KR100684869B1 - 액정 표시 패널 검사용 접촉 필름 및 검사 방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 액정 표시 패널(Liquid Crystal Display panel: 이하 'LCD 패널'이라 칭한다)을 테스트할 때 사용되는 접촉 필름(contact film) 및 검사 방법에 관한 것으로, 더 상세히는 그로스 테스트를 수행할 때 LCD 패널의 신호 데이터 패드와 프로브 블록(probe block)의 프로브 핀의 접촉성을 향상시키기 위한 접촉 필름 및 검사 방법에 관한 것이다. 본 발명의 접촉 필름은 비전도성 필름에 도전 입자들을 그 내부에 균일하게 도포하여 구성된다. 본 발명의 접촉 필름을 LCD 패널의 테스트 공정에 적용하면, LCD 패널의 고해상도에 따라 피할 수 없는 접촉 불량을 해소할 수 있으며, 이로 인한 화상 신호 전달 문제가 해결된다.

Description

액정 표시 패널 검사용 접촉 필름 및 검사 방법{CONTACT FILM FOR TESTING LCD PANEL AND TESTING METHOD USING THE CONTACT FILM}

도 1은 LCD 패널의 평면도;

도 2는 신호 데이터 패드의 접촉부와 프로브 핀의 접촉 면적의 치수와 접촉 관계를 설명하기 위해 도시한 도면;

도 3은 테스트 공정에서 프로브 핀이 접촉되는 모양을 도시한 사시도;

도 4는 프로브 핀이 정위치에 배치되지 않은 경우를 나타낸 도면;

도 5는 본 발명의 접촉 필름의 사시도;

도 6은 본 발명의 접촉 필름을 사용하여 LCD 패널을 테스트하는 것을 설명하기 위한 사시도;

도 7a와 도 7b는 본 발명의 접촉 필름이 어떻게 작동하는지 설명하기 위해 도시한 측면도; 및

도 8은 본 발명의 접촉 필름을 사용하여 LCD 패널을 검사하는 공정의 순서도이다.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1: 접촉 필름(contact film)

2: 비전도성 필름(nonconductive film)

3: 신호 데이터 패드(signal data pad)

4: LCD 패널(Liquid Crystal Display panel)

5: 도전 입자(conductive particle)

6: 프로브 핀 접촉부

7: 프로브 핀(probe pin)

8: 프로브 블록(probe block)

A, B, C, D, E: 신호 데이터 패드와 프로브 핀 접촉부의 치수

F: 프로프 핀의 이동 방향

본 발명은 액정 표시 패널(Liquid Crystal Display panel: 이하 'LCD 패널'이라 칭한다)을 테스트할 때 사용되는 접촉 필름(contact film) 및 검사 방법에 관한 것으로, 더 상세히는 그로스 테스트를 수행할 때 LCD 패널의 신호 데이터 패드와 프로브 블록(probe block)의 프로브 핀의 접촉성을 향상시키기 위한 접촉 필름 및 검사 방법에 관한 것이다.

소형화, 경량화 및 저소비전력 등의 추세로 발전하고 있는 LCD 패널은 TFT(Thin Film Transistor) 기판과 칼라 필터 및 액정 물질로 구성되며, 주입된 액정의 전기 광학적 성질을 이용하여 정보를 표시하는 장치이다.

LCD 패널은 유리 재질의 기판 위에 형성된 회로와 전기적 신호를 수신하는 입출력 패드인 신호 데이터 패드가 전기적으로 연결되어 구성된다. 이러한 회로 및 신호 데이터 패드가 형성된 LCD 패널은 백라이트 어셈블리 등과 함께 완제품으로 조립되기 전에 완제품과 같은 동일한 환경으로 테스트를 시행하는 것이 LCD 패널 제조 공정의 일반적인 순서이다.

최근 소비자들이 보다 크고 선명한 LCD 패널을 요구하고 있다. 이에 따라 패널의 크기는 15 인치와 14.1 인치가 양산되고 있으며, 기존의 SVGA(800×600)의 해상도로 충분했던 것이 근래에는 XGA(1024×768) 및 SXGA(1280×1024)의 고해상도 제품이 출시되고 있다.

도 1은 LCD 패널의 평면도이며, 도 2는 신호 데이터 패드의 접촉부와 프로브 핀의 접촉 면적의 치수와 접촉 관계를 설명하기 위해 도시한 도면이고, 도 3은 테스트 공정에서 프로브 핀이 접촉되는 모양을 도시한 사시도이다. 도 1에 도시한 바와 같이 신호 데이터 패드(3)는 LCD 모듈의 가장자리부에 배치되는데, 15인치 SXGA인 경우 프로브 핀의 접촉부(6)는 그 폭(D)이 25×30㎛ 이고 신호 데이터 패드(3)의 폭(A)은 38㎛이며 신호 데이터 패드(3)의 간격(E)은 22㎛이다. 이와 같이 치수가 가시적으로 판단할 수 없을 정도로 세밀해져서 프로브 핀(7)을 정확한 위치에 배치하는 것이 기술적으로 중요한 인자가 되고 있는 것이 사실이다.

도 4는 프로브 핀이 정위치에 배치되지 않은 경우를 나타낸 도면이다. 도 4와 같이 프로브 핀 접촉부(6)가 정위치에 배치되지 않을 경우 그 라인에 해당되는 부분이 제대로 작동되지 않게 되고, 이러한 징후가 나타날 때 LCD 모듈은 해당 신호 데이터 패드(3)와 연결된 회로부분에 문제가 있는 것인지 아니면 접촉에 문제가 있는지 육안으로 판단할 수 없으므로, 작업자가 프로브 블록(8)을 재설정해야하는 번거로움이 있다.

한편, 이러한 접촉 불량의 문제는 프로브 블록(8)을 장시간 사용함으로써 노후하여 발생하기도 한다.

본 발명은 상술한 문제를 해결하기 위해 안출된 것으로, LCD 패널의 테스트 공정에서 신호 데이터 패드와 프로브 핀이 에러 없이 접촉될 수 있도록 하는 접촉 필름을 제공하는 데 그 목적이 있다.

상술한 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 접촉 필름은 비전도성 필름에 도전 입자들을 그 내부에 균일하게 도포하여 구성된다.

본 발명의 특징에 의하면, 도전 입자의 분포도를 단일 프로브 핀이 접촉면 내에 다수개가 포함되도록 적절하게 조절하여야 한다. 이렇게 배치함으로써 신호 데이터 패드와 프로브 핀의 접촉 불량 가능성을 최소화할 수 있다.

이하 본 발명의 구체적인 실시예의 구성과 작용을 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다.

도 5는 본 발명의 접촉 필름의 사시도이다. 도 6은 접촉 필름을 사용하여 LCD 패널을 테스트하는 것을 설명하기 위한 사시도이고, 도 7a와 도 7b는 본 발명의 접촉 필름의 작동 원리를 설명하기 위해 도시한 측면도이다.

도 5에 도시한 바와 같이 본 발명의 접촉 필름(contact film)(1)은 그 내부 에 다수의 도전 입자(conductive particle)(5)가 균일하게 분포되어 있는 비전도성 필름(nonconductive film)(2)으로 구성된다. 도 7a와 도 7b에 도시한 바와 같이 비전도성 필름(2)의 두께는 도전 입자(5)의 직경보다 두껍게 제조된다. 즉 도전 입자(5)는 비전도성 필름(2) 내부에 균일하게 분포되지만, 외관상으로는 도전입자(5)가 외부로 돌출되지 않게 된다. 바람직하게는 상기 도전 입자(5)는 구형이며, 전도성과 연성이 우수한 니켈로 제조된다. 그러나, 이러한 형상과 재질은 본 발명의 한 실시예를 의미하며, 본 발명의 도전 입자(5)로써 그 주요 기능을 충분히 수행할 수 있는 형상과 재질이라면 어떠한 것이라도 적용될 수 있는 것은 당연하다.

한편, 도면에는 표시되어 있지 않으나 상기 비전도성 필름(2)은 그 일면에 접착 물질(adhesive material)이 도포될 수 있는데, 이것은 LCD 패널의 테스트 공정을 진행할 때 본 발명의 접촉 필름(1)을 신호 데이터 패드(3)에 부착하기 위한 것이다. 이는 테스트 공정이 더 정밀하게 진행되도록 도와준다.

도전 입자의 크기는 약 5㎛으로, 이는 신호 데이터 패드(3)의 폭인 38 ㎛의 약 1/8이고 프로브 핀(7)의 접촉부(6)의 폭인 30㎛의 약 1/6이다. 그리고, 바람직하게는 도전 입자(5)가 프로브 핀(7)의 접촉부(6) 안에 다수개 분포될 수 있을 정도로 충분히 많은 도전 입자가 비도전성 필름(2) 내에 분포되어야 한다.

상술한 것과 같이 구성된 접촉 필름(1)이 어떤 방식으로 신호 데이터 패드(3)와 프로브 핀(7)을 전기적으로 연결하는지 설명하면 다음과 같다. 도 7a와 같이 접촉 필름(1)은 LCD 패널(4)의 신호 데이터 패드(3)들을 가로질러 그 하면에 도포된 접착 물질의 접착력에 의해 부착된다. 도 7a에 도시한 바와 같이 프로브 핀(7)은 하향 이동한다. 도 7a와 같이 프로브 핀(7)이 접촉 필름(1)을 가압하지 않는 상태에서는 도전 입자(5)가 비전도성 필름(2)의 내부에 고정된 위치를 유지하고 있다. 그러나, 도 7b와 같이 프로브 핀(7)이 접촉 필름(1)을 가압하면 도전 입자(5)가 눌려져서 다수의 도전 입자(5)를 매개로 하여 신호 데이터 패드(3)와 프로브 핀(7)이 전기적으로 연결된다. 전술하였듯이 이러한 연결은 단일 도전 입자(5)에 의해서 이루어지지 않으므로, 전기적 연결성의 신뢰도는 기존의 것보다 우수할 것이다.

도 8은 본 발명의 접촉 필름을 사용하여 LCD 패널을 검사하는 공정의 순서도이다.

도 8을 참고하여 LCD 패널 검사 공정을 자세히 설명하면 다음과 같다. 첫째, 상술한 접촉 필름을 신호 데이터 패드에 부착한다.(S801) 부착하는 방법은 공정의 환경에 따라 적절한 방법을 선택하여야 하겠지만, 바람직하게는 접촉 필름의 일면에 접착 물질을 도포하는 방법이 사용될 수 있다. 그러나, 검사가 진행될 때 접착 물질을 견고하게 고정할 수 있는 방법이라면 어떠한 수단을 사용해도 관계 없다. 둘째, 테스트 보드(test board)에 연결된 프로브 블록(probe block)을 하강시킨다.(S802) 프로브 블록에는 다수의 프로브 핀이 장착되어 있으며, 프로브 핀이 접촉 필름을 가압하면, 그 내부의 도전 입자에 의해 프로브 핀과 신호 데이터 패드가 전기적으로 연결된다. 셋째, LCD 패널의 표시 상태를 테스트한다.(S803) 넷째, 프로브 핀을 상승시켜 전기적 접촉을 해제한 후, 신호 데이터 패드에 부착된 접촉 필름을 제거한다.(S804) 마지막으로, 신호 데이터 패드에 남아있는 접착 물질 및 비도전성 필름을 제거하기 위한 세정을 실시한다.(S805)

이상에서 본 발명은 기재된 구체예에 대해서만 상세히 설명되었지만 본 발명의 기술사상 범위 내에서 다양한 변형 및 수정이 가능함은 당업자에게 있어서 명백한 것이며, 이러한 변형 및 수정이 첨부된 특허청구범위에 속함은 당연한 것이다.

특히, 도전 입자의 크기나 형상 및 재질은 사용 환경 및 그 기능에 따라 조절될 수 있는 것이며, 본 발명의 실시예와 같이 한정되게 사용될 것은 아니다. 그리고, 적용 범위에 있어서도 LCD 모듈뿐만 아니라 IMT-2000, 휴대폰 단말기의 액정 화면, 네비게이션 시스템의 표시 장치 등과 같은 평판 패널 표시 장치(flat panel display: 줄여서 'FPD'이라고도 한다)의 제조 공정에 광범위하게 사용될 수 있는 것 또한 자명할 것이다.

본 발명의 접촉 필름을 LCD 패널의 테스트 공정에 적용하면, LCD 패널의 고해상도에 따라 피할 수 없는 접촉 불량을 해소할 수 있으며, 이로 인한 화상 신호 전달 문제가 해결된다.

Claims (6)

1. 액정 표시 패널을 검사할 때 신호 데이터 패드와 프로브 블록을 전기적으로 연결하기 위한 접촉 필름에 있어서:

   비도전성 필름; 및

   상기 비도전성 필름의 내부에 균일하게 분포되는 다수의 도전 입자를 포함하되,

   상기 프로브 블록이 상기 신호 데이터 패드에 부착된 상기 접촉 필름을 가압할 때, 상기 다수의 도전 입자들이 상기 신호 데이터 패드와 상기 프로브 블록을 전기적으로 연결하는 것을 특징으로 하는 접촉 필름.
2. 제 1 항에 있어서,

   상기 다수의 도전 입자들의 형상은 구형인 것을 특징으로 하는 접촉 필름.
3. 제 1 항에 있어서,

   상기 비도전성 필름의 일면은 접착 물질층이 도포되어 있어 상기 접촉 필름이 상기 액정 표시 패널의 신호 데이터 패드에 접착력에 의해 부착되는 것을 특징으로 하는 접촉 필름.
4. 제 2 항에 있어서,

   상기 다수의 도전 입자들은 그 직경이 5㎛이며, 상기 신호 데이터 패드에 각각 다수개의 도전 입자가 접촉될 수 있도록 분포되는 것을 특징으로 하는 접촉 필름.
5. 제 1 항에 있어서,

   상기 다수의 도전 입자들은 니켈로 제조된 것을 특징으로 하는 접촉 필름.
6. 다수의 도전 입자가 그 내부에 분포된 비도전성 필름으로 구성된 접촉 필름을 사용하여 액정 표시 패널을 검사하는 방법에 있어서:

   상기 액정 표시 패널의 신호 데이터 패드에 상기 접촉 필름을 부착하는 단계;

   테스트용 보드에 연결된 다수의 프로브 핀들을 하강시켜 상기 접촉 필름 표면을 가압하여 상기 도전 입자를 통해 상기 신호 데이터 패드와 프로프 핀들을 전기적으로 연결시키는 단계;

   상기 액정 표시 패널에 정보 표시 신호를 전송하여 표시 상태를 테스트하는 단계;

   상기 접촉 필름를 제거하는 단계; 및

   상기 신호 데이터 패드를 세정하는 단계로 구성된 액정 표시 패널 검사 방법.

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