KR100480860B1 - 액정표시장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 액정 표시 장치의 그로스 테스트에 관한 것으로, COG 방식의 LCD 패널을 그로스 테스트하기 위해서 게이트 및 데이터 라인들 단부에 형성되어 있는 각각의 패드들에서 게이트 및 데이터 라인들을 소정길이 연장하고 그 말단에 패드들의 면적이 큰 그로스 테스트용 패드들을 밀집시켜 형성함으로써, 그로스 테스트할 경우 구동 IC 실장 영역과 패드의 면적으로 인해 게이트 라인 및 데이터 라인에 형성되어 있는 패드들이 도전성 고무에 오접촉되는 것을 방지하여 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.

Description

액정 표시 장치
본 발명은 액정 표시 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 표시 패널의 테스트를 용이하게 하기 위한 액정 표시 장치에 관한 것이다.
일반적으로 그로스 테스트는 LCD 패널에 구동 드라이브 IC를 부착하기 전 LCD 패널의 픽셀(pixel) 상태를 확인하는 것으로, LCD 패널의 그로스 테스트 방법에는 주로 TAB(Tape Automated Bonding) 실장 방식에 적용되는 핀 콘택(pin contact) 방법과, COG(Chip on Glass) 방식에 적용되는 도전성 러버 콘택(rubber contact) 방법 등이 이용되고 있다.
여기서, COG 방식이란, LCD 패널의 게이트 및 데이터 영역에 형성되어 있는 본딩 패드에 구동용 IC를 탑재하여 전기적으로 도통시키는 방식으로, 보통 이방성 도전 필름을 사용하여 구동용 IC를 본딩 패드에 접속시킨다. 이와 같이 COG 방식에 사용되는 IC는 TAB 방식에 필름 캐리어를 제거한 TAB 베어(bare)와 COG 전용 IC이다. 여기서, COG 방식 전용 IC의 제작이 어려워 보통 TAB 제어 IC가 사용된다.
도 1a는 종래의 COG 방식의 LCD 패널을 개략적으로 나타낸 평면도이고, 도 1b는 도 1a의 B 부분의 확대도이다.
도 1a를 참조하면, COG 방식의 LCD 패널(1)은 TFT 소자가 형성된 TFT 기판(10)과, TFT 기판(10) 상부면에 부착되며 하부면에 칼라필터 패턴이 형성된 칼라필터 기판(20)으로 구성되어 있다.
TFT 기판(10)의 세로 방향에는 복수개의 게이트 라인들(13)이 형성되어 있는 게이트 영역(11)이 있고, TFT 기판(10)의 가로 방향에는 복수개의 데이터 라인들(18)이 형성된 데이터 영역(15)이 있다. 여기서, 게이트 라인들(13) 및 데이터 라인들(18) 단부 각각에는 구동용 드라이브 IC(미도시)를 부착하기 위한 패드들(19)이 형성되어 있다. 여기서, 게이트 및 데이터 구동 드라이브 IC는 TAB 베어 IC 또는 COG 전용 IC인 것이 바람직하다.
이와 같이 구성된 COG 방식의 LCD 패널을 테스트하기 위해서는 도 3에 도시된 바와 같은 테스트 장치가 이용된다. 도 2는 종래의 도전성 러버 콘택 방식에 적용되는 그로스 테스트 장치를 개략적으로 나타낸 사시도이다.
도 2에 도시된 바와 같이, 그로스 테스트 장치(30)는 소정의 리세스부(38)를 갖는 베이스 플레이트(31)가 있고, 베이스 플레이트(31)의 리세스부(38) 상부면 각 변에는 LCD 패널(1)을 수용하여 테스트하기 위한 인쇄회로 기판들(33)이 소정 높이로 돌출되어 있으며, 각각의 인쇄회로 기판들(33) 가장자리에는 LCD 패널(1)이 인쇄회로 기판들(33)에서 이탈되는 것을 방지하기 위한 턱부(35)가 형성되어 있다.
또한, LCD 패널(1)의 게이트 영역(11)과 데이터 영역(15)이 접촉되는 인쇄회로 기판들(33) 상부면에는 도전성 고무(37)가 부착되어 있으며, 각각의 인쇄회로 기판들(33)에는 도전성 고무(37)에 전원을 인가하기 위한 전선(39)이 설치되어 있다.
또한, 베이스 플레이트(31) 일측면에는 그로스 테스트시 베이스 플레이트(31) 전면을 덮도록 커버(43)가 힌지되어 있고, 커버(43) 하부면에는 각각의 인쇄회로 기판들(33)에 대응되도록 사각형상의 가압부(45)가 돌출되어 있다.
이와 같이 구성된 LCD 패널의 그로스 테스트 방법을 설명하면 다음과 같다.
먼저, 테스트할 LCD 패널(30)을 인쇄회로 기판들(33) 상부면에 올려놓는데, 이때, 게이트 라인들(13) 및 데이터 라인들(15)의 단부에 형성되어 있는 각각의 패드들(19)은 인쇄회로 기판들(33) 상부면에 부착된 도전성 고무(37)와 접촉된다.
이후, 일측이 힌지고정된 커버(43)로 베이스 플레이트(31) 전면을 덮게 되면 커버(43)로부터 돌출 형성된 가압부(45)는 LCD 패널(1)을 가압하여 복수개의 제1 패드들(19)을 도전성 고무(57)에 밀착시킨다.
이어서, 도전성 고무(37)에 전압을 인가하면 도전성 고무(37)에 첨가되어 있던 도전성 입자들(미도시)에 전압이 인가되고 도전성 입자들과 접촉되어 있는 각각의 게이트 라인(13) 및 데이터 라인들(15)의 패드들(19)은 도전성 입자에 의해서 전압이 공급된다. 이때, 테스트하고자 하는 LCD 패널(1)이 예를 들어, 노말 화이트 상태의 LCD 패널(1)인 경우 전압이 인가되면 블랙 상태로 디스플레이되지만, 복수개의 게이트 라인들(13) 및 데이터 라인들(18)중 어느 한 라인에 불량이 발생되면 그 라인에만 전압이 인가되지 않으므로 그 부분만이 화이트 상태로 존재하게 되어 LCD 패널(1) 불량 유무를 확인할 수 있다.
그러나, 피치가 넓은 TAB용 베어 IC를 사용하는 COG 방식의 LCD 패널은 게이트 라인 및 데이터 라인의 TAB 베어 IC 실장 영역(17)이 COG 전용 IC를 사용하는 LCD 패널에 형성되어 있는 COG 전용 IC 실장 영역 보다 크다. 이 때문에 게이트 라인 및 데이터 라인 단부에 형성되어 있는 패드들을 균일하게 가압하지 못하여 도전성 고무에 밀착되지 않는 게이트 라인 및 데이터 라인이 발생되어 제품의 신뢰도가 저하되는 문제점이 있었다.
또한, 피치가 작은 COG 전용 IC를 사용하는 LCD 패널의 경우 게이트 라인 및 데이터 라인 단부에 형성되어 있는 패드들의 면적이 작기 때문에 상기 패드들과 도전성 고무의 접촉시 상기 패드들과 상기 도전성 고무가 접촉되지 않은 라인이 발생하여 정확한 그로스 테스트를 할 수 없다. 따라서, 제품의 신뢰도가 저하되는 문제점이 있다.
상기의 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은 COG용 구동 IC의 범프들과 접촉되는 패드들과 전기적으로 연결되고, 상기 패드들 보다 넓은 면적으로 형성된 그로스 테스트용 패드들을 형성하여 그로스 테스트를 용이하게 하기 위한 액정표시 장치를 제공한다.
이와 같은 목적을 달성하기 위해서 액정 표시 장치는, 상부면에 TFT 소자가 형성된 액티브영역과 액티브영역을 제외한 부분에 형성된 게이트 영역 및 데이터 영역으로 구성된 TFT 기판과, TFT 기판 상부면에 부착되며 하부면에 칼라 필터 패턴이 형성된 칼라 필터 기판을 포함하는 액정표시장치에 있어서, 게이트 라인들 및 데이터 라인들 단부에 형성되어 있는 제1 패드에서 게이트 라인 및 데이터 라인을 일정한 길이로 연장하고 연장된 게이트 라인 및 데이터 라인 말단에 제1 패드 보다 면적이 넓은 그로스 테스트용 패드가 밀집되어 형성된 액정표시장치의 패드 구조가 개시된다.
본 발명에 다른 측면에 따르면, 패드 구조는 게이트 라인들과 데이터 라인들 단부에 형성되어 COG 전용 IC의 출력단자가 접촉되는 제1 패드와, 제1 패드에 전기적으로 연결되고 밀집되어 형성되는 그로스 테스트용 패드로 이루어진다.
바람직하게, 그로스 테스트용 패드의 사이즈는 제1 패드의 사이즈보다 크게 형성될 수 있다.
이하 본 발명에 의한 액정 표시 장치의 그로스 테스트용 패드에 대해 첨부된 도 2 및 도 3을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 3a는 본 발명에 의한 액정 표시 장치의 구조를 개략적으로 나타낸 평면도이고, 도 3b는 도 3a의 B 부분의 확대도이다.
도시된 바와 같이 COG 방식의 LCD 패널(100)은 TFT 소자가 형성된 TFT 기판(110)과, TFT 기판(110) 상부면에 부착되며 하부면에 칼라필터 패턴이 형성된 칼라필터 기판(130)으로 구성되어 있다.
TFT 기판(110)의 세로 방향에는 복수개의 게이트 라인들(113)이 형성되어 있는 게이트 영역(111)이 있고, TFT 기판(111)의 가로 방향에는 복수개의 데이터 라인(121)이 형성된 데이터 영역(115)이 있다. 여기서, 게이트 라인(113) 및 데이터 라인들(121) 단부 각각에는 구동용 드라이브 IC(미도시)를 부착하기 위한 제1 패드들(123)이 형성되어 있다. 또한, 각각의 제1 패드들(123) 단부에서 게이트 라인(113´) 및 데이터 라인들(121´)이 일정한 길이 연장되어 있고, 연장된 각각의 게이트 라인(113´) 및 데이터 라인들(121´) 단부에는 각각의 제1 패드들(123) 보다 면적이 큰 그로스 테스트용 제2 패드들(125)이 임의의 영역에 밀집되어 형성되어 있다. 바람직하게, 그로스 테스트용 제2 패드들(125)은 각각의 제1 패드들(123)보다 면적이 크게 형성된다.
이와 같이 구성된 본 발명에 의한 COG 방식의 LCD 패널을 테스트하기 위한 그로스 테스트 장치는 도 2에 도시된 종래의 그로스 테스트 장치와 구조가 동일하므로 생략하기로 하고 도 2를 참조하여 그로스 테스트 방법에 대해 설명하면 다음과 같다.
이와 같이 구성된 본 발명에 의한 LCD 패널의 그로스 테스트 방법을 설명하면 다음과 같다.
먼저, 테스트할 COG 방식의 LCD 패널(100)을 인쇄회로 기판들(33) 상부면에 올려놓는데, 이때, LCD 패널(100)의 게이트 라인(113) 및 데이터 라인들(121) 각각에서 연장되어 형성된 그로스 테스트용 제2 패드들(125)이 인쇄회로 기판들(33) 상부면에 부착된 도전성 고무(37)와 접촉된다.
이후, 일측이 힌지 고정된 커버(43)로 베이스 플레이트(31) 전면을 덮게 되면 커버(43)로부터 돌출 형성된 가압부(45)는 LCD 패널(100)을 가압하여 복수개의 그로스 테스트용 제2 패드들(125)을 도전성 고무(37)에 밀착시킨다. 이와 같이 가압부(45)가 그로스 테스트용 제2 패드들(125)을 가압하면 임의의 영역에 밀집되어 있는 그로스 테스트용 제2 패드들(125)이 가압부(45)에 의해서 균일하게 가압되며, 또한, 그로스 테스트용 제2 패드들(125)의 면적이 넓어 도전성 입자와 접촉되는 면적이 크므로 그로스 테스트용 제2 패드들(125)의 오접촉을 방지할 수 있다.
이어서, 도전성 고무(37)에 전압을 인가하면 도전성 고무(37)에 첨가되어 있는 도전성 입자들(미도시)에 전압이 인가되고 도전성 입자들과 접촉되어 있는 각각의 그로스 테스트용 제2 패드들(125)은 도전성 입자에 의해서 전압이 공급된다. 이때, 테스트하고자 하는 LCD 패널(100)이 예를 들어, 노말 화이트 상태의 LCD 패널(100)인 경우 전압이 인가되면 블랙 상태로 디스플레이되지만, 복수개의 게이트 라인(113) 또는 데이터 라인들(1211)중 어느 한 라인이 불량이면 그 라인에만 전압이 인가되지 않으므로 그 부분만이 화이트 상태로 존재하게 되어 LCD 패널(100) 불량 유무를 확인할 수 있다.
이와 같이 제1 패드들 말단에서 게이트 라인 및 데이터 라인을 소정길이 연장하여 상기 제1 패드들보다 면적이 큰 그로스 테스트용 제2 패드들을 임의의 영역에 밀집하여 형성함으로써 TAB용 베어(bare) IC를 사용하는 COG 방식의 LCD 패널이나 COG 전용 IC를 사용하는 LCD 패널을 그로스 테스트할 경우 구동 드라이브 IC가 실장되는 영역에 대응하여 형성된 제1 패드들과 상기 제1 패드들과 전기적으로 연결되어 넓은 면적으로 형성된 그로스 테스트용 제2 패드들에 의해 그로스 테스트 장치의 도전성 고무와의 오접촉을 방지할 수 있다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명은 COG 방식의 LCD 패널을 그로스 테스트하기 위해서 게이트 및 데이터 라인들 단부에 형성되어 있는 각각의 제1 패드들에서 게이트 및 데이터 라인들을 소정길이 연장하고 그 말단에 제1 패드들 보다 면적이 큰 그로스 테스트용 제2 패드들을 밀집시켜 형성함으로써, 그로스 테스트할 경우 구동 드라이브 IC 실장 영역의 제1 패드들과 제2 패드들의 넓은 접촉 면적에 의해 그로스 테스트 장치의 도전성 고무와의 오접촉을 방지할 수 있다. 이에 의해 그로스 테스트를 용이하게 함으로써 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
도 1a는 종래의 COG 방식의 LCD 패널을 개략적으로 나타낸 평면도이고, 도 1b는 도 1a의 B 부분의 확대도이다.
도 2는 종래의 도전성 러버 콘택 방식에 적용되는 그로스 테스트 장치를 개략적으로 나타낸 사시도이다.
도 3a는 본 발명에 의한 액정 표시 장치의 구조를 개략적으로 나타낸 평면도이고, 도 3b는 도 3a의 B 부분의 확대도이다.

Claims (7)

  1. TFT 소자, 게이트 라인들 및 데이터 라인들이 형성된 TFT 기판;
    상기 TFT 기판과 합체되어 액정층을 수용하고, 칼라 필터 패턴이 형성된 칼라 필터 기판;
    상기 TFT 기판에 실장되는 COG IC;
    상기 게이트 라인들 및 상기 데이터 라인들로부터 각각 연장되어 상기 COG IC의 범프들과 전기적으로 접촉되는 제1 패드들; 및
    상기 제1 패드들과 전기적으로 연결되고, 상기 COG IC가 실장되는 TFT 기판 영역에 형성된 테스트용 패드들을 포함하는 액정표시장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 테스트용 패드들은 상기 제1 패드들의 사이즈 보다 큰 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  3. TFT 소자, 게이트 라인들 및 데이터 라인들이 형성된 TFT 기판;
    상기 TFT 기판 상부면에 부착되며 하부면에 칼라 필터 패턴이 형성된 칼라 필터 기판;
    상기 TFT 기판에 실장되는 COG IC;
    상기 게이트 라인들 및 상기 데이터 라인들 단부에 형성되고, 상기 COG IC의 범프와 전기적으로 접촉하는 TFT 기판에 형성된 제1 패드; 및
    상기 제1 패드와 전기적으로 연결되며, 상기 제1 패드보다 큰 면적으로 상기 TFT 기판에 형성된 테스트용 패드를 포함하는 액정표시장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기 제1 패드들과 상기 테스트용 패드들은 동일 배선상에 형성된 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  5. 제1항에 있어서, 상기 테스트용 패드들에는 그로스 테스트 신호가 인가되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  6. 제3항에 있어서, 상기 제1 패드와 상기 테스트용 패드는 동일 배선상에 형성된 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  7. 제3항에 있어서, 상기 테스트용 패드는 그로스 테스트 신호가 인가되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
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