ電極を１本おきに２本連続して被
覆する絶縁膜(12)を介してデータ電極にショートバー13
を押しつけて，露出されたデータ電極とコンタクトをと
って行われる。
【００１０】この結果, TFT 基板上の封止部の外側に導
出された領域に上記の絶縁膜12を形成することにより,
容易に表示むらや点欠陥を検査することができるように
なった。
出された領域に上記の絶縁膜12を形成することにより,
容易に表示むらや点欠陥を検査することができるように
なった。
【００１１】
【実施例】図１(A),(B) は本発明の実施例の説明図であ
る。図１(A) は検査方法を説明する回路図で３本のショ
ートバー13の各々にそれぞれR 用データ信号, G 用デー
タ信号, B 用データ信号を入力し, これらの信号がショ
ートバー13を介して液晶表示パネル 1側のデータ電極 7
に入力される。ここで, データ信号は 0 V〜＋5 V の矩
形波を用いて，液晶表示パネルを或るカラーで表示させ
て，表示むらと点欠陥を目視で検査する。
る。図１(A) は検査方法を説明する回路図で３本のショ
ートバー13の各々にそれぞれR 用データ信号, G 用デー
タ信号, B 用データ信号を入力し, これらの信号がショ
ートバー13を介して液晶表示パネル 1側のデータ電極 7
に入力される。ここで, データ信号は 0 V〜＋5 V の矩
形波を用いて，液晶表示パネルを或るカラーで表示させ
て，表示むらと点欠陥を目視で検査する。
【００１２】図１(B) は実施例の液晶表示装置の平面図
で，カラーフィルタ基板 3の外側のTFT 基板 2の表面上
（この箇所は液晶表示パネルの封止部の外側になる）に
形成されたデータ電極 7とデータ電極上に被着された複
数個の特殊な形状の絶縁膜12とが示されている。
で，カラーフィルタ基板 3の外側のTFT 基板 2の表面上
（この箇所は液晶表示パネルの封止部の外側になる）に
形成されたデータ電極 7とデータ電極上に被着された複
数個の特殊な形状の絶縁膜12とが示されている。
【００１３】この液晶表示装置の上に絶縁膜12を介して
３本のショートバー13を押しつけてて検査を行う。デー
タ電極上に被着された絶縁膜12を介して露出したデータ
電極にショートバーを容易にコンタクトさせるために,
ショートバーには例えば柔軟性のある導電性ゴムを用い
る。
３本のショートバー13を押しつけてて検査を行う。デー
タ電極上に被着された絶縁膜12を介して露出したデータ
電極にショートバーを容易にコンタクトさせるために,
ショートバーには例えば柔軟性のある導電性ゴムを用い
る。
【００１４】絶縁膜12は液晶封止前に, 気相成長(CVD)
法により, TFT 基板上に二酸化シリコン(SiO2)膜を成長
し, フォトリソグラフィ技術を用いてパターニングして
形成する。
法により, TFT 基板上に二酸化シリコン(SiO2)膜を成長
し, フォトリソグラフィ技術を用いてパターニングして
形成する。
【００１５】図２(A),(B) はデータ信号とパネルの透過
率の説明図である。図２(A) は，カラー表示させるとき
の各データ信号の波形を示す。この例は，電圧をかけな
いときに白くなるノーマリホワイト方式の場合である。
いま，R 表示をさせるときは, R 用データ信号は 0 V,
G 用, B 用データ信号は交流 (例えば, −5 V 〜＋5 V,
30 Hzの矩形波) とする。ノーマリホワイト方式のパネ
ルの透過率のデータ電圧依存性は図２(B) のようになる
ため，G とB のカラーフィルタからは光は透過せず，R
のカラーフィルタのみから光が透過するため, R 表示と
なる。
率の説明図である。図２(A) は，カラー表示させるとき
の各データ信号の波形を示す。この例は，電圧をかけな
いときに白くなるノーマリホワイト方式の場合である。
いま，R 表示をさせるときは, R 用データ信号は 0 V,
G 用, B 用データ信号は交流 (例えば, −5 V 〜＋5 V,
30 Hzの矩形波) とする。ノーマリホワイト方式のパネ
ルの透過率のデータ電圧依存性は図２(B) のようになる
ため，G とB のカラーフィルタからは光は透過せず，R
のカラーフィルタのみから光が透過するため, R 表示と
なる。
【００１６】次に, 検査の具体例を説明する。例えば,
R のカラーフィルタの膜厚が不均一な場合は，従来の白
黒表示方式では検出できない場合があるが，本発明によ
りR 表示させることにより検出可能となる。
R のカラーフィルタの膜厚が不均一な場合は，従来の白
黒表示方式では検出できない場合があるが，本発明によ
りR 表示させることにより検出可能となる。
【００１７】図３(A),(B) は本発明による検査例の説明
図である。図３(A) にカラーフィルタの膜厚むらの例を
示す。14は液晶表示エリア, 15は15は他の領域より膜厚
が薄かったり, 厚かったりしたことによるむらの領域で
ある。
図である。図３(A) にカラーフィルタの膜厚むらの例を
示す。14は液晶表示エリア, 15は15は他の領域より膜厚
が薄かったり, 厚かったりしたことによるむらの領域で
ある。
【００１８】図３(B) はパネル内の等価回路図である。
図示のように異物16により電極間に短絡があるときは,
従来はデータ信号が同じであるため，表示上その欠陥が
分からない場合があったが, 本発明によりデータ線 (デ
ータ電極) 71と72との間で信号波形を変えることによ
り, 異物のある画素だけ電位が変化し, 点欠点として不
良の検出ができる。
図示のように異物16により電極間に短絡があるときは,
従来はデータ信号が同じであるため，表示上その欠陥が
分からない場合があったが, 本発明によりデータ線 (デ
ータ電極) 71と72との間で信号波形を変えることによ
り, 異物のある画素だけ電位が変化し, 点欠点として不
良の検出ができる。
【００１９】
【発明の効果】本発明によれば，ピン接続に変えて簡単
で確実なコンタクト方法を採用することにより，液晶表
示パネルの表示むらや点欠陥を目視で容易に検査できる
ようになった。
で確実なコンタクト方法を採用することにより，液晶表
示パネルの表示むらや点欠陥を目視で容易に検査できる
ようになった。
【図１】 本発明の実施例の説明図
【図２】 データ信号とパネルの透過率の説明図
【図３】 本発明による検査例の説明図
【図４】 TFT 型液晶表示パネルの構成例を模式的に示
す断面図
す断面図
1 液晶表示パネル 2 TFT 基板 3 カラーフィルタ基板 4 シール材 5 液晶 6 走査電極 7，71, 72 データ電極 8 TFT 基板側の平坦化層 9 カラーフィルタ 10 カラーフィルタ基板側の平坦化層 11 共通電極（透明電極） 12 パネル端子部のデータ電極上に被着された本発明に
よる絶縁膜 13 ショートバー 14 液晶表示エリア 15 他の領域より膜厚が薄かったり, 厚かったりしたこ
とによるむらの領域 16 異物 (抵抗で表されている)
よる絶縁膜 13 ショートバー 14 液晶表示エリア 15 他の領域より膜厚が薄かったり, 厚かったりしたこ
とによるむらの領域 16 異物 (抵抗で表されている)
Claims (2)
- 【請求項１】 液晶封止部の外側に導出されたデータ電
極(7) 上に，該データ電極に対して略垂直方向に３本の
直線を設定し，該直線の配列順に該データ電極の１ピッ
チずつずらして形成され且つ該データ電極を１本おきに
２本連続して被覆する絶縁膜(12)を有することを特徴と
する液晶表示パネル。 - 【請求項２】 前記液晶パネルの前記３本の直線上に３
本の導体からなるショートバー(13)を押しつけて該ショ
ートバーと露出したデータ電極とのコンタクトをとり，
各ショートバーに各色(RGB) ごとの３種類の異なるデー
タ信号を入力して液晶表示パネルをカラー表示させるこ
とにより，目視で表示むらや点欠陥を検出することを特
徴とする液晶表示パネルの検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14726593A JPH075481A (ja) | 1993-06-18 | 1993-06-18 | 液晶表示パネルおよびその検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14726593A JPH075481A (ja) | 1993-06-18 | 1993-06-18 | 液晶表示パネルおよびその検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH075481A true JPH075481A (ja) | 1995-01-10 |
Family
ID=15426321
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14726593A Withdrawn JPH075481A (ja) | 1993-06-18 | 1993-06-18 | 液晶表示パネルおよびその検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH075481A (ja) |
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5825196A (en) * | 1995-10-31 | 1998-10-20 | Sharp Kabushiki Kaisha | Method for detecting defects in an active matrix liquid crystal display panel |
| US6111620A (en) * | 1995-09-06 | 2000-08-29 | Sharp Kabushiki Kaisha | Active matrix substrate |
| US6172410B1 (en) | 1998-07-14 | 2001-01-09 | Sharp Kabushiki Kaisha | Collective substrate of active-matrix substrates, manufacturing method thereof and inspecting method thereof |
| KR100296551B1 (ko) * | 1998-11-18 | 2001-10-26 | 윤종용 | 액정표시장치의불량검사방법 |
| KR100392575B1 (ko) * | 2000-03-06 | 2003-07-23 | 히다치디바이스 엔지니어링가부시키가이샤 | 액정 표시 장치 및 그 제조 방법 |
| US6624857B1 (en) | 1998-03-27 | 2003-09-23 | Sharp Kabushiki Kaisha | Active-matrix-type liquid crystal display panel and method of inspecting the same |
| US6677171B1 (en) | 1998-07-14 | 2004-01-13 | Sharp Kabushiki Kaisha | Manufacturing method of collective substrate of active-matrix substrates, manufacturing method of active-matrix substrates, and inspecting method of collective substrates of active-matrix substrates |
| US6757047B2 (en) | 2000-05-08 | 2004-06-29 | Sharp Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display device and testing method therefor |
| US7446556B2 (en) | 1997-12-05 | 2008-11-04 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Multiple testing bars for testing liquid crystal display and method thereof |
| JP2010027597A (ja) * | 2008-07-21 | 2010-02-04 | Samsung Mobile Display Co Ltd | 有機電界発光表示装置 |
| USRE41873E1 (en) | 1997-05-12 | 2010-10-26 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Multiple testing bars for testing liquid crystal display and method thereof |
| US8310262B2 (en) | 1997-12-05 | 2012-11-13 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Multiple testing bars for testing liquid crystal display and method thereof |
| CN112415431A (zh) * | 2019-08-22 | 2021-02-26 | 遂宁立讯精密工业有限公司 | 一种数据线短接不良的检测方法 |
-
1993
- 1993-06-18 JP JP14726593A patent/JPH075481A/ja not_active Withdrawn
Cited By (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6111620A (en) * | 1995-09-06 | 2000-08-29 | Sharp Kabushiki Kaisha | Active matrix substrate |
| US5825196A (en) * | 1995-10-31 | 1998-10-20 | Sharp Kabushiki Kaisha | Method for detecting defects in an active matrix liquid crystal display panel |
| USRE41873E1 (en) | 1997-05-12 | 2010-10-26 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Multiple testing bars for testing liquid crystal display and method thereof |
| US8310262B2 (en) | 1997-12-05 | 2012-11-13 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Multiple testing bars for testing liquid crystal display and method thereof |
| US7626414B2 (en) | 1997-12-05 | 2009-12-01 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Multiple testing bars for testing liquid crystal display and method thereof |
| US7446556B2 (en) | 1997-12-05 | 2008-11-04 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Multiple testing bars for testing liquid crystal display and method thereof |
| US6882378B2 (en) | 1998-03-27 | 2005-04-19 | Sharp Kabushiki Kaisha | Active-matrix-type liquid crystal display panel and method of inspecting the same |
| US6624857B1 (en) | 1998-03-27 | 2003-09-23 | Sharp Kabushiki Kaisha | Active-matrix-type liquid crystal display panel and method of inspecting the same |
| US6677171B1 (en) | 1998-07-14 | 2004-01-13 | Sharp Kabushiki Kaisha | Manufacturing method of collective substrate of active-matrix substrates, manufacturing method of active-matrix substrates, and inspecting method of collective substrates of active-matrix substrates |
| US6172410B1 (en) | 1998-07-14 | 2001-01-09 | Sharp Kabushiki Kaisha | Collective substrate of active-matrix substrates, manufacturing method thereof and inspecting method thereof |
| KR100296551B1 (ko) * | 1998-11-18 | 2001-10-26 | 윤종용 | 액정표시장치의불량검사방법 |
| KR100392575B1 (ko) * | 2000-03-06 | 2003-07-23 | 히다치디바이스 엔지니어링가부시키가이샤 | 액정 표시 장치 및 그 제조 방법 |
| US6757047B2 (en) | 2000-05-08 | 2004-06-29 | Sharp Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display device and testing method therefor |
| JP2010027597A (ja) * | 2008-07-21 | 2010-02-04 | Samsung Mobile Display Co Ltd | 有機電界発光表示装置 |
| US8723769B2 (en) | 2008-07-21 | 2014-05-13 | Samsung Display Co., Ltd. | Organic light-emitting display device |
| CN112415431A (zh) * | 2019-08-22 | 2021-02-26 | 遂宁立讯精密工业有限公司 | 一种数据线短接不良的检测方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH075481A (ja) | 液晶表示パネルおよびその検査方法 | |
| KR19990025571A (ko) | 액정표시장치 | |
| CN101770122A (zh) | Tft-lcd阵列基板及其制造方法和测试方法 | |
| KR100235073B1 (ko) | 액정 디스플레이 | |
| KR101147101B1 (ko) | 검사를 위한 박막 트랜지스터 기판 및 이를 이용한 검사방법 | |
| KR20060091434A (ko) | 액정 표시 장치의 박막 트랜지스터 어레이 기판 | |
| KR100293981B1 (ko) | 액정표시장치 | |
| JPH05341246A (ja) | マトリクス型表示素子の製造方法 | |
| JPH0329925A (ja) | 液晶表示装置 | |
| JP2776349B2 (ja) | 液晶表示装置の検査方法 | |
| JPH0394223A (ja) | アクティブマトリクス表示装置の製造方法 | |
| JP3591713B2 (ja) | 液晶表示装置及びその検査方法 | |
| JPH05142553A (ja) | 試験端子付液晶表示素子 | |
| JP2001005016A (ja) | 液晶装置及びその検査方法 | |
| JPH03196019A (ja) | マトリクス型表示装置 | |
| JPH07120694B2 (ja) | 液晶表示装置の検査装置及びその検査方法 | |
| JP2584073B2 (ja) | カラー液晶画像表示装置の検査方法 | |
| JPH0227322A (ja) | アクティブマトリクス基板 | |
| JP3182024B2 (ja) | 液晶画像表示装置の検査方法 | |
| JPH10142570A (ja) | 液晶表示パネルの検査装置 | |
| JP2514703B2 (ja) | アクティブマトリクス基板 | |
| JPH08110509A (ja) | 液晶表示装置およびその検査方法 | |
| KR20030076901A (ko) | 박막 트랜지스터 액정표시장치 제조방법 및 이를 이용한액정표시장치 | |
| JPH095768A (ja) | 液晶表示素子の検査装置 | |
| JPH06138474A (ja) | 液晶表示デバイス |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000905 |