JPH06138474A - 液晶表示デバイス - Google Patents
液晶表示デバイスInfo
- Publication number
- JPH06138474A JPH06138474A JP28733792A JP28733792A JPH06138474A JP H06138474 A JPH06138474 A JP H06138474A JP 28733792 A JP28733792 A JP 28733792A JP 28733792 A JP28733792 A JP 28733792A JP H06138474 A JPH06138474 A JP H06138474A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- liquid crystal
- electrodes
- display device
- crystal display
- inspection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は液晶表示デバイスに関するもので、
画素を構成している信号配線の検査に用いる検査用電極
の配置を工夫することにより、製造コストの削減を行
い、低コストの液晶表示デバイスを提供する事を目的と
する。 【構成】 画素を構成する信号配線の検査用電極を画像
表示領域周辺に信号配線と同等の間隔にて配置する。
画素を構成している信号配線の検査に用いる検査用電極
の配置を工夫することにより、製造コストの削減を行
い、低コストの液晶表示デバイスを提供する事を目的と
する。 【構成】 画素を構成する信号配線の検査用電極を画像
表示領域周辺に信号配線と同等の間隔にて配置する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、低コストの液晶表示装
置に関するものである。
置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図４は液晶表示デバイスの電極部の構成
を示す概略図で、従来の液晶表示デバイスの一例であ
る。
を示す概略図で、従来の液晶表示デバイスの一例であ
る。
【０００３】アレイ基板の作成後、画素部１内を構成す
るチタンとアルミニウムの２層構造からなる画素内の信
号配線２の電気的な断線及び他の配線との短絡を検査す
るが、上側信号電極５と下側信号電極部６にある上側お
よび下側の検査用電極３ｂ，４ｂに、検査用プローブが
前記検査用電極３ｂ，４ｂの配置と同様の配置構成とな
っているプローブカード（図示せず）を前記検査用電極
３ｂ，４ｂへ電気的に接続し、通電して信号配線２の短
絡の検査を行う。
るチタンとアルミニウムの２層構造からなる画素内の信
号配線２の電気的な断線及び他の配線との短絡を検査す
るが、上側信号電極５と下側信号電極部６にある上側お
よび下側の検査用電極３ｂ，４ｂに、検査用プローブが
前記検査用電極３ｂ，４ｂの配置と同様の配置構成とな
っているプローブカード（図示せず）を前記検査用電極
３ｂ，４ｂへ電気的に接続し、通電して信号配線２の短
絡の検査を行う。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来の例では、検査用
プローブカード上のプローブ本数は検査するアレイ基板
の電極１ブロックあたりの電極数に律束され、また基本
的に一種類のアレイに対し、そのアレイ専用のプローブ
カードが２枚以上必要となる。このプローブカードは非
常に高価であり、また検査品種交換に伴うプローブカー
ドの交換時、取扱いに細心の注意が必要なため工程の低
スループット、液晶表示パネルの高価格化の一因となっ
ている。
プローブカード上のプローブ本数は検査するアレイ基板
の電極１ブロックあたりの電極数に律束され、また基本
的に一種類のアレイに対し、そのアレイ専用のプローブ
カードが２枚以上必要となる。このプローブカードは非
常に高価であり、また検査品種交換に伴うプローブカー
ドの交換時、取扱いに細心の注意が必要なため工程の低
スループット、液晶表示パネルの高価格化の一因となっ
ている。
【０００５】本発明は上記従来の問題を解決するもので
あり、液晶表示デバイスの工程の簡略化及び液晶表示デ
バイスの低価格化を図ることを目的とするものである。
あり、液晶表示デバイスの工程の簡略化及び液晶表示デ
バイスの低価格化を図ることを目的とするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、従来、信号電極周辺に配置されていた検査
用電極を画像表示領域周辺に信号配線の間隔にて配置す
る。
に本発明は、従来、信号電極周辺に配置されていた検査
用電極を画像表示領域周辺に信号配線の間隔にて配置す
る。
【０００７】
【作用】上記構成により、プローブカード上のプローブ
を画素の間隔にて配置すれば、１ブロックの信号電極数
に律束されることなくプローブカードを製作することが
でき、また信号電極１ブロックを構成する電極数が異な
る品種でも、画素の間隔が同じものであればプローブカ
ードを共用化でき交換することなく検査を継続すること
が可能となる。さらにプローブカード交換時に起きるプ
ローブの破損等の危険を回避することができる。その結
果スループットの向上、液晶表示デバイスのコストダウ
ンが可能となる。
を画素の間隔にて配置すれば、１ブロックの信号電極数
に律束されることなくプローブカードを製作することが
でき、また信号電極１ブロックを構成する電極数が異な
る品種でも、画素の間隔が同じものであればプローブカ
ードを共用化でき交換することなく検査を継続すること
が可能となる。さらにプローブカード交換時に起きるプ
ローブの破損等の危険を回避することができる。その結
果スループットの向上、液晶表示デバイスのコストダウ
ンが可能となる。
【０００８】
【実施例】以下本発明の一実施例について説明する。図
１は本発明の一実施例の液晶表示デバイスの構成を示す
概略図、図２は液晶表示デバイスの断面構成図、図３は
検査用プローブカードの検査時の様子を示す外観斜視図
である。
１は本発明の一実施例の液晶表示デバイスの構成を示す
概略図、図２は液晶表示デバイスの断面構成図、図３は
検査用プローブカードの検査時の様子を示す外観斜視図
である。
【０００９】図２に示すように液晶表示デバイスは、非
晶質珪素を半導体とした薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）か
らなるスイッチング素子群９と、インジウム−錫酸化物
（以下ＩＴＯ）からなる画素電極１０と、ポリイミド配
向膜１１とゲート電極としてアルミニウムとクロムの２
層構造、およびソース電極としてアルミニウムとチタン
の２層構造からなる信号配線電極１２からなる画像表示
領域１３と、信号配線電極１２と同様な構成をもつ外部
駆動回路（図示せず）からの信号入力電極１４を有した
ガラス基板１５ａからなるアレイ基板８ａ（電極付基
板）と、ＩＴＯからなる透明共通電極１６とクロムによ
って構成されたブラックストライプ層１７とポリイミド
配向膜１１を有したガラス基板１５ｂからなる対向基板
８ｂにガラスファイバーあるいは樹脂微粒子からなるス
ペーサ１８を設け、画素電極１０と透明共通電極１６を
対向させて樹脂接着剤１９にて張り合わせ、スペーサ１
８により形成された間隙に液晶組成物２０を充填し構成
されるが、ここでは、液晶にＴＮ型を用いた。このよう
に構成された液晶表示デバイスの動作は従来と同様であ
り、説明は省略する。
晶質珪素を半導体とした薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）か
らなるスイッチング素子群９と、インジウム−錫酸化物
（以下ＩＴＯ）からなる画素電極１０と、ポリイミド配
向膜１１とゲート電極としてアルミニウムとクロムの２
層構造、およびソース電極としてアルミニウムとチタン
の２層構造からなる信号配線電極１２からなる画像表示
領域１３と、信号配線電極１２と同様な構成をもつ外部
駆動回路（図示せず）からの信号入力電極１４を有した
ガラス基板１５ａからなるアレイ基板８ａ（電極付基
板）と、ＩＴＯからなる透明共通電極１６とクロムによ
って構成されたブラックストライプ層１７とポリイミド
配向膜１１を有したガラス基板１５ｂからなる対向基板
８ｂにガラスファイバーあるいは樹脂微粒子からなるス
ペーサ１８を設け、画素電極１０と透明共通電極１６を
対向させて樹脂接着剤１９にて張り合わせ、スペーサ１
８により形成された間隙に液晶組成物２０を充填し構成
されるが、ここでは、液晶にＴＮ型を用いた。このよう
に構成された液晶表示デバイスの動作は従来と同様であ
り、説明は省略する。
【００１０】次にアレイ完成後、アレイを構成する配線
の電気的な断線、短絡を検査するが、この時あらかじめ
図３に示すような画素の間隔にて配置された検査用プロ
ーブ２２を具備するプローブカード２３を２枚用意し、
それぞれをインジュウム−錫酸化物で構成される厚さ１
００ｎｍの上側検査用電極３ａ、厚さ１００ｎｍの下側
検査用電極４ａに電気的に接続し検査を行う。この時使
用するプローブカード２３の検査用プローブ２２の本数
は任意であり、また途中アレイの電極１ブロックを構成
する電極数や電極間隔が異なるものを投入しても画素の
間隔が等しいものであれば前記プローブカードの交換な
しに検査を継続することができる。
の電気的な断線、短絡を検査するが、この時あらかじめ
図３に示すような画素の間隔にて配置された検査用プロ
ーブ２２を具備するプローブカード２３を２枚用意し、
それぞれをインジュウム−錫酸化物で構成される厚さ１
００ｎｍの上側検査用電極３ａ、厚さ１００ｎｍの下側
検査用電極４ａに電気的に接続し検査を行う。この時使
用するプローブカード２３の検査用プローブ２２の本数
は任意であり、また途中アレイの電極１ブロックを構成
する電極数や電極間隔が異なるものを投入しても画素の
間隔が等しいものであれば前記プローブカードの交換な
しに検査を継続することができる。
【００１１】
【発明の効果】以上のように本発明は、電極付基板の品
種が変わっても信号配線の間隔が等しければプローブカ
ードの交換なしに検査を継続することができ、検査工程
の高スループットが可能である。また電極付基板の変更
（信号配線の間隔が異なる）によるプローブカードの交
換回数が少なくなるため、事故によるプローブカードの
破損等の危険が大幅に減少する。その結果検査工程の高
スループット化、液晶表示デバイスの低価格化が可能と
なる。
種が変わっても信号配線の間隔が等しければプローブカ
ードの交換なしに検査を継続することができ、検査工程
の高スループットが可能である。また電極付基板の変更
（信号配線の間隔が異なる）によるプローブカードの交
換回数が少なくなるため、事故によるプローブカードの
破損等の危険が大幅に減少する。その結果検査工程の高
スループット化、液晶表示デバイスの低価格化が可能と
なる。
【図１】本発明の一実施例の液晶表示デバイスの概略図
【図２】同実施例の液晶表示デバイスの断面構成図
【図３】同実施例の検査用プローブカードの検査時の外
観斜視図
観斜視図
【図４】従来の液晶表示デバイスの電極部の構成を示す
概略図
概略図
【符号の説明】 １ 画素部 ２ 信号配線 ３ａ 上側検査用電極（実施例） ３ｂ 上側検査用電極（従来例） ４ａ 下側検査用電極（実施例） ４ｂ 下側検査用電極（従来例） ８ａ アレイ基板（電極付基板） ８ｂ 対向基板 ９ スイッチング素子群（ＴＦＴ） ２２ 検査用プローブ ２３ プローブカード
Claims (1)
- 【請求項１】少なくとも一方が透明な一対の電極付基板
を電極面側が対向して所定間隙を保つように配置し、こ
の所定間隙内に液晶組成物を充填してなる液晶表示装置
であって、 前記電極付基板上に設けられ画像表示領域を構成すべく
所定の間隔をもって配置された複数の信号配線上に検査
用電極を有し、この検査用電極が画像表示領域周辺に、
前記信号配線と同等の間隔をもって配置されたことを特
徴とする液晶表示デバイス。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28733792A JPH06138474A (ja) | 1992-10-26 | 1992-10-26 | 液晶表示デバイス |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28733792A JPH06138474A (ja) | 1992-10-26 | 1992-10-26 | 液晶表示デバイス |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06138474A true JPH06138474A (ja) | 1994-05-20 |
Family
ID=17716068
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28733792A Pending JPH06138474A (ja) | 1992-10-26 | 1992-10-26 | 液晶表示デバイス |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06138474A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100445714B1 (ko) * | 1996-10-04 | 2004-12-04 | 세이코 엡슨 가부시키가이샤 | 액정표시패널및그검사방법 |
| JPWO2013011911A1 (ja) * | 2011-07-19 | 2015-02-23 | シャープ株式会社 | 素子基板の製造方法 |
-
1992
- 1992-10-26 JP JP28733792A patent/JPH06138474A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100445714B1 (ko) * | 1996-10-04 | 2004-12-04 | 세이코 엡슨 가부시키가이샤 | 액정표시패널및그검사방법 |
| JPWO2013011911A1 (ja) * | 2011-07-19 | 2015-02-23 | シャープ株式会社 | 素子基板の製造方法 |
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