KR100855484B1

KR100855484B1 - 액정표시장치의 검사시스템

Info

Publication number: KR100855484B1
Application number: KR1020010083244A
Authority: KR
Inventors: 김세덕; 임주수
Original assignee: 엘지디스플레이 주식회사
Priority date: 2001-12-22
Filing date: 2001-12-22
Publication date: 2008-09-01
Also published as: KR20030053186A

Abstract

본 발명은 칩 온 글래스(Chip On Glass)형 액정패널의 불량검사에 적합하도록 한 액정표시장치의 검사시스템에 관한 것이다.

이 액정표시장치의 검사시스템은, 기수번째 게이트라인에 각각 연결된 다수의 패드들을 가지는 기수번째 게이트 패드부와, 우수번째 게이트라인에 각각 연결된 다수의 패드들을 가지고 상기 기수번째 게이트 패드부의 위치와 다른 위치에 형성되는 우수번째 게이트 패드부와, 데이터라인들에 각각 연결되며 상기 게이트 패드부들에 포함된 패드들에 비해 큰 길이의 다수의 패드들을 갖는 데이터 패드부와, 제1 수평방향으로 연장되어 상기 기수번째 게이트 패드부와 전기적으로 접속되는 제1 도전성 고무패드와, 제2 수평방향으로 연장되어 상기 우수번째 게이트 패드부와 전기적으로 접속되는 제2 도전성 고무패드와, 제3 수평방향으로 연장되어 상기 데이트 패드부와 전기적으로 접속되는 제3 도전성 고무패드를 구비하고, 상기 기수번째 게이트 패드들은 상기 제1 수평방향을 따라 일렬로 정렬되고, 상기 우수번째 게이트 패드들은 상기 제2 수평방향을 따라 일렬로 정렬된다.

이러한 구성에 의하여, 본 발명에 따른 액정표시장치의 검사시스템은 칩 온 글래스(Chip On Glass)형 액정패널의 불량검사에 적합하다.

Description

액정표시장치의 검사시스템{Testing System Of Liquid Crystal Display}

도 1은 종래의 액정표시장치를 나타내는 평면도.

도 2는 도 1에 도시된 액정표시장치를 나타내는 단면도.

도 3은 도 1에 도시된 액정표시장치의 패드부를 나타내는 도면.

도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치를 나타내는 평면도.

도 5a 및 도 5b는 도 4에 도시된 데이터 패드부를 나타내는 도면.

도 6a 및 도 6b는 도 4에 도시된 게이트 패드부를 나타내는 도면.

< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >

10, 30 : 액정패널 12, 32 : 하부기판

14 : 데이터 드라이브 IC 16 : 게이트 드라이브 IC

18, 20, 38, 42 : 패드부 22 : 범퍼

40, 50, 52 : 도전성 고무 패드부

본 발명은 액정표시장치의 검사시스템에 관한 것으로, 특히 칩 온 글래스(Chip On Glass)형 액정패널의 불량검사에 적합하도록 한 액정표시장치의 검사시스템에 관한 것이다.

최근 들어, 휴대폰과 PCS(Personal Communication System) 등의 모빌폰 등의 이동통신 단말기의 보급이 급격히 확대되고 있으며, 이러한 이동통신 단말기에 비하여 보다 많은 기능을 가지는 개인 휴대형 정보기(Portable Digital Apparatus : PDA)가 애용되고 있다. 이러한 휴대 정보 단말기는 개인이 휴대하기 편리하도록 소형화되는 추세에 있으며, 이 소형화 추세에 따라 휴대 정보 단말기는 화상을 표시하기 위한 수단으로 사용되는 액정표시장치(Liquid Crystal Display)도 소형화되는 추세에 있다.

액정표시장치는 비디오신호에 따라 액정셀들의 광투과율을 조절함으로써 액정셀들이 매트릭스 형태로 배열되어진 액정패널에 화상을 표시하게 된다. 이를 위해, 액정표시장치는 데이터라인들과 게이트라인들에 접속되어 각각 데이터신호와 스캔신호를 데이터라인들과 게이트라인들에 공급하기 위한 다수의 집적회로들(Integrated Circuit : 이하 "IC"라 함)이 필요하게 된다. 이와 같은 IC들은 인쇄회로기판(Printed Circuit Board : 이하 "PCB"라 함)과 액정패널 사이에 설치되어 PCB로부터 공급되는 신호를 액정패널의 데이터라인들과 게이트라인들에 공급하게 된다. IC들의 실장방법으로는 테이프 오토메이티드 본딩(Tape Automated Bonding : 이하 "TAB"라 함)과 칩 온 글래스(Chip On Glass : 이하 "COG"라 함) 등이 있다.

이 중 COG 방식은 도 1에 도시된 바와 같이 액정패널(10)의 하부기판(12)에 데이터 드라이버 IC(14) 및 게이트 드라이버 IC(16)가 직접 실장되는 방식이다.

도 1 내지 도 3을 참조하면, 종래의 액정표시장치는 액정을 사이에 두고 합착된 액정패널(10)과, 액정패널(10)의 하부기판(12) 상에 패터닝되어 데이터라인들(DL)을 구동하기 위한 데이터 드라이브 IC(14)와, 하부기판(12) 상의 게이트라인들(GL)을 순차적으로 스캐닝하기 위한 게이트 드라이브 IC(16)와, 데이터라인들(DL) 및 게이트라인들(GL)과 연결되는 데이터 및 게이트 패드부(18, 20)와, 패드부(18, 20)와 IC(14, 16)를 전기적으로 접속시키는 범퍼(22)를 구비한다.

액정패널(10)에는 게이트라인들(GL)과 데이터라인들(DL) 교차부에 액정셀들이 매트릭스 형태로 배치된다. 액정패널(10)은 도시되지 않은 컬러필터, 공통전극 및 배향막이 순차적으로 형성된 상부기판과, 박막트랜지스터(Thin Film Transister : 이하 "TFT"라 함), 화소전극 및 배향막이 순차적으로 형성된 하부기판(12)과, 상부기판과 하부기판(12) 사이에 주입된 도시되지 않은 액정으로 구성된다.

액정패널(10)의 하단 가장자리에 데이터 패드부(18)와 게이트 패드부(20)가 나란하게 형성된다. 데이터 패드부(18)는 데이터링크부(DK)에 의해 데이터라인들(DL)과 연결된다. 마찬가지로, 게이트 패드부(20)는 게이트링크부(GK)를 경유하여 게이트라인들(GL)과 연결된다.

이 데이터 및 게이트 패드부(18, 20)는 범퍼(22)에 의해 데이터 및 게이트 드라이버 IC(14, 16)와 접속된다.

이러한 COG 방식의 액정표시장치는 액정패널(10)의 하부기판(12) 상에 드라 이버 IC(14, 16)가 실장되기 전에 액정패널(10)의 작동여부를 검사한다. 드라이버 IC(14, 16)는 도시되지 않은 일측에 형성된 입력패드부를 통해 공급된 구동신호를 타측의 패드부(18, 20) 및 액정패널(10)에 공급한다. 그런데, 액정패널(10)의 작동여부를 검사하기 위한 테스트 공정은 드라이버 IC(14, 16)를 실장하기 전에 이루어지므로 드라이버 IC(14, 16)의 입력패드부와 액정패널(10)에 연결된 패드부(18, 20)가 개방되는 COG 방식의 액정표시장치는 액정패널(10)을 테스트할 수 없게 된다.

따라서, 본 발명의 목적은 칩 온 글래스(Chip On Glass)형 액정패널의 불량검사에 적합하도록 한 액정표시장치의 검사시스템을 제공하는 데 있다.

상기 목적들을 달성하기 위하여, 본 발명에 따라 칩 온 글래스(Chip On Glass)형 액정패널을 갖는 액정표시장치의 검사시스템은, 기수번째 게이트라인에 각각 연결된 다수의 패드들을 가지는 기수번째 게이트 패드부와, 우수번째 게이트라인에 각각 연결된 다수의 패드들을 가지고 상기 기수번째 게이트 패드부의 위치와 다른 위치에 형성되는 우수번째 게이트 패드부와, 데이터라인들에 각각 연결되며 상기 게이트 패드부들에 포함된 패드들에 비해 큰 길이의 다수의 패드들을 갖는 데이터 패드부와, 제1 수평방향으로 연장되어 상기 기수번째 게이트 패드부와 전기적으로 접속되는 제1 도전성 고무패드와, 제2 수평방향으로 연장되어 상기 우수번째 게이트 패드부와 전기적으로 접속되는 제2 도전성 고무패드와, 제3 수평방향으로 연장되어 상기 데이트 패드부와 전기적으로 접속되는 제3 도전성 고무패드를 구비하고, 상기 기수번째 게이트 패드들은 상기 제1 수평방향을 따라 일렬로 정렬되고, 상기 우수번째 게이트 패드들은 상기 제2 수평방향을 따라 일렬로 정렬된다.

상기 목적들 외에 본 발명의 다른 목적 및 특징들은 첨부한 도면들을 참조한 실시 예에 대한 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.

이하, 도 4 내지 도 6을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 설명하기로 한다.

도 4 내지 도 6을 참조하면, 본 발명에 따른 액정표시장치는 패드의 길이가 신장된 데이터 패드부(38)와, 홀수번째 게이트 패드(GP2n-1)와 짝수번째 게이트 패드(GP2n)가 지그재그 형태로 번갈아 분리되는 게이트 패드(42)를 구비한다.

본 발명에 따른 액정표시장치는 액정패널(30)과, 액정패널(30)의 하부기판(32) 상의 데이터라인들(DL)을 구동하기 위한 데이터 드라이브 IC(34)와, 하부기판(32) 상의 게이트라인들(GL)을 순차적으로 스캐닝하기 위한 게이트 드라이브 IC(36)와, 패드부(38)와 IC(34, 36)를 전기적으로 접속시키는 범퍼(미도시)를 추가로 구비한다.

액정패널(30)에는 게이트라인들(GL)과 데이터라인들(DL) 교차부에 액정셀들이 매트릭스 형태로 배치된다. 액정패널(30)은 도시되지 않은 컬러필터, 공통전극 및 배향막이 순차적으로 형성된 상부기판과, 박막트랜지스터(Thin Film Transister), 화소전극 및 배향막이 순차적으로 형성된 하부기판(32)과, 상부기판과 하부기판(32) 사이에 주입된 도시되지 않은 액정으로 구성된다.

액정패널(30)의 하단 가장자리에 데이터 패드부(38)와 게이트 패드부(42)가 나란하게 형성된다. 데이터 패드부(38)는 데이터링크부(DK)에 의해 데이터라인들(DL)과 연결되며 게이트 패드부(42)는 게이트링크부(GK)를 경유하여 게이트라인들(GL)과 연결된다. 이 데이터 및 게이트 패드부(38, 42)는 일측에 형성된 범퍼에 의해 데이터 및 게이트 드라이버 IC(34, 36)와 접속된다.

액정패널(30)의 온/오프(On/Off) 검사는 이 데이터 및 게이트 드라이버 IC(34, 36)가 실장되기 전, 도전성 고무패드(40, 50)에 의해 데이터 패드부(38) 및 게이트 패드부(42)에 전압이 공급되어 게이트라인들(GL) 및 데이터라인들(DL)의 검사가 이루어진다.

데이터 패드부(38)는 도 5a에 도시된 바와 같이 종래의 데이터 패드부(18)에 비하여 길이가 길어지도록 형성된다. 데이터 패드부(38)의 길이가 신장됨에 따라 데이터 패드부(38)의 면적이 증가하게 됨과 아울러 데이터 패드부(38)의 노출되는 영역이 커지게 된다. 이에 따라, 도 5b에 도시된 바와 같이 도시되지 않은 테스트장비에 장착된 도전성 고무패드(40)와의 접촉면적이 증가하게 된다. 이러한 도전성 고무패드(40)와 데이터 패드부(38)를 접속시킨 후, 직류(DC) 전압을 공급함으로써 데이터라인들(DL)이 잘 작동되는지 검사한다.

데이터링크부(DK)는 데이터 패드부(38)에 비해 상대적으로 작은 선폭을 가지도록 형성되며, 전기전도도가 좋은 금속, 예를 들면 구리(Cu)와 같은 금속물질로 형성된다. 데이터링크부(DK)는 데이터 패드부(38)와 데이터라인들(DL)을 연결하도록 패터닝된다.

게이트 패드부(42)는 도 6a에 도시된 바와 같이 기수번째 게이트 패드(GP2n-1)와 우수번째 게이트 패드(GP2n)의 위치가 서로 교번되게끔 형성된다. 이때, 기수번째 게이트 패드(GP2n-1)와 우수번째 게이트 패드(GP2n) 각각은 일렬로 정렬된다. 이렇게 기수번째 게이트 패드(GP2n-1)와 우수번째 게이트 패드(GP2n)로 분리되는 게이트 패드부(42)는 게이트링크부(GK)를 통해 게이트라인들(GL)과 전기적으 로 접속된다. 게이트링크부(GK)는 게이트 패드부(42)보다 상대적으로 작은 선폭을 가지게끔 형성된다. 게이트링크부(GK)는 전기전도도가 좋은 금속물질, 예를 들면 구리(Cu)와 같은 물질로 형성된다.

이러한 게이트 패드부(42)의 구조를 가지는 COG형 액정표시장치는 게이트 패드부(42)가 기수번째 게이트 패드(GP2n-1)와 우수번째 게이트 패드(GP2n)로 나뉘어지게 됨에 따라, 액정패널(30)의 작동여부를 검사하기 위한 스캔신호를 게이트라인들(GL)에 공급하고자 할 때, 테스트 검사장치의 제1 및 제2 도전성 고무패드(50, 52) 각각을 기수번째 게이트 패드(GP2n-1) 및 우수번째 게이트 패드(GP2n)와 접촉시킨다. 이에 따라, 도 6b에 도시된 바와 같이 기수번째 게이트라인들(GL2n-1)과 우수번째 게이트라인들(GL2n)이 분리되어 제1 및 제2 도전성 고무패드(50, 52)와 접촉된다.

COG 방식의 액정패널(30)은 드라이버 IC(34, 36)가 실장되기 전에 액정패널(30)의 온/오프(On/Off) 여부를 검사할 수 있다. 제1 및 제2 도전성 고무패드(50, 52)에 전압을 인가하면 도전성 고무에 첨가되어 있는 도전성 입자들에 전압이 인가되고 도전성 입자들과 접촉되어 있는 각각의 데이터 패드부(38)와 게이트 패드부(42)는 이 도전성 입자들에 의해 전압이 공급된다. 이때, 노멀리 화이트(normally white) 상태의 액정패널(30)인 경우 전압의 인가에 따라 블랙 상태를 유지해야 하는데 게이트라인(GL) 또는 데이터라인(DL) 중 어느 한 라인이 불량이면 그 라인에만 전압이 인가되지 않아 화이트 상태를 유지하게 된다. 이로써 액정패널의 불량의 유뮤를 확인할 수 있다. 또는 액정셀이 불량인 경우 점 결함(point defect)가 발생됨도 확인가능하다.

이러한 도전성 고무패드를 이용하여 소형의 액정패널을 검사하는 경우에 있어서, 온/오프(On/Off) 검사 대신 자동검사장비(Auto Probe)를 이용하여 액정패널(30)을 검사할 수도 있다. 자동 검사 과정에서는 완성된 액정패널의 화면에 테스트(Test) 패턴을 띄우고 불량화소의 유무를 탐지하여 불량화소가 발견되었을 때 이에 대한 리페어 작업을 행하게 된다.

이와 같이, 데이터 패드부(38)의 면적을 크게 함과 아울러 게이트 패드부(42)를 분리함으로써 액정패널(30)의 불량 유무 검사시 도전성 고무패드가 패드부(38, 42)에 오접속되는 것을 방지할 수 있음과 아울러 액정패널(30) 검사시간을 단축할 수 있다.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 액정표시장치의 검사시스템은 데이터 패드부의 길이를 연장함과 아울러 게이트 패드부를 기수번째와 우수번째로 분리하여 형성시킨다. 이에 따라, COG형 액정패널의 작동여부 검사를 손쉽게 할 수 있음과 아울러 검사시간을 단축시킬 수 있다.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여 져야만 할 것이다.

Claims

칩 온 글래스(Chip On Glass)형 액정패널을 갖는 액정표시장치의 검사시스템에 있어서,

기수번째 게이트라인에 각각 연결된 다수의 패드들을 가지는 기수번째 게이트 패드부와,

우수번째 게이트라인에 각각 연결된 다수의 패드들을 가지고 상기 기수번째 게이트 패드부의 위치와 다른 위치에 형성되는 우수번째 게이트 패드부와,

데이터라인들에 각각 연결되며 상기 게이트 패드부들에 포함된 패드들에 비해 큰 길이의 다수의 패드들을 갖는 데이터 패드부와,

제1 수평방향으로 연장되어 상기 기수번째 게이트 패드부와 전기적으로 접속되는 제1 도전성 고무패드와,

제2 수평방향으로 연장되어 상기 우수번째 게이트 패드부와 전기적으로 접속되는 제2 도전성 고무패드와,

제3 수평방향으로 연장되어 상기 데이트 패드부와 전기적으로 접속되는 제3 도전성 고무패드를 구비하고,

상기 기수번째 게이트 패드들은 상기 제1 수평방향을 따라 일렬로 정렬되고, 상기 우수번째 게이트 패드들은 상기 제2 수평방향을 따라 일렬로 정렬되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사시스템.
삭제
삭제
제 1 항에 있어서,

상기 기수번째 및 우수번째 게이트 패드부를 게이트 드라이버 IC에 전기적으로 접속시킴과 아울러 상기 데이터 패드부를 데이터 드라이버 IC에 전기적으로 접속시키는 범퍼를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사시스템.
제 1 항에 있어서,

상기 기수번째 게이트 패드부와 상기 우수번째 게이트 패드부는 서로 지그재그 형태로 형성된 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사시스템.
삭제
삭제