KR20110066752A - 액정패널 검사 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 액정패널 검사 장치에 관한 것으로서, 액정패널의 제조 과정에서 이루어지는 오토 프로브 검사 및 정전기 제거용 도전층 양단의 저항을 측정하는 검사를 동시에 수행함으로써 액정패널의 검사에 소요되는 시간 및 비용을 최소화할 수 있고 검사의 완성도를 높일 수 있는 오토 프로브 검사 장치에 관한 것이다. 이러한 본 발명에 따른 액정패널 검사 장치는, 적어도 하나의 액정패널이 안착되는 스테이지; 상기 스테이지에 안착된 액정패널의 검사 패드에 접촉하여 검사 신호를 인가하여 액정패널에 검사 패턴을 구현하기 위한 제 1 검사 핀이 형성되는 헤드부; 및 상기 액정패널의 정전기 제거용 도전층의 양단에 접촉하여 저항을 측정하기 위한 제 2 검사 핀과 제 3 검사 핀이 형성된 투명기판; 을 포함하여 구성된다.
액정패널, 오토 프로브, 정전기 제거용 도전층, 저항 측정

Description

액정패널 검사 장치{APPARATUS FOR INSPECTING LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL}
본 발명은 액정패널 검사 장치에 관한 것으로서, 액정패널의 제조 과정에서 이루어지는 오토 프로브 검사 및 정전기 제거용 도전층 양단의 저항을 측정하는 검사를 동시에 수행함으로써 액정패널의 검사에 소요되는 시간 및 비용을 최소화할 수 있는 액정패널 검사 장치에 관한 것이다.
일반적으로 액정표시장치는 경량, 박형, 저소비 전력구동 등의 특징으로 인해 그 응용범위가 점차 넓어지고 있는 추세에 있다. 이에 따라 액정표시장치는 휴대용 컴퓨터, 휴대폰, 사무 자동화 기기 등에 있어서 화면을 디스플레이하기 위한 수단으로서 널리 이용되고 있다.
통상적으로 액정표시장치는 매트릭스 형태로 배열된 다수의 제어용 스위칭 소자에 인가되는 영상신호에 따라 광의 투과량이 조절되어 화면에 원하는 화상을 표시하게 된다.
이러한 액정표시장치는 상부기판인 컬러필터 기판과 하부기판인 박막 트랜지스터 어레이 기판이 서로 대향하고 상기 두 기판 사이에 액정층이 형성된 액정패널 과, 상기 액정패널에 주사신호 및 화상정보를 공급하여 액정패널을 동작시키는 구동부를 포함하여 구성된다.
이와 같은 구성을 가지는 액정표시장치는 컬러필터 기판과 박막 트랜지스터 어레이 기판 상에 다수의 소자 및 배선을 형성하는 공정과, 상기 컬러필터 기판과 박막 트랜지스터 어레이 기판을 합착하고 액정을 주입하여 액정패널을 형성하는 공정을 통해 제조된다.
그리고, 상기와 같은 다수의 공정을 통해 제조되는 액정표시장치는 제조 과정에서 오토 프로브(auto probe) 검사 장치를 이용하여 피검사체인 액정패널에 소정의 신호를 인가하여 구동시키고 액정패널의 배면에 광을 공급하여 검사 패턴을 구현한 상태에서 패턴을 관찰하여 화소의 정상 구동 및 불량 유무를 판별하는 오토 프로브 검사와, 액정패널의 컬러필터 기판의 외부 면에 마련된 정전기 제거용 도전층 양단의 저항을 측정하는 검사를 포함하는 다수의 검사가 수행된다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 종래의 일반적인 액정표시장치에 있어서 오토 프로브 검사 및 정전기 제거용 도전층 양단의 저항을 측정하는 검사에 대하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 1에는 종래의 일반적인 액정표시장치에 구비된 액정패널을 도시하였으며, 도 2에는 종래의 일반적인 오토 프로브 검사 장치를 개략적으로 도시하였다.
도 1에 도시한 바와 같이 종래의 일반적인 액정표시장치는, 박막 트랜지스터 어레이 기판(10a)과 컬러필터 기판(10b)으로 이루어진 액정패널(1)이 구비된다.
도면에 상세히 도시하지 않았지만, 상기 박막 트랜지스터 어레이 기판(10a) 에는 게이트 라인과 데이터 라인이 교차하여 다수의 화소가 정의되고, 상기 각 화소에는 게이트 라인과 데이터 라인이 교차하는 영역에 박막 트랜지스터가 형성되며, 각 화소에는 상기 박막 트랜지스터와 연결되어 다수 개로 분기된 화소전극이 형성되고, 각 화소에는 상기 화소전극과 평행하여 엇갈리도록 다수 개로 분기된 공통전극이 형성된다.
그리고, 상기 컬러필터 기판(10b)에는 박막 트랜지스터 어레이 기판(10a) 상에 정의된 다수의 화소에 대응되는 컬러필터를 포함하는 컬러필터 층이 형성되고, 제조 과정 또는 사용 과정에서 발생하는 정전기를 제거하기 위하여 마련된 것으로서 상부 커버, 하부커버와 같은 접지 수단에 연결되는 정전기 제거용 도전층(7)이 형성된다.
그리고, 상기 종래의 일반적인 액정표시장치는 게이트 라인을 구동하기 위한 게이트 구동부와 데이터 라인을 구동하기 위한 데이터 구동부를 구비하며, 상기 게이트 구동부 및 데이터 구동부는 필요에 따라 오토 프로브 검사가 완료된 이후에 형성될 수 있다.
상술한 바와 같이 구성을 가지는 종래의 일반적인 액정표시장치는 오토 프로브 검사 시에 이용하기 위한 목적으로 박막 트랜지스터 어레이 기판 상에 검사용 패드(6)가 형성된다.
상기 검사용 패드(6)는 게이트 라인과 직접(또는 간접)적으로 연결된 게이트 검사 패드와 데이터 라인과 직접(또는 간접)적으로 연결된 데이터 검사 패드를 포함하며, 상기 게이트 검사 패드는 오토 프로브 검사 시에 오토 프로브 검사 장치의 게이트 검사 핀(pin)을 통해 게이트 검사 신호를 입력받아 게이트 라인이 구동되도록 하고, 상기 데이터 검사 패드는 오토 프로브 검사 시에 오토 프로브 검사 장치의 데이터 검사 핀을 통해 데이터 검사신호를 입력받아 데이터 라인이 구동되도록 한다.
상기와 같은 구성을 가지는 액정패널(1)에 대한 검사를 수행하는 종래의 일반적인 오토 프로브 검사 장치는 도 2에 도시한 바와 같이 피검사체인 액정패널(1)이 안착되는 스테이지(21)와, 상기 스테이지(21) 상에 안착되어 있는 액정패널(1)의 검사 패드(6)에 검사 신호를 인가하는 검사 핀(25)이 형성된 헤드부(22)로 구성되는데, 이와 같은 구성을 가지는 오토 프로브 검사 장치는 게이트 검사 핀을 이용하여 게이트 검사 패드에 게이트 검사 신호를 입력함으로써 게이트 라인이 구동되어 해당 게이트 라인에 연결된 박막 트랜지스터가 온되도록 하고, 데이터 검사 핀을 이용하여 데이터 검사 패드에 데이터 검사 신호를 입력하여 온되어 있는 박막 트랜지스터를 통해 데이터 검사신호가 화소전극에 인가되도록 함으로써 액정패널(1)에 검사 패턴이 구현되도록 하며, 작업자는 상기 액정패널(1)에 구현된 검사 패턴을 관찰하여 정상 구동 여부 등을 검사하게 된다.
그리고, 도면에 상세히 도시하지는 않았지만, 상기와 같은 구성을 가지는 액정패널의 정전기 제거용 도전층 양단의 저항을 측정하기 위한 종래의 일반적인 저항 측정 장치는 컬러필터 기판(10b)의 외부 면에 마련된 정전기 제거용 도전층(7)의 양단에 접촉하기 위한 두 개의 접촉 단자를 포함하여 구성되며, 이러한 저항 측정기는 검사자가 정전기 제거용 도전층(7) 중에 멀리 떨어진 두 지점에 두 접촉 단 자를 각각 접촉시키면 정전기 제거용 도전층(7) 양단의 저항을 측정하게 된다.
상술한 바와 같이 종래에는 오토 프로브 검사 및 정전기 제거용 도전층(7) 양단의 저항을 측정하는 검사를 비롯한 다수의 검사가 개별적으로 수행되며, 이러한 다수의 검사로 인해 액정패널(1)의 제조 과정에서 소요되는 시간 및 비용에 있어서의 낭비가 발생하고 있고, 특히 정전기 제거용 도전층(7) 양단의 저항을 측정하는 검사는 다수의 액정패널(1) 집단 중에 적어도 하나만을 샘플링하여 수행되므로 샘플링된 액정패널(1)이 검사를 통과하여도 해당 집단의 액정패널(1)이 모두 검사를 통과하였다고 보기에는 무리가 있으므로 검사의 완성도가 떨어지는 문제점이 존재한다.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 본 발명의 목적은 액정패널의 제조 과정에서 이루어지는 오토 프로브 검사 및 정전기 제거용 도전층 양단의 저항을 측정하는 검사를 동시에 수행함으로써 액정패널의 제조 시에 검사로 인해 소요되는 시간 및 비용을 최소화할 수 있고 검사의 완성도를 높일 수 있는 액정패널 검사 장치를 제공하는 것이다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 액정패널 검사 장치는, 적어도 하나의 액정패널이 안착되는 스테이지; 상기 스테이지에 안착된 액정패널의 검사 패드에 접촉하여 검사 신호를 인가하여 액정패널에 검사 패턴을 구현하기 위한 제 1 검사 핀이 형성되는 헤드부; 및 상기 액정패널의 정전기 제거용 도전층의 양단에 접촉하여 저항을 측정하기 위한 제 2 검사 핀과 제 3 검사 핀이 형성된 투명기판; 을 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 투명기판에는 일 단부가 제 2 검사 핀과 연결된 제 1 배선이 형성되고 일 단부가 제 3 검사 핀에 연결된 제 2 배선이 형성되며, 상기 제 1 배선의 타 단부에는 제 1 접촉 패드가 형성되고 제 2 배선의 타 단부에는 제 2 접촉 패드가 형성되며, 상기 헤드부는 상기 제 1 접촉 패드에 대응되는 영역에 제 3 접촉 패드가 형성되고 제 2 접촉 패드에 대응되는 영역에 제 4 접촉 패드가 형성된 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 헤드부와 투명기판은 상승 및 하강 기능을 가지며, 상기 헤드부와 투명기판이 하강하여 제 1 검사 핀이 액정패널의 검사 패드에 접촉하고 제 2 검사 핀과 제 3 검사 핀이 액정패널의 정전기 제거용 도전층에 접촉하면, 투명기판의 제 1 접촉 패드와 헤드부의 제 3 접촉 패드가 접촉하고 투명기판의 제 2 접촉 패드와 헤드부의 제 4 접촉 패드가 접촉하는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 헤드부의 제 1 검사 핀에 검사 신호를 인가하고 투명기판의 제 2 및 제 3 검사 핀에 검사 신호를 인가하는 제어부를 포함하여 구성되며, 상기 헤드부에는 일 단부가 제 3 접촉 패드에 연결되고 타 단부가 제어부에 연결되는 제 3 배선과, 일 단부가 제 4 접촉 패드에 연결되고 타 단부가 제어부에 연결되는 제 4 배선이 형성된 것을 특징으로 한다.
상기와 같은 구성을 가지는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 액정패널 검사 장치는, 오토 프로브 검사 및 정전기 제거용 도전층 양단의 저항을 측정하는 검사를 동시에 수행함으로써, 액정패널의 제조 시에 검사로 인해 소요되는 시간 및 비용을 최소화할 수 있는 효과가 있다.
그리고, 상기와 같은 구성을 가지는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 액정패널 검사 장치는, 오토 프로브 검사를 수행할 시에 정전기 제거용 도전층 양단의 저항을 측정하는 검사도 함께 수행하므로, 다수의 액정패널 집단 중에 하나만을 샘플링하여 수행되던 종래와는 달리 모든 액정패널에 대하여 정전기 제거용 도전층 양단의 저항을 측정하는 검사가 수행되므로, 검사의 완성도를 높일 수 있는 효과가 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 액정패널 검사 장치에 대하여 상세히 설명한다.
도 5에 도시한 바와 같이 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 오토 프로브 검사 장치는, 적어도 하나의 액정패널(101)이 안착되는 스테이지(201); 상기 스테이지(201)에 안착된 액정패널(101)의 검사 패드(106)에 접촉하여 검사 신호를 인가하여 액정패널(101)에 검사 패턴을 구현하기 위한 제 1 검사 핀(205)이 형성되는 헤드부(202); 및 상기 액정패널(101)의 정전기 제거용 도전층(107)의 양단에 접촉하여 저항을 측정하기 위한 제 2 검사 핀(206)과 제 3 검사 핀(207)이 형성된 투명기판(203); 을 포함하여 구성된다.
상기와 같은 구성을 가지는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 액정패널 검사 장치에 대하여 설명하기에 앞서, 도 3과 도 4를 참조하여 상기 액정패널 검사 장치의 피검사체인 액정패널(101)의 구조에 대하여 먼저 설명하면 다음과 같다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따른 액정패널 검사 장치의 피검사체인 액정패널(101)은, 박막 트랜지스터 어레이 기판인 제 1 기판(101a)과 컬러필터 기판인 제 2 기판(101b)으로 구성되어 있으며, 상기 제 1 기판(101a)과 제 2 기판(101b) 사이에는 액정층(미도시)이 형성되어 있다.
상기 제 1 기판(101a) 상에는 다수의 게이트 라인과 다수의 데이터 라인이 서로 교차하도록 형성되어 다수의 화소가 마련되며, 상기 각 화소의 게이트 라인(미도시)과 데이터 라인(미도시)이 교차하는 영역에는 박막 트랜지스터(102)가 형성되며, 각 화소에는 상기 박막 트랜지스터(102)와 연결되어 다수 개로 분기된 화소전극(103)이 형성되고, 각 화소에는 상기 화소전극(103)과 평행하여 엇갈리도록 다수 개로 분기된 공통전극(104)이 형성된다.
상기 제 1 기판(101) 상에는 게이트 라인을 구동하는 게이트 구동부(미도시)가 게이트 인 패널(gate in panel; GIP) 방식으로 직접 실장될 수 있으며, 데이터 라인을 구동하는 데이터 구동부가 집적회로(integrated circuit; IC) 방식으로 제조된 데이터 구동 집적회로(105)가 실장되어 있다. 여기서, 상기 데이터 구동 집적회로(105)는 액정패널의 제조 과정에서 오토 프로브 검사 및 정전기 제거용 도전층(107)의 저항 측정 검사가 수행된 이후에 제 1 기판(101a) 상에 실장된다.
상기 게이트 구동부가 게이트 인 패널 방식으로 제 1 기판(101a) 상에 실장된 것은 일 예로서 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니며, 상기 게이트 구동부는 데이터 구동 집적회로(105)에 함께 형성되거나 또는 별도로 형성되어 제 1 기판(101a) 상에 실장되거나 부착되는 등 다양한 예가 가능할 것이다.
상기 액정패널(101)은 오토 프로브 검사 시에 이용하기 위한 목적으로서 검사 패드(106) 및 제 2 박막 트랜지스터(102)를 구비할 수 있다. 이때, 상기 검사 패드(106)는 게이트 검사 패드와 데이터 검사 패드를 포함한다.
상기 게이트 검사 패드는 게이트 라인과 직접(또는 간접)적으로 연결되어 있으며, 이로써 게이트 검사 패드는 본 발명에 따른 액정패널 검사 장치를 이용한 오 토 프로브 검사 시에 액정패널 검사 장치의 제 1 검사 핀(205)을 통해 게이트 검사 신호를 입력받아 게이트 라인이 구동되도록 한다.
상기 데이터 검사 패드는 데이터 라인과 직접(또는 간접)적으로 연결되어 있으며, 이로써 데이터 검사 패드는 본 발명에 따른 액정패널 검사 장치를 이용한 오토 프로브 검사 시에 액정패널 검사 장치의 제 1 검사 핀(205)을 통해 데이터 검사 신호를 입력받아 데이터 라인이 구동되도록 한다.
상술한 바와 같은 구성을 가지는 액정패널(101)을 검사하기 위한 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 액정패널 검사 장치의 각 구성 요소에 대하여 도 5 내지 도 8을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 5에는 본 발명의 바람직한 실시예에 다른 액정패널 검사 장치를 측부에서 바라본 모습을 도시하였고, 도 6에는 액정패널 검사 장치에 구비된 헤드부(202)를 아래에서 위 방향으로 바라본 모습을 도시하였으며, 도 7에는 액정패널 검사 장치에 구비된 투명기판(203)을 아래에서 위 방향으로 바라본 모습을 도시하였고, 도 8에는 헤드부(202)와 투명기판(203)이 모두 하강하여 헤드부(202)의 제 3 접촉 패드(212)에 투명기판(203)의 제 1 접촉패드(210)가 접촉하고 헤드부(203)의 제 4 접촉 패드(213)에 투명기판(203)의 제 2 접촉패드(211)가 접촉한 경우에 아래에서 위 방향으로 바라본 모습을 도시하였다.
도 5 내지 도 8에는 스테이지(201) 상에 하나의 액정패널(101)만이 안착되고, 헤드부(202) 및 투명기판(203)도 한 번에 하나의 액정패널(101)에 대한 검사만 이 수행가능하도록 구성된 것을 그 예로 하여 도시하였지만, 이는 설명의 편의를 위한 것으로서 본 발명의 바람직한 실시에에 따른 액정패널 검사 장치는 한 번에 두 개 이상의 액정패널(101)에 대한 검사가 동시에 수행되도록 구성될 수 있을 것이다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따른 액정패널 검사 장치는, 도 5와 도 8에 도시한 바와 같이 스테이지(201), 헤드부(202), 투명기판(203) 및 제어부(204)를 포함하여 구성되는데, 이러한 액정패널 검사 장치의 각 구성 요소에 대하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 5 내지 도 8을 참조하면, 상기 스테이지(201) 상에는 적어도 하나의 액정패널(101)이 안착되며, 검사 시에 액정패널(101)의 배면에 광을 공급하는 광원(미도시)을 구비하고 있다.
상기 스테이지(201) 상부에 배치된 헤드부(202)는 하강 및 상승이 가능하도록 설치되며, 이와 같은 헤드부(202)에는 스테이지(201)에 안착된 액정패널(101)의 검사 패드(106)에 접촉하여 검사 신호를 인가함으로써 액정패널(101)에 검사 패턴을 구현하기 위한 제 1 검사 핀(205)이 형성된다.
상기 스테이지(201) 상부에 배치된 투명기판(203)은 하강 및 상승이 가능하도록 설치되며, 이와 같은 투명기판(203)에는 액정패널(201)의 정전기 제거용 도전층(107)의 양단에 접촉하여 저항을 측정하기 위한 제 2 검사 핀(206)과 제 3 검사 핀(207)이 형성된다. 이때, 상기 투명기판(203)의 재질은 본 발명의 요지를 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 예가 가능하며, 일 예로서 유리가 있다.
상기 제 2 검사 핀(206)과 제 3 검사 핀(207)은 액정패널(101)의 정전기 제거용 도전층(107)에 접촉하되 가능한 범위 내에서 서로 큰 간격을 두고 배치되는 것이 바람직하다.
상기 투명기판(203)에는 제 2 검사 핀(206)과 연결된 제 1 배선(208)이 형성되고 제 3 검사 핀(207)과 연결된 제 2 배선(209)이 형성된다. 이때, 상기 제 1 배선(208)과 제 2 배선(209)이 투명기판(203) 상에 형성되어 고정되는 방법은 본 발명의 요지를 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 예가 가능하며, 일 예로서 접착제를 이용하여 투명기판(203) 상에 접착하는 방법이 있다.
상기 투명기판(2031) 상의 제 1 배선(208)은 일 단부가 제 2 검사 핀(206)과 연결되고 타 단부에는 제 1 접촉패드(210)가 형성되어 있으며, 상기 투명기판(203) 상의 제 2 배선(209)은 일 단부가 제 3 검사 핀(207)과 연결되고 타 단부에는 제 2 접촉 패드(211)가 형성되어 있다.
상기 헤드부(202) 중에 투명기판(203) 상의 제 1 접촉 패드(210)에 대응되는 영역에는 제 3 접촉 패드(212)가 형성되고 제 2 접촉 패드(211)에 대응되는 영역에는 제 4 접촉 패드(213)가 형성된다.
상기 제어부(204)는 액정패널(101)에 검사 패턴을 구현하기 위하여 헤드부(202)의 제 1 검사 핀(205)에 검사 신호를 인가하고, 정전기 제거용 도전층(107) 양단의 저항을 측정하기 위하여 투명기판(203)의 제 2 및 제 3 검사 핀(206, 207)에 검사 신호를 인가한다.
상기 헤드부(202)에는 일 단부가 제 3 접촉 패드(212)에 연결되고 타 단부가 제어부(204)에 연결되는 제 3 배선(미도시)이 형성되고, 일 단부가 제 4 접촉 패드(213)에 연결되고 타 단부가 제어부(204)에 연결되는 제 4 배선(미도시)이 형성된다.
상기와 같은 구성을 가지는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 액정패널 검사 장치는 스테이지(201) 상에 안착된 액정패널(101)에 대한 검사를 수행할 시에, 헤드부(202)와 투명기판(203)이 스테이지(201)를 향해 하강하여 헤드부(202)의 제 1 검사 핀(205)이 액정패널(101)의 검사 패드(106)에 접촉하고, 헤드부(202)의 제 3 접촉 패드(212)와 투명기판(203)의 제 1 접촉 패드(210)가 서로 접촉하고 헤드부(202)의 제 4 접촉 패드(213)와 투명기판(203)의 제 2 접촉패드(211)가 서로 접촉하고, 투명기판(203)의 제 2 검사 핀(206)과 제 3 검사 핀(207)이 액정패널(101)의 정전기 제거용 도전층(107)에 접촉함으로써, 제어부(204)는 제 1 검사 핀(205)을 통해 액정패널(101)의 검사 패드(106)에 연결되고 제 3 배선(미도시), 제 3 접촉 패드(212), 제 1 접촉 패드(210), 제 1 배선(208)을 통해 제 2 검사 핀(206)에 연결되고 제 4 배선(미도시), 제 4 접촉 패드(213), 제 2 접촉 패드(211), 제 2 배선(209)을 통해 제 3 검사 핀(207)에 연결되게 되어, 액정패널(101)의 게이트 라인과 데이터 라인에는 제 1 검사 핀(208) 및 검사 패드(106)를 통해 제어부(204)로부터 검사 신호가 인가되어 검사 패턴이 구현되고 액정패널(101)의 정전기 제거용 도전층(107)에는 제 2 및 제 3 검사핀(206, 207)을 통해 제어부(204)로부터 검사 신호가 인가되어 저항 측정이 이루어지게 된다.
상술한 바와 같은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 액정패널 검사 장치는 오토 프로브 검사 및 정전기 제거용 도전층 양단의 저항을 측정하는 검사를 동시에 수행함으로써, 액정패널(101)의 제조 시에 검사로 인해 소요되는 시간 및 비용을 최소화할 수 있으며, 특히 종래와는 달리 모든 액정패널(101)에 대하여 정전기 제거용 도전층(107) 양단의 저항을 측정하는 검사를 수행하므로 검사의 완성도를 높일 수 있는 효과가 있다.
도 1은 종래의 일반적인 액정표시장치에 구비된 액정패널을 도시한 사시도.
도 2는 종래의 일반적인 오토 프로브 검사 장치를 도시한 측면도.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 액정패널 검사 장치의 피검사체인 액정패널을 도시한 사시도.
도 4는 도 3의 액정패널을 절단한 단면을 도시한 도면으로서, 편의상 하나의 화소의 일부만을 도시한 단면도.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 액정패널 검사 장치를 측부에서 바라본 모습을 도시한 측면도.
도 6은 도 5의 액정패널 검사 장치에 구비된 헤드부를 아래에서 위 방향으로 바라본 모습을 도시한 평면도.
도 7은 도 5의 액정패널 검사 장치에 구비된 투명기판을 아래에서 위 방향으로 바라본 모습을 도시한 평면도.
도 8은 도 5의 헤드부와 투명기판이 모두 하강하여 헤드부의 제 3 접촉 패드에 투명기판의 제 1 접촉 패드가 접촉하고 헤드부의 제 4 접촉 패드에 투명기판의 제 2 접촉패드가 접촉한 경우에 아래에서 위 방향으로 바라보 모습을 도시한 평면도.
**도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명**
101 : 액정패널 102 : 박막 트랜지스터
103 : 화소전극 104 : 공통전극
105 : 데이터 구동 집적회로 106 : 검사 패드
107 : 정전기 제거용 도전층
201 : 스테이지 202 : 헤드부
203 : 투명기판 204 : 제어부
205 : 제 1 검사핀 206 : 제 2 검사핀
207 : 제 3 검사핀 208 : 제 1 배선
209 : 제 2 배선 210 : 제 1 접촉 패드
211 : 제 2 접촉 패드 212 : 제 3 접촉 패드
213 : 제 4 접촉패드

Claims (4)

  1. 적어도 하나의 액정패널이 안착되는 스테이지;
    상기 스테이지에 안착된 액정패널의 검사 패드에 접촉하여 검사 신호를 인가하여 액정패널에 검사 패턴을 구현하기 위한 제 1 검사 핀이 형성되는 헤드부; 및
    상기 액정패널의 정전기 제거용 도전층의 양단에 접촉하여 저항을 측정하기 위한 제 2 검사 핀과 제 3 검사 핀이 형성된 투명기판;
    을 포함하여 구성된 액정패널 검사 장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 투명기판에는 일 단부가 제 2 검사 핀과 연결된 제 1 배선이 형성되고, 일 단부가 제 3 검사 핀에 연결된 제 2 배선이 형성되며,
    상기 제 1 배선의 타 단부에는 제 1 접촉 패드가 형성되고, 제 2 배선의 타 단부에는 제 2 접촉 패드가 형성되며,
    상기 헤드부는 상기 제 1 접촉 패드에 대응되는 영역에 제 3 접촉 패드가 형성되고, 제 2 접촉 패드에 대응되는 영역에 제 4 접촉 패드가 형성된 것을 특징으로 하는 액정패널 검사 장치.
  3. 제 2 항에 있어서, 상기 헤드부와 투명기판은 상승 및 하강 기능을 가지며,
    상기 헤드부와 투명기판이 하강하여 제 1 검사 핀이 액정패널의 검사 패드에 접촉하고 제 2 검사 핀과 제 3 검사 핀이 액정패널의 정전기 제거용 도전층에 접촉 하면, 투명기판의 제 1 접촉 패드와 헤드부의 제 3 접촉 패드가 접촉하고 투명기판의 제 2 접촉 패드와 헤드부의 제 4 접촉 패드가 접촉하는 것을 특징으로 하는 액정패널 검사 장치.
  4. 제 3 항에 있어서, 상기 헤드부의 제 1 검사 핀에 검사 신호를 인가하고 투명기판의 제 2 및 제 3 검사 핀에 검사 신호를 인가하는 제어부를 포함하여 구성되며,
    상기 헤드부에는 일 단부가 제 3 접촉 패드에 연결되고 타 단부가 제어부에 연결되는 제 3 배선과, 일 단부가 제 4 접촉 패드에 연결되고 타 단부가 제어부에 연결되는 제 4 배선이 형성된 것을 특징으로 하는 액정패널 검사 장치.
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CN110045528A (zh) * 2019-04-24 2019-07-23 苏州凌云视界智能设备有限责任公司 液晶屏压接装置、系统及方法

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