JP2000056285A - 液晶表示パネルの検査用プローブ、液晶表示パネルの検査装置および検査方法 - Google Patents
液晶表示パネルの検査用プローブ、液晶表示パネルの検査装置および検査方法Info
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
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- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 液晶表示パネルを検査するプローブを壊れに
くく構成するとともに、その製作コストを大幅に削減す
る。 【解決手段】 可撓性を有するプローブユニット２８０
にパターニングされた複数の端子と、基板２００に形成
された複数の走査線の端子とを互いに接触させる一方、
可撓性を有するプローブユニット３８０にパターニング
された複数の端子と、基板３００に形成された複数のデ
ータ線の端子とを互いに接触させ、複数の走査線の各々
に対し、プローブユニット２８０にパターニングされた
端子を介して、走査線を駆動する駆動信号をそれぞれ供
給する一方、複数のデータ線の各々に対し、プローブユ
ニット３８０にパターニングされた端子を介して、デー
タ線を駆動する駆動信号をそれぞれ供給する。
くく構成するとともに、その製作コストを大幅に削減す
る。 【解決手段】 可撓性を有するプローブユニット２８０
にパターニングされた複数の端子と、基板２００に形成
された複数の走査線の端子とを互いに接触させる一方、
可撓性を有するプローブユニット３８０にパターニング
された複数の端子と、基板３００に形成された複数のデ
ータ線の端子とを互いに接触させ、複数の走査線の各々
に対し、プローブユニット２８０にパターニングされた
端子を介して、走査線を駆動する駆動信号をそれぞれ供
給する一方、複数のデータ線の各々に対し、プローブユ
ニット３８０にパターニングされた端子を介して、デー
タ線を駆動する駆動信号をそれぞれ供給する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、駆動信号を供給す
るベアチップ（集積回路）等を実装する前の表示検査に
用いて好適な液晶表示パネルの検査用プローブ、ならび
に、このプローブを用いた液晶表示パネルの検査装置お
よび検査方法に関する。
るベアチップ（集積回路）等を実装する前の表示検査に
用いて好適な液晶表示パネルの検査用プローブ、ならび
に、このプローブを用いた液晶表示パネルの検査装置お
よび検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、液晶表示パネルにあっては、短
絡や、断線、特性などの表示に関する検査を実行し、こ
の検査にパスしたものに対して、実際に、駆動信号を供
給する電子部品たるベアチップ等を実装するようになっ
ている。ここで、従来、液晶表示パネルの検査にあって
は、ベアチップ等が実装される各端子に対して、それぞ
れピンプローブを位置決めして接触させるとともに、そ
れらのピンプローブを介して実際の駆動信号を供給し
て、その表示を確認する方法が採用されていた。
絡や、断線、特性などの表示に関する検査を実行し、こ
の検査にパスしたものに対して、実際に、駆動信号を供
給する電子部品たるベアチップ等を実装するようになっ
ている。ここで、従来、液晶表示パネルの検査にあって
は、ベアチップ等が実装される各端子に対して、それぞ
れピンプローブを位置決めして接触させるとともに、そ
れらのピンプローブを介して実際の駆動信号を供給し
て、その表示を確認する方法が採用されていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このピ
ンプローブは、内部に微細なスプリング等を有するの
で、機構的に非常に壊れやすい、という欠点があった。
また、ベアチップの端子間隔は一般に狭いので、ピンプ
ローブの配置間隔が非常に近接する。このため、検査装
置の製作が困難であり、検査装置の製造コストも上昇す
るという問題があった。
ンプローブは、内部に微細なスプリング等を有するの
で、機構的に非常に壊れやすい、という欠点があった。
また、ベアチップの端子間隔は一般に狭いので、ピンプ
ローブの配置間隔が非常に近接する。このため、検査装
置の製作が困難であり、検査装置の製造コストも上昇す
るという問題があった。
【０００４】本発明は、上記問題に鑑みてなされたもの
であり、その目的とするところは、液晶表示パネルの検
査において、壊れにくく、かつ、製作コストが安価な液
晶表示パネルの検査用プローブ、ならびに、この検査用
プローブを用いた液晶表示パネルの検査装置および検査
方法を提供することにある。
であり、その目的とするところは、液晶表示パネルの検
査において、壊れにくく、かつ、製作コストが安価な液
晶表示パネルの検査用プローブ、ならびに、この検査用
プローブを用いた液晶表示パネルの検査装置および検査
方法を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
第１の発明にあっては、一対のパネル基板間に液晶が封
入され、複数の走査線および複数のデータ線によって表
示状態を制御し、前記複数の走査線への走査線端子およ
び前記複数のデータ線へのデータ線端子が前記パネル基
板に形成された液晶表示パネルの検査用プローブであっ
て、可撓性基板に、前記走査線端子あるいは前記データ
線端子に接続するための接続端子を含む導電パターンが
形成されるとともに、前記接続端子に対し前記導電パタ
ーンを介して前記走査線あるいは前記データ線を駆動す
るための信号を供給する電子部品が実装されたことを特
徴としている。
第１の発明にあっては、一対のパネル基板間に液晶が封
入され、複数の走査線および複数のデータ線によって表
示状態を制御し、前記複数の走査線への走査線端子およ
び前記複数のデータ線へのデータ線端子が前記パネル基
板に形成された液晶表示パネルの検査用プローブであっ
て、可撓性基板に、前記走査線端子あるいは前記データ
線端子に接続するための接続端子を含む導電パターンが
形成されるとともに、前記接続端子に対し前記導電パタ
ーンを介して前記走査線あるいは前記データ線を駆動す
るための信号を供給する電子部品が実装されたことを特
徴としている。
【０００６】このような構成によれば、パネル基板に形
成された走査線端子あるいはデータ線端子に対しては、
可撓性基板に形成された導電パターンの一部である接続
端子を介して駆動信号が供給される。このため、ピンプ
ローブを用いることなく、液晶表示パネルの表示に関す
る検査が可能となる。
成された走査線端子あるいはデータ線端子に対しては、
可撓性基板に形成された導電パターンの一部である接続
端子を介して駆動信号が供給される。このため、ピンプ
ローブを用いることなく、液晶表示パネルの表示に関す
る検査が可能となる。
【０００７】また、第２の発明にあっては、一対のパネ
ル基板間に液晶が封入され、複数の走査線および複数の
データ線によって表示状態を制御し、前記複数の走査線
への走査線端子および前記複数のデータ線へのデータ線
端子が前記パネル基板に形成された液晶表示パネルの検
査装置であって、第１の可撓性基板に形成された接続端
子と、前記パネル基板に形成された前記走査線端子とを
互いに接続させる第１の接続手段と、第２の可撓性基板
に形成された接続端子と、前記パネル基板に形成された
前記データ線端子とを互いに接続させる第２の接続手段
と、前記第１の可撓性基板に実装されるとともに、当該
接続端子に対し、当該導電パターンを介して前記走査線
を駆動するための信号を供給する第１の供給手段と、前
記第２の可撓性基板に実装されるとともに、当該接続端
子に対し、当該導電パターンを介して前記データ線を駆
動するための信号を供給する第２の供給手段とを具備す
ることを特徴としている。
ル基板間に液晶が封入され、複数の走査線および複数の
データ線によって表示状態を制御し、前記複数の走査線
への走査線端子および前記複数のデータ線へのデータ線
端子が前記パネル基板に形成された液晶表示パネルの検
査装置であって、第１の可撓性基板に形成された接続端
子と、前記パネル基板に形成された前記走査線端子とを
互いに接続させる第１の接続手段と、第２の可撓性基板
に形成された接続端子と、前記パネル基板に形成された
前記データ線端子とを互いに接続させる第２の接続手段
と、前記第１の可撓性基板に実装されるとともに、当該
接続端子に対し、当該導電パターンを介して前記走査線
を駆動するための信号を供給する第１の供給手段と、前
記第２の可撓性基板に実装されるとともに、当該接続端
子に対し、当該導電パターンを介して前記データ線を駆
動するための信号を供給する第２の供給手段とを具備す
ることを特徴としている。
【０００８】このような構成によれば、上記第１の発明
にかかる検査用プローブを用いた液晶表示パネルの検査
が可能となる。
にかかる検査用プローブを用いた液晶表示パネルの検査
が可能となる。
【０００９】さらに、第３の発明にあっては、一対のパ
ネル基板間に液晶が封入され、複数の走査線および複数
のデータ線によって表示状態を制御し、前記複数の走査
線への走査線端子および前記複数のデータ線へのデータ
線端子が前記パネル基板に形成された液晶表示パネルの
検査方法であって、第１の可撓性基板に形成された接続
端子と、前記パネル基板に形成された前記走査線端子と
を互いに接続させる一方、第２の可撓性基板に形成され
た接続端子と、前記パネル基板に形成された前記データ
線端子とを互いに接続させる過程と、 前記第１の可撓
性基板に実装された電子回路によって、当該接続端子に
対し、当該導電パターンを介して前記走査線を駆動する
ための信号を供給する一方、前記第２の可撓性基板に実
装された電子回路によって、当該接続端子に対し、当該
導電パターンを介して前記データ線を駆動するための信
号を供給する過程とを備えることを特徴としている。
ネル基板間に液晶が封入され、複数の走査線および複数
のデータ線によって表示状態を制御し、前記複数の走査
線への走査線端子および前記複数のデータ線へのデータ
線端子が前記パネル基板に形成された液晶表示パネルの
検査方法であって、第１の可撓性基板に形成された接続
端子と、前記パネル基板に形成された前記走査線端子と
を互いに接続させる一方、第２の可撓性基板に形成され
た接続端子と、前記パネル基板に形成された前記データ
線端子とを互いに接続させる過程と、 前記第１の可撓
性基板に実装された電子回路によって、当該接続端子に
対し、当該導電パターンを介して前記走査線を駆動する
ための信号を供給する一方、前記第２の可撓性基板に実
装された電子回路によって、当該接続端子に対し、当該
導電パターンを介して前記データ線を駆動するための信
号を供給する過程とを備えることを特徴としている。
【００１０】このような方法によれば、上記第１の発明
にかかる検査用プローブを用いた液晶表示パネルの検査
が可能となる。
にかかる検査用プローブを用いた液晶表示パネルの検査
が可能となる。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。
て図面を参照して説明する。
【００１２】まず、本実施形態にかかる検査装置におい
て、検査対象となる液晶表示パネルの構成について説明
する。図１（ａ）に示されるように、検査対象となる液
晶表示パネル１００は、ガラス等からなる２枚の基板が
互いに対向するように貼り合わせられ、その間隙に液晶
が封入されたものである。ここで、一方の基板２００の
貼り合わせ面には、複数の走査線が行方向に互いに平行
となるように形成される一方、他方の基板３００の貼り
合わせ面には、複数のデータ線が列方向に互いに平行と
なるように形成されている。そして、各基板２００、３
００には、走査線とデータ線とを外部に引き出すため、
走査線端子およびデータ線端子がそれぞれ設けられてい
る。
て、検査対象となる液晶表示パネルの構成について説明
する。図１（ａ）に示されるように、検査対象となる液
晶表示パネル１００は、ガラス等からなる２枚の基板が
互いに対向するように貼り合わせられ、その間隙に液晶
が封入されたものである。ここで、一方の基板２００の
貼り合わせ面には、複数の走査線が行方向に互いに平行
となるように形成される一方、他方の基板３００の貼り
合わせ面には、複数のデータ線が列方向に互いに平行と
なるように形成されている。そして、各基板２００、３
００には、走査線とデータ線とを外部に引き出すため、
走査線端子およびデータ線端子がそれぞれ設けられてい
る。
【００１３】なお、このような構造となる液晶表示パネ
ル１００は、一般には、ＴＦＤ（Thin Film Diode）素
子のような２端子形非線形素子を用いて画素電極を駆動
するアクティブマトリクス方式のものや、非線形素子を
用いなパッシブマトリクス方式のものが該当する。ただ
し、本発明は、これに限られず、一方の基板において走
査線とデータ線とを外部に引き出すための端子が設けら
れた液晶表示パネル、たとえば、画素電極をスイッチン
グする素子としてＴＦＴ（Thin Film Transistor）素子
のような３端子形非線形素子を用いたアクティブマトリ
クス方式の液晶表示パネルでも適用可能である。
ル１００は、一般には、ＴＦＤ（Thin Film Diode）素
子のような２端子形非線形素子を用いて画素電極を駆動
するアクティブマトリクス方式のものや、非線形素子を
用いなパッシブマトリクス方式のものが該当する。ただ
し、本発明は、これに限られず、一方の基板において走
査線とデータ線とを外部に引き出すための端子が設けら
れた液晶表示パネル、たとえば、画素電極をスイッチン
グする素子としてＴＦＴ（Thin Film Transistor）素子
のような３端子形非線形素子を用いたアクティブマトリ
クス方式の液晶表示パネルでも適用可能である。
【００１４】次に、基板２００、３００の端子部分につ
いて説明する。図２は、基板３００の端子部分における
要部を拡大した平面図である。なお、この図は、図１の
裏面（下面）から見た場合に相当している。
いて説明する。図２は、基板３００の端子部分における
要部を拡大した平面図である。なお、この図は、図１の
裏面（下面）から見た場合に相当している。
【００１５】この図において、データ線端子３１２ａ
は、基板３００に形成された複数のデータ線３１２の先
端部分であり、素子基板２００の端部近傍において間隔
を狭めて櫛状に形成されている。一方、これと対向する
ように、外部端子３７０から延長された制御端子３７０
ａが形成されている。なお、走査線２１２は、基板２０
０においてデータ線３１２と直交する方向に延在して形
成されている。
は、基板３００に形成された複数のデータ線３１２の先
端部分であり、素子基板２００の端部近傍において間隔
を狭めて櫛状に形成されている。一方、これと対向する
ように、外部端子３７０から延長された制御端子３７０
ａが形成されている。なお、走査線２１２は、基板２０
０においてデータ線３１２と直交する方向に延在して形
成されている。
【００１６】ここで、本実施形態にかかる検査装置によ
り正常と判別された液晶表示パネル１００にあっては、
各データ線を駆動するベアチップが、波線３５１に示さ
れる領域にＣＯＧ（Chip On Glass）等の技術により実
装され、また、そのベアチップに制御信号を外部から供
給するためのＦＰＣ（Flexible Printed Circuit）が、
波線３６１に示されるように外部端子３７０に接続され
るようになっている。すなわち、図４に示されるよう
に、基板２００の端子部分にあっては、ベアチップ２５
０、２５０が実装されるとともに、ＦＰＣ２６０が接続
される一方、基板３００の端子部分にあっては、ベアチ
ップ３５０、３５０が実装されるとともに、ＦＰＣ３６
０が接続されるようになっている。ただし、本実施形態
にあっては、検査前の液晶表示パネル１００を対象とす
るので、ベアチップもＦＰＣもこの時点では実装・接続
されていない。
り正常と判別された液晶表示パネル１００にあっては、
各データ線を駆動するベアチップが、波線３５１に示さ
れる領域にＣＯＧ（Chip On Glass）等の技術により実
装され、また、そのベアチップに制御信号を外部から供
給するためのＦＰＣ（Flexible Printed Circuit）が、
波線３６１に示されるように外部端子３７０に接続され
るようになっている。すなわち、図４に示されるよう
に、基板２００の端子部分にあっては、ベアチップ２５
０、２５０が実装されるとともに、ＦＰＣ２６０が接続
される一方、基板３００の端子部分にあっては、ベアチ
ップ３５０、３５０が実装されるとともに、ＦＰＣ３６
０が接続されるようになっている。ただし、本実施形態
にあっては、検査前の液晶表示パネル１００を対象とす
るので、ベアチップもＦＰＣもこの時点では実装・接続
されていない。
【００１７】なお、この実施形態にあっては、ベアチッ
プ３５０が対向基板３００の端子部分に２個実装される
ものとする。また、素子基板２００の端子部分について
もデータ線３１２が走査線２１２となる点以外同様であ
る。
プ３５０が対向基板３００の端子部分に２個実装される
ものとする。また、素子基板２００の端子部分について
もデータ線３１２が走査線２１２となる点以外同様であ
る。
【００１８】次に、本実施形態にかかる検査装置につい
て説明する。図１（ａ）は、この検査装置における検査
前の各部の位置関係を示す図である。この図に示される
ように、液晶表示パネル１００の検査にあっては、ま
ず、プローブユニット２８０、２８０の一辺が、基板２
００の端子部分において、ゴムやウレタンなどの弾性体
２９０により押圧される。一方、プローブユニット３８
０、３８０の一辺が、基板３００の端子部分において同
様な弾性体３９０により押圧される。なお、この場合、
液晶表示パネル１００は、治具等に収容されて位置決め
された状態が望ましい。
て説明する。図１（ａ）は、この検査装置における検査
前の各部の位置関係を示す図である。この図に示される
ように、液晶表示パネル１００の検査にあっては、ま
ず、プローブユニット２８０、２８０の一辺が、基板２
００の端子部分において、ゴムやウレタンなどの弾性体
２９０により押圧される。一方、プローブユニット３８
０、３８０の一辺が、基板３００の端子部分において同
様な弾性体３９０により押圧される。なお、この場合、
液晶表示パネル１００は、治具等に収容されて位置決め
された状態が望ましい。
【００１９】ここで、プローブユニット２８０、３８０
について説明する。図３は、プローブユニット３８０の
構成を示す斜視図である。この図において、プローブユ
ニット３８０は、ＰＩ（ポリイミド）やＰＥＴ（ポリエ
チレンテレフタレート）などの可撓性を有する基板３８
１に銅箔等の導電パターンがパターニングされたもので
あって、データ線３１２の各々を駆動するベアチップ３
５０が異方性接着剤３８２によって実装されたものであ
る。また、このプローブユニット３８０には、対向する
２辺においてそれぞれ接続端子３８４および外部端子３
８６が形成されている。このうち、前者の接続端子３８
４は、検査対象となる液晶表示パネル１００の基板３０
０に形成されたデータ線端子３１２ａに接触するもので
あり、データ線端子３１２ａと同じ本数、ピッチで形成
されている。一方、後者の外部端子３８６は、ベアチッ
プ３５０に制御信号を供給する回路基板（図示省略）に
接続される。
について説明する。図３は、プローブユニット３８０の
構成を示す斜視図である。この図において、プローブユ
ニット３８０は、ＰＩ（ポリイミド）やＰＥＴ（ポリエ
チレンテレフタレート）などの可撓性を有する基板３８
１に銅箔等の導電パターンがパターニングされたもので
あって、データ線３１２の各々を駆動するベアチップ３
５０が異方性接着剤３８２によって実装されたものであ
る。また、このプローブユニット３８０には、対向する
２辺においてそれぞれ接続端子３８４および外部端子３
８６が形成されている。このうち、前者の接続端子３８
４は、検査対象となる液晶表示パネル１００の基板３０
０に形成されたデータ線端子３１２ａに接触するもので
あり、データ線端子３１２ａと同じ本数、ピッチで形成
されている。一方、後者の外部端子３８６は、ベアチッ
プ３５０に制御信号を供給する回路基板（図示省略）に
接続される。
【００２０】ここで、ベアチップ３５０は、検査後にお
いて対向基板３００の領域３５１に実装されるものと同
じであるが、検査後に対向基板３００に実装される場合
と比較すると、プローブユニット３８０においては裏返
しの状態となっている。したがって、プローブユニット
の３８０において接続端子３８４からベアチップ３５０
までの導電パターンは、図２における領域３５１の実装
位置ａ、ｂ、ｃ、ｄを用いると、図３で示されるような
位置関係になる。なお、このような導電パターンは、基
板３８１を多層にしてスルーホールを設けることや、導
電パターンのピッチを狭めることなどで可能である。ま
た、ＴＣＰ（Tape Carrier Package）のようにインナー
リードボンディングすれば、ベアチップ３５０を裏返し
状態とせずに、実装することも可能となる。
いて対向基板３００の領域３５１に実装されるものと同
じであるが、検査後に対向基板３００に実装される場合
と比較すると、プローブユニット３８０においては裏返
しの状態となっている。したがって、プローブユニット
の３８０において接続端子３８４からベアチップ３５０
までの導電パターンは、図２における領域３５１の実装
位置ａ、ｂ、ｃ、ｄを用いると、図３で示されるような
位置関係になる。なお、このような導電パターンは、基
板３８１を多層にしてスルーホールを設けることや、導
電パターンのピッチを狭めることなどで可能である。ま
た、ＴＣＰ（Tape Carrier Package）のようにインナー
リードボンディングすれば、ベアチップ３５０を裏返し
状態とせずに、実装することも可能となる。
【００２１】一方、接続端子３８４、外部端子３８６お
よびベアチップ３５０の実装部分以外の領域、特に、接
続端子３８４近傍にあって接続端子３８４以外の領域
は、絶縁膜３８８で被覆されている。ここで、接続端子
３８４が絶縁膜３８８から露出している長さは、対向基
板３００のデータ線端子３１２ａが素子基板２００との
端面から露出している長さと略同一となっている。
よびベアチップ３５０の実装部分以外の領域、特に、接
続端子３８４近傍にあって接続端子３８４以外の領域
は、絶縁膜３８８で被覆されている。ここで、接続端子
３８４が絶縁膜３８８から露出している長さは、対向基
板３００のデータ線端子３１２ａが素子基板２００との
端面から露出している長さと略同一となっている。
【００２２】このようなプローブユニット２８０、３８
０が、弾性体２９０、３９０により押圧されると、図１
（ｂ）に示される状態となる。詳細には、プローブユニ
ット３８０にあっては、接続端子３８４が形成された一
辺が基板３００に対し、基板２００の端部に沿って、か
つ、接続端子３８４とデータ線端子３１２ａとを位置合
わせした状態で押圧されている。この結果、プローブユ
ニット３８０の接続端子３８４が、押圧によって基板３
００のデータ線端子３１２ａと接触して電気的な接続が
図られることになる。同様に、プローブユニット２８０
にあっては、その接続端子が形成された一辺が基板２０
０に対し、基板３００の端面に沿って、かつ、プローブ
ユニットの接続端子と走査線端子とを位置合わせした状
態で押圧されて、両者の電気的な接続が図られている。
０が、弾性体２９０、３９０により押圧されると、図１
（ｂ）に示される状態となる。詳細には、プローブユニ
ット３８０にあっては、接続端子３８４が形成された一
辺が基板３００に対し、基板２００の端部に沿って、か
つ、接続端子３８４とデータ線端子３１２ａとを位置合
わせした状態で押圧されている。この結果、プローブユ
ニット３８０の接続端子３８４が、押圧によって基板３
００のデータ線端子３１２ａと接触して電気的な接続が
図られることになる。同様に、プローブユニット２８０
にあっては、その接続端子が形成された一辺が基板２０
０に対し、基板３００の端面に沿って、かつ、プローブ
ユニットの接続端子と走査線端子とを位置合わせした状
態で押圧されて、両者の電気的な接続が図られている。
【００２３】そして、プローブユニット３８０の外部端
子３８６には、ベアチップ３５０への制御信号が供給さ
れる一方、プローブユニット２８０の外部端子には、ベ
アチップ２５０への制御信号が供給される。
子３８６には、ベアチップ３５０への制御信号が供給さ
れる一方、プローブユニット２８０の外部端子には、ベ
アチップ２５０への制御信号が供給される。
【００２４】これによって、基板２００における複数の
走査線２１２、および、基板３００における複数のデー
タ線３１２には、ベアチップ２５０、３５０が基板２０
０、３００の端子部分にＣＯＧ実装された場合と同じ駆
動信号が供給される状態となる。したがって、この状態
における液晶表示をＣＣＤ等による画像解析や目視等に
より判別すれば、画素欠陥等の表示検査を行うことが可
能となる。
走査線２１２、および、基板３００における複数のデー
タ線３１２には、ベアチップ２５０、３５０が基板２０
０、３００の端子部分にＣＯＧ実装された場合と同じ駆
動信号が供給される状態となる。したがって、この状態
における液晶表示をＣＣＤ等による画像解析や目視等に
より判別すれば、画素欠陥等の表示検査を行うことが可
能となる。
【００２５】このような実施形態にかかる液晶表示パネ
ルの検査によれば、基板２００、３００にベアチップ２
５０、３５０を実装する前において、可撓性を有する基
板３８１に接続端子３８４がパターニングされ、かつ、
ベアチップ３５０が実装されたプローブユニット３８０
によって、複数のデータ線３１２の各々に駆動信号が供
給される一方、同様なプローブユニット２８０によっ
て、複数の走査線２１２の各々に駆動信号が供給され
る。このため、高価で壊れやすいピンプローブ等を用い
る必要がなくなるので、液晶表示パネル１００の表示に
関する検査装置を安価で壊れにくくすることが可能とな
る。
ルの検査によれば、基板２００、３００にベアチップ２
５０、３５０を実装する前において、可撓性を有する基
板３８１に接続端子３８４がパターニングされ、かつ、
ベアチップ３５０が実装されたプローブユニット３８０
によって、複数のデータ線３１２の各々に駆動信号が供
給される一方、同様なプローブユニット２８０によっ
て、複数の走査線２１２の各々に駆動信号が供給され
る。このため、高価で壊れやすいピンプローブ等を用い
る必要がなくなるので、液晶表示パネル１００の表示に
関する検査装置を安価で壊れにくくすることが可能とな
る。
【００２６】この際、プローブユニット３８０が基板３
００に対して接触する部分は、データ線端子３１２ａの
みであり、他の部分は絶縁膜３８８により被覆されてい
る。このため、基板３００においてプローブユニット３
８０の接触とは無関係な外部端子３７０や制御端子３７
０ａが、プローブユニット３８０の導電パターンと接触
することによる回路の短絡が防止される。この点は、プ
ローブユニット２８０についても同様である。
００に対して接触する部分は、データ線端子３１２ａの
みであり、他の部分は絶縁膜３８８により被覆されてい
る。このため、基板３００においてプローブユニット３
８０の接触とは無関係な外部端子３７０や制御端子３７
０ａが、プローブユニット３８０の導電パターンと接触
することによる回路の短絡が防止される。この点は、プ
ローブユニット２８０についても同様である。
【００２７】また、プローブユニット３８０の基板３８
１は可撓性を有するため、単にプローブユニット３８０
の接続端子３８４を基板３００のデータ線端子３１２ａ
に接触させただけでは、電気的に接続しない可能性もあ
るが、本実施形態のように弾性体３９０を介して押圧す
ることにより、接続端子３８４に均等に応力が加わるの
で、電気的な接続の確実性が向上する。この点は、プロ
ーブユニット２８０についても同様である。
１は可撓性を有するため、単にプローブユニット３８０
の接続端子３８４を基板３００のデータ線端子３１２ａ
に接触させただけでは、電気的に接続しない可能性もあ
るが、本実施形態のように弾性体３９０を介して押圧す
ることにより、接続端子３８４に均等に応力が加わるの
で、電気的な接続の確実性が向上する。この点は、プロ
ーブユニット２８０についても同様である。
【００２８】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、パ
ネル基板に形成された走査線端子あるいはデータ線端子
に対しては、可撓性基板に形成された導電パターンの一
部である接続端子を介して、駆動信号が供給されるた
め、ピンプローブ等を用いることなく、液晶表示パネル
の表示に関する検査が可能となる。このため、液晶表示
パネルを検査するプローブを壊れにくく構成するととも
に、その製作コストを大幅に削減することが可能とな
る。
ネル基板に形成された走査線端子あるいはデータ線端子
に対しては、可撓性基板に形成された導電パターンの一
部である接続端子を介して、駆動信号が供給されるた
め、ピンプローブ等を用いることなく、液晶表示パネル
の表示に関する検査が可能となる。このため、液晶表示
パネルを検査するプローブを壊れにくく構成するととも
に、その製作コストを大幅に削減することが可能とな
る。
【図１】 （ａ）は、本発明の実施形態にかかる液晶表
示パネルの各部の位置関係を示す斜視図であり、（ｂ）
は、その検査時における構成を示す斜視図である。
示パネルの各部の位置関係を示す斜視図であり、（ｂ）
は、その検査時における構成を示す斜視図である。
【図２】 同検査装置において検査対象となる液晶表示
パネルの端子部分の構成を示す図である。
パネルの端子部分の構成を示す図である。
【図３】 同検査装置におけるプローブユニットの構成
を示す斜視図である。
を示す斜視図である。
【図４】 同検査装置の検査をパスした液晶表示パネル
に対して行われる実装の様子を説明するための図であ
る。
に対して行われる実装の様子を説明するための図であ
る。
１００……液晶表示パネル ２００……基板（パネル基板） ２５０……ベアチップ（第１の供給手段） ２６０……ＦＰＣ ２１２……走査線 ２９０……弾性体 ３００……基板（パネル基板） ３１２……データ線 ３１２ａ……データ線端子 ３５０……ベアチップ（第２の供給手段） ３６０……ＦＰＣ ３８０……プローブユニット ３８１……基板（可撓性基板） ３８４……接続端子 ３８８……絶縁膜 ３９０……弾性体
Claims (5)
- 【請求項１】 一対のパネル基板間に液晶が封入され、
複数の走査線および複数のデータ線によって表示状態を
制御し、前記複数の走査線への走査線端子および前記複
数のデータ線へのデータ線端子が前記パネル基板に形成
された液晶表示パネルの検査用プローブであって、 可撓性基板に、 前記走査線端子あるいは前記データ線端子に接続するた
めの接続端子を含む導電パターンが形成されるととも
に、前記接続端子に対し前記導電パターンを介して前記
走査線あるいは前記データ線を駆動するための信号を供
給する電子部品が実装されたことを特徴とする液晶表示
パネルの検査用プローブ。 - 【請求項２】 前記可撓性基板にあっては、前記接続端
子以外の領域が、少なくとも当該接続端子近傍において
絶縁膜で被覆されていることを特徴とする請求項１記載
の液晶表示パネルの検査用プローブ。 - 【請求項３】 一対のパネル基板間に液晶が封入され、
複数の走査線および複数のデータ線によって表示状態を
制御し、前記複数の走査線への走査線端子および前記複
数のデータ線へのデータ線端子が前記パネル基板に形成
された液晶表示パネルの検査装置であって、 第１の可撓性基板に形成された接続端子と、前記パネル
基板に形成された前記走査線端子とを互いに接続させる
第１の接続手段と、 第２の可撓性基板に形成された接続端子と、前記パネル
基板に形成された前記データ線端子とを互いに接続させ
る第２の接続手段と、 前記第１の可撓性基板に実装されるとともに、当該接続
端子に対し、当該導電パターンを介して前記走査線を駆
動するための信号を供給する第１の供給手段と、 前記第２の可撓性基板に実装されるとともに、当該接続
端子に対し、当該導電パターンを介して前記データ線を
駆動するための信号を供給する第２の供給手段とを具備
することを特徴とする液晶表示パネルの検査装置。 - 【請求項４】 前記第１あるいは第２の接続手段は、前
記第１あるいは第２の可撓性基板における接続端子を、
前記パネル基板に対して弾性体によって押圧するもので
あることを特徴とする請求項３記載の液晶表示パネルの
検査装置。 - 【請求項５】 一対のパネル基板間に液晶が封入され、
複数の走査線および複数のデータ線によって表示状態を
制御し、前記複数の走査線への走査線端子および前記複
数のデータ線へのデータ線端子が前記パネル基板に形成
された液晶表示パネルの検査方法であって、 第１の可撓性基板に形成された接続端子と、前記パネル
基板に形成された前記走査線端子とを互いに接続させる
一方、第２の可撓性基板に形成された接続端子と、前記
パネル基板に形成された前記データ線端子とを互いに接
続させる過程と、 前記第１の可撓性基板に実装された
電子回路によって、当該接続端子に対し、当該導電パタ
ーンを介して前記走査線を駆動するための信号を供給す
る一方、前記第２の可撓性基板に実装された電子回路に
よって、当該接続端子に対し、当該導電パターンを介し
て前記データ線を駆動するための信号を供給する過程と
を備えることを特徴とする液晶表示パネルの検査方法。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22844298A JP3785821B2 (ja) | 1998-08-12 | 1998-08-12 | 液晶表示パネルの検査装置および検査方法 |
| TW088112921A TW436624B (en) | 1998-08-12 | 1999-07-29 | Probe for inspecting liquid crystal display panel, device for inspecting liquid crystal display panel and method for inspecting |
| US09/372,929 US6300998B1 (en) | 1998-08-12 | 1999-08-12 | Probe for inspecting liquid crystal display panel, and apparatus and method for inspecting liquid crystal display panel |
| KR10-1999-0033121A KR100529225B1 (ko) | 1998-08-12 | 1999-08-12 | 액정 표시 패널의 검사용 프로브, 액정 표시 패널의 검사 장치및 검사 방법 |
| CNB991177371A CN1188730C (zh) | 1998-08-12 | 1999-08-12 | 液晶显示板检查装置及检查方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22844298A JP3785821B2 (ja) | 1998-08-12 | 1998-08-12 | 液晶表示パネルの検査装置および検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000056285A true JP2000056285A (ja) | 2000-02-25 |
| JP3785821B2 JP3785821B2 (ja) | 2006-06-14 |
Family
ID=16876568
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22844298A Expired - Fee Related JP3785821B2 (ja) | 1998-08-12 | 1998-08-12 | 液晶表示パネルの検査装置および検査方法 |
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|---|---|
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| JP (1) | JP3785821B2 (ja) |
| KR (1) | KR100529225B1 (ja) |
| CN (1) | CN1188730C (ja) |
| TW (1) | TW436624B (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100684699B1 (ko) * | 2000-03-28 | 2007-02-20 | 샤프 가부시키가이샤 | 액정표시패널 및 그 제조방법 |
| US7202695B2 (en) | 2004-04-19 | 2007-04-10 | Lg. Philips Lcd Co., Ltd. | Apparatus and method for inspecting a liquid crystal display panel |
| US7365561B2 (en) | 2004-09-09 | 2008-04-29 | Seiko Epson Corporation | Test probe and tester, method for manufacturing the test probe |
| CN100433086C (zh) * | 2004-09-22 | 2008-11-12 | 精工爱普生株式会社 | 电光装置用基板和电光装置以及检查方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TW548860B (en) | 2001-06-20 | 2003-08-21 | Semiconductor Energy Lab | Light emitting device and method of manufacturing the same |
| KR100767375B1 (ko) * | 2001-11-07 | 2007-10-17 | 삼성전자주식회사 | 액정 표시 장치의 검사 장치 |
| KR100891498B1 (ko) * | 2002-11-04 | 2009-04-06 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정패널 검사장치 |
| KR100557498B1 (ko) * | 2002-12-27 | 2006-03-07 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시소자 및 그 제조방법 |
| KR100979382B1 (ko) * | 2003-10-04 | 2010-08-31 | 엘지디스플레이 주식회사 | 지그 및 이를 이용한 전압 인가 방법 |
| JP4353171B2 (ja) * | 2005-02-02 | 2009-10-28 | セイコーエプソン株式会社 | 電子機器、光学パネル、検査プローブ、光学パネルの検査装置、光学パネルの検査方法 |
| JP2006350064A (ja) * | 2005-06-17 | 2006-12-28 | Hitachi Displays Ltd | 表示装置および位置ずれ検査方法 |
| JP5194382B2 (ja) * | 2005-08-18 | 2013-05-08 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置及び電子機器 |
| JP4725358B2 (ja) * | 2006-02-24 | 2011-07-13 | ソニー株式会社 | カラー液晶表示パネル |
| CN101846696B (zh) * | 2010-03-19 | 2012-10-03 | 华映光电股份有限公司 | 探针及其制作方法 |
| US9251750B2 (en) * | 2011-11-14 | 2016-02-02 | Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. | LCD module and manufacturing method thereof |
| CN102819126B (zh) * | 2012-08-06 | 2015-05-20 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 测试装置及测试方法 |
| KR101578831B1 (ko) * | 2014-06-02 | 2015-12-21 | 주식회사 코디에스 | 표시판 검사용 구동 필름 및 그의 제조 방법 |
| CN104849882A (zh) * | 2015-05-05 | 2015-08-19 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种用于液晶显示面板的检测装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02304369A (ja) * | 1989-05-18 | 1990-12-18 | Seiko Epson Corp | 液晶パネル表示検査用プローブ |
| JPH07211752A (ja) * | 1994-01-13 | 1995-08-11 | Jgc Corp | 電子回路用プローブ |
| JP3213472B2 (ja) * | 1994-04-26 | 2001-10-02 | シャープ株式会社 | アクティブマトリクス基板又はアクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出検査方法、欠陥検出検査装置 |
| JPH08254677A (ja) * | 1994-10-14 | 1996-10-01 | Hitachi Electron Eng Co Ltd | 液晶パネルの点灯試験用コンタクト装置 |
| JPH09243660A (ja) * | 1996-03-05 | 1997-09-19 | Hitachi Electron Eng Co Ltd | 液晶パネルの試験用コンタクト装置 |
-
1998
- 1998-08-12 JP JP22844298A patent/JP3785821B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1999
- 1999-07-29 TW TW088112921A patent/TW436624B/zh not_active IP Right Cessation
- 1999-08-12 KR KR10-1999-0033121A patent/KR100529225B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1999-08-12 CN CNB991177371A patent/CN1188730C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1999-08-12 US US09/372,929 patent/US6300998B1/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6300998B1 (en) | 2001-10-09 |
| TW436624B (en) | 2001-05-28 |
| KR20000017280A (ko) | 2000-03-25 |
| JP3785821B2 (ja) | 2006-06-14 |
| CN1245291A (zh) | 2000-02-23 |
| CN1188730C (zh) | 2005-02-09 |
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