JPH02304369A - 液晶パネル表示検査用プローブ - Google Patents

液晶パネル表示検査用プローブ

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Publication number
JPH02304369A
JPH02304369A JP12471189A JP12471189A JPH02304369A JP H02304369 A JPH02304369 A JP H02304369A JP 12471189 A JP12471189 A JP 12471189A JP 12471189 A JP12471189 A JP 12471189A JP H02304369 A JPH02304369 A JP H02304369A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
crystal panel
probe
inspection
tape
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP12471189A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiko Matsumoto
昌彦 松本
Kozo Gyoda
幸三 行田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP12471189A priority Critical patent/JPH02304369A/ja
Publication of JPH02304369A publication Critical patent/JPH02304369A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
f産業上の利用分野〕 本発明は、液晶パネルの表示検査に用いるプローブに関
する。
【従来の技術】
従来の液晶パネル表示検査用プローブとしては、第3図
に示すように導電性ゴム17.18を用い、液晶パネル
の電極端子11.12に接触させた状態において、信号
源19から出力した信号を導電性ゴム17.1日を通し
て液晶パネル14を表示させて検査するものである。 ■発明が解決しようとする課題1 液晶パネルの表示検査としては、赤、縁、青の各色にお
ける階調表示チェック、点または線状の表示欠陥、ムラ
、シミなどの欠陥を検査することが必要である。しかし
前述の従来技術では、プローブに導電性ゴムを使用して
おり、導電性ゴムによる液晶パネルの外周部に有る電極
端子のブロービングは、液晶パネルの各辺において導電
性ゴムにブロービングされた電極端子は全て短絡した状
態になる。そのため番こ液晶パネルの各画素は同一の表
示となり、液晶パネル全面の表示′は単一色の表示しか
行えない、このためテストパターンによる表示検査が行
えず、十分に検査ができない問題点を有していた。 そこで、本発明は従来のこのような問題点を解決するた
め、テストパターンによる表示検査を行^る液晶パネル
表示検査用プローブを提供することを目的とする。 〔課題を解決するための手段〕 本発明の液晶パネル表示検査用プローブは、導電パター
ンを形成したフレキテープと液晶パネル駆動用ICチッ
プを実装したフレキテープ(以下ドライバーテープとい
う)を接合し、その二つが一体化されていることを特徴
とする。 [作 用] 導電パターンを形成したフレキテープとドライバーテー
プを接合し、その二つを一体化した本発明の液晶パネル
表示検査用プローブは、液晶パネルの外周部に有る各電
極端子に対し所定の液晶パネル駆動信号が入力できるこ
とによって、液晶パネルの画面表示を液晶パネル表示体
としてのモジュール化したもの(完成品)と同等な表示
を行うことができる。このような作用により、テストパ
ターンによる表示検査を行い、赤、縁、青の各色におけ
る階調表示欠陥、ムラ、シミなどの画面表示の欠陥を検
査することができる。 〔実 施 例] 以下に本発明の実施例を図面にもとづいて説明する。第
1図(a)は本発明の液晶パネル表示検査用プローブの
構成図である。lは導電パターンを形成したフレキテー
プ、2は液晶パネル駆動用ICチップ3を実装したドラ
イバーテープである。第1図(b)は第1図(a)のA
視拡大図であり、第1図(b)に示すように、フレキテ
ープの導電パターン4とドライバーテープの出力端子バ
クーン5を一致させ、第1図(a)の断面図を示す第1
図(C)に示すように異方性導電1116を用い、熱圧
着による接合を行い、フレキテープlとドライバーテー
プ2を一体化する。 第2図(a)は、本発明の液晶パネル表示検査用プロー
ブの一実施例の検査状態を示す図であり、液晶パネル検
査用プローブ7と8を液晶パネル14にブロービングし
た状態を示す。 第2図(b)は、液晶パネル表示検査用プローブ7の導
電パターン16と液晶パネル電極端子llをプローブ押
え9によって接触させた状態を示す。 液晶パネル14を液晶パネル固定台13の上に固定し、
液晶パネル14の電極端子11と12のそれぞれに液晶
パネル表示検査用プローブ7と8の導電バクーンとのア
ライメントを行う0次にプローブ押^9とlOによって
液晶パネル表示検査用プローブ7と8の導電パターンと
液晶パネルのm極端子11と12を接触させる。 そしてこの状態において、液晶パネル駆動用ICチップ
3を液晶パネル駆動用ICチップ制御装置15によって
制御することにより、テストパターン表示において液晶
パネル14の表示画面の欠陥を検査することができる。
【発明の効果】
本発明の液晶パネル検査用プローブは、ドライバーテー
プ上に実装した液晶パネル駆動用ICチップを制御する
ことにより、液晶パネルの画面表示の欠陥検査をテスト
パターンで行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)(b)(c)は本発明の液晶パネル表示検
査用プローブの説明図。 第2図(a)(b)は本発明の液晶パネル表示検査用プ
ローブの実施例に対する説明図。 第3図は従来技術における導電性ゴムを用いた液晶パネ
ル表示検査の説明図。 l・・・導電パターンを形成したフレキテープ 2・・・ドライバーテープ 3・・・液晶パネル駆動用ICチップ 4・・・フレキテープの導電パターン 5・・・ドライバーテープの導電バクーン6・・・異方
性導電膜 7・・・液晶パネル表示検査用プローブ8・・・液晶パ
ネル表示検査用プローブ9・・・プローブ押え lO・・・プローブ押え 11・・・液晶パネル電極端子 12・・・液晶パネル電極端子 13・・・液晶パネル固定台 14・・・液晶パネル 15・・・液晶パネル駆動用ICチップ制御装置 16・・・液晶パネル表示検査用プローブ7の導電パタ
ーン 17・・・導電性ゴム 18・・・導電性ゴム 19・・・信号源 以上 出願人 セイコーエプソン株式会社 代理人 弁理士 鈴 木 喜三部(他1名)偲7 国 
(妙ン メ71p (C) 記z1膿Cα) 蓼2の(ら)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 外周部に電極端子を有する液晶パネルの表示検査で用い
    るプローブとして、導電パターンを形成したフレキテー
    プと液晶パネル駆動用ICチップを実装したフレキテー
    プを接合し、その二つが一体化されていることを特徴と
    する液晶パネル表示検査用プローブ。
JP12471189A 1989-05-18 1989-05-18 液晶パネル表示検査用プローブ Pending JPH02304369A (ja)

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JP12471189A JPH02304369A (ja) 1989-05-18 1989-05-18 液晶パネル表示検査用プローブ

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JP12471189A JPH02304369A (ja) 1989-05-18 1989-05-18 液晶パネル表示検査用プローブ

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JPH02304369A true JPH02304369A (ja) 1990-12-18

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ID=14892216

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JP12471189A Pending JPH02304369A (ja) 1989-05-18 1989-05-18 液晶パネル表示検査用プローブ

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JP (1) JPH02304369A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0647875U (ja) * 1992-12-09 1994-06-28 株式会社ヨコオ 表示パネル検査用テストヘッド
KR100529225B1 (ko) * 1998-08-12 2005-11-17 세이코 엡슨 가부시키가이샤 액정 표시 패널의 검사용 프로브, 액정 표시 패널의 검사 장치및 검사 방법

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0647875U (ja) * 1992-12-09 1994-06-28 株式会社ヨコオ 表示パネル検査用テストヘッド
KR100529225B1 (ko) * 1998-08-12 2005-11-17 세이코 엡슨 가부시키가이샤 액정 표시 패널의 검사용 프로브, 액정 표시 패널의 검사 장치및 검사 방법

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