JPH09113562A - 液晶マトリックス表示パネルの検査方法 - Google Patents
液晶マトリックス表示パネルの検査方法Info
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- JPH09113562A JPH09113562A JP7272213A JP27221395A JPH09113562A JP H09113562 A JPH09113562 A JP H09113562A JP 7272213 A JP7272213 A JP 7272213A JP 27221395 A JP27221395 A JP 27221395A JP H09113562 A JPH09113562 A JP H09113562A
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- JP
- Japan
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- inspecting
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 液晶マトリックス表示パネルの製造過程で行
われる検査方法においてＣＯＧ法を採用する表示パネル
に対応でき基板の無駄なスペースをなくし検査精度、検
査効率に優れた液晶マトリックス表示パネルの検査方法
を提供する。 【解決手段】 多数個の表示パネルが連結されている状
態で複数の一方の電極配線を表示パネル毎に一本置きに
検査電極に結線して集結し、前記多数個の表示パネルに
おける前記検査電極を直列に接続して共通検査電極とし
たうえで前記共通検査電極と表示パネル毎の前記複数の
他方の電極配線との間に所定の検査電圧を印加して多数
個の表示パネルを一括して検査し、しかるのちに検査電
極に集結しているすべての電極配線の結線を解除するこ
とを特徴とする液晶マトリックス表示パネルの検査方
法。
われる検査方法においてＣＯＧ法を採用する表示パネル
に対応でき基板の無駄なスペースをなくし検査精度、検
査効率に優れた液晶マトリックス表示パネルの検査方法
を提供する。 【解決手段】 多数個の表示パネルが連結されている状
態で複数の一方の電極配線を表示パネル毎に一本置きに
検査電極に結線して集結し、前記多数個の表示パネルに
おける前記検査電極を直列に接続して共通検査電極とし
たうえで前記共通検査電極と表示パネル毎の前記複数の
他方の電極配線との間に所定の検査電圧を印加して多数
個の表示パネルを一括して検査し、しかるのちに検査電
極に集結しているすべての電極配線の結線を解除するこ
とを特徴とする液晶マトリックス表示パネルの検査方
法。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶マトリックス
表示パネルの検査方法に関し、特に高画素密度で駆動用
ＩＣを基板上に直接接続するＣＯＧ法（Ｃｈｉｐ Ｏｎ
Ｇｌａｓｓ）を採用する表示パネルの製造過程で行わ
れる検査に適し、多数個の表示パネルを一括して検査す
る液晶マトリックス表示パネルの検査方法に関する。
表示パネルの検査方法に関し、特に高画素密度で駆動用
ＩＣを基板上に直接接続するＣＯＧ法（Ｃｈｉｐ Ｏｎ
Ｇｌａｓｓ）を採用する表示パネルの製造過程で行わ
れる検査に適し、多数個の表示パネルを一括して検査す
る液晶マトリックス表示パネルの検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の液晶マトリックス表示パネルの製
造過程で行われる短絡欠陥の検査は、表示パネルの高精
細化が進むにつれて端子間ピッチが小さくなり、表示パ
ネルの端子を一本置きに検査電圧を印加する端子と接触
することが困難な場合が多くなっている。この結果、確
実な検査を行うことができないという問題が発生してい
る。そこで、これらの問題を解決するために図５に示す
ように２枚の表示パネルを同時に検査する方法が提案さ
れている。（特開平５−３４１２４６号公報）。
造過程で行われる短絡欠陥の検査は、表示パネルの高精
細化が進むにつれて端子間ピッチが小さくなり、表示パ
ネルの端子を一本置きに検査電圧を印加する端子と接触
することが困難な場合が多くなっている。この結果、確
実な検査を行うことができないという問題が発生してい
る。そこで、これらの問題を解決するために図５に示す
ように２枚の表示パネルを同時に検査する方法が提案さ
れている。（特開平５−３４１２４６号公報）。
【０００３】この方法は、図５に示すように画素基板３
２上の信号電極配線３８が一本置きに信号側検査電極３
４に接続され、対向基板３１上の走査電極配線３９が一
本置きに走査側検査電極３５に接続されている。さらに
各検査電極３４、３５の端部にそれぞれ検査電圧印加用
端子３７が形成されている。この検査電圧印加用端子３
７に所定の検査電圧を印加し、配線の断線欠陥及び短絡
欠陥を検出する。これによって検査電圧を印加する端子
の数を従来より減少させることができ、２個の表示パネ
ルを分離する前に検査することができる。
２上の信号電極配線３８が一本置きに信号側検査電極３
４に接続され、対向基板３１上の走査電極配線３９が一
本置きに走査側検査電極３５に接続されている。さらに
各検査電極３４、３５の端部にそれぞれ検査電圧印加用
端子３７が形成されている。この検査電圧印加用端子３
７に所定の検査電圧を印加し、配線の断線欠陥及び短絡
欠陥を検出する。これによって検査電圧を印加する端子
の数を従来より減少させることができ、２個の表示パネ
ルを分離する前に検査することができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記の方法は
検査電圧を印加する端子の数を従来より減少させること
ができるが、図５に示すような配線パターンは、駆動用
ＩＣを基板にたいして外付けする場合は問題ないが、特
に微細ピッチ対応、小型化、低コスト化のために最近注
目されている駆動用ＩＣを基板上に直接接続するＣＯＧ
法（Ｃｈｉｐ Ｏｎ Ｇｌａｓｓ）を採用する表示パネ
ルにおいては対応が困難である。
検査電圧を印加する端子の数を従来より減少させること
ができるが、図５に示すような配線パターンは、駆動用
ＩＣを基板にたいして外付けする場合は問題ないが、特
に微細ピッチ対応、小型化、低コスト化のために最近注
目されている駆動用ＩＣを基板上に直接接続するＣＯＧ
法（Ｃｈｉｐ Ｏｎ Ｇｌａｓｓ）を採用する表示パネ
ルにおいては対応が困難である。
【０００５】また図５に示すように、この提案は検査終
了後に信号側検査電極３４および走査側検査電極３５と
信号電極配線３８および走査電極配線３９との結線をそ
れぞれ切断する必要がある。このため、１個の表示パネ
ルに切り出す部分の外側に信号側検査電極３４および走
査側検査電極３５が設けられている。この結果図６に示
すように、画素基板３２の外周部、および中央部におい
て、画素基板３２の切り捨て部分３６ができ、基板上に
無駄なスペースが多く発生し基板の製造効率が悪いとい
う問題がある。
了後に信号側検査電極３４および走査側検査電極３５と
信号電極配線３８および走査電極配線３９との結線をそ
れぞれ切断する必要がある。このため、１個の表示パネ
ルに切り出す部分の外側に信号側検査電極３４および走
査側検査電極３５が設けられている。この結果図６に示
すように、画素基板３２の外周部、および中央部におい
て、画素基板３２の切り捨て部分３６ができ、基板上に
無駄なスペースが多く発生し基板の製造効率が悪いとい
う問題がある。
【０００６】そこで本発明のうち請求項１記載の発明
は、液晶マトリックス表示パネルの製造過程で行われる
表示パネルの短絡欠陥を測定する検査方法において、Ｃ
ＯＧ法を採用する複数の表示パネルを一括して同時に検
査することが可能で、検査精度、検査効率に優れ、かつ
検査電極の切り捨て部をなくし基板の製造効率を向上さ
せる液晶マトリックス表示パネルの検査方法を提供する
ことを目的としたものである。
は、液晶マトリックス表示パネルの製造過程で行われる
表示パネルの短絡欠陥を測定する検査方法において、Ｃ
ＯＧ法を採用する複数の表示パネルを一括して同時に検
査することが可能で、検査精度、検査効率に優れ、かつ
検査電極の切り捨て部をなくし基板の製造効率を向上さ
せる液晶マトリックス表示パネルの検査方法を提供する
ことを目的としたものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】前述した目的を達成する
ために、本発明のうち請求項１記載の発明は、行または
列の一方の方向に延伸する片側が駆動用ＩＣ搭載部と直
接接続される複数の一方の電極配線を有する画素基板
と、他方の方向に延伸する複数の他方の電極配線を有す
る対向基板と、前記画素基板と前記対向基板からなる一
対の基板の間に狭持されている液晶層と、この液晶層を
封止しているシール部とからなる液晶マトリックス表示
パネルの多数個を、それぞれの前記一対の基板が一方の
方向に連結されている多数連結状態で前記複数の一方の
電極配線における短絡欠陥を検査する方法であって、前
記複数の一方の電極配線の駆動用ＩＣ搭載部と反対側を
表示パネル毎に一本置きに検査電極に結線して集結し、
前記多数個の表示パネルにおける前記検査電極を直列に
接続して共通検査電極としたうえで前記共通検査電極と
表示パネル毎の前記複数の他方の電極配線との間に所定
の検査電圧を印加して多数個の表示パネルを一括して検
査し、しかるのちに検査電極に集結しているすべての電
極配線の結線を解除することを特徴とする。
ために、本発明のうち請求項１記載の発明は、行または
列の一方の方向に延伸する片側が駆動用ＩＣ搭載部と直
接接続される複数の一方の電極配線を有する画素基板
と、他方の方向に延伸する複数の他方の電極配線を有す
る対向基板と、前記画素基板と前記対向基板からなる一
対の基板の間に狭持されている液晶層と、この液晶層を
封止しているシール部とからなる液晶マトリックス表示
パネルの多数個を、それぞれの前記一対の基板が一方の
方向に連結されている多数連結状態で前記複数の一方の
電極配線における短絡欠陥を検査する方法であって、前
記複数の一方の電極配線の駆動用ＩＣ搭載部と反対側を
表示パネル毎に一本置きに検査電極に結線して集結し、
前記多数個の表示パネルにおける前記検査電極を直列に
接続して共通検査電極としたうえで前記共通検査電極と
表示パネル毎の前記複数の他方の電極配線との間に所定
の検査電圧を印加して多数個の表示パネルを一括して検
査し、しかるのちに検査電極に集結しているすべての電
極配線の結線を解除することを特徴とする。
【０００８】
【発明の実施の形態】本発明の第１の実施例を図面に基
づいて説明する。図１は本発明の第１の実施例における
液晶マトリックス表示パネルの検査方法を説明するため
の模式拡大図である。図２は、本発明の第１の実施例に
おける液晶マトリックス表示パネルの検査方法を説明す
るための断面形状を示す模式拡大図である。図３は本発
明の第１の実施例における液晶マトリックス表示パネル
の検査方法を説明するための模式拡大図である。図１に
示すように画素基板２は列方向に延伸する複数の信号電
極配線４を備え、対向基板１は行方向に延伸する複数の
走査電極配線３を備えている。図２に示すように前記画
素基板２と前記対向基板１からなる一対の基板の間に狭
持されている液晶層１０と、この液晶層１０を封止して
いるシール部７とからなる第１表示パネル２１、第２表
示パネル２２、第３表示パネル２３の３個の表示パネル
が列方向に連結されている。
づいて説明する。図１は本発明の第１の実施例における
液晶マトリックス表示パネルの検査方法を説明するため
の模式拡大図である。図２は、本発明の第１の実施例に
おける液晶マトリックス表示パネルの検査方法を説明す
るための断面形状を示す模式拡大図である。図３は本発
明の第１の実施例における液晶マトリックス表示パネル
の検査方法を説明するための模式拡大図である。図１に
示すように画素基板２は列方向に延伸する複数の信号電
極配線４を備え、対向基板１は行方向に延伸する複数の
走査電極配線３を備えている。図２に示すように前記画
素基板２と前記対向基板１からなる一対の基板の間に狭
持されている液晶層１０と、この液晶層１０を封止して
いるシール部７とからなる第１表示パネル２１、第２表
示パネル２２、第３表示パネル２３の３個の表示パネル
が列方向に連結されている。
【０００９】また前記複数の信号電極配線４は、各表示
パネル毎に駆動用ＩＣ搭載部２４の反対側に隣接する表
示パネルの一端の位置で信号側検査電極６に前記画素基
板２上で一本置きに結線して集結し、さらに各表示パネ
ル毎の前記信号側検査電極６を直列に接続する信号側共
通検査電極９が前記画素基板２上に形成されている。又
各表示パネル毎の前記信号側検査電極６と重畳する位置
に絶縁膜８が形成されている。前記絶縁膜８は、酸化シ
リコン（ＳｉＯ2）、酸化タンタル（Ｔａ2Ｏ5）、感光
性ポリイミド樹脂、および感光性アクリル樹脂等の材質
が用いられる。前記絶縁膜８の材質として酸化シリコン
或いは、酸化タンタルを用いる場合は、真空蒸着法で
０．２μ程度の厚さに成膜し、所定のマスクを用いてエ
ッチングによって形成する。また感光性ポリイミド樹
脂、或いは感光性アクリル樹脂を用いる場合は、スピン
ナー法で２μから３μの厚さに塗布し所定のマスクを用
いてエッチングによって形成する。
パネル毎に駆動用ＩＣ搭載部２４の反対側に隣接する表
示パネルの一端の位置で信号側検査電極６に前記画素基
板２上で一本置きに結線して集結し、さらに各表示パネ
ル毎の前記信号側検査電極６を直列に接続する信号側共
通検査電極９が前記画素基板２上に形成されている。又
各表示パネル毎の前記信号側検査電極６と重畳する位置
に絶縁膜８が形成されている。前記絶縁膜８は、酸化シ
リコン（ＳｉＯ2）、酸化タンタル（Ｔａ2Ｏ5）、感光
性ポリイミド樹脂、および感光性アクリル樹脂等の材質
が用いられる。前記絶縁膜８の材質として酸化シリコン
或いは、酸化タンタルを用いる場合は、真空蒸着法で
０．２μ程度の厚さに成膜し、所定のマスクを用いてエ
ッチングによって形成する。また感光性ポリイミド樹
脂、或いは感光性アクリル樹脂を用いる場合は、スピン
ナー法で２μから３μの厚さに塗布し所定のマスクを用
いてエッチングによって形成する。
【００１０】上記のように３個の表示パネルが列方向に
連結されている状態で前記複数の走査電極配線３を、導
電性ゴムシート１７で短絡する。次に前記信号側共通検
査電極９と前記導電性ゴムシート１７の一端にそれぞれ
所定の検査電圧を印加し、表示状態の異常を検出するこ
とで、前記複数の信号電極配線４の短絡欠陥を３個の表
示パネルについて一括して同時に検査する。
連結されている状態で前記複数の走査電極配線３を、導
電性ゴムシート１７で短絡する。次に前記信号側共通検
査電極９と前記導電性ゴムシート１７の一端にそれぞれ
所定の検査電圧を印加し、表示状態の異常を検出するこ
とで、前記複数の信号電極配線４の短絡欠陥を３個の表
示パネルについて一括して同時に検査する。
【００１１】上述の検査で不良と判定された欠陥は、レ
ーザー等の光エネルギーを照射して修復する。その後、
図３に示すような単体の表示パネルに切断する工程で前
記信号側検査電極６に集結している一本置きの前記複数
の信号電極配線４の結線が切断される。本実施例では切
断工程数を少なくするために信号側共通配線９を残した
が対向基板１の駆動用ＩＣ搭載部２５と重なっている部
分なのでパネルの取り個数は変わらない。また外形を小
さくするために破線で示す切断線１９で切断することも
可能である。続いて駆動用ＩＣ１３を搭載した後でＦＰ
Ｃ１４上の金属配線１５と入力接続電極を異方導電性シ
ール（以下、ＡＣＦと記載）１６を介してヒートツール
で加熱圧着する。この時、信号側検査電極６と金属電極
１５が接触してＦＰＣ１４上の金属配線１５が互いに短
絡しないように絶縁膜８が設けられている。この絶縁膜
８の材質が酸化シリコンまたは酸化タンタルの場合は、
膜厚が薄いためにヒートツールで加熱圧着する時に絶縁
膜が破壊される可能性があるが、ヒートツールの位置を
入力接続電極１２上にとどめ、絶縁膜８上を圧着しない
ように注意すれば問題はない。また前記絶縁膜８がなく
てもＦＰＣ１４の絶縁層１８により前記金属配線１５の
短絡を防ぐことは可能であるが、絶縁膜８を設けること
で絶縁性が向上する。以上のように本実施例によれば検
査電圧の印加が容易かつ安定したものとなり検査精度、
検査効率ともに優れた検査を行うことができる。
ーザー等の光エネルギーを照射して修復する。その後、
図３に示すような単体の表示パネルに切断する工程で前
記信号側検査電極６に集結している一本置きの前記複数
の信号電極配線４の結線が切断される。本実施例では切
断工程数を少なくするために信号側共通配線９を残した
が対向基板１の駆動用ＩＣ搭載部２５と重なっている部
分なのでパネルの取り個数は変わらない。また外形を小
さくするために破線で示す切断線１９で切断することも
可能である。続いて駆動用ＩＣ１３を搭載した後でＦＰ
Ｃ１４上の金属配線１５と入力接続電極を異方導電性シ
ール（以下、ＡＣＦと記載）１６を介してヒートツール
で加熱圧着する。この時、信号側検査電極６と金属電極
１５が接触してＦＰＣ１４上の金属配線１５が互いに短
絡しないように絶縁膜８が設けられている。この絶縁膜
８の材質が酸化シリコンまたは酸化タンタルの場合は、
膜厚が薄いためにヒートツールで加熱圧着する時に絶縁
膜が破壊される可能性があるが、ヒートツールの位置を
入力接続電極１２上にとどめ、絶縁膜８上を圧着しない
ように注意すれば問題はない。また前記絶縁膜８がなく
てもＦＰＣ１４の絶縁層１８により前記金属配線１５の
短絡を防ぐことは可能であるが、絶縁膜８を設けること
で絶縁性が向上する。以上のように本実施例によれば検
査電圧の印加が容易かつ安定したものとなり検査精度、
検査効率ともに優れた検査を行うことができる。
【００１２】本発明の第２の実施例を図面に基づいて説
明する。図４は本発明の第２の実施例における液晶マト
リックス表示パネルとその検査方法を説明するための模
式拡大図である。この実施例は図４に示すようにＦＰＣ
１４による入力が駆動用ＩＣ１３の両横側からの場合の
例である。この場合、絶縁膜１１を信号側共通検査電極
９と重畳する位置に設け、信号側検査電極６と重畳する
位置の絶縁膜は必要ない。その他は第１の実施例と同様
であり、検査精度、検査効率ともに優れた検査を行うこ
とができる。また画素基板２を破線で示す切断線１９の
位置で切断する構造にすれば絶縁膜１１は全く不要とな
る。
明する。図４は本発明の第２の実施例における液晶マト
リックス表示パネルとその検査方法を説明するための模
式拡大図である。この実施例は図４に示すようにＦＰＣ
１４による入力が駆動用ＩＣ１３の両横側からの場合の
例である。この場合、絶縁膜１１を信号側共通検査電極
９と重畳する位置に設け、信号側検査電極６と重畳する
位置の絶縁膜は必要ない。その他は第１の実施例と同様
であり、検査精度、検査効率ともに優れた検査を行うこ
とができる。また画素基板２を破線で示す切断線１９の
位置で切断する構造にすれば絶縁膜１１は全く不要とな
る。
【００１３】上述の本発明の実施例の説明では、連結す
る表示パネルの数が３個の例で説明したが、この連結す
る表示パネルの数は、表示パネルの製造効率や検査効率
を考慮して自由に選択でき、増加する事が可能である。
また、本発明の実施例の説明では液晶マトリックス表示
パネルの例で説明したが、ＭＩＭ方式及びＴＦＴ方式の
液晶アクティブマトリックス表示パネルの場合も適応す
ることができ、画素基板の無駄なスペースを減少できる
ことで、より大きい効果を得ることができる。また本発
明の実施例の画素基板と対向基板の配置を入れ替えても
検査精度、検査効率は同様である。
る表示パネルの数が３個の例で説明したが、この連結す
る表示パネルの数は、表示パネルの製造効率や検査効率
を考慮して自由に選択でき、増加する事が可能である。
また、本発明の実施例の説明では液晶マトリックス表示
パネルの例で説明したが、ＭＩＭ方式及びＴＦＴ方式の
液晶アクティブマトリックス表示パネルの場合も適応す
ることができ、画素基板の無駄なスペースを減少できる
ことで、より大きい効果を得ることができる。また本発
明の実施例の画素基板と対向基板の配置を入れ替えても
検査精度、検査効率は同様である。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のうち請求
項１記載の発明によれば、共通検査電極を設けることに
より、多数個の表示パネルを一括して検査する事がで
き、検査工程で必要な接続端子の数が減少し、検査工程
での電圧の印加が容易かつ確実となり、検査効率が向上
する。さらに表示パネルとして組立後に検査を行うので
検査精度も向上する。また、検査電極を駆動用ＩＣ搭載
部の反対側の位置で隣接する表示パネルの一端に設ける
ことにより、ＣＯＧ法を採用する液晶マトリックス表示
パネルにも対応でき、単個の表示パネルに切断するとき
に検査電極と電極配線の結線が同時に切断され従来例の
ような基板上に無駄なスペースが多く発生し基板の製造
効率が悪いという問題を回避することができる。さらに
連結する表示パネルの数は特に制限されることはなく自
由に増加することができる。
項１記載の発明によれば、共通検査電極を設けることに
より、多数個の表示パネルを一括して検査する事がで
き、検査工程で必要な接続端子の数が減少し、検査工程
での電圧の印加が容易かつ確実となり、検査効率が向上
する。さらに表示パネルとして組立後に検査を行うので
検査精度も向上する。また、検査電極を駆動用ＩＣ搭載
部の反対側の位置で隣接する表示パネルの一端に設ける
ことにより、ＣＯＧ法を採用する液晶マトリックス表示
パネルにも対応でき、単個の表示パネルに切断するとき
に検査電極と電極配線の結線が同時に切断され従来例の
ような基板上に無駄なスペースが多く発生し基板の製造
効率が悪いという問題を回避することができる。さらに
連結する表示パネルの数は特に制限されることはなく自
由に増加することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施例における液晶マトリック
ス表示パネルの検査方法を説明するための模式拡大図で
ある。
ス表示パネルの検査方法を説明するための模式拡大図で
ある。
【図２】本発明の第１の実施例における液晶マトリック
ス表示パネルの検査方法を説明するための断面形状を示
す模式拡大図である。
ス表示パネルの検査方法を説明するための断面形状を示
す模式拡大図である。
【図３】本発明の第１の実施例における液晶マトリック
ス表示パネルの検査方法を説明するための模式拡大図で
ある。
ス表示パネルの検査方法を説明するための模式拡大図で
ある。
【図４】本発明の第２の実施例における液晶マトリック
ス表示パネルの検査方法を説明するための模式拡大図で
ある。
ス表示パネルの検査方法を説明するための模式拡大図で
ある。
【図５】従来例における液晶マトリックス表示パネルを
検査する方法を説明するための模式拡大図である。
検査する方法を説明するための模式拡大図である。
【図６】従来例における液晶マトリックス表示パネルを
検査する方法を説明するための模式拡大図である。
検査する方法を説明するための模式拡大図である。
１ 対向基板 ２ 画素基板 ３ 走査電極配線 ４ 信号電極配線 ５ 走査側検査電極 ６ 信号側検査電極 ７ シール部 ８ 絶縁膜 ９ 信号側共通検査電極 １０ 液晶層 １１ 絶縁膜 １２ 入力接続電極 １３ 駆動用ＩＣ １４ ＦＰＣ（フレシブル印刷基板） １５ 金属配線 １６ ＡＣＦ（異方導電性シール） １７ 導電性ゴムシート １８ 絶縁層 １９ 切断線 ２１ 第１表示パネル ２２ 第２表示パネル ２３ 第３表示パネル ２４ 駆動用ＩＣ搭載部 ２５ 駆動用ＩＣ搭載部 ３１ 対向基板 ３２ 画素基板 ３４ 信号側検査電極 ３５ 走査側検査電極 ３６ 切り捨て部分 ３７ 検査電圧印加用端子 ３８ 信号電極配線 ３９ 走査電極配線
Claims (1)
- 【請求項１】 行または列の一方の方向に延伸する片側
が駆動用ＩＣ搭載部と直接接続される複数の一方の電極
配線を有する画素基板と、他方の方向に延伸する複数の
他方の電極配線を有する対向基板と、前記画素基板と前
記対向基板からなる一対の基板の間に狭持されている液
晶層と、この液晶層を封止しているシール部とからなる
液晶マトリックス表示パネルの多数個を、それぞれの前
記一対の基板が一方の方向に連結されている多数連結状
態で前記複数の一方の電極配線における短絡欠陥を検査
する方法であって、前記複数の一方の電極配線の駆動用
ＩＣ搭載部と反対側を表示パネル毎に一本置きに検査電
極に結線して集結し、前記多数個の表示パネルにおける
前記検査電極を直列に接続して共通検査電極としたうえ
で前記共通検査電極と表示パネル毎の前記複数の他方の
電極配線との間に所定の検査電圧を印加して多数個の表
示パネルを一括して検査し、しかるのちに検査電極に集
結しているすべての電極配線の結線を解除することを特
徴とする液晶マトリックス表示パネルの検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7272213A JPH09113562A (ja) | 1995-10-20 | 1995-10-20 | 液晶マトリックス表示パネルの検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7272213A JPH09113562A (ja) | 1995-10-20 | 1995-10-20 | 液晶マトリックス表示パネルの検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09113562A true JPH09113562A (ja) | 1997-05-02 |
Family
ID=17510694
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7272213A Pending JPH09113562A (ja) | 1995-10-20 | 1995-10-20 | 液晶マトリックス表示パネルの検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09113562A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006091239A (ja) * | 2004-09-22 | 2006-04-06 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置用基板及び電気光学装置、並びに検査方法 |
| JP2007232767A (ja) * | 2006-02-27 | 2007-09-13 | Bridgestone Corp | 情報表示用マザー基板 |
| US7388628B2 (en) | 2001-11-27 | 2008-06-17 | Sharp Kabushiki Kaisha | Liquid crystal panel, liquid crystal panel fabrication method, liquid crystal panel fabrication apparatus, and polarizing plate sticking apparatus |
| US7476553B2 (en) | 2004-09-30 | 2009-01-13 | Seiko Epson Corporation | Transfer base substrate and method of semiconductor device |
| US7535535B2 (en) | 2002-12-27 | 2009-05-19 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Manufacturing method of display device |
-
1995
- 1995-10-20 JP JP7272213A patent/JPH09113562A/ja active Pending
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| US7633469B2 (en) | 2004-09-22 | 2009-12-15 | Seiko Epson Corporation | Electro-optical device substrate, electro-optical device, and testing method |
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